用于同时确定至少一个在至少一个承载材料上涂覆的树脂层的参数的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于利用至少一个NIR测量头、尤其至少一个NIR多路测量头同时确定至少一个在至少一个承载材料上涂覆的树脂层的参数，尤其至少两个、三个或四个参数的方法，其方式为：记录和评估在500nm和2500nm之间、优选在700nm和2000nm之间、尤其优选在900nm和1700nm之间和特别有利地在1450nm和1550nm之间的波长范围中的至少一个NIR光谱。长范围中的至少一个NIR光谱。长范围中的至少一个NIR光谱。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于同时确定至少一个在至少一个承载材料上涂覆的树脂层的参数的方法


[0001]本专利技术涉及一种用于同时确定至少一个在至少一个承载材料上涂覆的树脂层的参数、尤其至少两个参数的方法，一种用于执行所述方法的生产线和一种将确定的参数用于控制至少一个这种生产线的应用。

技术介绍

[0002]在木质材料工业中在制造工业“预浸料”(浸渍物，例如树脂浸渍的纸层)或表面覆层时，用浸渍树脂、漆等浸渍或覆层承载材料。在此必要的是，尽可能精确地遵循预设的参数(组成，涂覆量、湿度、交联程度等)。通过通常必须同时确定多个参数，检查耗费升高。通常也加重困难的是，所述参数并非自动化地确定而是例如通过称重确定。这引起时间耗费并且特别是在涉及快速运转的设备时是成问题的，因为可能在确定或调整参数之前过去了大量时间。为了解决所述问题，使用越来越多的测量系统，所述测量系统确定各个参数。
[0003]例如已知的是，根据DE 10 2025 105 039 A1，通过NIR测量方法(NIR＝Near
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InfraRed，近红外)确定浸渍设备上的各个参数。所述参数确定于是能够用于控制所述设备。然而分别仅提出确定各个参数。此外不清楚的是，那么应当以何种方式进行控制。
[0004]然而，例如在将纸用热固性树脂浸渍的浸渍设备处，例如必须检查整组参数。在此为树脂/漆涂覆、湿气、交联程度、矿物质组成部分(刚玉、二氧化钛、白垩、颜料等)的含量等。对于确定所述多个参数，在过去必须使用由多个自动的和/或手动的测量方法构成的组合。
[0005]在此，手动测量是最差的方法，因为其仅提供点状的测量值。在不受测量监测的其余时间，前提条件是，设备参数未发生重大改变。部分地，手动检查(例如灰化)也要求相对长的时间段，这引起延长的反应时间。
[0006]在迄今的方案中，因此得到多个缺点。因为承载板上的浸渍物或表面覆层是多参数体系，所以确定全部参数与大的时间耗费以及提高的材料耗费和生产时间关联。也只能部分点状检查。

技术实现思路

[0007]本专利技术基于如下技术目的，提供测量方法，借助所述测量方法通过各个测量头能够确定多个参数(“多路测量头(Multimesskopf)”)。所述多路测量头应灵活地用于作为连续材料卷带或片材的纸状的、颗粒状的或板状的材料。
[0008]所述目的通过具有权利要求1的特征的方法来实现。
[0009]因此，提供一种用于在利用至少一个NIR测量头、尤其至少一个NIR多路测量头的情况下通过记录和评估在500nm和2500nm之间、优选在700nm和2000nm之间、尤其优选在900nm和1700nm之间的波长范围中的至少一个NIR光谱来同时确定至少一个在至少一个承载材料上涂覆的树脂层的多个参数，尤其至少两个、三个或四个参数的方法。
[0010]产生NIR辐射并且将其传导到待分析的承载材料样品上，一个或多个树脂层施加到所述承载材料样品上，在那里NIR辐射与样品的组成部分共同作用并且反射或散射。NIR探测器接收反射的或散射的NIR辐射并且产生NIR光谱，所述NIR光谱包含样品的期望的化学信息。在所述测量中，在一秒中执行多次单独的NIR测量，使得也确保所测量的值的统计覆盖率。NIR光谱仪连同(在下文中详述的)多元数据分析提供如下可行性，在光谱信息(NIR光谱)和施加的树脂层的要确定的参数之间建立直接关系。
[0011]本专利技术利用如下情形，NIR辐射不穿透承载材料，而是在承载材料的表面处已经尽可能地反射或散射。NIR辐射因此在本方法中穿透涂覆的树脂层并且在处于树脂层之下的承载材料的表面处尽可能地反射或散射。反射或散射的NIR辐射由NIR探测器检测，并且求取的NIR光谱用于确定期望的参数。因此，NIR辐射的一部分在两次穿过树脂层时(在朝向承载件的表面的路径上和在承载件的所述表面处反射或散射之后在该路径上返回)以表征性的方式由树脂层和处于其中的另外的材料吸收，由此产生反射的或散射的辐射的层特定的NIR光谱。测量和评估产生的NIR光谱用于确定特定的参数，所述参数表征树脂层和在其中包含的另外的材料。
[0012]在一个实施方式中，应同时确定的参数选自：涂覆的树脂层的量、涂覆的树脂层的硬化度和交联程度、涂覆的树脂层的湿气含量、可能散布到树脂层上的耐磨颗粒或其他固体的耐磨性和量。
[0013]因此，借助本方法能够同时求取涂覆的树脂层的量和/或交联程度和/或硬化度和/或湿气含量和/或散布到树脂层上的耐磨颗粒或其他固体的量和/或耐磨性。优选地，同时确定这四个参数，涂覆的树脂层的量、交联和湿气含量，和散布到树脂层上的耐磨颗粒的量。但是也可行的是，同时确定仅仅两个参数：涂覆的树脂层的量和湿气含量，或三个参数：涂覆的树脂层的量、交联和湿气含量，或者由上面提到的参数组构成的其他组合。
[0014]因此提供一种方法，在所述方法中通过使用NIR测量头，能够从唯一的NIR光谱或NIR辐射的反射或散射中确定提到的参数，更确切地说通过无接触测量。在差值测量中，也可以在生产线中使用多个测量头。借助一个测量头或多个测量头求取的数据在本专利技术的一个有利的表现方案中直接用于设备控制或调控。此外，在本专利技术的另一有利的表现方案中，通过存储所述数据能够实现改进质量控制。在设备实验中，存储的数据能够有利地提供以有助于评估，例如设备在新安装时或在维护或维修之后投入运行或者对新生产或测量方法的原地测量目的。通过立即存在测量值和高测量频率，能够实现非常紧密检验或控制或调控设备。
[0015]本方法能够实现与传统的(已知的)测量方法相比在短时间中(在线地、优选没有干扰性的延时)提供测量值。测量数据能够用于质量保证、研究和开发、用于过程检验、过程调控、过程控制等。通过测量过程，生产速度等不降低。原则上，借此改进生产的监测。此外，通过质量确定和设备校准造成的停机时间也降低。
[0016]本方法的优点是多样性的：在评估测量到的参数值时在时间延迟明显降低的情况下无接触的多参数确定(“real time”或“实时”测量)；改进的设备控制或调控，减少废品，改进在设备上制造的产品的质量，改进设备可用性。
[0017]在一个实施方式中，本专利技术包括如下步骤：
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在利用至少一个NIR探测器的情况下在500nm和2500nm之间的、优选在700nm和
2000nm之间的、尤其优选在900nm和1700nm之间的波长范围中分别记录多个参考样品的至少一个NIR光谱，参考样品分别具有期望的参数的不同的值；
[0019]‑
借助于非显微镜方法来确定所述的参考样品的期望的参数；
[0020]‑
将针对参考样品确定的参数与所记录的所述参考样品的NIR光谱相关联；
[0021]‑
借助于多元数据分析来创建用于在NIR光谱的光谱数据和所属的参数值之间的关联关系的校准模型；、
[0022]‑
将至少一个树脂层涂覆到承载材料的至少一侧上；
[0023]‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于利用至少一个NIR测量头、尤其至少一个NIR多路测量头同时确定至少一个树脂层的参数的方法，所述树脂层涂覆在至少一个承载材料上，所述参数尤其是至少两个、三个或四个参数，其方式为：记录和评估在如下波长范围中的至少一个NIR光谱，所述波长范围在500nm和2500nm之间、优选在700nm和2000nm之间、尤其优选在900nm和1700nm之间和特别有利地在1450nm和1550nm之间。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数选择自如下组：涂覆的树脂层的量，涂覆的树脂层的硬化程度和交联程度，涂覆的树脂层的水分含量，耐磨性和可能散布到所述树脂层上的耐磨颗粒或其他固体的量。3.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，设有如下步骤：
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利用至少一个NIR测量头，尤其NIR多路测量头，在500nm和2500nm之间、尤其在700nm和2000nm之间、尤其优选在900nm和1700nm之间和特别有利地在1450nm和1550nm之间的波长范围中记录分别具有期望的参数的不同值的多个参考样品的至少一个NIR光谱；
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借助于非光谱学方法确定所述参考样品的期望的参数；
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将确定的参数与所记录的所述参考样品的NIR光谱相关联；
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借助于多元数据分析创建用于在所述NIR光谱的光谱数据和所属的参数值之间的关联关系的校准模型；
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将至少一个树脂层涂覆到所述承载材料的至少一侧上；
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利用至少一个NIR测量头、尤其NIR多路测量头在500nm和2500nm之间、优选在700nm和2000nm之间、尤其优选在900nm和1700nm之间和特别有利地在1450nm和1550nm之间记录施加到所述承载材料上的树脂层的至少一个NIR光谱；
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通过将针对所述树脂层记录的NIR光谱与所创建的校准模型比较来确定涂覆到所述承载材料上的树脂层的期望的参数。4.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，为了创建所述校准模型使用出自所有记录的光谱范围的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：诺贝特，
申请(专利权)人：地板技术有限公司，
类型：发明
国别省市：