一种基于多系统贴标信号合并控制方法、系统及平台技术方案

本发明专利技术属于信号处理及控制技术领域，具体涉及一种基于多系统贴标信号合并控制方法、系统及平台。本发明专利技术通过方法实时获取涂层表层缺陷数据；根据所述涂层表层缺陷数据，实时进行缺陷合并处理；实时传输经合并处理后的数据，并实时进行贴标处理；以及与所述方法相应的系统及平台；可以实现实时对所述缺陷进行检测，以及实现线扫系统与面阵系统缺陷位置合并，以及将计算到贴标系统的距离进行贴标；解决多系统贴标信号冗余，多贴标少贴标的问题。多贴标少贴标的问题。多贴标少贴标的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于多系统贴标信号合并控制方法、系统及平台


[0001]本专利技术属于信号处理及控制
，具体涉及一种基于多系统贴标信号合并控制方法、系统及平台。

技术介绍

[0002]现目前，在检测涂层表层缺陷时，无法实时对所述缺陷进行检测，而且无法实现线扫系统与面阵系统缺陷位置合并，以及无法实现将计算到贴标系统的距离进行贴标。
[0003]因此，针对以上现目前，在检测涂层表层缺陷时，无法实时对所述缺陷进行检测，而且无法实现线扫系统与面阵系统缺陷位置合并，以及无法实现将计算到贴标系统的距离进行贴标的技术问题缺陷，急需设计和开发一种基于多系统贴标信号合并控制方法、系统及平台。

技术实现思路

[0004]为克服上述现有技术存在的不足及困难，本专利技术之目的在于提供一种基于多系统贴标信号合并控制方法、系统及平台，以实现实时对所述缺陷进行检测，以及实现线扫系统与面阵系统缺陷位置合并，以及将计算到贴标系统的距离进行贴标。
[0005]本专利技术的第一目的在于提供一种基于多系统贴标信号合并控制方法；
[0006]本专利技术的第二目的在于提供一种基于多系统贴标信号合并控制系统；
[0007]本专利技术的第三目的在于提供一种基于多系统贴标信号合并控制平台；
[0008]本专利技术的第一目的是这样实现的：所述方法具体包括如下步骤：
[0009]实时获取涂层表层缺陷数据；
[0010]根据所述涂层表层缺陷数据，实时进行缺陷合并处理；
[0011]实时传输经合并处理后的数据，并实时进行贴标处理。
[0012]进一步地，所述步骤实时获取涂层表层缺陷数据中，还包括如下步骤：
[0013]实时创建用于极片运动参考的参考系；
[0014]根据所述参考系，实时标定相机之间的相对位置关系。
[0015]进一步地，所述步骤根据所述参考系，实时标定相机之间的相对位置关系中，还包括如下步骤：
[0016]标定参考相机的相对位置关系；
[0017]根据所述参考相机的相对位置关系，实时标定线性相机的相对位置关系。
[0018]进一步地，所述步骤实时获取涂层表层缺陷数据中，还包括如下步骤：
[0019]根据参考相机坐标数据，并结合所述参考相机的位置关系，实时生成面阵相机槽位于所述参考相机的位置数据。
[0020]进一步地，所述涂层表层缺陷数据具体包括：脱碳，漏箔，划痕，接带，气泡，黑点，亮点表层缺陷数据。
[0021]进一步地，所述实时传输经合并处理后的数据，并实时进行贴标处理，还包括如下
步骤：对多个系统缺位位置实时更新，并结合产品特性，将多个缺陷合并在同一个产品中，并实时对产品做出贴标处理。
[0022]本专利技术的第二目的是这样实现的：所述系统具体包括：
[0023]获取单元，用于实时获取涂层表层缺陷数据；
[0024]第一处理单元，用于根据所述涂层表层缺陷数据，实时进行缺陷合并处理；
[0025]第二处理单元，用于实时传输经合并处理后的数据，并实时进行贴标处理。
[0026]进一步地，所述获取单元中，还设置有：
[0027]创建模块，用于实时创建用于极片运动参考的参考系；
[0028]第一标定模块，用于根据所述参考系，实时标定相机之间的相对位置关系；
[0029]第二标定模块，用于标定参考相机的相对位置关系；
[0030]生成模块，用于根据参考相机坐标数据，并结合所述参考相机的位置关系，实时生成面阵相机槽位于所述参考相机的位置数据；
[0031]所述涂层表层缺陷数据具体包括：脱碳，漏箔，划痕，接带，气泡，黑点，亮点表层缺陷数据；
[0032]所述第二处理单元中，还设置有：
[0033]贴标处理模块，用于对多个系统缺位位置实时更新，并结合产品特性，将多个缺陷合并在同一个产品中，并实时对产品做出贴标处理。
[0034]本专利技术的第三目的是这样实现的：包括：处理器、存储器以及基于多系统贴标信号合并控制平台控制程序；
[0035]其中在所述的处理器执行所述的基于多系统贴标信号合并控制平台控制程序，所述的基于多系统贴标信号合并控制平台控制程序被存储在所述存储器中，所述的基于多系统贴标信号合并控制平台控制程序，实现所述的基于多系统贴标信号合并控制方法步骤。
[0036]本专利技术通过方法实时获取涂层表层缺陷数据；根据所述涂层表层缺陷数据，实时进行缺陷合并处理；实时传输经合并处理后的数据，并实时进行贴标处理；可以实现实时对所述缺陷进行检测，以及实现线扫系统与面阵系统缺陷位置合并，以及将计算到贴标系统的距离进行贴标；解决多系统贴标信号冗余，多贴标少贴标的问题。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1为本专利技术一种基于多系统贴标信号合并控制方法流程示意图；
[0039]图2为本专利技术一种基于多系统贴标信号合并控制方法之间断工艺示意图；
[0040]图3为本专利技术一种基于多系统贴标信号合并控制方法之连涂工艺示意图；
[0041]图4为本专利技术一种基于多系统贴标信号合并控制方法之坐标相关性示意图；
[0042]图5为本专利技术一种基于多系统贴标信号合并控制系统架构示意图；
[0043]图6为本专利技术一种基于多系统贴标信号合并控制平台架构示意图；
[0044]图7为本专利技术一种实施例中计算机可读取存储介质架构示意图；
[0045]本专利技术目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0046]为便于更好的理解本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和具体的实施方式对本专利技术作进一步说明，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本专利技术的其它优点与功效。
[0047]本专利技术亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本专利技术的精神下进行各种修饰与变更。
[0048]需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0049]另外，若本专利技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。其次，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于多系统贴标信号合并控制方法，其特征在于所述方法具体包括如下步骤：实时获取涂层表层缺陷数据；根据所述涂层表层缺陷数据，实时进行缺陷合并处理；实时传输经合并处理后的数据，并实时进行贴标处理。2.根据权利要求1所述的一种基于多系统贴标信号合并控制方法，其特征在于所述步骤实时获取涂层表层缺陷数据中，还包括如下步骤：实时创建用于极片运动参考的参考系；根据所述参考系，实时标定相机之间的相对位置关系。3.根据权利要求2所述的一种基于多系统贴标信号合并控制方法，其特征在于所述步骤根据所述参考系，实时标定相机之间的相对位置关系中，还包括如下步骤：标定参考相机的相对位置关系；根据所述参考相机的相对位置关系，实时标定线性相机的相对位置关系。4.根据权利要求1或2所述的一种基于多系统贴标信号合并控制方法，其特征在于所述步骤实时获取涂层表层缺陷数据中，还包括如下步骤：根据参考相机坐标数据，并结合所述参考相机的位置关系，实时生成面阵相机槽位于所述参考相机的位置数据。5.根据权利要求1所述的一种基于多系统贴标信号合并控制方法，其特征在于所述涂层表层缺陷数据具体包括：脱碳，漏箔，划痕，接带，气泡，黑点，亮点表层缺陷数据。6.根据权利要求1所述的一种基于多系统贴标信号合并控制方法，其特征在于所述实时传输经合并处理后的数据，并实时进行贴标处理，还包括如下步骤：对多个系统缺位位置实时更新，并结合产品特性，将多个缺陷合并在同一个产品中，并实时对产品做...

【专利技术属性】
技术研发人员：张俊峰，李功果，彭秀荣，
申请(专利权)人：广州超音速自动化科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：