一种老化测试用探针制造技术

本实用新型专利技术提供了一种老化测试用探针，属于探针技术领域，包括探针本体，在所述探针本体外壁上间隔均匀的安装有若干个挡环，在两个相邻的挡环之间安装有一绝缘圈，所述绝缘圈包括第一半环、第二半环和设置在第一半环与第二半环之间的锁紧件，本实用新型专利技术具有方便了操作者将绝缘圈安装在探针本体外壁上的优点。者将绝缘圈安装在探针本体外壁上的优点。者将绝缘圈安装在探针本体外壁上的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种老化测试用探针


[0001]本技术属于探针
，特别是一种老化测试用探针。

技术介绍

[0002]探针主要是应用于测试各种制作完成后的电子元件及电路板，是将探针配置于测试治具上而与电子元件或电路板接触，接着由探针将测试的结果经导线传回计算机，以确认待测物是否有不良之处。
[0003]现有的探针在生产过程中，操作者需要通过压接设备在探针外壁上压接一个绝缘圈，这种方式操作者操作者起来比较麻烦。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种老化测试用探针，具有方便了操作者将绝缘圈安装在探针本体外壁上的特点。
[0005]本技术的目的可通过下列技术方案来实现：
[0006]一种老化测试用探针，包括探针本体，在所述探针本体外壁上间隔均匀的安装有若干个挡环，在两个相邻的挡环之间安装有一绝缘圈，所述绝缘圈包括第一半环、第二半环和设置在第一半环与第二半环之间的锁紧件。
[0007]进一步的，所述锁紧件包括开设在第一半环一端内壁上的锁紧槽、固定连接在第二半环一端端面上的锁紧板和设置在锁紧板与锁紧槽之间将锁紧板锁紧在锁紧槽中的锁紧组件，所述锁紧槽的上下两端分别与第一半环的上下表面连通，所述锁紧板安装在锁紧槽中。
[0008]进一步的，所述锁紧组件包括开设在锁紧槽远离探针本体的一侧内壁上的第一槽、开设在锁紧板远离探针本体的一侧侧壁上的第二槽和插接在第一槽与第二槽中的锁紧杆，所述第一槽和第二槽对齐。
[0009]进一步的，所述第一槽和第二槽拼接成截面呈多边形设置的槽，所述锁紧杆截面呈多边形设置。
[0010]进一步的，所述挡环的外径小于锁紧杆到探针本体的轴线的距离。
[0011]进一步的，在所述锁紧杆外壁上开设有插孔，在所述第一半环外壁上开设有一通孔，通孔与第一槽连通，通孔与插孔对齐，在通孔与插孔中插接有一插杆。
[0012]与现有技术相比，本技术具有以下优点：
[0013]1、本技术通过将第一半环和第二半环抵接在探针本体外壁上，锁紧板插接进锁紧槽中，将锁紧杆插接进第一槽和第二槽中，通过这样的额设置，结构简单，操作方便，方便了操作者将绝缘圈安装在探针本体外壁上。
[0014]2、本技术通过在第一半环外壁上开设通孔，在锁紧杆外壁上开设有插孔，插杆插接在通孔和插孔中，通过这样的设置，结构简单，操作方便，提高了锁紧杆插接在第一槽和第二槽中的稳定性。
附图说明
[0015]图1是本技术的结构示意图。
[0016]图2是本技术中绝缘圈的结构示意图。
[0017]图中，1、探针本体；2、挡环；3、绝缘圈；4、第一半环；5、第二半环；6、锁紧件；7、锁紧槽；8、锁紧板；9、锁紧组件；10、第一槽；11、第二槽；12、锁紧杆；13、插孔；14、通孔；15、插杆。
具体实施方式
[0018]以下是本技术的具体实施例并结合附图，对本技术的技术方案作进一步的描述，但本技术并不限于这些实施例。
[0019]如图1、图2所示，一种老化测试用探针，包括探针本体1，在探针本体1外壁上间隔均匀的固定连接有若干个挡环2，在两个相邻的挡环2之间安装有一绝缘圈3。
[0020]如图1、图2所示，绝缘圈3包括第一半环4、第二半环5和锁紧件6，第一半环4内壁和第二半环5内壁抵接在探针本体1外壁上，锁紧件6设置在第一半环4的两端与第二半环5的两端之间，锁紧件6用于将第一半环4和第二半环5连接起来。
[0021]如图1、图2所示，锁紧件6包括锁紧槽7、锁紧板8和锁紧组件9，锁紧槽7开设在第一半环4一端内壁上，锁紧槽7呈弧状设置，锁紧槽7的上下两端分别与第一半环4的上下表面平齐，锁紧板8固定连接在第二半环5一端端面上，锁紧板8呈弧状设置，锁紧板8嵌设在锁紧槽7中，锁紧组件9设置在锁紧板8和锁紧槽7内壁之间，锁紧组件9用于将锁紧板8锁紧在锁紧槽7中。
[0022]如图1、图2所示，锁紧组件9包括第一槽10、第二槽11和锁紧杆12，第一槽10开设在锁紧槽7远离探针本体1的一侧内壁上，第二槽11开设在锁紧板8远离探针本体1的一侧内壁上，第一槽10和第二槽11对齐，第一槽10和第二槽11拼接成截面呈多边形的槽，锁紧杆12截面呈多边形设置，锁紧杆12插接在第一槽10和第二槽11中。
[0023]如图1、图2所示，为了方便操作者将锁紧杆12插接进第一槽10和第二槽11中，挡环2的外径小于锁紧杆12到探针本体1的轴线的距离。
[0024]如图1、图2所示，为了提高锁紧杆12插接在第一槽10和第二槽11中的稳定性，在锁紧杆12外壁上开设有一插孔13，在第一半环4外壁上开设有通孔14，通孔14与第一槽10连通，通孔14与插孔13对齐，在插孔13和通孔14中插接有一插杆15。
[0025]本技术实施例的工作原理：将第一半环4内壁和第二半环5内壁抵接在探针本体1外壁上，锁紧板8插接进锁紧槽7中，第一槽10和第二槽11对齐，锁紧杆12插接进第一槽10和第二槽11中，将插杆15插接进通孔14中，插杆15的一端插接在插孔13中。
[0026]本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术精神作举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
[0027]尽管本文较多地使用了1、探针本体；2、挡环；3、绝缘圈；4、第一半环；5、第二半环；6、锁紧件；7、锁紧槽；8、锁紧板；9、锁紧组件；10、第一槽；11、第二槽；12、锁紧杆；13、插孔；14、通孔；15、插杆等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本技术的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本技术精神相违背的。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化测试用探针，其特征在于，包括探针本体(1)，在所述探针本体(1)外壁上间隔均匀的安装有若干个挡环(2)，在两个相邻的挡环(2)之间安装有一绝缘圈(3)，所述绝缘圈(3)包括第一半环(4)、第二半环(5)和设置在第一半环(4)与第二半环(5)之间的锁紧件(6)。2.根据权利要求1所述的一种老化测试用探针，其特征在于，所述锁紧件(6)包括开设在第一半环(4)一端内壁上的锁紧槽(7)、固定连接在第二半环(5)一端端面上的锁紧板(8)和设置在锁紧板(8)与锁紧槽(7)之间将锁紧板(8)锁紧在锁紧槽(7)中的锁紧组件(9)，所述锁紧槽(7)的上下两端分别与第一半环(4)的上下表面连通，所述锁紧板(8)安装在锁紧槽(7)中。3.根据权利要求2所述的一种老化测试用探针，其特征在于，所述锁紧组件(9)包括开设在锁紧槽(7)远离探针本体(1)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱林，潘玲芳，朱力，屠美凤，施林华，
申请(专利权)人：浙江日拓电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：