一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法技术

技术编号:35516868 阅读:29 留言:0更新日期:2022-11-09 14:34
本发明专利技术公开了一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法,包括以下步骤:S1:首先利用地球物理勘探方法在大坝上探测出渗漏区域或有争议的渗漏区域;S2:使用探测工具的探头对大坝水库库区内进行采集背景值,并对采集的背景值进行记录;S3:在S1中所述的渗漏区域或有争议的渗漏区域区域内利用钻头进行合理布置钻孔,并将钻孔钻至渗漏区域的渗漏高程。本发明专利技术通过对渗漏区域或有争议的渗漏区域的电位值、水位观察和背景值进行采集测量,并对其结果进行综合,能够明确得知坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程,实现准确定位,满足使用需求。满足使用需求。

【技术实现步骤摘要】
一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法


[0001]本专利技术涉及探测渗漏通道与渗流场领域,尤其涉及一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法。

技术介绍

[0002]水库作为一种非常重要的水利工程在我国国民经济建设中发挥着巨大的作用,由于多种因素导致很多大坝都会出现渗漏的情况,因此需要准确探测大坝的渗漏通道与渗流场,目前判断大坝渗漏的方法主要是通过地球物理勘探方法,如电法类、电磁法类、弹性波类等,这些均是间接的测量方法,间接的测量方法只是推测大坝的渗漏区域,所给的渗漏区域普遍偏大,甚至某些检测成果具有多解性,很难将大坝的渗漏通道与渗流场准确定位,不能满足使用需要,综合上述情况,因此我们提出了一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法用于解决上述问题。

技术实现思路

[0003]基于
技术介绍
存在的技术问题,本专利技术提出了一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法。
[0004]本专利技术提出的一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法,包括以下步骤:S1:首先利用地球物理勘探方法在大坝上探测出渗漏区域或有争议的渗漏区域;S2:使用探测工具的探头对大坝水库库区内进行采集背景值,并对采集的背景值进行记录;S3:在S1中所述的渗漏区域或有争议的渗漏区域区域内利用钻头进行合理布置钻孔,并将钻孔钻至渗漏区域的渗漏高程;S4:在S3中钻孔的过程中,通过观察钻孔地下水位与周边地下水位相比较,通过观察水位的变化可初步判断该孔及其周边是否存在渗漏部位;S5:紧接着在S1所述的渗漏区域或有争议的渗漏区域内找出渗漏出水口,并在渗漏出水口处进行安装有一个供电电极A,然后在大坝水库库区内进行安装一个供电电极B;S6:将探测工具上的探头徐徐放入到S2中所述的钻孔内,同时配合S3中的供电电极A和供电电极B进行测量,并记录下不同高程的相应电位值;S7:将S6中测量的电位值结果进行综合,通过与S2中的背景值进行对比,以及综合S4中的水位情况,从而确认该坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程;S8:根据S7中所述的坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程,运用综合示踪法监测渗漏源、渗漏场和漏水点物性特性的变化,判断大坝的渗漏源和渗透缺陷。
[0005]优选的,所述S5中,供电电极B为无穷远供电电极。
[0006]优选的,所述S4中,若钻孔内的水位高于周边水位时,则说明该处地下水受到较大渗流补给,该处防渗体系出现了渗漏,地下水位越高,则渗漏量越大,进而可初步判断大坝渗漏部位,当坝体内地下水位与水库水位基本一致时,说明坝体不存在渗漏,若地下水位低
于水库水位时,则说明该处存在着渗漏,差值越大,说明渗漏量大。
[0007]优选的,所述S6中,探测工具为超浅层瞬变电磁仪,其采用了共面等值反磁原理,通过不接地回线或接地电极向地下发射垂直方向的一次脉冲磁场,使地下低阻介质产生感应涡流,进而产生二次磁场,观测并研究该二次场的时空分布特征,从而可以探查地下介质的性质及分布特征。
[0008]优选的,所述S2中,采集的背景值范围包括地质、土壤、地表水、地下水和气候条件。
[0009]优选的,所述S3中,钻头的长度为350mm

420mm之间。
[0010]与现有的技术相比,本专利技术的有益效果是:本专利技术通过对渗漏区域或有争议的渗漏区域的电位值、水位观察和背景值进行采集测量,并对其结果进行综合,能够明确得知坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程,实现准确定位,满足使用需求。
具体实施方式
[0011]下面结合具体实施例对本专利技术作进一步解说。
实施例
[0012]本实施例提出了一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法,包括以下步骤:S1:首先利用地球物理勘探方法在大坝上探测出渗漏区域或有争议的渗漏区域;S2:使用探测工具的探头对大坝水库库区内进行采集背景值,并对采集的背景值进行记录,其中采集的背景值范围包括地质、土壤、地表水、地下水和气候条件,通过对地质、土壤、地表水、地下水和气候条件的情况进行采集,从而实现对渗漏区域或有争议的渗漏区域的判断;S3:在S1中的渗漏区域或有争议的渗漏区域区域内利用钻头进行合理布置钻孔,并将钻孔钻至渗漏区域的渗漏高程,其中钻头的长度为350mm

420mm之间;S4:在S3中钻孔的过程中,通过观察钻孔地下水位与周边地下水位相比较,通过观察水位的变化可初步判断该孔及其周边是否存在渗漏部位,其中若钻孔内的水位高于周边水位时,则说明该处地下水受到较大渗流补给,该处防渗体系出现了渗漏,地下水位越高,则渗漏量越大,进而可初步判断大坝渗漏部位,当坝体内地下水位与水库水位基本一致时,说明坝体不存在渗漏,若地下水位低于水库水位时,则说明该处存在着渗漏,差值越大,说明渗漏量大;S5:紧接着在S1的渗漏区域或有争议的渗漏区域内找出渗漏出水口,并在渗漏出水口处进行安装有一个供电电极A,然后在大坝水库库区内进行安装一个供电电极B,其中供电电极B为无穷远供电电极;S6:将探测工具上的探头徐徐放入到S2中的钻孔内,同时配合S3中的供电电极A和供电电极B进行测量,并记录下不同高程的相应电位值,其中探测工具为超浅层瞬变电磁仪,其采用了共面等值反磁原理,通过不接地回线或接地电极向地下发射垂直方向的一次脉冲磁场,使地下低阻介质产生感应涡流,进而产生二次磁场,观测并研究该二次场的时空分布特征,从而可以探查地下介质的性质及分布特征,从而能够实现对电位值的测量;
S7:将S6中测量的电位值结果进行综合,通过与S2中的背景值进行对比,以及综合S4中的水位情况,从而确认该坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程;S8:根据S7中的坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程,运用综合示踪法监测渗漏源、渗漏场和漏水点物性特性的变化,判断大坝的渗漏源和渗透缺陷,通过判断大坝的渗漏源和渗透缺陷,方便人员后续的修补作业。
[0013]本实施例提出的探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法与常规的探测方法相比较,如下表所示:通过上表可以看出本申请探测方法相对于常规探测方法来说,能够对渗漏区域或有争议的渗漏区域的电位值、水位观察和背景值进行采集测量,并对其结果进行综合,能够明确得知坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程,实现准确定位,满足使用需求。
[0014]以上所述,仅为本专利技术较佳的具体实施方式,但本专利技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内,根据本专利技术的技术方案及其
专利技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探测大坝的渗漏通道与渗流场的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:首先利用地球物理勘探方法在大坝上探测出渗漏区域或有争议的渗漏区域;S2:使用探测工具的探头对大坝水库库区内进行采集背景值,并对采集的背景值进行记录;S3:在S1中所述的渗漏区域或有争议的渗漏区域内利用钻头进行合理布置钻孔,并将钻孔钻至渗漏区域的渗漏高程;S4:在S3中钻孔的过程中,通过观察钻孔地下水位与周边地下水位相比较,通过观察水位的变化可初步判断该孔及其周边是否存在渗漏部位;S5:紧接着在S1所述的渗漏区域或有争议的渗漏区域内找出渗漏出水口,并在渗漏出水口处进行安装有一个供电电极A,然后在大坝水库库区内进行安装一个供电电极B;S6:将探测工具上的探头徐徐放入到S2中所述的钻孔内,同时配合S3中的供电电极A和供电电极B进行测量,并记录下不同高程的相应电位值;S7:将S6中测量的电位值结果进行综合,通过与S2中的背景值进行对比,以及综合S4中的水位情况,从而确认该坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程;S8:根据S7中所述的坝体的渗漏通道与渗流场及渗漏高程,运用综合示踪法监测渗漏源、渗漏场和漏...

【专利技术属性】
技术研发人员:张望陈世月邬雄华杨一闻林珍韦馨悠
申请(专利权)人:海南省水利水电勘测设计研究院
类型:发明
国别省市:

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