GPU的调试装置、GPU及调试系统制造方法及图纸

技术编号:35541073 阅读:15 留言:0更新日期:2022-11-09 15:09
本发明专利技术提供一种GPU的调试装置、GPU及调试系统,调试装置包括:与核组连接的调试模块,以及分别与调试模块和命令处理器连接的调试控制器;调试控制器用于接收调试主机发送的初始调试指令,对初始调试指令进行解析,得到解析指令;若解析指令包括第一目标调试指令以及第二目标调试指令,则将第一目标调试指令发送至调试模块,以及将第二目标调试指令发送至命令处理器;第一目标调试指令用于指示调试模块控制核组进行调试,以使核组发送对应的调试结果数据;第二目标调试指令用于指示命令处理器控制配套模块发送对应的调试配置数据,以使调试主机得到调试结果数据和调试配置数据,根据调试结果数据和调试配置数据,确定GPU的性能结果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
GPU的调试装置、GPU及调试系统


[0001]本专利技术涉及硬件测试
,具体涉及一种GPU的调试装置、GPU及调试系统。

技术介绍

[0002]图形处理器(英语:graphics processing unit,缩写:GPU),又称显示核心、视觉处理器、显示芯片,是一种专门在个人电脑、工作站、游戏机和一些移动设备(如平板电脑、智能手机等)上做图像和图形相关运算工作的微处理器。
[0003]GPU的调试能够确定GPU的性能结果,从而根据得到的性能结果对GPU进行修复或淘汰,避免影响整个设备的处理性能。然而,在现有技术中,无法很好对GPU进行调试,导致得到的性能结果的可信度较低。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中所存在的不足,本专利技术提供一种GPU的调试装置、GPU及调试系统。
[0005]第一方面,在一个实施例中,本专利技术提供一种GPU的调试装置,用于对GPU进行调试,GPU包括命令处理器以及分别与命令处理器连接的核组和配套模块;调试装置包括:与核组连接的调试模块,以及分别与调试模块和命令处理器连接的调试控制器;调试控制器用于接收调试主机发送的初始调试指令,对初始调试指令进行解析,得到解析指令;若解析指令包括第一目标调试指令以及第二目标调试指令,则将第一目标调试指令发送至调试模块,以及将第二目标调试指令发送至命令处理器;第一目标调试指令用于指示调试模块控制核组进行调试,以使核组发送对应的调试结果数据;第二目标调试指令用于指示命令处理器控制配套模块发送对应的调试配置数据,以使调试主机得到调试结果数据和调试配置数据,根据调试结果数据和调试配置数据,确定GPU的性能结果。
[0006]在一个实施例中,调试模块包括分别与调试控制器和核组连接的调试状态模块、与调试状态模块连接的调试内存模块;调试状态模块用于解析第一目标调试指令,得到第一调试命令以及调试程序,将调试程序发送至调试内存模块进行存储,将第一调试命令发送至核组;第一调试命令用于指示核组获取调试内存模块中的调试程序,根据调试程序进行调试。
[0007]在一个实施例中,核组设有多个,调试模块设有多个,调试模块与核组一一对应,每个调试模块分别与对应的核组以及调试控制器连接。
[0008]在一个实施例中,调试装置还包括:分别与核组和配套模块连接的调试总线,分别与调试控制器和调试总线连接的数据存储模块,数据存储模块配置有数据收发接口,数据存储模块通过数据收发接口与调试
主机进行数据传输;调试总线用于将核组输出的调试结果数据和配套模块输出的调试配置数据发送至数据存储模块;数据存储模块用于在调试控制器的控制下,通过数据收发接口接收调试主机发送的初始调试指令,并将初始调试指令发送至调试控制器,以及通过数据收发接口将调试总线发送的调试结果数据和调试配置数据发送至调试主机。
[0009]在一个实施例中,核组包括第一控制核以及分别与第一控制核连接的多个核单元,每个核单元包括与第一控制核连接的第二控制核以及分别与第二控制核连接的多个处理核,调试模块与第一控制核连接,调试总线分别与每个核单元中的每个处理核连接;调试模块具体用于解析第一目标调试指令,得到第一调试命令,将第一调试命令发送至第一控制核;第一调试命令用于指示第一控制核分别向每个核单元中的第二控制核发送第二调试命令;第二调试命令用于指示对应的核单元中的第二控制核分别向该核单元中的每个处理核发送第三调试命令;第三调试命令用于指示该核单元中对应的处理核进行调试,将对应的调试结果数据发送至调试总线。
[0010]在一个实施例中,调试装置还包括:多个第一数据选择器,第一数据选择器与核单元一一对应,每个第一数据选择器分别与对应的核单元中的第二控制核以及每个处理核连接;分别与每个第一数据选择器连接的第二数据选择器,第二数据选择器与调试总线连接;每个第一数据选择器用于接收对应的核单元中的第二控制核发送的数据选择命令以及接收对应的核单元中每个处理核发送的初始调试结果数据,根据数据选择命令,从每个处理核发送的初始调试结果数据得到调试结果数据,将调试结果数据发送至第二数据选择器;数据选择命令根据第二调试命令得到;第二数据选择器用于将每个第一数据选择器输出的调试结果数据进行整合,将整合后的调试结果数据发送至调试总线。
[0011]在一个实施例中,命令处理器通过系统总线分别与核组和配套模块连接,数据存储模块与系统总线连接;数据存储模块还用于在调试控制器的控制下,通过数据收发接口将系统总线发送的命令处理器、核组以及配套模块之间交互的实时运行数据发送至调试主机。
[0012]在一个实施例中,数据存储模块还分别配置有显示接口和逻辑分析接口;数据存储模块还用于在调试控制器的控制下,通过显示接口将调试结果数据、调试配置数据或实时运行数据中的显示数据发送至显示设备进行显示;数据存储模块还用于在调试控制器的控制下,通过逻辑分析接口将调试结果数据、调试配置数据或实时运行数据中的逻辑分析数据发送至逻辑分析设备进行逻辑分析。
[0013]第二方面,在一个实施例中,本专利技术提供一种可支持调试的GPU,包括命令处理器以及分别与命令处理器连接的核组和配套模块,还包括:
上述任一种实施例中的GPU的调试装置,GPU的调试装置中的调试模块与核组连接,GPU的调试装置中的调试控制器与命令处理器连接。
[0014]第三方面,在一个实施例中,本专利技术提供一种GPU调试系统,包括上述任一种实施例中的可支持调试的GPU;还包括:与可支持调试的GPU中的调试控制器连接的调试主机。
[0015]通过上述GPU的调试装置、GPU及调试系统,与调试主机连接的调试控制器,能够解析调试主机发送的初始调试指令,得到解析指令,其中解析指令可以包括第一目标调试指令和第二目标调试指令,由于调试控制器分别与调试模块和命令处理器连接,因此可分别将第一目标调试指令和第二目标调试指令发送至调试模块和命令处理器,与核组连接的调试模块,能够根据第一目标调试指令对核组进行调试,从而使核组向调试主机返回对应的调试结果数据,命令处理器能够根据第二目标调试指令控制配套模块向调试主机返回对应的调试配置数据,从而调试主机能够同时获取到GPU工作时针对核组的调试结果数据以及针对配套模块的调试配置数据,进而进行全面分析,最终确定得到可信度较高的GPU的性能结果。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本专利技术一个实施例中GPU的调试装置的结构示意图;图2为本专利技术一个实施例中包含调试内存模块的GPU的调试装置的结构示意图;图3为本专利技术一个实施例中核组和调试模块都设有多个的GPU的调试装置的结构示意图;图4为本专利技术一个实施例中包含调试总线、数据存储模块以及数据收发接口的GPU的调试装置的结构示意图;图本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种GPU的调试装置,其特征在于,用于对GPU进行调试,所述GPU包括命令处理器以及分别与所述命令处理器连接的核组和配套模块;所述调试装置包括:与所述核组连接的调试模块,以及分别与所述调试模块和所述命令处理器连接的调试控制器;所述调试控制器用于接收调试主机发送的初始调试指令,对所述初始调试指令进行解析,得到解析指令;若所述解析指令包括第一目标调试指令以及第二目标调试指令,则将所述第一目标调试指令发送至所述调试模块,以及将所述第二目标调试指令发送至所述命令处理器;所述第一目标调试指令用于指示所述调试模块控制所述核组进行调试,以使所述核组发送对应的调试结果数据;所述第二目标调试指令用于指示所述命令处理器控制所述配套模块发送对应的调试配置数据,以使所述调试主机得到所述调试结果数据和所述调试配置数据,根据所述调试结果数据和调试配置数据,确定所述GPU的性能结果。2.根据权利要求1所述的GPU的调试装置,其特征在于,所述调试模块包括分别与所述调试控制器和所述核组连接的调试状态模块、与所述调试状态模块连接的调试内存模块;所述调试状态模块用于解析所述第一目标调试指令,得到第一调试命令以及调试程序,将所述调试程序发送至所述调试内存模块进行存储,将所述第一调试命令发送至所述核组;所述第一调试命令用于指示所述核组获取所述调试内存模块中的调试程序,根据所述调试程序进行调试。3.根据权利要求1所述的GPU的调试装置,其特征在于,所述核组设有多个,所述调试模块设有多个,所述调试模块与所述核组一一对应,每个所述调试模块分别与对应的核组以及所述调试控制器连接。4.根据权利要求1所述的GPU的调试装置,其特征在于,所述调试装置还包括:分别与所述核组和所述配套模块连接的调试总线,分别与所述调试控制器和所述调试总线连接的数据存储模块,所述数据存储模块配置有数据收发接口,所述数据存储模块通过所述数据收发接口与所述调试主机进行数据传输;所述调试总线用于将所述核组输出的所述调试结果数据和所述配套模块输出的调试配置数据发送至所述数据存储模块;所述数据存储模块用于在所述调试控制器的控制下,通过所述数据收发接口接收所述调试主机发送的所述初始调试指令,并将所述初始调试指令发送至所述调试控制器,以及通过所述数据收发接口将所述调试总线发送的所述调试结果数据和所述调试配置数据发送至所述调试主机。5.根据权利要求4所述的GPU的调试装置,其特征在于,所述核组包括第一控制核以及分别与所述第一控制核连接的多个核单元,每个所述核单元包括与所述第一控制核连接的第二控制核以及分别与所述第二控制核连接的多个处理核,所述调试模块与所述第一控制核连接,所述调试总线分别与每个所述核单元中的每个处理核连...

【专利技术属性】
技术研发人员:何锦成江靖华曹奇中张坚
申请(专利权)人:深流微智能科技深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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