使用LIDAR传感器跟踪物体的方法和装置及相应记录介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种使用LIDAR传感器跟踪物体的方法和装置及相应记录介质，其中跟踪物体的方法，包括以下步骤：检查由LiDAR传感器生成的点，以在存在与物体相关联的缺失点时确定第一插值参考点和第二插值参考点；以及生成插值点以替换第一插值参考点和第二插值参考点之间的缺失点。的缺失点。的缺失点。

【技术实现步骤摘要】
使用LIDAR传感器跟踪物体的方法和装置及相应记录介质


[0001]本专利技术实施例涉及一种使用LiDAR传感器跟踪物体的方法和装置，并且涉及一种存储执行该方法的程序的记录介质。

技术介绍

[0002]人们正在开发各种用于车辆自主驾驶的技术。例如，可以使用光检测和测距(LiDAR)传感器获得目标车辆的相关信息，并且可以使用所获得的信息来支持车辆的自主驾驶功能。然而，在一些情况下，由于目标物体的特征，可能无法通过LiDAR传感器准确获取点云，从而导致单个物体被识别为多个物体而不是一个物体的过度划分。因此，以解决这个问题为目标的研究正在进行。

技术实现思路

[0003]因此，实施例旨在提供一种使用LiDAR传感器跟踪物体的方法和装置，并且提供一种存储执行该方法的程序的记录介质，该方法和装置以及记录介质基本上消除了因现有技术的限制和缺点而导致的一个或多个问题。
[0004]实施例提供一种使用LiDAR传感器跟踪物体的方法和装置，其表现出优异的物体跟踪性能，以及存储执行该方法的程序的记录介质。
[0005]然而，实施例的特征不限于上述特征，并且本领域技术人员将从以下描述清楚地理解本文未提及的其他特征。
[0006]根据实施例，一种使用LiDAR传感器跟踪物体的方法可以包括检查由LiDAR传感器生成的点，以在存在与该物体相关联的缺失点时确定第一插值参考点和第二插值参考点，以及生成插值点以替换第一插值参考点和第二插值参考点之间的缺失点。
[0007]例如，该方法可以进一步包括对包括插值点的经划分的点执行初标记以生成第一集群；检查插值点的密度，以在第一集群中找出要执行再标记的目标集群；以及对目标集群执行再标记以生成第二集群。
[0008]例如，确定第一插值参考点可以包括确定用于第一插值参考点的候选点；检查候选点是否是可以被识别为物体的点；以及基于该检查的结果将候选点确定为第一插值参考点。
[0009]例如，确定第二插值参考点可以包括继第一插值参考点之后检查是否存在缺失点；以及当存在缺失点后再次生成点时，将再次生成的点确定为第二插值参考点。
[0010]例如，当基于点的扫描图案的检查结果确定点在同一扫描区段缺失时，确定第一插值参考点和第二插值参考点。
[0011]例如，该方法可进一步包括检查是否有必要基于第一插值参考点和第二插值参考点来生成插值点。
[0012]例如，检查是否有必要生成插值点的步骤包括以下至少之一：检查缺失点所属的目标层是否在阈值层范围内；检查缺失点的数量是否大于阈值缺失数量；检查第一插值参
考点和第二插值参考点之间的间距是否大于阈值间距；或者检查第一插值参考点和第二插值参考点是否位于感兴趣区域。是否生成插值点是可以使用该检查结果来确定。
[0013]例如，阈值层范围、阈值缺失数量、阈值间距和感兴趣区域范围中的至少一个是可以根据第一插值参考点和第二插值参考点来改变。
[0014]例如，可以生成插值点，以便在将第一插值参考点和第二插值参考点互相连接的假想直线上以固定间隔彼此间隔开。
[0015]例如，用于生成第一集群的第一标记阈值和用于生成第二集群的第二标记阈值可以彼此不同。
[0016]例如，可以将第二标记阈值拆分，以具有小于第一标记阈值的大小。
[0017]例如，找出目标集群可以包括至少以下项目之一：检查第一集群是否位于感兴趣区域；检查第一集群中所包含的点中由LiDAR传感器生成的点的数量是否小于阈值生成数量；以及检查第一集群中所包含的点中的插值点的密度是否大于阈值密度。目标集群可以使用该检查结果从第一集群中选择。
[0018]例如，感兴趣区域范围、阈值生成数量和阈值密度中的至少一个可以按照第一插值参考点和第二插值参考点来改变。
[0019]根据另一实施例，一种使用LiDAR传感器跟踪物体的装置，可包括：划分单元，被配置为将由LiDAR传感器生成的点划分；以及集群单元，被配置为使经划分的点集群。划分单元包括：点确定器，被配置为检查所生成的点，以在存在与物体相关联的缺失点时确定第一插值参考点和第二插值参考点；插值检验器，被配置为检查是否有必要基于第一插值参考点和第二插值参考点生成插值点；以及点生成器，被配置为响应于检查结果生成插值点，以替换第一插值参考点和第二插值参考点之间的缺失点。
[0020]例如，集群单元包括：第一集群单元，被配置为对包含插值点的经划分的点执行初标记以生成第一集群；集群检验器，被配置为检查插值点的密度，以在第一集群中找出要执行再标记的目标集群；以及第二集群单元，被配置为对目标集群执行再标记以生成第二集群。
[0021]例如，用于生成第一集群的第一标记阈值和用于生成第二集群的第二标记阈值彼此不同。
[0022]在又一个实施例中，一种记录介质，其中记录执行使用LiDAR传感器跟踪物体的方法的程序，可存储程序以执行以下功能：检查由LiDAR传感器生成的点以在存在与物体相关联的缺失点来确定第一插值参考点和第二插值参考点的功能；以及生成插值点以替换第一插值参考点和第二插值参考点之间的缺失点的功能。该记录介质可由计算机系统读取。
[0023]例如，该记录介质可存储进一步执行以下功能的程序：对包含插值点的经划分的点执行初标记以生成第一集群；检查插值点的密度以在第一集群中找出要执行再标记的目标集群；以及对目标集群执行再标记以生成第二集群。该记录介质可由计算机系统读取。
附图说明
[0024]包含附图是为了提供对本专利技术实施例的进一步理解，将附图并入本申请，构成本申请的一部分，这些附图说明了本专利技术的实施例并且与本说明书一起用于说明本专利技术实施例的原理，在附图中：
[0025]图1是示出根据实施例的物体跟踪方法的流程图；
[0026]图2是根据实施例的物体跟踪装置的示意性框图；
[0027]图3是示出图1所示的步骤130的实施例的流程图；
[0028]图4是示出图3所示的步骤132的实施例的流程图；
[0029]图5示例性地示出了用于生成帧的LiDAR扫描图案；
[0030]图6是用于说明图3所示的步骤130A的图解；
[0031]图7是示出图3所示的步骤134的实施例的流程图；
[0032]图8A、图8B、图9A、图9B、图10A、和图10B是用于说明调节第一阈值的图解；
[0033]图11A至图11C是用于帮助理解图3所示的步骤130A的图解；
[0034]图12是示出图1所示的步骤140的实施例的流程图；
[0035]图13是示出图12所示的步骤144的实施例的流程图；
[0036]图14示例性地示出了再标记；
[0037]图15是图2所示的划分单元的实施例的框图；
[0038]图16是图2所示的集群单元的实施例的框图；
[0039]图17A和图17B是示出根据比较例的物体跟踪方法的图解；
[0040]图18A至图18C是示出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种跟踪物体的方法，所述方法包括以下步骤：检查由LiDAR传感器生成的点，以在存在与所述物体相关联的缺失点时确定第一插值参考点和第二插值参考点；以及生成插值点以替换所述第一插值参考点和所述第二插值参考点之间的缺失点。2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括以下步骤：对包含所述插值点的经划分的点执行初标记以生成第一集群；检查所述插值点的密度，以在所述第一集群中找出要执行再标记的目标集群；以及对所述目标集群执行再标记以生成第二集群。3.根据权利要求2所述的方法，其中，用于生成所述第一集群的第一标记阈值和用于生成所述第二集群的第二标记阈值彼此不同。4.根据权利要求3所述的方法，其中，将所述第二标记阈值拆分，以具有小于所述第一标记阈值的大小。5.根据权利要求2所述的方法，其中，找出所述目标集群的步骤包括：检查所述第一集群是否位于感兴趣区域；检查在所述第一集群中所包含的点中由所述LiDAR传感器生成的点的数量是否小于阈值生成数量；或者检查在所述第一集群中所包含的点中的插值点的密度是否大于阈值密度。6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述目标集群是使用以下结果来从所述第一集群选择：所述第一集群是否位于感兴趣区域的检查结果、在所述第一集群中所包含的点中由所述LiDAR传感器生成的点的数量是否小于所述阈值生成数量的检查结果，或者在所述第一集群中包含的点中的插值点的密度是否大于所述阈值密度的检查结果。7.根据权利要求5所述的方法，其中，所述感兴趣区域的范围、所述阈值生成数量或者所述阈值密度是基于所述第一插值参考点和所述第二插值参考点而改变的。8.根据权利要求1所述的方法，其中，确定所述第一插值参考点的步骤包括：确定用于所述第一插值参考点的候选点；检查所述候选点是否是可识别为所述物体的点；以及基于所述检查的结果将所述候选点确定为所述第一插值参考点。9.根据权利要求8所述的方法，其中，确定所述第二插值参考点的步骤包括：继所述第一插值参考点之后，检查是否存在缺失点；以及当存在所述缺失点后再次生成点时，将再次生成的点确定为所述第二插值参考点。10.根据权利要求9所述的方法，进一步包括以下步骤：检查由所述LiDAR传感器生成的点的扫描图案；以及当基于所述检查的结果确定所述缺失点在同一扫描区段时，确定所述第一插值参考点和所述第二插值参考点。11.根据权利要求10所述的方法，进一步包括检查是否有必要基于所述第一插值参考点和所述第二插值参考点来生成所述插值点。12.根据权利要求11所述的方法，其中，检查是否有必要生成所述插值点的步骤包括：检查所述缺失点所属的目标层是否在阈值层范围内；检查所述缺失点的数量是否大于阈值缺失数量；
检查所述第一插值参考点和所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：金南均，郑武官，
申请(专利权)人：起亚株式会社，
类型：发明
国别省市：