金相试样的磨样装置制造方法及图纸

技术编号:35348401 阅读:17 留言:0更新日期:2022-10-26 12:14
本申请公开一种金相试样的磨样装置,属于金属制造技术领域。所公开的金相试样的磨样装置包括装置主体、固定柱、锁紧件、伸缩件、第一磨样台和第一驱动装置,所述固定柱、所述第一磨样台和所述第一驱动装置均设于所述装置主体,所述第一磨样台设有第一打磨件,所述锁紧件通过所述伸缩件与所述固定柱相连,所述伸缩件可在平行于所述第一打磨件所在平面的方向上伸缩,所述锁紧件用于锁紧金相试样,所述第一驱动装置与所述第一磨样台相连,以驱动所述第一磨样台运动。上述方案能够解决相关技术涉及的金相试样制备方式存在制备效率较低、劳动强度较大、安全性能得不到保障以及磨样成本较高的问题。高的问题。高的问题。

【技术实现步骤摘要】
金相试样的磨样装置


[0001]本申请属于金属制造
,具体涉及一种金相试样的磨样装置。

技术介绍

[0002]在金属制件的生产检验中,通常使用的检验方法为金相检验法,该检验法主要应用于对原材料的检验、生产过程中的质量控制、产品质量检验、失效分析等。
[0003]在金相检验过程中,最重要的环节就是金相试样的制备,它包括了取样、粗磨、精磨、抛光等过程,其中,粗磨和精磨是通过更改砂纸的粗细度来实现的,抛光是通过抛光布实现的,而常用的磨样方式有以下三种:第一种、纯手工磨制方式,即左手按住砂纸,右手握住试样,单方向的反复进行打磨,但此打磨方式存在制备效率较低和劳动强度较大的问题;第二种、机械磨盘配手工打磨方式,此种方式也是最常用的方式,工作原理就是手持试样,与机械转动的磨盘相接触,但此种打磨方式存在安全性能得不到保障的问题;第三种、配有微型计算机的自动打磨方式,此种方式是自动化最高的制样方式,在磨样过程中,不需要操作者进行手持打磨,但此种方式会造成成本的增加。
[0004]综上,相关技术涉及的金相试样的磨样装置存在制备效率较低、劳动强度较大、安全性能得不到保障以及磨样成本较高的问题。

技术实现思路

[0005]本申请公开一种金相试样的磨样装置,以解决相关技术涉及的金相试样制备方式存在制备效率较低、劳动强度较大、安全性能得不到保障以及磨样成本较高的问题。
[0006]为了解决上述技术问题,本申请采用下述技术方案:
[0007]一种金相试样的磨样装置,包括装置主体、固定柱、锁紧件、伸缩件、第一磨样台和第一驱动装置,所述固定柱、所述第一磨样台和所述第一驱动装置均设于所述装置主体,所述第一磨样台设有第一打磨件,所述锁紧件通过所述伸缩件与所述固定柱相连,所述伸缩件可在平行于所述第一打磨件所在平面的方向上伸缩,所述锁紧件用于锁紧金相试样,所述第一驱动装置与所述第一磨样台相连,以驱动所述第一磨样台运动。
[0008]本申请采用的技术方案能够达到以下有益效果:
[0009]本申请中,金相试样通过锁紧件、伸缩件和固定柱设在装置主体上,以使金相试样与第一磨样台上的第一打磨件接触,通过第一驱动装置驱动第一磨样台运动,以及通过伸缩件的伸缩使得金相试样可以在第一打磨件不同的区域进行打磨,以提升打磨效果,进而提高金相试样的制备效率。由此可知,通过第一驱动装置驱动第一磨样台运动以及通过伸缩件调整金相试样的安装位置,可以使得金相试样的制备效率有所提高,且对操作人员来说,此种磨样方式所需的人力较少,进而劳动强度较小,同时安全性能能够得到保障,且此种磨样方式具有结构简单、易操作和维修成本较低的优点,这使得磨样的成本有所降低。因此,本申请公开的金相试样的磨样装置能够解决相关技术涉及的金相试样制备方式存在制备效率较低、劳动强度较大、安全性能得不到保障以及磨样成本较高的问题。
附图说明
[0010]图1为本申请实施例公开的金相试样的磨样装置的结构示意图。
[0011]附图标记说明:
[0012]100

装置主体、110

集水口、120

排水口;
[0013]200

固定柱;
[0014]300

锁紧件、310

第三旋钮、320

锁紧套;
[0015]400

伸缩件;
[0016]500

第一磨样台、510

第一打磨件、520

磨样部、530

连接部;
[0017]600

第一驱动装置、610

传动轴;
[0018]710

金相试样、720

固定套、730

第一旋钮、740

第二旋钮、750

注水装置、751

出水口、760

集水装置、761

内腔、762

底面、763

支撑件、770

阻挡部、780

压环;
[0019]800

第二磨样台、810

第二打磨件;
[0020]900

控制开关。
具体实施方式
[0021]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0022]下面结合附图,通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例公开的金相试样的磨样装置进行详细地说明。
[0023]请参考图1,本申请公开了一种金相试样的磨样装置,所公开的金相试样的磨样装置包括装置主体100、固定柱200、锁紧件300、伸缩件400、第一磨样台500和第一驱动装置600。
[0024]装置主体100是金相试样的磨样装置的主体部件,即磨样装置设置其他部件的主要设置基础;固定柱200作为设置锁紧件300和伸缩件400的主要部件,其设于装置主体100,具体地,锁紧件300通过伸缩件400与固定柱200相连,锁紧件300具有锁紧功能,其用于锁紧金相试样710,以防止在打磨金相试样710的过程中,金相试样710从锁紧件300上脱落。
[0025]在具体打磨金相试样710的过程中,金相试样710和第一打磨件510接触,第一打磨件510设在第一磨样台500上,第一磨样台500是磨样装置实现对金相试样710打磨的部件,第一驱动装置600与第一磨样台500相连,以驱动第一磨样台500运动,第一磨样台500带动第一打磨件510运动,从而实现金相试样710在第一打磨件510打磨。第一磨样台500和第一驱动装置600均设于装置主体100。可选地,第一驱动装置600设于装置主体100的内部,以减少磨样装置的占用空间。
[0026]为避免金相试样710长期在第一打磨件510的同一区域进行打磨,进而造成金相试样710打磨效果较差的问题,本申请可通过伸缩件400来解决。具体地,伸缩件400可在平行于第一打磨件510所在平面的方向上伸缩,即伸缩件400可调整锁紧件300在平行于第一打磨件510所在平面的方向上的设置位置,进而实现调整金相试样710的位置,即金相试样710与第一打磨件510的接触位置,以使金相试样710可以在第一打磨件510不同的区域进行打
磨,一方面可以充分利用第一打磨件510,另一方面可以确保金相试样710的打磨效果。
[0027]本申请中,金相试样710通过锁紧件300、伸缩本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金相试样的磨样装置,其特征在于,包括装置主体(100)、固定柱(200)、锁紧件(300)、伸缩件(400)、第一磨样台(500)和第一驱动装置(600),所述固定柱(200)、所述第一磨样台(500)和所述第一驱动装置(600)均设于所述装置主体(100),所述第一磨样台(500)设有第一打磨件(510),所述锁紧件(300)通过所述伸缩件(400)与所述固定柱(200)相连,所述伸缩件(400)可在平行于所述第一打磨件(510)所在平面的方向上伸缩,所述锁紧件(300)用于锁紧金相试样(710),所述第一驱动装置(600)与所述第一磨样台(500)相连,以驱动所述第一磨样台(500)运动。2.根据权利要求1所述的磨样装置,其特征在于,所述磨样装置还包括固定套(720)和第一旋钮(730),所述固定套(720)的一端活动套设于所述固定柱(200),且所述固定套(720)通过所述第一旋钮(730)与所述固定柱(200)锁紧,所述固定套(720)与所述伸缩件(400)滑动连接。3.根据权利要求2所述的磨样装置,其特征在于,所述磨样装置还包括第二旋钮(740),所述伸缩件(400)通过所述第二旋钮(740)与所述固定套(720)锁紧。4.根据权利要求2所述的磨样装置,其特征在于,所述固定套(720)的一端与所述固定柱(200)转动连接,且所述固定套(720)可沿所述固定柱(200)的轴线方向相对于所述固定柱(200)滑动。5.根据权利要求1所述的磨样装置,其特征在于,所述锁紧件(300)包括第三旋钮(310)和锁紧套(320),所述第三旋钮(310)与所述锁紧套(320)转动相连,在所述金相试样(710)至少部分置于所述锁紧套(320)内的情况下,所述金相试样(710)通过所述第三旋钮(310)与所述锁紧套(320...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵盛茂王潇
申请(专利权)人:烟台杰瑞动力科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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