一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统技术方案

本发明专利技术属于薄膜检测领域，具体的涉及一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统。其中一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，具体包括极短波光源模块，图像采集模块，图像过滤预处理模块，图像算法处理模块，用以检测外包塑料薄膜缺陷，并将检测结果传送至结果输出模块。通过使用极短波光源检测光源轮廓，并建立精准测算时间的光源分组模块，用以避免光线通过折射与反射，防止光源的相互干扰，同时使用薄膜识别算法，通过对折痕探测跟踪，更好的检测具有塑料薄膜的产品油封的质量。的检测具有塑料薄膜的产品油封的质量。的检测具有塑料薄膜的产品油封的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统


[0001]本专利技术属于薄膜检测领域，具体的涉及一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统。

技术介绍

[0002]现阶段，塑料薄膜已经广泛地应用于食品、医药、化工等领域，其中又以食品包装所占比例最大，比如饮料包装、速冻食品包装、蒸煮食品包装、快餐食品包装等，这些产品都给人们生活带来了极大的便利。
[0003]但是在基于薄膜的外观检测中，紧靠人眼是无法准确的判断出产品的瑕疵的，机器视觉系统检测由此应运而生，所述的视觉检测系统，通过对薄膜产品的脏污点、条纹、破损、边缘裂缝、皱折、暗斑、亮斑、边缘破损、黑点疵点、毛发，蚊虫，等常见表面缺陷进行检测与分析，可以快速筛选出存在缺陷的产品极大节省了人力物力。
[0004]但是在外包塑料薄膜的实际生产过程中，由于各方面因素的影响，薄膜表面会出现诸如孔洞、蚊虫、黑点、晶点、划伤、斑点等瑕疵，严重影响了薄膜的质量，给生产商带来了不必要的损失，传统的外包装塑料透明薄膜在光线照射过程中会出现光线的折射和反射，在薄膜轮廓检测的过程中会出现干扰，对薄膜轮廓检测的精准度与缺陷识别的准确度存在一定的影响，因此急需推出一种视觉检测方法，用以更好的防止光源的相互干扰，同时能够精准测算时间光源分组先后亮，更好对外包装塑料透明薄膜所存在的缺陷进行检测。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的一些问题，本专利技术提供了一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，具体包括极短波光源模块，用以控制光源开关以及光源亮暗时间，并通过图像采集模块采集薄膜轮廓数据，将采集到的薄膜轮廓数据，传送至图像过滤预处理模块，用以对采集的薄膜轮廓数据进行滤波与畸变矫正处理，并将处理后的数据传送至图像算法处理模块，用以检测外包塑料薄膜缺陷，并将检测结果传送至结果输出模块。
[0006]优选的，采用红外传感器定位具有塑料薄膜的产品位置，用以当具有塑料薄膜的产品通过流水线运载至指定位置后，触发光源相机进行拍照识别。
[0007]优选的，所述的极短波光源模块包括光源时间控制器及极短波光源。
[0008]优选的，光源时间控制器通过测算光源时间，并对其进行分组决定其亮暗的先后顺序，用以处理极短波光照射塑料外包装薄膜后发生折射与反射与相互干扰。
[0009]优选的，所述的图像过滤预处理模块，包括图像采集，亮度对比预处理，畸变矫正，旋转变换处理。
[0010]优选的，所述的检测外包塑料薄膜缺陷包括起皱密集式探测，折痕探测跟踪，破损探测，折痕不合理形状样式筛选，侧膜超出边缘边位段差探测，透明薄膜图像边缘折痕弯折度检测。
[0011]优选的，所述的透明薄膜图像边缘折痕弯折度检测，使用RTU捕捉量测技术。
[0012]优选的，所述的图像算法处理模块，包括薄膜识别算法、边缘特征提取、基于深度学习的形状匹配。
[0013]优选的，所述的边缘特征提取，首先使用canny算子提取初步边缘特征，并进行拉普拉斯运算、sobel运算及MID
‑
EDGE运算，用以提取边缘深度特征。
[0014]优选的，所述的canny算子提取初步边缘特征，通过去噪用以滤除外包薄膜边缘灰度值剧烈变化的区域，之后通过对得到的梯度值求导用以表示外包薄膜边缘灰度值的变化程度，并通过非极大值抑制与设定阈值处理，用以拟合边缘线条，优化外包薄膜边缘特征。
[0015]本专利技术与现有技术相比具有以下有益效果：
[0016](1)本专利技术使用极短波光源检测光源轮廓，通过建立精准测算时间的光源分组模块，用以避免光线通过折射与反射，防止光源的相互干扰。
[0017](2)本专利技术使用薄膜识别算法，通过对折痕探测跟踪，破损检测与折痕不合理形状样式集合筛选等，用以提取薄膜边缘的深部特征，从而更好的检测具有塑料薄膜的产品油封的质量。
[0018]在外包装薄膜轮廓检测过程中，通过使用极短波光源
附图说明
[0019]图1为外包塑料薄膜极短波光探测方法的检测流程图。
具体实施方式
[0020]本专利技术提供了一种结合真实感官模拟的多维数据采集检测方法，为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本专利技术作进一步详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0021]一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，具体包括极短波光源模块，用以控制光源开关以及光源亮暗时间，并通过图像采集模块采集薄膜轮廓数据，将采集到的薄膜轮廓数据，传送至图像过滤预处理模块，用以对采集的薄膜轮廓数据进行滤波与畸变矫正处理，并将处理后的数据传送至图像算法处理模块，用以检测外包塑料薄膜缺陷，并将检测结果传送至结果输出模块。
[0022]在一种实施方式中，采用红外传感器定位具有塑料薄膜的产品位置，用以当具有塑料薄膜的产品通过流水线运载至指定位置后，触发光源相机进行拍照识别。
[0023]在一种实施方式中，所述的极短波光源模块包括光源时间控制器及极短波光源。
[0024]在一种实施方式中，光源时间控制器通过测算光源时间，并对其进行分组决定其亮暗的先后顺序，用以处理极短波光照射塑料外包装薄膜后发生折射与反射与相互干扰。
[0025]在一种实施方式中，所述的图像过滤预处理模块，包括图像采集，亮度对比预处理，畸变矫正，旋转变换处理。
[0026]在一种实施方式中，所述的检测外包塑料薄膜缺陷包括起皱密集式探测，折痕探测跟踪，破损探测，折痕不合理形状样式筛选，侧膜超出边缘边位段差探测，透明薄膜图像边缘折痕弯折度检测。
[0027]在一种实施方式中，所述的透明薄膜图像边缘折痕弯折度检测，使用RTU捕捉量测技术。
[0028]在一种实施方式中，所述的图像算法处理模块，包括薄膜识别算法、边缘特征提取、基于深度学习的形状匹配。
[0029]在一种实施方式中，所述的边缘特征提取，首先使用canny算子提取初步边缘特征，并进行拉普拉斯运算、sobel运算及MID
‑
EDGE运算，用以提取边缘深度特征。
[0030]在一种实施方式中，所述的canny算子提取初步边缘特征，通过去噪用以滤除外包薄膜边缘灰度值剧烈变化的区域，之后通过对得到的梯度值求导用以表示外包薄膜边缘灰度值的变化程度，并通过非极大值抑制与设定阈值处理，用以拟合边缘线条，优化外包薄膜边缘特征。
[0031]以上所述仅是本专利技术的较佳实施例而已，并非是对专利技术作其他形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的
技术实现思路
加以变更或更改为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本专利技术技术方案内容，依据本专利技术的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改，等同变化与改型，仍属于本专利技术技术方案的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，具体包括极短波光源模块，用以控制光源开关以及光源亮暗时间，并通过图像采集模块采集薄膜轮廓数据，将采集到的薄膜轮廓数据，传送至图像过滤预处理模块，用以对采集的薄膜轮廓数据进行滤波与畸变矫正处理，并将处理后的数据传送至图像算法处理模块，用以检测外包塑料薄膜缺陷，并将检测结果传送至结果输出模块。2.根据权利要求1所述的一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，其特征在于，采用红外传感器定位具有塑料薄膜的产品位置，用以当具有塑料薄膜的产品通过流水线运载至指定位置后，触发光源相机进行拍照识别。3.根据权利要求1所述的一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，其特征在于，所述的极短波光源模块包括光源时间控制器及极短波光源。4.根据权利要求3所述的一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，其特征在于，光源时间控制器通过测算光源时间，并对其进行分组决定其亮暗的先后顺序，用以处理极短波光照射塑料外包装薄膜后发生折射与反射与相互干扰。5.根据权利要求1所述的一种外包塑料薄膜极短波光探测方法识别系统，其特征在于，所述的图像过滤预处理模块，包括图像采集，亮度对比预处理，畸变矫正，旋转变换处理。6.根据权利要求1所述的一种外...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘明明，
申请(专利权)人：上海创帛智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：