一种质量测定用精密电子分析天平制造技术

本实用新型专利技术公开了一种质量测定用精密电子分析天平，包括电子分析天平本体、底板，所述底板的上侧固定连接有电子分析天平本体，所述底板的两侧壁上均开设有收纳槽，每个所述收纳槽均通过滑动装置连接有收纳箱，所述收纳箱滑动连接在收纳槽中，所述收纳箱的内部固定连接有多个依次等距设置的隔板，所述收纳箱的底侧壁上设有防潮层。本实用新型专利技术设计合理，构思巧妙，不仅避免了重复测量，而且放置在收纳箱中，可防止物体被碰倒弄洒，安全性高。安全性高。安全性高。

【技术实现步骤摘要】
一种质量测定用精密电子分析天平


[0001]本技术涉及质量测定
，尤其涉及一种质量测定用精密电子分析天平。

技术介绍

[0002]电子分析天平具有全自动故障检测，外置砝码，自动校准，全部线性四点校准，超载保护等多种应用程序,电子天平以其操作简单、称量准确可靠等优点,迅速在工业生产、科研、贸易等方面得到广泛应用。
[0003]但现有技术中，电子分析天平对多个物体进行质量测定时，需要将多个物体放置在电子分析天平旁边，进行依次测定，但这样如果没有安装顺序排放，不仅容易出现物体重复测定情况，而且容易碰倒物体，故需要一种质量测定用精密电子分析天平来解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种质量测定用精密电子分析天平，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种质量测定用精密电子分析天平，包括电子分析天平本体、底板，所述底板的上侧固定连接有电子分析天平本体，所述底板的两侧壁上均开设有收纳槽，每个所述收纳槽均通过滑动装置连接有收纳箱，所述收纳箱滑动连接在收纳槽中，所述收纳箱的内部固定连接有多个依次等距设置的隔板，所述收纳箱的底侧壁上设有防潮层。
[0007]作为本技术方案的进一步改进方案：每个所述滑动装置包括两个固定板，两个所述固定板均固定连接在收纳槽的内部底侧壁上，两个所述固定板之间固定连接有两个固定杆，两个所述固定杆上滑动连接有滑动板，每个所述收纳箱底侧一端固定连接在对应的滑动板上侧。
[0008]作为本技术方案的进一步改进方案：每个所述收纳箱的侧壁上固定连接有把手。
[0009]作为本技术方案的进一步改进方案：每个所述把手呈弧形设置。
[0010]作为本技术方案的进一步改进方案：所述底板的底侧壁上固定连接有多个支撑垫，多个所述支撑垫均采用橡胶材质。
[0011]作为本技术方案的进一步改进方案：所述电子分析天平本体上设有防风罩。
[0012]有益效果
[0013]本技术与现有技术相比，具有的优点为：
[0014]当需要测量多个物体时，可通抓住把手将底板两侧内的收纳箱从收纳槽中拉出，然后将需要测量的多个物体放置在其中一个收纳箱中，放置过程中需要分别依次放置在多个隔板组成的隔间中，之后再按照隔间的顺序，将需要测量的物体依次通过电子分析天平本体进行测量，测量完成后在放入到另一个收纳箱中的隔间中，该装置设计合理，构思巧
妙，不仅避免了重复测量，而且放置在收纳箱中，可防止物体被碰倒弄洒，安全性高。
附图说明
[0015]图1为本技术提出的一种质量测定用精密电子分析天平的立体结构示意图；
[0016]图2为本技术提出的一种质量测定用精密电子分析天平的正面剖视结构示意图；
[0017]图3为图2中A的局部放大结构示意图；
[0018]图4为本技术提出的一种质量测定用精密电子分析天平中收纳箱的俯视结构示意图。
[0019]附图中，各标号所代表的部件列表如下：
[0020]1、滑动板；2、支撑垫；3、收纳槽；4、固定杆；5、固定板；6、底板；7、收纳箱；8、把手；9、电子分析天平本体；10、防风罩；11、防潮层；12、隔板。
具体实施方式
[0021]下面结合附图中的具体实施例对本技术做进一步的说明。
[0022]参阅图1～4，本技术实施例中，一种质量测定用精密电子分析天平，包括电子分析天平本体9、底板6，底板6的底侧壁上固定连接有多个支撑垫2，多个支撑垫2均采用橡胶材质，底板6的上侧固定连接有电子分析天平本体9，底板6的两侧壁上均开设有收纳槽3，每个收纳槽3均通过滑动装置连接有收纳箱7，收纳箱7滑动连接在收纳槽3中，每个收纳箱7的侧壁上固定连接有把手8，每个把手8呈弧形设置，收纳箱7的内部固定连接有多个依次等距设置的隔板12，收纳箱7的底侧壁上设有防潮层11。
[0023]具体的，每个滑动装置包括两个固定板5，两个固定板5均固定连接在收纳槽3的内部底侧壁上，两个固定板5之间固定连接有两个固定杆4，两个固定杆4上滑动连接有滑动板1，每个收纳箱7底侧一端固定连接在对应的滑动板1上侧，收纳箱7可通过滑动板1在固定杆1上左右移动，进而使得收纳箱7在收纳槽3内进出滑动。
[0024]具体的，电子分析天平本体9上设有防风罩10，防风罩10即可避免测量时，外界的风影响电子分析天平本体9的称重结果。
[0025]本技术的工作原理是：
[0026]当需要测量多个物体时，可通抓住把手8将底板6两侧内的收纳箱7从收纳槽3中拉出，然后将需要测量的多个物体放置在其中一个收纳箱7中，放置过程中需要分别依次放置在多个隔板12组成的隔间中，之后再按照隔间的顺序，将需要测量的物体依次通过电子分析天平本体9进行测量，测量完成后在放入到另一个收纳箱7中的隔间中，这样不仅避免了重复测量，而且放置在收纳箱7中，可防止物体被碰倒弄洒，安全性高。
[0027]以上仅是本技术的优选实施方式，应当指出对于本领域的技术人员来说，在不脱离本技术结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都不会影响本技术实施的效果和专利的实用性。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种质量测定用精密电子分析天平，包括电子分析天平本体(9)、底板(6)，其特征在于，所述底板(6)的上侧固定连接有电子分析天平本体(9)，所述底板(6)的两侧壁上均开设有收纳槽(3)，每个所述收纳槽(3)均通过滑动装置连接有收纳箱(7)，所述收纳箱(7)滑动连接在收纳槽(3)中，所述收纳箱(7)的内部固定连接有多个依次等距设置的隔板(12)，所述收纳箱(7)的底侧壁上设有防潮层(11)。2.根据权利要求1所述的一种质量测定用精密电子分析天平，其特征在于，每个所述滑动装置包括两个固定板(5)，两个所述固定板(5)均固定连接在收纳槽(3)的内部底侧壁上，两个所述固定板(5)之间固定连接有两个固定杆(4)...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓鸣飞，项兴梅，
申请(专利权)人：湖北隶德生物工程有限公司，
类型：新型
国别省市：