一种电极颗粒堆叠的处理方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:35357455 阅读:26 留言:0更新日期:2022-10-26 12:37
本发明专利技术提供一种电极颗粒堆叠的处理方法、装置、设备及介质,包括:基于预设的电极尺寸数据,构建所述电极的二维模型;根据所述电极尺寸数据,获取所述电极内部颗粒的特征数据,所述特征数据包括数量数据与半径数据;基于所述特征数据,在所述二维模型内构建多个颗粒单元,并获取所述颗粒单元的坐标数据;在所述二维模型内,创建所述颗粒单元所处的区域为填充区,创建其余区域为空白区,获取填充区与空白区的面积数据,并计算所述二维模型的实际密度比。通过本发明专利技术公开的一种电极颗粒堆叠的处理方法、装置、设备及介质,能够控制颗粒的重叠度与孔隙率。与孔隙率。与孔隙率。

【技术实现步骤摘要】
一种电极颗粒堆叠的处理方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及电极颗粒模型
,特别是涉及一种电极颗粒堆叠的处理方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]电极由不同大小的类球形颗粒组成,电极中颗粒的配比不仅会影响压实密度,也影响着电极的电化学性能。基于电极中颗粒的分布密度可建立电极颗粒模型,通过颗粒模型可更好的分析电极的压实密度和电化学性能。
[0003]现有的电极颗粒模型中的颗粒在堆叠时,模型中颗粒之间的重叠程度难以控制,并且堆叠后的模型的电极密度比与实际电极的颗粒密度比存在偏差。

技术实现思路

[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种电极颗粒堆叠的处理方法、装置、设备及介质,本专利技术能够控制颗粒的重叠度与密度比。
[0005]第一方面,本专利技术提供一种电极颗粒堆叠的处理方法,包括:
[0006]基于预设的电极尺寸数据,构建所述电极的二维模型;
[0007]根据所述电极尺寸数据,获取所述电极内部颗粒的特征数据,所述特征数据包括数量数据与半径数据;
[0008]基于所述特征数据,在所述二维模型内构建多个颗粒单元,并获取所述颗粒单元的坐标数据;
[0009]在所述二维模型内,创建所述颗粒单元所处的区域为填充区,创建其余区域为空白区,获取填充区与空白区的面积数据,并计算所述二维模型的实际密度比;
[0010]基于所述实际密度比与预设的电极目标密度比,获取所述颗粒单元的重叠度;
[0011]判断所述重叠度是否大于预设的重叠度阈值,当所述重叠度大于所述重叠度阈值时,更新所述颗粒单元的坐标数据并重新计算所述重叠度;
[0012]当所述重叠度不大于所述重叠度阈值时,获取所述颗粒单元的坐标数据。
[0013]汇总所述坐标数据,生成坐标群数据。
[0014]第二方面,提供了一种电极颗粒堆叠的处理装置,包括:
[0015]生成模块,用于基于预设的电极尺寸数据,构建所述电极的二维模型;
[0016]采集模块,用于根据所述电极尺寸数据,获取所述电极内部颗粒的特征数据,所述特征数据包括数量数据与半径数据;
[0017]构建模块,用于基于所述特征数据,在所述二维模型内构建多个颗粒单元,并获取所述颗粒单元的坐标数据;
[0018]处理模块,用于在所述二维模型内,创建所述颗粒单元所处的区域为填充区,创建其余区域为空白区,获取填充区与空白区的面积数据,并计算所述二维模型的实际密度比;
[0019]计算模块,用于基于所述实际密度比与预设的电极目标密度比,获取所述颗粒单
元的重叠度;
[0020]判断模块,用于判断所述重叠度是否大于预设的重叠度阈值,当所述重叠度大于所述重叠度阈值时,更新所述颗粒单元的坐标数据并重新计算所述重叠度;
[0021]获取模块,用于当所述重叠度不大于所述重叠度阈值时,获取所述颗粒单元的坐标数据。
[0022]汇总模块,用于汇总所述坐标数据,生成坐标群数据。
[0023]第三方面,提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述电极颗粒堆叠的处理方法的步骤。
[0024]第四方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述电极颗粒堆叠的处理方法的步骤。
[0025]如上所述,本专利技术提供一种电极颗粒堆叠的处理方法、装置、设备及介质,能够控制模型中的颗粒之间的重叠程度,并降低堆叠后的模型密度比与实际电极的密度比之间的偏差,从而增加颗粒模型的准确度。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1显示为本专利技术的应用环境的示意图。
[0028]图2显示为本专利技术的电极颗粒堆叠的处理方法的流程图。
[0029]图3显示为本专利技术步骤S10的一具体实施方式流程示意图。
[0030]图4显示为本专利技术步骤S20的一具体实施方式流程示意图。
[0031]图5显示为本专利技术步骤S40的一具体实施方式流程示意图。
[0032]图6显示为本专利技术步骤S50的一具体实施方式流程示意图。
[0033]图7显示为本专利技术步骤S51的一具体实施方式流程示意图。
[0034]图8显示为本专利技术步骤S60的一具体实施方式流程示意图。
[0035]图9显示为本专利技术的二维模型的示意图。
[0036]图10显示为本专利技术的电极颗粒堆叠的处理装置的结构图。
[0037]图11显示为本专利技术的计算机设备的一结构示意图。
[0038]图12显示为本专利技术的计算机设备的另一结构示意图。
[0039]元件标号说明:
[0040]101、生成模块;102、采集模块;103、构建模块;104、处理模块;105、计算模块;106、判断模块;107、获取模块;108、汇总模块。
具体实施方式
[0041]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于
本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0042]本专利技术实施例提供的一种电极颗粒堆叠的处理方法,可应用于如图1的应用环境中。其中,用户可以使用终端设备通过网络与服务端交互,以发送指令或接收数据等。服务端可通过客户端基于预设的电极尺寸数据,构建所述电极的二维模型;根据所述电极尺寸数据,获取所述电极内部颗粒的特征数据,所述特征数据包括数量数据与半径数据;基于所述特征数据,在所述二维模型内构建多个颗粒单元,并获取所述颗粒单元的坐标数据;在所述二维模型内,创建所述颗粒单元所处的区域为填充区,创建其余区域为空白区,获取填充区与空白区的面积数据,并计算所述二维模型的实际密度比;基于所述实际密度比与预设的电极目标密度比,获取所述颗粒单元的重叠度;判断所述重叠度是否大于预设的重叠度阈值,当所述重叠度大于所述重叠度阈值时,更新所述颗粒单元的坐标数据并重新计算所述重叠度;当所述重叠度不大于所述重叠度阈值时,获取所述颗粒单元的坐标数据;汇总所述坐标数据,生成坐标群数据。本专利技术中,通过优化电极颗粒堆叠模型,能够控制模型中的颗粒之间的重叠程度,并降低堆叠后的模型密度比与实际电极的密度比之间的偏差,从而增加颗粒模型的准确度。其中,客户端可以但不限于各种台式计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑等。服务端可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现模型的分析处理,可将处理结本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电极颗粒堆叠的处理方法,其特征在于,包括:基于预设的电极尺寸数据,构建所述电极的二维模型;根据所述电极尺寸数据,获取所述电极内部颗粒的特征数据,所述特征数据包括数量数据与半径数据;基于所述特征数据,在所述二维模型内构建多个颗粒单元,并获取所述颗粒单元的坐标数据;在所述二维模型内,创建所述颗粒单元所处的区域为填充区,创建其余区域为空白区,获取填充区与空白区的面积数据,并计算所述二维模型的实际密度比;基于所述实际密度比与预设的电极目标密度比,获取所述颗粒单元的重叠度;判断所述重叠度是否大于预设的重叠度阈值,当所述重叠度大于所述重叠度阈值时,更新所述颗粒单元的坐标数据并重新计算所述重叠度;当所述重叠度不大于所述重叠度阈值时,获取所述颗粒单元的坐标数据;汇总所述坐标数据,生成坐标群数据。2.根据权利要求1所述的电极颗粒堆叠的处理方法,其特征在于,所述基于预设的电极尺寸数据,构建所述电极的二维模型的步骤包括:预设所述电极的尺寸数据,所述尺寸数据包括长度数据与厚度数据;基于所述长度数据与所述厚度数据,构建所述电极的二维模型。3.根据权利要求1所述的电极颗粒堆叠的处理方法,其特征在于,所述根据所述电极尺寸数据,获取电极内部颗粒的特征数据的步骤包括:根据所述电极尺寸数据,查询历史群中该尺寸数据对应的颗粒特征数据,其中,所述历史群中包括多个电极尺寸数据及对应的颗粒特征数据;获取所述电极尺寸数据对应的颗粒特征数据。4.根据权利要求1所述的电极颗粒堆叠的处理方法,其特征在于,所述在所述二维模型内,创建所述颗粒单元所处的区域为填充区,创建其余区域为空白区,获取填充区与空白区的面积数据,并计算所述二维模型的实际密度比的步骤,包括:识别所述填充区与所述空白区的区域特征;基于所述区域特征计算所述填充区与所述空白区的面积数据,并计算所述电极的实际密度比。5.根据权利要求1所述的电极颗粒堆叠的处理方法,其特征在于,所述基于所述实际密度比与预设的电极目标密度比,获取所述颗粒单元的重叠度的步骤包括:获取所述实际密度比与预设的所述电极目标密度比的差值数据;基于所述差值数据获取颗粒的重叠度。6.根据权利要求5所述的电极颗粒堆叠...

【专利技术属性】
技术研发人员:ꢀ七四专利代理机构
申请(专利权)人:宁波吉利汽车研究开发有限公司
类型:发明
国别省市:

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