本发明专利技术公开了一种光学链路的匹配调试装置及其调试光学干涉断层成像系统的方法，所述的所述匹配调试装置包括偏振态调节单元、接口单元、光衰减调节单元、尾端光学设计单元、光纤缠绕柱和匹配调试装置盒；所述偏振态调节单元的输入端与所述接口单元的输出端连接；所述光衰减调节单元、尾端光学设计单元和光缠绕柱设置在所述匹配调试装置盒内；所述偏振态调节单元设置在所述匹配调试装置盒上，并且所述偏振态调节单元的输出端与所述光衰减调节单元的输入端连接，所述装置为回损可调、偏振态可调、光程可调的光路装置，可以灵活运用于光学干涉断层成像系统工作状态的实时监测和调试，特别是光灵敏度的测量和脉冲响应的相关研究。是光灵敏度的测量和脉冲响应的相关研究。是光灵敏度的测量和脉冲响应的相关研究。
【技术实现步骤摘要】
光学链路的匹配调试装置及其调试方法
[0001]本专利技术涉及光学检测
，尤其涉及一种光学链路的匹配调试装置及其调试光学干涉断层成像系统的方法。
技术介绍
[0002]在光学干涉断层成像系统(本文简称系统)中存在许多难以避免的噪声，如光源噪声、平衡探测器噪声、K clock取样噪声等，若不能有效正确地调试系统，则很难使系统处于在有效工作状态，获得实际图像，因此，有效便捷地调试系统，特别是光学链路相关部分的匹配调试，成为一个重要命题。
技术实现思路
[0003]为了解决上述的技术问题，本专利技术提供了一种光学链路的匹配调试装置及其调试光学干涉断层成像系统的方法。
[0004]本专利技术具体技术方案如下：
[0005]1.一种光学链路的匹配调试装置，其中，所述匹配调试装置包括偏振态调节单元、接口单元、光衰减调节单元、尾端光学设计单元、光纤缠绕柱和匹配调试装置盒；
[0006]所述偏振态调节单元的输入端与所述接口单元的输出端连接；
[0007]所述光衰减调节单元、尾端光学设计单元和光缠绕柱设置在所述匹配调试装置盒内；
[0008]所述偏振态调节单元设置在所述匹配调试装置盒上，并且所述偏振态调节单元的输出端与所述光衰减调节单元的输入端连接。
[0009]2.根据项1所述的匹配调试装置，其中，所述偏振态调节单元包括三个等效波片，所述三个等效波片均沿着旋转轴旋转。
[0010]3.根据项2所述的匹配调试装置，其中，所述三个等效波片分别为λ/4波片、λ/2波片和λ/4波片，所述等效波片均沿着旋转轴旋转，其中λ为经过所述偏振态调节单元的光波的中心波长。
[0011]4.根据项1所述的匹配调试装置，其中，所述偏振态调节单元的输入端通过光纤连接器与所述接口单元的输出端连接，所述偏振态调节单元的输出端通过光纤连接器与所述光衰减调节单元的输入端连接。
[0012]5.根据项1
‑
4任一项所述的匹配调试装置，其中，所述匹配调试装置盒包括盒体和盒盖，所述盒体侧面有预留孔；
[0013]所述偏振态调节单元设置在所述盒盖上，所述光衰减调节单元、尾端光学设计单元和光缠绕柱设置在所述盒体内；
[0014]所述偏振态调节单元的输出端穿入所述盒体与所述光衰减调节单元的输入端连接。
[0015]6.根据项5所述的匹配调试装置，其中，所述偏振态调节单元的输出端穿入所述盒
体，并通过光纤连接器与所述光衰减调节单元的输入端连接。
[0016]7.根据项5所述的匹配调试装置，其中，所述尾端光学设计单元的输入端或输出端与所述光衰减调节单元的输出端连接，所述尾端光学设计单元的部分尾纤环绕在光纤缠绕柱上。
[0017]8.根据项7所述的匹配调试装置，其中，所述尾端光学设计单元的输入端或输出端通过光纤连接器与所述光衰减调节单元的输出端连接。
[0018]9.根据项5所述的匹配调试装置，其中，所述光衰减调节单元的旋钮穿过所述盒体的预留孔，通过所述旋钮调节所述光衰减调节单元的光衰减量。
[0019]10.根据项1所述的匹配调试装置，其中，所述接口单元为光纤跳线，所述光纤跳线的接口类型与光学干涉断层成像系统探测臂输出光口匹配。
[0020]11.根据项5所述的匹配调试装置，其中，所述尾端光学设计单元的光纤端面设置有反射膜。
[0021]12.一种使用项1
‑
11中任一项所述的匹配调试装置调试光学干涉断层成像系统的方法，其包括下述步骤：
[0022](1)预设光学干涉断层成像系统参考臂的衰减值为x＝0：通过光学干涉断层成像系统上位机软件观测N(x)＝N，
[0023]其中，N(x)是光学干涉断层成像系统探测器采样输出的RF OUTPUT输出数据经过快速傅立叶变换运算之后的系统噪声量化值；
[0024](2)预设匹配调试装置：通过预留孔3调节光衰减调节单元5的旋钮，预设所述光衰减调节单元5的衰减量y＝0.5*N
‑
0.5*δ，其中δ为尾端光学设计单元8的回波损耗；
[0025](3)使用匹配调试装置替代待调试的光学干涉断层成像系统探测臂远端的一段光路，搭建并运行调试平台，通过光学干涉断层成像系统上位机软件观测S(x)的变化情况；
[0026]其中，S(x)是某一调试状态对应的光学干涉断层成像系统探测器采样输出的RF OUTPUT输出数据经过快速傅立叶变换运算之后的目标信号量化值；
[0027](4)通过光学干涉断层成像系统上位机软件，改变光学干涉断层成像系统的延迟线位置，旋转偏振态调节单元4的等效波片，来改变经过所述匹配调试装置的传输光的偏振态，从而获得S(x)最大值＝S；
[0028](5)设置参考臂中的光衰减量x，以保证光学干涉断层成像系统探测器处于线性工作状态，直到S(x)＝S
‑
m，此时x＝c，
[0029]其中，m是通过S(x)的变化来衡量探测器由饱和工作状态进入线性工作状态的拐点判决参考值，m为0.5
‑
6；
[0030](6)设置参考臂中的光衰减量x，直到S(x)＝N+n，此时x＝d，
[0031]其中，n是光学干涉断层成像系统成像深度处的信号S(x)的最大允许滚降跌落值，n为3
‑
10；
[0032]从而确定了所述参考臂光衰减量的范围[c
‑
m
‑
3，d]。
[0033]13.根据项12所述的方法，所述方法还包括下述步骤：
[0034]选择光衰减值为c的光衰减器作为连接器件，用于所述系统参考臂中，则设定了光学干涉断层成像系统光灵敏度SEN(c)＝S(c)＝S
‑
m，m为0.5
‑
6。
[0035]专利技术的效果
[0036]本专利技术提供的光学链路的匹配调试装置，具有下述效果：
[0037](1)尾端光学设计单元的光纤端面镀上反射膜,具有固定的回波损耗。
[0038](2)光衰减调节单元可以实现匹配调试装置的端口视在回波损耗可调。
[0039](3)调偏振态调节单元可以实现匹配调试装置传输光偏振态的调整。
[0040](4)开放式接口单元可以实现光纤替换,进而可以使用本装置来调试不同参考臂光路长度的系统。
[0041](5)设计中采用通用的标准光纤通信类光纤和接头设计,生产升本低廉且便于量产。
[0042](6)高效科学地调试光学干涉断层成像系统，例如参考臂的光路衰减的调节，也可以用于优化系统和辅助选择系统参考臂之外的其他基础部件。
[0043](7)可以进行光学干涉断层成像系统测试研究，如光灵敏度。
[0044](8)可以进行光学干涉断层成像系统脉冲响应的相关研究。
[0045](9)本专利技术所述的装置，其通过特殊的设计，提供一个回损可调、偏振态可调、光程可调的光路装置，可以灵活运用本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学链路的匹配调试装置，其特征在于，所述匹配调试装置包括偏振态调节单元、接口单元、光衰减调节单元、尾端光学设计单元、光纤缠绕柱和匹配调试装置盒；所述偏振态调节单元的输入端与所述接口单元的输出端连接；所述光衰减调节单元、尾端光学设计单元和光缠绕柱设置在所述匹配调试装置盒内；所述偏振态调节单元设置在所述匹配调试装置盒上，并且所述偏振态调节单元的输出端与所述光衰减调节单元的输入端连接。2.根据权利要求1所述的匹配调试装置，其特征在于，所述偏振态调节单元包括三个等效波片，所述三个等效波片均沿着旋转轴旋转。3.根据权利要求2所述的匹配调试装置，其特征在于，所述三个等效波片分别为λ/4波片、λ/2波片和λ/4波片，所述等效波片均沿着旋转轴旋转，其中λ为经过所述偏振态调节单元的光波的中心波长。4.根据权利要求1所述的匹配调试装置，其特征在于，所述偏振态调节单元的输入端通过光纤连接器与所述接口单元的输出端连接，所述偏振态调节单元的输出端通过光纤连接器与所述光衰减调节单元的输入端连接。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的匹配调试装置，其特征在于，所述匹配调试装置盒包括盒体和盒盖，所述盒体侧面有预留孔；所述偏振态调节单元设置在所述盒盖上，所述光衰减调节单元、尾端光学设计单元和光缠绕柱设置在所述盒体内；所述偏振态调节单元的输出端穿入所述盒体与所述光衰减调节单元的输入端连接。6.根据权利要求5所述的匹配调试装置，其特征在于，所述偏振态调节单元的输出端穿入所述盒体，并通过光纤连接器与所述光衰减调节单元的输入端连接。7.根据权利要求5所述的匹配调试装置，其特征在于，所述尾端光学设计单元的输入端或输出端与所述光衰减调节单元的输出端连接，所述尾端光学设计单元的部分尾纤环绕在光纤缠绕柱上。8.根据权利要求7所述的匹配调试装置，其特征在于，所述尾端光学设计单元的输入端或输出端通过光纤连接器与所述光衰减调节单元的输出端连接。9.根据权利要求5所述的匹配调试装置，其特征在于，所述光衰减调节单元的旋钮穿过所述盒体的预留孔，通过所述旋钮调节所述光衰减调节单元的光衰减量。10.根据权利要求1所述的匹配调试装置，其特征在于，所述接口单元为光纤跳线，所述光纤跳线的接口类型与光学干涉断层成像系统探测臂输出光口匹配。11.根据权利要求5所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：王正义，魏鲁明，明良裕，张林涛，吴振英，
申请(专利权)人：苏州微创阿格斯医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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