一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法，涉及图像识别技术领域，包括：获取二极管引脚表面的第一灰度图像；获取第一灰度图像中每个像素点的灰度梯度值；获取第一图像中每个像素点的灰度相似性；将第一灰度图像分割为多个连通域，并获取目标连通域；获取第一灰度图像中每个像素点的突出程度；获取第一灰度图像中像素点的密集程度；获取多组目标突出程度集合；获取每组目标突出程度对应的像素点灰度值的平均值，并获取第二灰度图像；构建灰度共生矩阵，并获取灰度共生矩阵的能量值；根据能量值判断二极管是否为合格二极管；本发明专利技术解决了相关技术中，在对二极管引脚表面氧化缺陷检测时自动化程度和检测精度低下的技术问题。度低下的技术问题。度低下的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法


[0001]本专利技术涉及图像识别
，具体涉及一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法。

技术介绍

[0002]二极管是用半导体材料制成的一种电子器件，二极管具有单向导电性能，即给二极管阳极加上正向电压时，二极管导通。当给阳极和阴极加上反向电压时，二极管截止。因此，二极管的导通和截止相当于开关的接通与断开。
[0003]二极管是最早诞生的半导体器件之一，其应用非常广泛。特别是在各种电子电路中，利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接，构成不同功能的电路，可以实现对交流电整流、对调制信号检波和限幅，以及对电源电压的稳压等多种功能。无论是在常见的收音机电路还是在其他的家用电器产品或工业控制电路中，都可以找到二极管的踪迹；在二极管生产加工过程中或者在二极管存放过程中，由于湿度或者其他溶液的影响使得生产完成的二极管会发生引脚氧化的现象。如果二极管的引脚发生氧化，一方面使得二极管无法再继续使用，造成经济损失和材料浪费，另一方面如果引脚发生氧化后的二极管用于制造电子产品，会使得极大降低电子产品的使用性能，因此，对二极管引脚质量的检测具有重要意义。
[0004]目前，对于金属表面的缺陷大多采用超声波法进行检测，超声波在异种介质的界面上将产生反射、折射和波型转换，利用这些特性，可以获得从缺陷界面反射回来的反射波，从而达到探测缺陷的目的，然而，超声波法受到超声波半波长的限制，测量的准确度低；二极管引脚属于小部件，使用超声波法不仅达不到对二极管引脚氧化程度的精确检测，也无法满足对大批量二极管引脚的检测要求。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法，以解决相关技术中，在对二极管引脚表面氧化缺陷检测时自动化程度和检测精度低下的技术问题，有鉴于此，本专利技术通过以下技术方案予以实现。
[0006]一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法，包括以下步骤：获取二极管引脚表面的第一灰度图像；根据所述第一灰度图像中像素点的灰度值获取每个像素点的灰度梯度值；根据所述第一灰度图像中每个像素点与其邻域像素点的灰度值获取每个像素点的灰度相似性；利用第一灰度图像中每个像素点的将第一灰度图像分割为多个连通域，并根据每个连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取所述连通域的特征值；根据所述连通域的特征值获取目标连通域；根据每个像素点的灰度值、灰度梯度值及目标连通域中灰度均值和灰度梯度均值，获取每个像素点的突出程度；
利用突出程度中的极值及每个突出程度中包含像素点的个数获取所述第一灰度图像中像素点的密集程度；获取所有突出程度小于密集程度的目标突出程度，且将相邻的目标突出程度划分为一组，无相邻的目标突出程度为一组得到多组目标突出程度集合；获取每组目标突出程度对应的像素点灰度值的平均值，并将所述平均值赋值给所述第一灰度图像中对应像素点的灰度值获得第二灰度图像；利用所述第二灰度图像中像素点的灰度值构建灰度共生矩阵，根据所述灰度共生矩阵获取所述第二灰度图像中多个方向的灰度对的个数；根据多个方向的灰度对的个数获取所述灰度共生矩阵的能量值；根据所述能量值判断所述二极管是否为合格二极管。
[0007]优选地，所述像素点的灰度相似性通过下式确定：式中，为第个像素点的灰度相似性；为第个像素点的灰度值；为像素点的第个邻域像素点的灰度值；为像素点的邻域像素点的个数。
[0008]更优选地，根据所述灰度相似性获取所述第一灰度图像中的多个连通域，并根据每个连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取每个所述连通域的特征值的过程中还包括：设定灰度相似性阈值，获取所述第一灰度图像中满足所述灰度相似性阈值的任意一点为起始像素点；获取所述像素点的连通域中满足所述灰度相似性阈值的所有像素点组成第一连通域；根据第一连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取所述第一连通域的特征值；获取除第一连通域外其余像素点中满足所述灰度相似性阈值的任意一点为第二像素点，并根据所述第二像素点对应的第二连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取所述第二连通域的特征值；重复上述步骤，依次获取满足所述灰度相似性阈值的像素点所在的多个连通域。
[0009]更优选地，所述第一连通域的特征值通过下式确定：式中，为第一连通域的特征值；为第一连通域中像素点的个数；为第一连通域中第个像素点的灰度相似性。
[0010]更优选地，所述获取目标连通域的过程为：设定特征值的阈值，获取所述多个连通域中满足所述特征值的阈值的连通域为目标连通域。
[0011]更优选地，所述第一灰度图像中每个像素点的突出程度通过下式确定：
式中，为第一灰度图像中第个像素点的突出程度；为第一灰度图像中目标连通域的像素点灰度均值；为第一灰度图像中目标连通域的像素点灰度梯度均值；为第一灰度图像中第个像素点的灰度值；为第一灰度图像中第个像素点的灰度梯度值。
[0012]更优选地，所述第一灰度图像中像素点的密集程度通过下式确定：式中，为第一灰度图像中像素点的密集程度；为第一灰度图像中像素点的突出程度的最大值；为第一灰度图像中像素点的突出程度的最小值；为突出程度为是对应的像素点的频数；为全部的突出程度的个数。
[0013]优选地，所述灰度共生矩阵中多个方向的灰度对包括0度方向的灰度对、45度方向的灰度对、90度方向的灰度对和135度方向的灰度对。
[0014]更优选地，获取所述灰度共生矩阵的能量值的过程中还包括对所述能量值进行归一化处理获得归一化的能量值。
[0015]更优选地，判断所述二极管是否为合格二极管的过程中还包括设定能量值的阈值，当所述归一化的能量值小于所述能量值的阈值时，所述二极管为合格二极管；当所述归一化的能量值大于或等于所述能量值的阈值时，所述二极管为不合格二极管。
[0016]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术提供了一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法，该方法通过获取二极管引脚表面的第一灰度图像；根据第一灰度图像中像素点的灰度值获取每个像素点的灰度梯度值；根据第一灰度图像中每个像素点与其邻域像素点的灰度值获取每个像素点的灰度相似性；利用第一灰度图像中每个像素点的将第一灰度图像分割为多个连通域，并根据每个连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取连通域的特征值；根据连通域的特征值获取目标连通域；根据每个像素点的灰度值、灰度梯度值及目标连通域中灰度均值和灰度梯度均值，获取每个像素点的突出程度；对于二极管引脚的氧化区域来说，不同程度的氧化颜色是最主要的区分点，并且对于氧化缺陷最直观的不同也是颜色的变化，因此，第一灰度图像中像素点的突出程度可初步反映第一灰度图像中像素点的氧化程度。
[0017]本专利技术的方法还包括通过利用突出程度中的极值及每个突出程度中包含像素点的个数获取第一灰度图像中像素点的密集程度；获取所有突出程度小于密集程度的目标突出程度，且将相邻的目标突出程度划分为一组，无相邻的目标突出程度为一组得到多组目标突本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法，其特征在，包括以下步骤：获取二极管引脚表面的第一灰度图像；根据所述第一灰度图像中像素点的灰度值获取每个像素点的灰度梯度值；根据所述第一灰度图像中每个像素点与其邻域像素点的灰度值获取每个像素点的灰度相似性；利用第一灰度图像中每个像素点的将第一灰度图像分割为多个连通域，并根据每个连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取所述连通域的特征值；根据所述连通域的特征值获取目标连通域；根据每个像素点的灰度值、灰度梯度值及目标连通域中灰度均值和灰度梯度均值，获取每个像素点的突出程度；利用突出程度中的极值及每个突出程度中包含像素点的个数获取所述第一灰度图像中像素点的密集程度；获取所有突出程度小于密集程度的目标突出程度，且将相邻的目标突出程度划分为一组，无相邻的目标突出程度为一组得到多组目标突出程度集合；获取每组目标突出程度对应的像素点灰度值的平均值，并将所述平均值赋值给所述第一灰度图像中对应像素点的灰度值获得第二灰度图像；利用所述第二灰度图像中像素点的灰度值构建灰度共生矩阵，根据所述灰度共生矩阵获取所述第二灰度图像中多个方向的灰度对的个数；根据多个方向的灰度对的个数获取所述灰度共生矩阵的能量值；根据所述能量值判断所述二极管是否为合格二极管。2.根据权利要求1所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法，其特征在于，所述像素点的灰度相似性通过下式确定：式中，为第个像素点的灰度相似性；为第个像素点的灰度值；为像素点的第个邻域像素点的灰度值；为像素点的邻域像素点的个数。3.根据权利要求2所述的基于图像识别的二极管引脚表面氧化检测方法，其特征在于，根据所述灰度相似性获取所述第一灰度图像中的多个连通域，并根据每个连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取每个所述连通域的特征值的过程中还包括：设定灰度相似性阈值，获取所述第一灰度图像中满足所述灰度相似性阈值的任意一点为起始像素点；获取所述像素点的连通域中满足所述灰度相似性阈值的所有像素点组成第一连通域；根据第一连通域的面积与该连通域中像素点的灰度相似性获取所述第一连通域的特征值；获取除第一连通域外其余像素点中满足所述灰度相似性阈值的任意一点为第二像素点，并根据所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐蕊花，
申请(专利权)人：江苏三通科技有限公司，
类型：发明
国别省市：