【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】酰亚胺
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酰胺酸共聚物和其制造方法、清漆以及聚酰亚胺薄膜
[0001]本专利技术涉及作为聚酰亚胺树脂的前体的酰亚胺
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酰胺酸共聚物和其制造方法、包含共聚物的清漆、以及聚酰亚胺薄膜。
技术介绍
[0002]研究了聚酰亚胺树脂在电气/电子部件等领域中的各种用途。例如,出于器件的轻量化、柔性化的目的,期望将液晶显示器、OLED显示器等图像显示装置中使用的玻璃基板替换为塑料基板,推进了适合作为该塑料基板的聚酰亚胺薄膜的研究。对于这种用途的聚酰亚胺薄膜要求透明性和低的黄色度。
[0003]另外,将涂布于玻璃支撑体、硅晶圆上的清漆加热固化而形成聚酰亚胺薄膜的情况下,在聚酰亚胺薄膜中会产生残余应力。聚酰亚胺薄膜的残余应力如果大,则产生玻璃支撑体、硅晶圆会翘曲之类的问题,因此,对于聚酰亚胺薄膜也要求残余应力的减少。
[0004]关于这一点,例如专利文献1中,为了得到残余应力低、翘曲少、黄色度小、伸长率高的聚酰亚胺薄膜,公开了一种聚酰亚胺前体,其以特定的比率包含2种特定的酰胺酸结构单元。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1:国际公开第2017/051827号
技术实现思路
[0008]专利技术要解决的问题
[0009]如前述,对于特定用途的聚酰亚胺薄膜要求透明性和低的黄色度。然而,TFT的器件型为LTPS(低温多晶硅TFT)时,是超过400℃的工艺温度,对于成为基板的聚酰亚胺要求耐受400℃以上的高温
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种酰亚胺
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酰胺酸共聚物,其包含:下述式(1)所示的、由酰亚胺部分(IM)与酰胺酸部分(AM1)和酰胺酸部分(AM2)构成的重复单元,式(1)中,X1为碳数4~39的4价的芳香族基团、且任选具有选自由
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O
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、
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SO2‑
、
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CO
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、
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CH2‑
、
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C(CH3)2‑
、
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C2H4O
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和
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S
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组成的组中的至少1者作为连接基团,X2为不同于X1的碳数4~39的4价的芳香族基团、且任选具有选自由
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O
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、
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SO2‑
、
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CO
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、
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CH2‑
、
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C(CH3)2‑
、
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C2H4O
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和
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S
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组成的组中的至少1者作为连接基团,Y1为选自由下述式(2)、下述通式(3)和下述通式(4)组成的组中的至少任1者所示的基团,Y2为下述通式(5)所示的基团,s、t和u为正的整数,式(3)中,Z1表示单键、或
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O
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所示的基团,式(4)中,R各自独立地表示氢原子、氟原子或碳数1~5的烷基,式(5)中,Z2、Z3各自独立地表示
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COO
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所示的基团、或
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OCO
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所示的基团,R1、R2、R3各自独立地表示碳数1~20的1价的有机基团,h、i、j、k为0~4的整数。2.根据权利要求1所述的酰亚胺
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酰胺酸共聚物,其中,所述s为1~50、且所述t为1~50。3.根据权利要求1或2所述的酰亚胺
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酰胺酸共聚物,其中,所述u为5~200。4.根据权利要求1~3中任一项所述的酰亚胺
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酰胺酸共聚物,其中,所述X1为下述式(6)所示的基团,
5.根据权利要求1~4中任一项所述的酰亚胺
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酰胺酸共聚物,其中,所述X2为下述式(7)所示的基团,6.根据权利要求1~5中任一项所述的酰亚胺
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酰胺酸共聚物,其中,所述酰亚胺部分(IM)具有:源自四羧酸二酐的结构单元X1A和源自二胺的结构单元Y1B,所述酰胺酸部分(AM1)具有:源自四羧酸二酐的结构单元X2A、源自二胺的结构单元Y1B,所述酰胺酸部分(AM2)具有:源自四羧酸二酐的结构单元X2A、源自二胺的结构单元Y2B,结构单元X1A包含:源自芳香族四羧酸二酐的结构单元,结构单元X2A包含:不同于结构单元X1A的源自芳香族四羧酸二酐的结构单元,结构单元Y1B包含:源自二胺(b1)的结构单元(B1),结构单元(B1)包含选自由源自下述式(b11)所示的化合物的结构单元(B11)、源自下述通式(b12)所示的化合物的结构单元(B12)和源自下述通式(b13)所示的化合物的结构单元(B13)组成的组中的至少任一者,结构单元Y2B包含:源自下述通式(b2)所示的化合物的结构单元(B2),式(b12)中,Z1表示单键、或
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O
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所示的基团,式(b13)中,R各自独立地表示氢原子、氟原子或碳数1~5的烷基,式(b2)中,Z2、Z3各自独立地表示
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COO
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所示的基团、或
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OCO
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所示的基团,R1、R2、R3各自独立地表示碳数1~20的1价的有机基团,h、i、j、k为0~4的整数。7.根据权利要求6所述的酰亚胺
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酰胺酸共聚物,其中,结构单元X2A包含:源自芳香族四羧酸二酐(a2)的结构单元(A2),
结构单元(A2)包含选自由源自下述式(a21)所示的化合物的结构单元(A21)、源自下述式(a22)所示的化合物的结构单元(A22)、源自下述式(a23)所示的化合物的结构单元(A23)、源自下述式(a24)所示的化合物的结构...
【专利技术属性】
技术研发人员:安孙子洋平,大东葵,石井健太郎,三田寺淳,
申请(专利权)人:三菱瓦斯化学株式会社,
类型:发明
国别省市:
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