采样处理电路、芯片、触控屏及电子设备制造技术

本申请实施例提供一种采样处理电路、芯片、触控屏及电子设备，用于对触控面板中的触控电极进行短路测试，以提高触控面板的产品良率。该采样处理电路应用于触控面板。该触控面板包括第一触控电极和第二触控电极。该采样处理电路包括第一采样处理电路和第二采样处理电路。第一采样处理电路用于耦合第一触控电极的输出端。第一采样处理电路用于向第一触控电极的输出端输入第一电平信号，并且对该输出端的信号进行采样生成第一采样信号。第二采样处理电路用于耦合第二触控电极的输出端。第二采样处理电路用于向第二触控电极的输出端输入第二电平信号。当第一触控电极与第二触控电极短路时，第一采样信号由第一电平信号和第二电平信号确定。平信号确定。平信号确定。

【技术实现步骤摘要】
采样处理电路、芯片、触控屏及电子设备


[0001]本申请涉及触控
，尤其涉及一种采样处理电路、芯片、触控屏及电子设备。

技术介绍

[0002]随着触控技术的发展，很多电子设备均采用触控面板作为该电子设备的显示面板或者操作面板。为实现电子设备的触控功能，触控面板包括多个阵列排布的触控电极。通常，触控面板中的各触控电极会通过触控引线等信号线连接相应的采样处理电路，以便通过采样处理电路对各触控电极的输出端信号进行采样，并对采样得到的信号进行对比，以确定各触控电极是否发生触控。
[0003]然而，在对触控引线等信号线进行布线的过程中，可能会使两个触控电极短路。为了能够及时发现触控电极短路，以提高触控面板的产品良率，通常会在触控面板出厂之前，对该触控面板中的触控电极进行短路测试。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种采样处理电路、芯片、触控屏及电子设备，用于对触控面板中的触控电极进行短路测试，以提高触控面板的产品良率。
[0005]为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：
[0006]第一方面，提供了一种采样处理电路。该采样处理电路应用于触控面板。该触控面板包括第一触控电极和第二触控电极。第一触控电极和第二触控电极位于同一列。该采样处理电路包括第一采样处理电路和第二采样处理电路。第一采样处理电路用于耦合第一触控电极的输出端。第一采样处理电路用于向第一触控电极的输出端输入第一电平信号，并且对第一触控电极的输出端的信号进行采样生成第一采样信号。第二采样处理电路用于耦合第二触控电极的输出端。第二采样处理电路用于向第二触控电极的输出端输入第二电平信号。其中，当第一触控电极与第二触控电极短路时，第一采样信号由第一电平信号和第二电平信号确定。当第一触控电极与第二触控电极未短路时，第一采样信号由第一电平信号确定。
[0007]在该采样处理电路中，当该采样处理电路耦合触控面板中的触控电极，并对触控电极进行短路测试时，第一采样处理电路向第一触控电极的输出端输入第一电平信号，第二采样处理电路向第二触控电极的输出端输入第二电平信号。此时，在第一触控电极与第二触控电极未短路的情况下，第一触控电极(忽略寄生电容的影响)的输出端的电压信号为第一电平信号，即第一采样信号由第一电平信号确定。在第一触控电极与第二触控电极短路的情况下，第一触控电极的输出端的电压信号与第二触控电极的输出端的电压信号相等，例如可以为第一电平信号和第二电平信号之间的中间电平信号，也就是说第一采样信号由第一电平信号和第二电平信号确定。由于第一采样处理电路可以对第一触控电极的输出端的信号进行采样并生成第一采样信号，因此通过对第一采样信号判断，可以确定第一
触控电极与第二触控电极是否短路，从而及时发现触控面板中触控电极的短路情况，以提高触控面板的产品良率。
[0008]在一种可能的实现方式中，第二采样处理电路还用于对第二触控电极的输出端的信号进行采样生成第二采样信号。其中，当第一触控电极与第二触控电极短路时，第二采样信号由第二电平信号和第一电平信号确定。当第一触控电极与第二触控电极未短路时，第二采样信号由第二电平信号确定。此时，在第一触控电极与第二触控电极未短路的情况下，第二触控电极(忽略寄生电容的影响)的输出端的电压信号为第二电平信号，即第二采样信号由第一电平信号确定；在第一触控电极与第二触控电极短路的情况下，第一触控电极的输出端的电压信号与第二触控电极的输出端的电压信号相等，例如可以为第一电平信号和第二电平信号之间的中间电平信号，也就是说，第二采样信号由第一电平信号和第二电平信号确定。如此，还可以通过对第二采样处理电路对第二触控电极的输出端的信号采样生成的第二采样信号的判断，确定第二触控电极是否与第一触控电极短路，在对多个触控电极同时进行短路测试时，能够根据第一采样信号和第二采样信号，找到短路时与第一采样处理电路耦合的第一触控电极以及与第二采样处理电路耦合的第二触控电极，以便对触控面板中触控电极的短路情况进行排查，确定哪些触控电极出现短路，从而提高触控面板的产品良率。
[0009]在一种可能的实现方式中，第一采样处理电路包括第一信号输入电路。该第一信号输入电路耦合第一信号输入端以及第一触控电极的输出端。第一信号输入电路用于受控于第一信号输入端的信号向第一触控电极的输出端输入第一电平信号。在该方式中，可以在对触控电极进行短路测试时，通过第一信号输入端的信号控制第一信号输入电路向第一触控电极的输出端输入第一电平信号。并且，在对触控电极进行触控采样时，通过第一信号输入端的信号控制第一信号输入电路停止向第一触控电极的输出端输入第一电平信号。如此一来，该采样处理电路既能够实现对触控电极的短路测试功能，还实现了对触控电极的触控采样功能。也就是说，该采样处理电路可以既具有触控采样功能，还具有对触控电极的短路测试功能，以便进一步降低测试成本。
[0010]在一种可能的实现方式中，第一采样处理电路包括第一电荷放大器以及第一电容。第一电荷放大器的反相输入端与第一触控电极的输出端以及第一电容的第一端电连接。第一电荷放大器的正相输入端用于输入第一激励电压信号，第一电荷放大器的输出端与第一电容的第二端电连接，并且用于输出第一采样信号。通过第一电荷放大器以及第一电容，可以实现对第一触控电极的输出端的信号的采样。
[0011]在一种可能的实现方式中，第二采样处理电路包括第二信号输入电路。该第二信号输入电路耦合第二信号输入端以及第二触控电极的输出端。第二信号输入电路用于受控于第二信号输入端的信号向第二触控电极的输出端输入第二电平信号。在该方式中，可以在对触控电极进行短路测试时，通过第二信号输入端的信号控制第二信号输入电路向第二触控电极的输出端输入第二电平信号。并且，在对触控电极进行触控采样时，通过第二信号输入端的信号控制第二信号输入电路停止向第二触控电极的输出端输入第二电平信号。如此一来，该采样处理电路既能够实现对触控电极的短路测试功能，还实现了对触控电极的触控采样功能。也就是说，该采样处理电路可以既具有触控采样功能，还具有对触控电极的短路测试功能，以便进一步降低测试成本。
[0012]在一种可能的实现方式中，第二采样处理电路包括第二电荷放大器以及第二电容。第二电荷放大器的反相输入端与第二触控电极的输出端以及第二电容的第一端电连接。第二电荷放大器的正相输入端用于输入第二激励电压信号，第二电荷放大器的输出端与第二电容的第二端电连接，并且用于输出第二采样信号。通过第一电荷放大器以及第一电容，可以实现对第一触控电极的输出端的信号的采样。
[0013]在一种可能的实现方式中，第一采样处理电路还包括第三信号输入电路。第三信号输入电路耦合第二信号输入端以及第一触控电极的输出端。第三信号输入电路用于受控于第二信号输入端的信号向第一触控电极的输出端输入第二电平信号。第二采样处理电路还包括第四信号输入电路。第四信号输入电路耦合第一信号输入端以及第二触控电极的输出端。第四信号输入电路用于受控于第一信号输入端的信号向第二触控电极的输出端输入第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采样处理电路，应用于触控面板，所述触控面板包括：第一触控电极和第二触控电极，所述第一触控电极和所述第二触控电极位于同一列；其特征在于，所述采样处理电路包括：第一采样处理电路，用于耦合所述第一触控电极的输出端；所述第一采样处理电路用于向所述第一触控电极的输出端输入第一电平信号，并且对所述第一触控电极的输出端的信号进行采样生成第一采样信号；第二采样处理电路，用于耦合所述第二触控电极的输出端；所述第二采样处理电路用于向所述第二触控电极的输出端输入第二电平信号；其中，当所述第一触控电极与所述第二触控电极短路时，所述第一采样信号由所述第一电平信号和所述第二电平信号确定；当所述第一触控电极与所述第二触控电极未短路时，所述第一采样信号由所述第一电平信号确定。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第二采样处理电路还用于对所述第二触控电极的输出端的信号进行采样生成第二采样信号；其中，当所述第一触控电极与所述第二触控电极短路时，所述第二采样信号由所述第二电平信号和所述第一电平信号确定；当所述第一触控电极与所述第二触控电极未短路时，所述第二采样信号由所述第二电平信号确定。3.根据权利要求1或2所述的电路，其特征在于，所述第一采样处理电路包括：第一信号输入电路，耦合第一信号输入端以及所述第一触控电极的输出端；所述第一信号输入电路用于受控于所述第一信号输入端的信号向所述第一触控电极的输出端输入所述第一电平信号。4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述第一采样处理电路包括：第一电荷放大器以及第一电容；所述第一电荷放大器的反相输入端与所述第一触控电极的输出端以及所述第一电容的第一端电连接；所述第一电荷放大器的正相输入端用于输入第一激励电压信号，所述第一电荷放大器的输出端与所述第一电容的第二端电连接，并且用于输出所述第一采样信号。5.根据权利要求4所述的电路，其特征在于，所述第二采样处理电路包括：第二信号输入电路，耦合第二信号输入端以及所述第二触控电极的输出端；所述第二信号输入电路用于受控于所述第二信号输入端的信号向所述第二触控电极的输出端输入所述第二电平信号。6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述第二采样处理电路包括：第二电荷放大器以及第二电容；所述第二电荷放大器的反相输入端与所述第二触控电极的输出端以及所述第二电容的第一端电连接；所述第二电荷放大器的正相输入端用于输入第二激励电压信号，所述第二电荷放大器的输出端与所述第二电容的第二端电连接，并且用于输出所述第二采样信号。7.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，
所述第一采样处理电路还包括：第三信号输入电路；所述第三信号输入电路耦合所述第二信号输入端以及所述第一触控电极的输出端；所述第三信号输入电路用于受控于所述第二信号输入端的信号向所述第一触控电极的输出端输入所述第二电平信号；所述第二采样处理电路还包括：第四信号输入电路；所述第四信号输入电路耦合所述第一信号输入端以及所述第二触控电极的输出端；所述第四信号输入电路用于受控于所述第一信号输入端的信号向所述第二触控电极的输出端输入所述第一电平信号；其中，当所述第一触控电极与所述第二触控电极短路时，所述第一采样信号和第二采样信号均由所述第一电平信号和所述第二电平信号确定；当所述第一触控电极与所述第二触控电极未短路时，所述第一采样信...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜含笑，全栽薰，林森，刘晓宇，尚安明，
申请(专利权)人：北京奕斯伟计算技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：