同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法及系统技术方案

技术编号:35300428 阅读:33 留言:0更新日期:2022-10-22 12:48
本发明专利技术公开了同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法及系统,包括:首先POS感应到非接卡之后对非接卡正常读卡;若对非接卡执行失败,则在延时内只检测接触卡,不检测非接卡;若在延时内读到接触卡直接对接触卡进行上电交易;若未能读到接触卡则在超时之后重新读一次非接卡。通过在读非接卡的过程中若上电失败后设置一段时间的延时,在延时时间内去检测接触卡,并在超时后再次去检测非接卡,如此,可同时提高接触卡和非接卡读卡性能。可同时提高接触卡和非接卡读卡性能。可同时提高接触卡和非接卡读卡性能。

【技术实现步骤摘要】
同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法及系统


[0001]本专利技术涉及电子
,具体涉及同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法及系统。

技术介绍

[0002]目前银行所发的金融卡都是非接和接触IC卡做在同一张卡片上,在POS机读金融卡的应用中,一个POS机也往往同时具有非接卡和接触卡即IC卡两种读卡模块。因此,此设计方案在具体应用时会存在读IC卡失败的情况,具体的原因如下:
[0003](1)受限于POS机的外观结构设计和内部空间,当IC卡和非接卡读卡模块在POS机内部是距离非常近或者接近重叠的情况。POS机的非接模块和接触式IC模块在应用上经常被同时打开以方便用户随意选择插入或者挥卡。
[0004]这种情况下当客人选择插入接触式IC卡时,POS机非接卡模块从IC卡槽这个方向会先在空中检测到卡片,但是因为从这个方向上插卡,非接卡的读卡性能较弱,导致读卡流程未能完成而失败。
[0005]尽管非接交易的时间很短,基本都在100~200ms之间就完成了整个读卡流程,但是在卡片插入卡槽这个运动过程中,字节多的数据失败率就高,很难读完整个读卡流程,所以失败的主要原因就在于这个方向上的非接卡读卡失败,非常影响用户的体验;
[0006](2)非接卡的读卡失败的主要原因还有在于读卡盲区的存在。
[0007]根据线圈耦合原理我们可以知道,当两个线圈的单边接近甚至重叠时,此时耦合系数极小,能量传递极差。非接卡片工作原理在于获得POS机发射的能量,开始工作后返回数据给POS机。
[0008]当我们往IC卡槽内插入卡片时,卡片内部的线圈会逐渐接近POS机内部的线圈,当卡片的线圈一边和POS机线圈的一边靠的很近甚至形成重叠,能量传递消失,卡片无法获得能量给POS机返回数据,这段区域这样就形成了盲区。盲区一般是宽大几个毫米的区域,在此区域内无论读卡流程进行到哪一步都会直接失败。
[0009]所以初始状态读卡成功就两种可能性:
[0010](1)用较快的速度把卡片插入接触式的IC卡槽底部,使POS机还未能感应到非接卡就直接感应到接触式卡片。
[0011](2)较慢的速度插入IC卡,使POS的非接卡模块直接把卡片数据读完整从而完成交易,比如在卡片进入盲区之前就感应到并读完卡片,或者等到越过盲区之后再感应到并读完卡片再次之前完全没检测到卡片。
[0012]但是这两种方式对用户的插卡速度要求太高从而不符合实际使用需求。
[0013]由此我们可知,上述三点原因都会导致读卡失败的几率大幅度提升,因此,如何同时增强接触卡和非接卡读卡性能为本领域需解决的问题。

技术实现思路

[0014]针对于现有接触卡和非接卡读卡失败率高的技术问题,本专利技术的目的在于提供同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法,其有效改善了接触卡和非接卡读卡读卡失败情况,大大提高了接触卡和非接卡的读卡性能;在此基础上,还提供了同时增强接触卡和非接卡读卡性能的系统,很好地克服了现有技术所存在的问题。
[0015]为了达到上述目的,本专利技术提供的同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法,包括:
[0016]首先将非接卡和接触卡检测通道同时开启,对非接卡和接触卡进行检测;
[0017]若POS感应到非接卡之后对非接卡正常读卡;
[0018]若对非接卡执行失败,则在延时内只检测接触卡,不检测非接卡;
[0019]若在延时内读到接触卡直接对接触卡进行上电交易;若未能读到接触卡则在超时之后重新读一次非接卡。
[0020]进一步地,POS机同时打开非接卡和接触卡检测扫描,设备即处于循环扫描非接卡芯片的SPI接口和接触卡的开关信号的状态下,如果在任何接口上收到信号,则表示有对应的非接卡或接触卡被设备感知到。
[0021]进一步地,如果在非接卡芯片的SPI口检测到信号返回,则表示有非接卡进入了POS机的电场,并相应了寻卡命令,POS机随后执行对非接卡上电的命令,如果上电成功则与非接卡执行数据交互,若上电步骤失败,则设备不会直接报送失败,而是处于延时状态,在这个延时内设备不执行任何非接卡的操作。
[0022]进一步地,在延时内设备不执行任何非接卡的操作而是只检测接触卡的端口,只扫描接触卡的开关信号,如果扫描到接触卡的开关信号,则设备去执行接触卡的读卡操作。
[0023]进一步地,,若在延时内没有检测到任何接触卡开关信号,则延时结束后,此时设备再一次尝试去读一次非接卡,设备直接执行检卡,上电和数据交换的完整步骤,任何一个步骤中出现失败则直接报失败,成功则直接执行交易,不再做任何延时。
[0024]为了达到上述目的,本专利技术提供的同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡系统,包括非接卡检测模块,接触卡检测模块,读取模块,交易模块,延时模块,播报模块;
[0025]将非接卡检测模块和接触卡检测模块同时开启,对非接卡和接触卡进行检测;
[0026]若接触卡检测模块检测到接触卡则直接执行接触卡交易;
[0027]若非接卡检测模块感应到非接卡之后,将检测的信号发送给读取模块;
[0028]读取模块接收到非接卡的检测信号后,触发读取模块正常去读取非接卡;
[0029]若读取模块正常读取到非接卡后,则发送读取信号驱动交易模块执行非接卡的上电交易;
[0030]若读取模块对非接卡的上电尝试失败后,则触发延时模块,在延时模块所延时所设置的延时时间内,接触卡检测模块只对接触卡进行检测;
[0031]在延时中若接触卡检测模块检测到接触卡,则发送读取信号驱动交易模块执行接触卡的上电交易;
[0032]同时,在延时模块所设置的时间结束之后再次触发非接卡检测模块对非接卡进行检测,若检测到非接卡,就重新实施非接卡的读卡流程;
[0033]若非接卡交易成功,就触发播报模块报成功;
[0034]若未检测到非接卡,就触发播报模块报超时,停止检测;
[0035]若非接卡检测模块检测到了非接卡,但是上电失败或者和卡片的数据交换中失败,则直接播报交易失败并停止检测。
[0036]本专利技术提供的同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法及系统,其通过在读非接卡的过程中若上电失败后设置一段时间的延时,在延时时间内去检测接触卡,并在超时后再次去检测非接卡,如此,可同时提高接触卡和非接卡读卡性能。
附图说明
[0037]以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本专利技术。
[0038]图1为本一种同时增强接触卡和非接卡读卡性能的方法流程示意图。
具体实施方式
[0039]为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本专利技术。
[0040]针对于现有接触卡和非接卡读卡失败率高的技术问题,基于此技术问题,本专利技术提供了同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法,其通过在读非接卡的过程中若上电本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法,其特征在于,包括:首先将非接卡和接触卡检测通道同时开启,对非接卡和接触卡进行检测;若POS感应到非接卡之后对非接卡正常读卡;若对非接卡执行失败,则在延时内只检测接触卡,不检测非接卡;若在延时内读到接触卡直接对接触卡进行上电交易;若未能读到接触卡则在超时之后重新读一次非接卡。2.根据权利要求1所述的同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法,其特征在于,POS机同时打开非接卡和接触卡检测扫描,设备即处于循环扫描非接卡芯片的SPI接口和接触卡的开关信号的状态下,如果在任何接口上收到信号,则表示有对应的非接卡或接触卡被设备感知到。3.根据权利要求1所述的同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法,其特征在于,如果在非接卡芯片的SPI口检测到信号返回,则表示有非接卡进入了POS机的电场,并相应了寻卡命令,POS机随后执行对非接卡上电的命令,如果上电成功则与非接卡执行数据交互,若上电步骤失败,则设备不会直接报送失败,而是处于延时状态,在这个延时内设备不执行任何非接卡的操作。4.根据权利要求1所述的同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读卡方法,其特征在于,在延时内设备不执行任何非接卡的操作而是只检测接触卡的端口,只扫描接触卡的开关信号,如果扫描到接触卡的开关信号,则设备去执行接触卡的读卡操作。5.根据权利要求1所述的同步增强接触卡和非接卡读卡性能的POS机读...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈勇坚胡永刚
申请(专利权)人:上海动联信息技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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