用于存储装置的自动电源噪声敏感度测试系统制造方法及图纸

技术编号:35502540 阅读:15 留言:0更新日期:2022-11-09 14:12
提供了一种用于存储装置的自动电源噪声敏感度测试系统。一种系统包括:主机;存储装置;以及多噪声注入模块。每个噪声注入模块包括:第一继电器至第三继电器,耦合到第一路径或第二路径。第一条路径包括:运算放大器,用于生成高噪声函数;第一可变调节器,用于生成第一调节电源电压或第二调节电源电压;以及用于生成低噪声函数和第一电源噪声的电容器注入电路。第二路径包括:用于生成第三调节电源电压或第四调节电源电压的第二可变调节器以及用于生成第二电源噪声的功率放大器注入电路。第三继电器选择性地将第一电源噪声或第二电源噪声提供到存储装置。源噪声提供到存储装置。源噪声提供到存储装置。

【技术实现步骤摘要】
用于存储装置的自动电源噪声敏感度测试系统


[0001]本专利技术实施例涉及一种存储装置的电源噪声敏感度测试方案。

技术介绍

[0002]计算机环境范例已经转变成可以随时随地使用的普适计算系统。因此,诸如移动电话、数码相机和笔记本电脑的便携式电子装置的使用已经迅速增加。这些便携式电子装置通常使用具有存储器装置(即,数据存储装置)的存储器系统。数据存储装置用作便携式电子装置的主存储装置或辅助存储装置。
[0003]多年来,电源噪声敏感度测试或电源噪声注入测试已被用于筛选诸如硬盘驱动器(HDD)和固态驱动器(SSD)的存储装置。在这种情形下,出现了本专利技术的实施例。

技术实现思路

[0004]本专利技术的方面包括用于一个或多个存储装置的自动电源噪声敏感度测试的系统。
[0005]在本专利技术的一个方面,一种电源噪声敏感度测试系统包括:主机,包括被配置成提供电源电压的电源;多个存储装置,通过多高速外围组件互连(PCIe)链路耦合到主机;以及多噪声注入模块,用于测试多个存储装置的电源噪声敏感度。每个噪声注入模块包括:第一继电器,被配置成接收电源电压,并响应于频率选择信号,将电源电压输出到第一路径或第二路径;第二继电器,被配置成接收噪声函数,并响应于频率选择信号,将噪声函数输出到第一路径或第二路径;以及第三继电器,耦合到第一路径或第二路径和存储装置。第一路径包括:运算放大器,被配置成接收噪声函数,并响应于电源电压生成高噪声函数;第一可变调节器,被配置成接收和调节电源电压,以响应于电压选择信号生成第一调节电源电压或第二调节电源电压;以及电容器注入电路,被配置成接收第一调节电源电压或第二调节电源电压、噪声函数以及高噪声函数,并生成低噪声函数和第一电源噪声,第一电源噪声对应于第一调节电源电压或第二调节电源电压与高噪声函数的总和。第二路径包括:第二可变调节器,被配置成接收和调节电源电压,以响应于电压选择信号而=生成第三调节电源电压或第四调节电源电压;以及功率放大器注入电路,被配置成接收第三调节电源电压或第四调节电源电压以及低噪声函数,并生成与第三调节电源电压或第四调节电源电压与低噪声函数的总和相对应的第二电源噪声。第三继电器响应于频率选择信号选择性地接收第一电源噪声和第二电源噪声,并且将选择性地接收的电源噪声提供到存储装置。
[0006]在本专利技术的另一方面,一种用于测试存储装置的电源噪声敏感度的系统包括:第一继电器,被配置成接收电源电压,并响应于频率选择信号,将电源电压输出到第一路径或第二路径;第二继电器,被配置成接收噪声函数,并响应于频率选择信号,将噪声函数输出到第一路径;以及第三继电器,耦合到第一路径或第二路径和存储装置。第一路径包括:运算放大器,被配置成接收噪声函数并响应于电源电压生成高噪声函数;以及电容器注入电路,被配置成接收电源电压、噪声函数和高噪声函数,并生成低噪声函数和第一电源噪声,第一电源噪声对应于电源电压与高噪声函数的总和。第二路径包括:调节器,被配置成接收
电源电压并调节电源电压以生成调节电源电压;以及功率放大器注入电路,被配置成接收调节电源电压和低噪声函数,并生成与电源电压与低噪声函数的总和相对应的第二电源噪声。第三继电器响应于频率选择信号选择性地接收第一电源噪声和第二电源噪声,并且将选择性地接收的电源噪声提供到存储装置。
[0007]在本专利技术的又一方面,一种用于测试存储装置的电源噪声敏感度的系统包括:第一继电器,被配置成接收电源电压,并且响应于频率选择信号,将电源电压输出到第一路径或第二路径;第二继电器,被配置成接收噪声函数,并且响应于频率选择信号,将噪声函数输出到第一路径或第二路径;以及第三继电器,耦合到第一路径或第二路径和存储装置。第一路径包括:第一调节器,被配置成接收电源电压并调节电源电压以生成第一调节电源电压;运算放大器,被配置成接收噪声函数,并响应于第一调节电源电压生成高噪声函数;以及电容器注入电路,被配置成接收电源电压、噪声函数和高噪声函数,并生成低噪声函数和第一电源噪声,第一电源噪声对应于电源电压与高噪声函数的总和。第二路径包括:第二调节器,被配置成接收电源电压并调节电源电压以生成第二调节电源电压;以及功率放大器注入电路,被配置成接收第二调节电源电压和低噪声函数,并生成与电源电压与低噪声函数的总和相对应的第二电源噪声。第三继电器响应于频率选择信号选择性地接收第一电源噪声和第二电源噪声,并且将选择性地接收的电源噪声提供到存储装置。
[0008]通过下面的描述,本专利技术的附加方面将变得明显。
附图说明
[0009]图1至图3是示出用于存储装置的电源噪声敏感度测试系统的示例的示图。
[0010]图4是示出根据本专利技术的实施例的电源噪声敏感度测试系统的示图。
[0011]图5是示出根据本专利技术的实施例的电源噪声敏感度测试系统的示图。
[0012]图6是示出根据本专利技术的实施例的多个电源噪声敏感度测试系统的示图。
[0013]图7是示出根据本专利技术的实施例的电源噪声注入模块的示图。
具体实施方式
[0014]下面参照附图更详细地描述本专利技术的各个实施例。然而,本专利技术可以以不同的形式实现,并且因此不应当被解释为限于本文阐述的实施例。相反,提供这些实施例以使本公开是彻底和完整的,并且将本专利技术的范围充分传达给本领域技术人员。此外,本文中对“实施例”、“另一实施例”等的引用不一定仅针对一个实施例,并且对任何这种短语的不同引用不一定针对相同的实施例。在整个公开中,相同的附图标记在本专利技术的附图和实施例中指代相同的部件。
[0015]本专利技术可以以包括诸如以下的许多种方式来实施:过程;设备;系统;在计算机可读存储介质上实现的计算机程序产品;和/或处理器,诸如适用于运行存储在耦合到处理器的存储器上的指令和/或由耦合到处理器的存储器提供的指令的处理器。在本说明书中,这些实施方式或本专利技术可以采用的任意其他形式可以被称为技术方案。通常,可以在本专利技术的范围内改变所公开过程的步骤的顺序。除非另有说明,否则被描述为适用于执行任务的、诸如处理器或存储器的组件可以被实施为临时被配置成在给定时间执行该任务的通用组件或被制造为执行该任务的特定组件。如本文所使用的,术语“处理器”等是指适用于处理
诸如计算机程序指令的数据的一个或多个装置、电路和/或处理核。
[0016]下面结合示出本专利技术的方面的附图提供本专利技术的实施例的详细描述。结合这些实施例来描述本专利技术,但是本专利技术不限于任何实施例。本专利技术的范围仅由权利要求限定。本专利技术涵盖在权利要求书的范围内的许多替代方案、修改方案和等效方案。在下面的描述中阐述了许多具体细节,以便提供对本专利技术的详尽理解。提供这些细节是为了示例的目的;可以在没有一些或全部这些具体细节的情况下根据权利要求来实践本专利技术。为了清楚起见,没有详细描述与本专利技术相关的
中已知的技术材料,以免不必要地模糊本专利技术。
[0017]多年来,电源噪声敏感度测试或电源噪声注入测试已被用于筛选诸如硬盘驱动器(HDD)和固态驱动器(SSD)的存储装置。针本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电源噪声敏感度测试系统,包括:主机,包括提供电源电压的电源;多个存储装置,通过多高速外围组件互连链路即多PCIe链路耦合到所述主机;以及多噪声注入模块,测试所述多个存储装置的电源噪声敏感度,其中每个噪声注入模块包括:第一继电器,接收所述电源电压,并且响应于频率选择信号,将所述电源电压输出到第一路径或第二路径;第二继电器,接收噪声函数,并且响应于所述频率选择信号,将所述噪声函数输出到所述第一路径或所述第二路径;以及第三继电器,耦合到所述第一路径或所述第二路径和存储装置,其中所述第一路径包括:运算放大器,接收所述噪声函数并响应于所述电源电压生成高噪声函数;第一可变调节器,接收和调节所述电源电压,以响应于电压选择信号生成第一调节电源电压或第二调节电源电压;以及电容器注入电路,接收所述第一调节电源电压或所述第二调节电源电压、所述噪声函数以及所述高噪声函数,并生成低噪声函数和第一电源噪声,所述第一电源噪声对应于所述第一调节电源电压或所述第二调节电源电压与所述高噪声函数的总和,并且其中所述第二路径包括:第二可变调节器,接收和调节所述电源电压,以响应于所述电压选择信号生成第三调节电源电压或第四调节电源电压;以及功率放大器注入电路,接收所述第三调节电源电压或所述第四调节电源电压以及所述低噪声函数,并生成与所述第三调节电源电压或所述第四调节电源电压与所述低噪声函数的总和相对应的第二电源噪声,并且其中所述第三继电器响应于所述频率选择信号选择性地接收所述第一电源噪声和所述第二电源噪声,并且将选择性地接收的电源噪声提供到存储装置。2.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一继电器包括单刀双掷继电器即SPDT继电器,并且响应于所述频率选择信号,将所述电源电压提供到所述第一路径或所述第二路径,所述SPDT继电器具有接收所述电源电压的单刀、耦合到所述第一路径的第一掷以及耦合到所述第二路径的第二掷。3.根据权利要求1所述的系统,其中所述第二继电器包括单刀双掷继电器即SPDT继电器,并且响应于所述频率选择信号,将所述噪声函数提供到所述运算放大器或所述电容器注入电路,所述SPDT继电器具有接收所述噪声函数的单刀、耦合到所述运算放大器的第一掷以及耦合到所述电容器注入电路的第二掷。4.根据权利要求1所述的系统,其中所述第三继电器包括单刀双掷继电器即SPDT继电器,并且响应于所述频率选择信号,选择性地将所述第一电源噪声和所述第二电源噪声提供到存储装置,所述SPDT继电器具有耦合到所述电容器注入电路的第一掷、耦合到所述功率放大器的第二掷以及耦合到所述存储装置的单刀。5.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个存储装置中的一个包括U.2固态驱动器即U.2SSD,并且所述多个存储装置中的另一个包括M.2SSD。
6.根据权利要求1所述的系统,其中所述电源电压与所述第二调节电源电压具有第一电压电平,并且所述第一调节电源电压具有比所述第一电压电平小的第二电压电平。7.根据权利要求1所述的系统,其中所述电源电压具有第一电压电平,所述第三调节电源电压具有比所述第一电压电平小的第二电压电平,并且所述第四调节电源电压具有比所述第一电压电平大的第三电压电平。8.根据权利要求1所述的系统,进一步包括:函数生成器,生成所述噪声函数。9.根据权利要求8所述的系统,进一步包括:缓冲器阵列,包括耦合在所述函数生成器与所述多噪声注入模块之间的多缓冲器,每个缓冲器接收和存储所述噪声函数并且将所述噪声函数输出到所述多噪声注入模块之中的相应噪声注入模块。10.根据权利要求1所述的系统,进一步包括:信号生成器,生成所述频率选择信号和所述电压选择信号。11.一种测试存储装置的电源噪声敏感度的系统,所述系统包括:第一继电器,接收电源电压,并响应于频率选择信号,将所述电源电压输出到第一路径或第二路径;第二继电器,接收噪声函数,并响应于所述频率选择信号,将所述噪声函数输出到所述第一路径;以及第三继电器,耦合到所述第一路径或所述第二路径和所述存储装置,其中所述第一路径包括:运算放大器,接收所述噪声函数并响应于所述电源电压生成高噪声函数;以及电容器注入电路,接收所...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈晓方文伟
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司
类型:发明
国别省市:

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