一种纺织品印染工艺中印染识别方法技术

技术编号:35540610 阅读:16 留言:0更新日期:2022-11-09 15:08
本发明专利技术涉及数据识别领域,具体涉及一种纺织品印染工艺中印染识别方法,包括:获取纺织品灰度图和所有匹配点组;通过角点匹配得到各匹配点组的形变量;根据形变量拟合各区域的线性模型;利用各线性模型的拟合精度得到基于单区域分析的变形符合率;根据各线性模型的形变参数得到变形导致的纹理形变规律曲线;根据曲线上相邻点的变化情况得到基于整体分析的变形符合率,进而得到纹理形变符合率;根据纹理形变符合率判定纺织品中是否存在变形造成的纹理形变;利用线性模型去除纺织品中存在的变形造成的纹理形变,对只存在印染缺陷的纺织品图像进行缺陷检测。上述方法用于检测纺织品印染缺陷,通过上述方法可提高缺陷检测的准确度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
一种纺织品印染工艺中印染识别方法


[0001]本专利技术涉及人工智能领域,具体涉及一种纺织品印染工艺中印染识别方法。

技术介绍

[0002]在进行纺织品印染缺陷检测时,一般通过两个平行辊轮转动带动纺织品移动,在纺织品正上方放置一个快拍相机采集纺织品图像,通过将采集的图像中印染信息与底版信息匹配来判断纺织品是否存在印染缺陷。然而这种检测方式会存在辊轮设备的速度波动或张力变化导致纺织品存在蛇形跑动现象,即存在一端纺织品运动速度较快,另一端运动速度较慢,此时就会存在纺织品的一端拉紧,一端松弛的状态,该现象就会造成同一水平线上印刷信息存在不同的形变,这种形变会被误检成缺陷,降低印染缺陷的检测精度。
[0003]常规的纺织品印染缺陷检测没有考虑速度波动或纺织品张力影响下造成的形变影响,直接进行缺陷检测,使得一些张力变化造成的形变被误检成缺陷。因此亟需一种方法用于消除纺织品变形造成的纹理形变,从而提高纺织品印染缺陷检测的准确性。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种纺织品印染工艺中印染识别方法,包括:获取纺织品灰度图和所有匹配点组;通过角点匹配得到各匹配点组的形变量;根据形变量拟合各区域的线性模型;利用各线性模型的拟合精度得到基于单区域分析的变形符合率;根据各线性模型的形变参数得到变形导致的纹理形变规律曲线;根据曲线上相邻点的变化情况得到基于整体分析的变形符合率,进而得到纹理形变符合率;根据纹理形变符合率判定纺织品中是否存在变形造成的纹理形变;利用线性模型去除纺织品中存在的变形造成的纹理形变,对只存在印染缺陷的纺织品图像进行缺陷检测,相比于现有技术,本专利技术通过分析同行印染纹理的形变关系,根据形变模型参数分析整张图像的形变规律,从而计算出纺织品变形造成的纹理形变符合率。根据拟合的形变模型去除纺织品变形造成的纹理形变,再进行纺织品印染缺陷判定,可以提高纺织品印染缺陷检测的准确性。
[0005]为达到上述目的,本专利技术采用以下技术方案,一种纺织品印染工艺中印染识别方法,包括:获取待测纺织品表面灰度图和底版图。
[0006]对灰度图和底版图进行角点匹配,得到所有匹配点组。
[0007]对灰度图和底版图进行区间划分得到各区域,根据匹配点组中的匹配点分别在灰度图和底版图中与之相邻区域的匹配点的纵向距离,得到各匹配点组的形变量。
[0008]以各匹配点组的横向像素距离为横坐标,各匹配点组的形变量为纵坐标,拟合得到各区域的线性模型。
[0009]根据拟合各区域线性模型的所有匹配点组的形变量计算得到各区域的线性模型的拟合精度。
[0010]利用每个区域拟合精度计算得到基于单区域分析的纺织品变形符合率。
[0011]以各区域的区域序列为横坐标,各区域的线性模型的形变参数为纵坐标,拟合得到纺织品变形导致的纹理形变规律曲线。
[0012]根据纺织品变形导致的纹理形变规律曲线上相邻点的变化情况得到基于整体分析的纺织品变形符合率。
[0013]利用基于单区域分析的纺织品变形符合率和基于整体分析的纺织品变形符合率得到待测纺织品变形造成的纹理形变符合率。
[0014]根据纹理形变符合率对待测纺织品中是否存在纺织品变形造成的纹理形变进行判定。
[0015]利用各区域的线性模型去除待测纺织品中存在的纺织品变形造成的纹理形变,得到只存在印染缺陷的待测纺织品图像。
[0016]对只存在印染缺陷的待测纺织品图像进行语义分割,得到待测纺织品中的印染缺陷。
[0017]进一步的,所述一种纺织品印染工艺中印染识别方法,所述待测纺织品表面灰度图是按照如下方式获取:采集待测纺织品表面图像。
[0018]对待测纺织品表面图像进行灰度化处理和透视形变修复,获取待测纺织品表面灰度图。
[0019]进一步的,所述一种纺织品印染工艺中印染识别方法,所述各匹配点组的形变量是按照如下方式得到:对灰度图和底版图进行区间划分得到各区域。
[0020]计算灰度图中相邻两区域间两较近匹配点之间的纵向距离。
[0021]获取底版图中与灰度图对应的两匹配点之间的纵向距离。
[0022]将灰度图中相邻两区域间两较近匹配点之间的纵向距离和底版图中与灰度图对应的两匹配点之间的纵向距离进行作差,得到各匹配点组的初始形变量。
[0023]根据底版图中与灰度图对应的两匹配点之间的纵向距离的均值对各匹配点组的初始形变量进行修正,得到各匹配点组的形变量。
[0024]进一步的,所述一种纺织品印染工艺中印染识别方法,所述各区域的线性模型的拟合精度是按照如下方式得到:对拟合各区域线性模型的所有匹配点组的形变量坐标集合进行凸包检测,获取各区域形变坐标点拟合凸包的长宽比。
[0025]利用各区域线性模型计算得到的拟合匹配点组的形变量和实际匹配点组的形变量,计算得到各区域的线性模型的拟合平均损失。
[0026]根据各区域形变坐标点拟合凸包的长宽比和各区域的线性模型的拟合平均损失,计算得到各区域的线性模型的拟合精度。
[0027]进一步的,所述一种纺织品印染工艺中印染识别方法,所述基于整体分析的纺织品变形符合率是按照如下方式得到:获取纺织品变形导致的纹理形变规律曲线上的最小极值点及其两侧点集合。
[0028]根据最小极值点两侧各点的形变参数计算得到最小极值点两侧两两相邻点之间的变化率。
[0029]根据最小极值点两侧两两相邻点之间的变化率获取最小极值点两侧不符合递增特征的点集合。
[0030]根据最小极值点两侧不符合递增特征的点集合中各点的形变参数,计算得到最小极值点两侧不符合递增特征的点波动偏差。
[0031]利用最小极值点两侧不符合递增特征的点对应的线性模型的拟合精度和点波动偏差,计算得到最小极值点两侧曲线的符合率。
[0032]将最小极值点两侧曲线的符合率相加得到基于整体分析的纺织品变形符合率。
[0033]进一步的,所述一种纺织品印染工艺中印染识别方法,所述待测纺织品变形造成的纹理形变符合率的表达式如下:式中,P为待测纺织品变形造成的纹理形变符合率,表示基于第k区域分析的纺织品变形符合率,表示总区域数,表示基于整体分析的纺织品变形符合率。
[0034]进一步的,所述一种纺织品印染工艺中印染识别方法,所述对待测纺织品中是否存在纺织品变形造成的纹理形变进行判定的过程具体如下:设置阈值,对待测纺织品中是否存在纺织品变形造成的纹理形变进行判定。
[0035]当待测纺织品变形造成的纹理形变符合率大于设置的阈值时,判定该纺织品中存在纺织品变形造成的纹理形变。
[0036]本专利技术的有益效果是:本专利技术通过分析同行印染纹理的形变关系,根据形变模型参数分析整张图像的形变规律,从而计算出纺织品变形造成的纹理形变符合率。根据拟合的形变模型去除纺织品变形造成的纹理形变,再进行纺织品印染缺陷判定,可以提高纺织品印染缺陷检测的准确性。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纺织品印染工艺中印染识别方法,其特征在于,包括:获取待测纺织品表面灰度图和底版图;对灰度图和底版图进行角点匹配,得到所有匹配点组;对灰度图和底版图进行区间划分得到各区域,根据匹配点组中的匹配点分别在灰度图和底版图中与之相邻区域的匹配点的纵向距离,得到各匹配点组的形变量;以各匹配点组的横向像素距离为横坐标,各匹配点组的形变量为纵坐标,拟合得到各区域的线性模型;根据拟合各区域线性模型的所有匹配点组的形变量计算得到各区域的线性模型的拟合精度;利用每个区域拟合精度计算得到基于单区域分析的纺织品变形符合率;以各区域的区域序列为横坐标,各区域的线性模型的形变参数为纵坐标,拟合得到纺织品变形导致的纹理形变规律曲线;根据纺织品变形导致的纹理形变规律曲线上相邻点的变化情况得到基于整体分析的纺织品变形符合率;利用基于单区域分析的纺织品变形符合率和基于整体分析的纺织品变形符合率得到待测纺织品变形造成的纹理形变符合率;根据纹理形变符合率对待测纺织品中是否存在纺织品变形造成的纹理形变进行判定;利用各区域的线性模型去除待测纺织品中存在的纺织品变形造成的纹理形变,得到只存在印染缺陷的待测纺织品图像;对只存在印染缺陷的待测纺织品图像进行语义分割,得到待测纺织品中的印染缺陷。2.根据权利要求1所述的一种纺织品印染工艺中印染识别方法,其特征在于,所述待测纺织品表面灰度图是按照如下方式获取:采集待测纺织品表面图像;对待测纺织品表面图像进行灰度化处理和透视形变修复,获取待测纺织品表面灰度图。3.根据权利要求1所述的一种纺织品印染工艺中印染识别方法,其特征在于,所述各匹配点组的形变量是按照如下方式得到:对灰度图和底版图进行区间划分得到各区域;计算灰度图中相邻两区域间两较近匹配点之间的纵向距离;获取底版图中与灰度图对应的两匹配点之间的纵向距离;将灰度图中相邻两区域间两较近匹配点之间的纵向距离和底版图中与灰度图对应的两匹配点之间的纵向距离进行作差,得到各匹配点组的初始形变量;根据底版图中与灰度图对应的两匹配点之间的纵向距离的均值对各...

【专利技术属性】
技术研发人员:姜照标
申请(专利权)人:南通富兰妮纺织品有限公司
类型:发明
国别省市:

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