确定屏幕漏光的跌落深度的方法、装置及电子设备制造方法及图纸

一种确定屏幕漏光的跌落深度的方法、装置及电子设备，方法包括：根据垂直同步信号，获取采样数据；根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列，所述第一采样序列为屏幕漏光跌落波形的跌落区的采样序列，所述第二采样序列为所述屏幕漏光跌落波形的跌落区左侧的采样序列，所述第三采样序列为所述屏幕跌落波形的跌落区右侧的采样序列；根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定所述跌落深度。该方法能够提高屏幕漏光计算的准确性，从而帮助提高环境光检测的准确性与可靠性。高环境光检测的准确性与可靠性。高环境光检测的准确性与可靠性。

【技术实现步骤摘要】
确定屏幕漏光的跌落深度的方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及环境光检测
，并且更具体地，涉及一种确定屏幕漏光的跌落深度的方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]为了追求更好的使用体验，全面屏成为电子设备等移动终端的发展趋势，使得电子设备内各个部件向屏下发展。
[0003]屏下光传感器能够检测电子设备所处环境的环境光，使得电子设备能够基于环境光实现屏幕亮度自调节等功能。而环境光检测必须去除屏幕漏光的影响，屏幕漏光对环境光检测的准确性具有决定性的影响。因此，如何准确计算屏幕漏光是一项亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种确定屏幕漏光的跌落深度的方法、装置及电子设备，能够提高屏幕漏光计算的准确性，从而帮助提高环境光检测的准确性与可靠性。
[0005]第一方面，提供了一种确定屏幕漏光的跌落深度的方法，所述方法包括：根据垂直同步信号，获取采样数据；根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列，所述第一采样序列为屏幕漏光跌落波形的跌落区的采样序列，所述第二采样序列为所述屏幕漏光跌落波形的跌落区左侧的采样序列，所述第三采样序列为所述屏幕跌落波形的跌落区右侧的采样序列；根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定所述跌落深度。
[0006]环境光的检测需要排除屏幕漏光的影响，由于屏幕漏光的跌落深度与环境光无关，因此，通常基于屏幕漏光跌落深度
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漏光量的模型计算屏幕漏光，进而实现环境光的检测。本申请实施例中，基于垂直同步信号，获取采样数据，能够使得传感器基于屏幕的实际刷新情况获取采样数据，减少噪声的获取，有助于提高最终计算结果的信噪比；通过采集屏幕漏光波形的跌落区、跌落区左侧和/或跌落区右侧的数据，使得确定屏幕漏光波形的跌落深度时能够灵活选择不同区域的数据进行计算，从而避免如环境光频闪、传感器信噪比等因素对跌落深度计算的影响，提高屏幕漏光计算的准确性，改善复杂环境下屏幕漏光计算失真的情况，从而帮助提高环境光检测的准确性。
[0007]在一种可能的实现方式中，所述根据垂直同步信号，获取采样数据包括：接收所述屏幕发送的垂直同步信号，经过第一时延后获取所述采样数据。
[0008]本申请的实施例中，以垂直同步信号为触发，经过第一时延后开始数据的采集，对于设置于显示屏下不同位置的传感器，第一时延可以不同，由此，有助于提高采样数据的一致性。
[0009]在一种可能的实现方式中，所述根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列包括：根据信噪比需求，对所述采样数据进行滤波处理；根据
滤波后的所述采样数据确定所述第一采样序列，以及所述第二采样序列和/或所述第三采样序列。
[0010]本申请的实施例中，在获取采样数据后，可以根据不同设备、装置的信噪比需求对采样数据进行滤波处理，获得滤波后的采样数据。通过使用滤波后的采样数据进行屏幕漏光的跌落深度计算，能够有效改善或消除设备或装置自身的噪声对跌落深度计算的影响，从而提高跌落深度计算的准确性，帮助提高环境光检测的准确性。
[0011]在一种可能的实现方式中，所述根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列包括：根据所述采样数据对应的时序位置，确定滤波后的所述采样数据属于所述第一采样序列、所述第二采样序列和/或所述第三采样序列。
[0012]在一种可能的实现方式中，滤波处理包括均值滤波、中值滤波。
[0013]在一种可能的实现方式中，所述根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定所述跌落深度包括：根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定跌落深度序列；根据所述跌落深度序列确定所述跌落深度。
[0014]本申请的实施例中，将采样数据分别确定成跌落区和非跌落区的采样序列后，能够灵活选择不同的采样数据进行跌落深度的计算，从而适应型号不同、需求不同的设备，提高了跌落深度计算的灵活性。
[0015]在一种可能的实现方式中，所述根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定跌落深度序列包括：根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列；或根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列；或根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列。
[0016]在一种可能的实现方式中，在所述屏幕漏光的跌落频率高于环境光频闪频率且所述屏幕漏光的跌落频率与所述环境光频闪频率不是倍频关系时，根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列；或根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列。
[0017]在一种可能的实现方式中，在所述屏幕漏光的跌落频率与所述环境光频闪频率相近或所述屏幕漏光的跌落频率与所述环境光频闪频率是倍频关系时，根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列。
[0018]在一种可能的实现方式中，所述根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列包括：确定所述第二采样序列中第一时序位置附近M个采样点对应的采样数据的平均值为第一最大值，M为正整数；或确定所述第二采样序列中数值最大的采样数据对应的时序位置附近M个采样点对应的采样数据的平均值为第一最大值，M为正整数；计算所述第一最大值与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。
[0019]在一种可能的实现方式中，所述根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列包括：确定所述第三采样序列中第二时序位置附近N个采样点对应的采样数据的平均值为第二最大值，N为正整数；或确定所述第三采样序列中数值最大的采样数据对应的时序位置附近N个采样点对应的采样数据的平均值为第二最大值，N为正整数；计算所述第二最大值与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。
[0020]在一种可能的实现方式中，所述根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所
述第三采样序列确定所述跌落深度序列包括：计算所述第二采样序列和所述第三采样序列在所述第一采样序列对应的时序位置的插值运算结果以获取第四采样序列；计算所述第四采样序列与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。
[0021]本申请的实施例中，在环境光为具有频闪等复杂环境中，可以通过插值运算计算得到跌落深度序列，通过插值运算消除频闪环境光对跌落深度计算的影响，从而提高复杂环境下跌落深度计算的准确性，帮助提高环境光检测的准确性。
[0022]在一种可能的实现方式中，所述插值运算包括线性插值运算、三次样条插值运算和多项式插值运算。
[0023]在一种可能的实现方式中，所述根据所述跌落深度序列确定所述跌落深度包括：根据所述跌落深度序列中固定的数据确定所述跌落深度；根据所述跌落深度序列中变化的数据确定所述跌落深度。
[0024]在一种可能的实现方式中，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种确定屏幕漏光的跌落深度的方法，其特征在于，所述方法包括：根据垂直同步信号，获取采样数据；根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列，所述第一采样序列为屏幕漏光跌落波形的跌落区的采样序列，所述第二采样序列为所述屏幕漏光跌落波形的跌落区左侧的采样序列，所述第三采样序列为所述屏幕漏光跌落波形的跌落区右侧的采样序列；根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定所述跌落深度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据垂直同步信号，获取采样数据包括：接收所述屏幕发送的垂直同步信号，经过第一时延后获取所述采样数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列包括：根据信噪比需求，对所述采样数据进行滤波处理；根据滤波后的所述采样数据确定所述第一采样序列，以及所述第二采样序列和/或所述第三采样序列。4.根据权利要求1
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3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定所述跌落深度包括：根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定跌落深度序列；根据所述跌落深度序列确定所述跌落深度。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定跌落深度序列包括：根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列；或根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列；或根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述屏幕漏光的跌落频率高于环境光频闪频率且所述屏幕漏光的跌落频率与所述环境光频闪频率不是倍频关系时，根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列；或根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列。7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述屏幕漏光的跌落频率与环境光频闪频率相近或所述屏幕漏光的跌落频率与所述环境光频闪频率是倍频关系时，根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列。8.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列包括：确定所述第二采样序列中第一时序位置附近M个采样点对应的采样数据的平均值为第一最大值，M为正整数；或确定所述第二采样序列中数值最大的采样数据对应的时序位置附近M个采样点对应的采样数据的平均值为第一最大值，M为正整数；计算所述第一最大值与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。
9.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列包括：确定所述第三采样序列中第二时序位置附近N个采样点对应的采样数据的平均值为第二最大值，N为正整数；或确定所述第三采样序列中数值最大的采样数据对应的时序位置附近N个采样点对应的采样数据的平均值为第二最大值，N为正整数；计算所述第二最大值与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。10.根据权利要求5或7所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列包括：计算所述第二采样序列和所述第三采样序列在所述第一采样序列对应的时序位置的插值运算结果以获取第四采样序列；计算所述第四采样序列与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。11.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述跌落深度序列确定所述跌落深度包括：根据所述跌落深度序列中固定的数据确定所述跌落深度；或根据所述跌落深度序列中变化的数据确定所述跌落深度。12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述根据所述跌落深度序列中固定的数据确定所述跌落深度包括：确定所述跌落深度序列的所有数据为所述跌落深度...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨香玉，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：