基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法及系统，涉及图像处理领域。主要包括：将注塑件的灰度图像中灰度值分布与正常的灰度值分布进行比对判断注塑件是否存在缺陷，并根据灰度值分布呈正偏态分布的程度获得偏度以判断缺陷是否为银丝纹缺陷，若判断结果为是，根据偏度以及正常注塑件的灰度均值和灰度方差确定灰度阈值，利用正常注塑件的像素值对灰度图像进行填充得到最小外接圆图像，并对最小外接圆图像径向展开获得展开图像；将展开图像中灰度值小于灰度阈值的像素点置0获得分割图像，获得分割图像的竖直方向的灰度游程矩阵的长游程高灰度优势度量值以及短游程低灰度优势度量值，以判断银丝纹缺陷的成因。的成因。的成因。

【技术实现步骤摘要】
基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法及系统


[0001]本申请涉及图像处理领域，具体涉及一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法及系统。

技术介绍

[0002]注塑件成型后会存在缺陷，这些存在缺陷的成品会影响装配效率或整机性能，且此类产品与预定的质量标准有一定的差异，甚至无法使用。想要从根本上解决注塑件的缺陷，就需要确定缺陷形成的原因，从而对生产流程进行相应的控制，进而降低后续新生产过程中产品的不合格率。
[0003]银丝纹是注塑件中较为常见的一种缺陷，通常是在浇注时由于不同的影响因素导致的，根据影响因素，银丝纹缺陷的成因主要分为以下三种：干燥不充分、气体混入以及热分解。不同的影响因素导致的银丝纹不同。因此需要确定银丝纹的具体成因，从而确定影响因素，进而控制生产流程。

技术实现思路

[0004]针对上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法及系统，能够通过对待检测注塑件的灰度图像中的灰度值分布进行分析，确定判断注塑件是否存在缺陷，并判断缺陷是否为银丝纹缺陷，在存在银丝纹缺陷的情况下，能够判断银丝纹缺陷的成因，便于实施者采取相应的措施对后续生产过程进行控制，从而提高后续生产过程的注塑件的合格率。
[0005]第一方面，本文专利技术实施例提出了一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法，包括：
[0006]获得待检测注塑件的表面图像并进行灰度化获得灰度图像。
[0007]将所述灰度图像中灰度值分布与正常注塑件的灰度图像中灰度值分布进行比对，判断注塑件是否存在缺陷，若判断结果为是，并执行后续步骤，否则不再执行后续步骤。
[0008]利用判断为缺陷注塑件的灰度图像中灰度值分布呈正偏态分布的程度获得偏度，当所述偏度大于0时，判断为缺陷的注塑件中的缺陷为银丝纹缺陷，根据所述偏度以及正常注塑件的灰度均值和灰度方差确定灰度阈值，并执行后续步骤，否则不再执行后续步骤。
[0009]对判断为银丝纹缺陷的灰度图像进行填充得到灰度图像的最小外接圆图像，其中填充部分的像素值为正常注塑件的像素值，对所述最小外接圆图像径向展开获得展开图像。
[0010]将所述展开图像中灰度值小于所述灰度阈值的像素点的像素值置0获得分割图像，获得所述分割图像的竖直方向的灰度游程矩阵，并计算所述灰度游程矩阵的长游程高灰度优势度量值以及短游程低灰度优势度量值。
[0011]当长游程高灰度优势度量值大于预设第一阈值，且短游程低灰度优势度量值小于预设第二阈值时，银丝纹由干燥不充分导致。当短游程低灰度优势度量值大于预设第一阈
值，且长游程高灰度优势度量值小于预设第二阈值时，银丝纹由于热分解导致。否则，银丝纹由气体混入导致。
[0012]在一个可行的实施例，计算所述灰度游程矩阵的长游程高灰度优势度量值以及短游程低灰度优势度量值，包括：
[0013][0014][0015]其中，G1为长游程高灰度优势度量值，G2为短游程低灰度优势度量值，w
st
表示灰度级为s的像素点连续t次出现的频数，表示对255
‑
Y进行向下取整后的整数，M为所述灰度图像的长度，N为所述灰度图像的宽度，Y为灰度阈值，e为自然常数。
[0016]在一个可行的实施例，根据所述灰度图像中灰度值分布呈正偏态分布的程度获得偏度，包括
[0017][0018]其中，i
max
、i
min
分别为灰度直方图上最大和最小的灰度值，h(i)为灰度值i的频数，μ3为灰度值的频数的均值，σ3为灰度值的频数的标准差。
[0019]在一个可行的实施例，将所述灰度图像中灰度值分布与正常注塑件的灰度图像中灰度值分布进行比对，判断注塑件是否存在缺陷，包括：
[0020]计算灰度图像与正常注塑件的灰度图像进行比较后的匹配系数：
[0021][0022]其中，μ1和σ1分别为注塑件的灰度图像中灰度值的均值和方差，μ2和σ2分别为正常注塑件表面灰度值的均值和方差，当匹配系数Q小于预设第三阈值时，注塑件存在缺陷，否则，注塑件不存在缺陷。
[0023]在一个可行的实施例，所述灰度阈值为：其中，μ2和σ2分别为正常注塑件的灰度图像中灰度值的均值和方差，S为偏度。
[0024]在一个可行的实施例，所述方法还包括：
[0025]抽检待检测注塑件，分别判断各注塑件是否存在银丝纹缺陷，并分别判断存在银丝纹缺陷的注塑件中银丝纹缺陷的原因。
[0026]当银丝纹由干燥不充分导致的注塑件在所抽检的注塑件中的比例大于预设第四阈值时，需要改变干燥条件。
[0027]当银丝纹由气体混入导致的注塑件在所抽检的注塑件中的比例大于预设第四阈值时，重新设定注塑件的成形条件或变更生产所使用的材料。
[0028]当银丝纹由热分解导致的注塑件在所抽检的注塑件中的比例大于预设第四阈值时，检查加热条，并调整注嘴位置同时调节模腔内温度。
[0029]在一个可行的实施例，对注塑件的表面图像进行灰度化获得灰度图像，包括：
[0030]将注塑件的表面图像中像素点在RGB三个通道中像素值的最大值，作为所述灰度图像中的像素点的灰度值。
[0031]第二方面，本专利技术实施例提出了一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测系统，包括：存储器和处理器，其特征在于，所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以实现本专利技术实施例中基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法。
[0032]本专利技术实施例提供了一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法及系统，相比于现有技术，本专利技术实施例的有益效果在于：能够通过对待检测注塑件的灰度图像中的灰度值分布进行分析，确定判断注塑件是否存在缺陷，并判断缺陷是否为银丝纹缺陷，在存在银丝纹缺陷的情况下，能够判断银丝纹缺陷的成因，便于实施者采取相应的措施对后续生产过程进行控制，从而提高后续生产过程的注塑件的合格率。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1是本专利技术实施例提供的一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法的流程示意图。
[0035]图2是本专利技术实施例中银丝纹缺陷的三种不同成因下注塑件表面图像的示意图。
具体实施方式
[0036]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0037]以下描述中，为了说明而不是为了限定，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法，其特征在于，包括：获得待检测注塑件的表面图像并进行灰度化获得灰度图像；将所述灰度图像中灰度值分布与正常注塑件的灰度图像中灰度值分布进行比对，判断注塑件是否存在缺陷，若判断结果为是，并执行后续步骤，否则不再执行后续步骤；利用判断为缺陷注塑件的灰度图像中灰度值分布呈正偏态分布的程度获得偏度，当所述偏度大于0时，判断为缺陷的注塑件中的缺陷为银丝纹缺陷，根据所述偏度以及正常注塑件的灰度均值和灰度方差确定灰度阈值，并执行后续步骤，否则不再执行后续步骤；对判断为银丝纹缺陷的灰度图像进行填充得到灰度图像的最小外接圆图像，其中填充部分的像素值为正常注塑件的像素值，对所述最小外接圆图像径向展开获得展开图像；将所述展开图像中灰度值小于所述灰度阈值的像素点的像素值置0获得分割图像，获得所述分割图像的竖直方向的灰度游程矩阵，并计算所述灰度游程矩阵的长游程高灰度优势度量值以及短游程低灰度优势度量值；当长游程高灰度优势度量值大于预设第一阈值，且短游程低灰度优势度量值小于预设第二阈值时，银丝纹由干燥不充分导致；当短游程低灰度优势度量值大于预设第一阈值，且长游程高灰度优势度量值小于预设第二阈值时，银丝纹由于热分解导致；否则，银丝纹由气体混入导致。2.根据权利要求1所述的基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法，其特征在于，计算所述灰度游程矩阵的长游程高灰度优势度量值以及短游程低灰度优势度量值，包括：括：其中，G1为长游程高灰度优势度量值，G2为短游程低灰度优势度量值，w
st
表示灰度级为s的像素点连续t次出现的频数，表示对255
‑
Y进行向下取整后的整数，M为所述灰度图像的长度，N为所述灰度图像的宽度，Y为灰度阈值，e为自然常数。3.根据权利要求1所述的基于灰度游程矩阵的注塑件银丝纹缺陷检测方法，其特征在于，根据所述灰度图像中灰度值分布呈正偏态分布的程度获得偏度，包括其中，i
max
、i
min

【专利技术属性】
技术研发人员：董国伟，陈永初，
申请(专利权)人：南通金丝楠膜材料有限公司，
类型：发明
国别省市：