一种电路图生成的方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请实施例提供的一种电路图生成的方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：遍历原始电路图中的原始数据；根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据；根据所述目标数据生成目标电路图，其中，所述原始电路图和所述目标电路图对应不同的设计工艺。采用本申请实施例提供的技术方案，在将电路图由原始工艺迁移至目标工艺后，可以避免目标电路图丢失原始电路图中的信息，便于设计人员对目标电路图进行分析和后续处理。理。理。

【技术实现步骤摘要】
一种电路图生成的方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及电子
，具体地涉及一种电路图生成的方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着电路制造工艺的丰富及工艺节点的发展，电路设计公司有了更多的工艺选择。电路设计公司在开发新产品的过程中，将已有的成熟电路图，从一种工艺迁移到另一种工艺上，可以有效缩短电路图设计时间，加快项目进度。
[0003]现有技术中一种电路图迁移方法为：在电子设计自动化(Electronic design automation，EDA)工具中导出原始电路图对应的skill(一种带有c语言的结构体的类LISP的编程语言)文本；然后，使用perl(一种高级、通用、直译式、动态的程序语言)代码修改skill文本，对skill文本中器件模型和参数进行替换；最后，将修改后的skill文本导回EDA工具生成目标电路图，有效缩短目标电路图的设计时间。
[0004]但是，采用现有技术中电路图迁移方法可能导致迁移后的目标电路图丢失原始电路图中的部分信息，不便于设计人员对目标电路图进行分析和后续处理。例如，目标电路图中可能丢失原始电路中的部分文字描述信息；或者，虽然目标电路图与原始电路图的器件连接性相同，但是器件摆放位置可能存在差异。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本申请提供一种电路图生成的方法、装置、电子设备及存储介质，以利于解决现有技术中迁移后的目标电路图丢失原始电路图中的部分信息，不便于设计人员对目标电路图进行分析和后续处理的问题。
>[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种电路图生成的方法，包括：
[0007]遍历原始电路图中的原始数据；
[0008]根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据；
[0009]根据所述目标数据生成目标电路图，其中，所述原始电路图和所述目标电路图对应不同的设计工艺。
[0010]在一种可能的实现方式中，所述原始电路图和所述目标电路图对应不同的制程，所述原始电路图中包括与制程相关联的第一原始数据，所述根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据，包括：
[0011]根据所述原始电路图和所述目标电路图之间的制程缩放倍率对所述第一原始数据进行缩放，获得第一目标数据。
[0012]采用本申请实施例提供的技术方案，当原始工艺和目标工艺对应不同的制程时，在将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，可以根据制程的变化对第一原始数据进行缩放，以满足目标工艺的制程要求。例如，第一原始数据为器件数据，在将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，可以根据制程的变化对原始电路图中的器件数据
进行缩放。
[0013]在一种可能的实现方式中，所述根据所述原始电路图和所述目标电路图之间的制程缩放倍率对所述第一原始数据进行缩放，获得第一目标数据，包括：
[0014]根据所述原始电路图和所述目标电路图之间的制程缩放倍率对所述第一原始数据进行缩放，获得中间数据；
[0015]根据所述目标电路图的格点步长，将所述中间数据向上取整或向下取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据。
[0016]采用本申请实施例提供的技术方案，当原始工艺和目标工艺对应不同的制程时，在将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，不仅可以根据制程的变化对第一原始数据进行缩放，而且可以使得迁移至目标工艺的第一目标数据满足格点步长的整数倍的要求，即on
‑
grid。例如，第一原始数据为MOS管的宽度和长度，在将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，不仅可以根据制程的变化对原始电路图中MOS管的宽度和长度进行缩放，而且可以使得迁移至目标工艺的MOS管的宽度和长度满足格点步长的整数倍的要求。
[0017]在一种可能的实现方式中，所述根据所述目标电路图的格点步长，将所述中间数据向上取整或向下取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据，包括：
[0018]若所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值小于所述中间数据向下取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值，则将所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据；
[0019]若所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值大于所述中间数据向下取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值，则将所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据。
[0020]采用本申请实施例提供的技术方案，当原始工艺和目标工艺对应不同的制程时，在将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，不仅可以使得迁移至目标工艺的第一目标数据满足格点步长的整数倍的要求，而且可以确保第一目标数据为最接近缩放后第一原始数据的格点步长的整数倍。
[0021]在一种可能的实现方式中，所述原始电路图中包括第二原始数据，且所述原始电路图中的第二原始数据与所述目标电路图中的第二目标数据相同，所述根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据，包括：
[0022]将所述第二原始数据作为所述第二目标数据。
[0023]采用本申请实施例提供的技术方案，在将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，对于与制程不存在关联的第二原始数据，无需考虑制程的变化，直接将原始工艺中的第二原始数据作为目标工艺中的第二目标数据，确保工艺迁移的过程中，第二原始数据不会丢失。例如，第二原始数据为文字注释等信息，在将将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，可以确保原始电路图中的文字注释等信息不会丢失。
[0024]在一种可能的实现方式中，所述原始电路图中包括第三原始数据，且所述原始电路图中的第三原始数据与所述目标电路图中的第三目标数据相对应，所述根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据，包括：
[0025]根据第三原始数据和第三目标数据的对应关系，将所述第三原始数据调整为所述
第三目标数据。
[0026]采用本申请实施例提供的技术方案，在将原始电路图由原始工艺迁移至目标工艺的过程中，将原始工艺中的第三原始数据替换为目标工艺中的第三目标数据，以满足目标工艺的要求。
[0027]在一种可能的实现方式中，在所述根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据之前，所述方法还包括：
[0028]根据所述原始电路图和所述目标电路图的设计工艺，配置所述原始数据和目标数据的映射关系。
[0029]第二方面，本申请实施例提供了一种电路图生成的装置，包括：
[0030]遍历单元，用于遍历原始电路图中的原始数据；
[0031]调整单元，用于根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据；
[0032]生成单元，用于根据所述目标数据生成目标电路图，其中，所述原始电路图和所述目标电路图对应不同的设计工艺。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路图生成的方法，其特征在于，包括：遍历原始电路图中的原始数据；根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据；根据所述目标数据生成目标电路图，其中，所述原始电路图和所述目标电路图对应不同的设计工艺。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原始电路图和所述目标电路图对应不同的制程，所述原始电路图中包括与制程相关联的第一原始数据，所述根据原始数据和目标数据的映射关系，将所述原始数据调整为目标数据，包括：根据所述原始电路图和所述目标电路图之间的制程缩放倍率对所述第一原始数据进行缩放，获得第一目标数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述原始电路图和所述目标电路图之间的制程缩放倍率对所述第一原始数据进行缩放，获得第一目标数据，包括：根据所述原始电路图和所述目标电路图之间的制程缩放倍率对所述第一原始数据进行缩放，获得中间数据；根据所述目标电路图的格点步长，将所述中间数据向上取整或向下取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标电路图的格点步长，将所述中间数据向上取整或向下取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据，包括：若所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值小于所述中间数据向下取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值，则将所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据；若所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值大于所述中间数据向下取整为所述格点步长的整数倍与所述中间数据的差值，则将所述中间数据向上取整为所述格点步长的整数倍，获得第一目标数据。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原始电路图中包括第二原始数据，且所述原始电路图中的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：管文超，郭建国，张剑云，
申请(专利权)人：上海极海盈芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：