本实用新型专利技术公开了一种二端口微带器件测试装置，其包括X轴位移平台、射频连接器载台A、射频连接器载台B、Z轴位移平台A、Z轴位移平台B，X轴位移平台、承托板载台A和承托板载台B、承托板、滚珠弹簧螺丝和待测件载台；其中，所述射频连接器载台A和射频连接器载台B能够在所述X轴位移平台沿X方向移动；滚珠弹簧螺丝设置于所述承托板载台A和承托板载台B的腔体内且位于所述承托板下方；待测件载台位于所述射频连接器载台A和射频连接器载台B之间的承托板上。通过本实用新型专利技术，可快速高效完成器件测试，且使用压接的方法完成微带线的连接，不需要焊接，无损测试；且适用于各种微带线器件，不同长度、不同宽度和不同介质厚度均可使用。不同宽度和不同介质厚度均可使用。不同宽度和不同介质厚度均可使用。
【技术实现步骤摘要】
二端口微带器件测试装置
[0001]本技术涉及射频器件测试
，具体涉及一种二端口微带器件测试装置。
技术介绍
[0002]二端口微带器件是射频器件的重要组成部分，广泛应用于各个通信相关的领域包括：基站、回传链路、卫星通信、军用、雷达、航空航天等。在微带器件生产中，需要对器件的电性能进行准确的测试，通常的矢量网络分析仪只有同轴校准件，如果要测试微带器件，必须加微带同轴转换，微带同轴转换会引入很大的测试误差，而且传统的微带器件测试需要焊接，对器件有损伤无法后期销售增加相应成本。根据对微带器件的测试要求，迫切需要一种高频率、快速、准确且无损的微带器件测试装置，但目前市场上没有该类装置。
技术实现思路
[0003]本技术提供一种二端口微带器件测试装置，旨在解决的技术问题之一是：现有对微带器件进行测试时，容易造成器件损伤的技术问题。
[0004]考虑到现有技术的上述问题，根据本技术公开的一个方面，本技术采用以下技术方案：
[0005]一种二端口微带器件测试装置，其包括：
[0006]X轴位移平台；
[0007]射频连接器载台A和射频连接器载台B，其设置于所述X轴位移平台上，且所述射频连接器载台A和射频连接器载台B能够在所述X轴位移平台沿X方向移动；
[0008]Z轴位移平台A和Z轴位移平台B，所述Z轴位移平台A和Z轴位移平台B设置于所述X轴位移平台，所述Z轴位移平台A与所述射频连接器载台A能够一同沿X轴方向移动，所述Z轴位移平台B与所述射频连接器载台B能够一同沿X轴方向移动；
[0009]承托板载台A和承托板载台B，所述承托板载台A与所述Z轴位移平台A连接且能够沿Z轴方向移动，所述承托板载台B与所述Z轴位移平台B连接且能够沿Z轴方向移动，所述承托板载台A和承托板载台B上设置容纳承托板的腔体；
[0010]承托板，其贯穿所述承托板载台A和承托板载台B的腔体；
[0011]滚珠弹簧螺丝，其为若干且分别设置于所述承托板载台A和承托板载台B的腔体内且位于所述承托板下方；
[0012]待测件载台，其上用于放置待测件且位于所述射频连接器载台A和射频连接器载台B之间的承托板上。
[0013]为了更好地实现本技术，进一步的技术方案是：
[0014]进一步地，所述待测件载台为0.5毫米厚度待测件载台、1毫米厚度待测件载台、2毫米厚度待测件载台、4毫米厚度待测件载台或8毫米厚度待测件载台。
[0015]进一步地，所述Z轴位移平台A上设置用于将所述承托板载台A在Z轴方向锁紧的锁
紧螺钉A。
[0016]进一步地，所述锁紧螺钉A位于所述Z轴位移平台A侧面。
[0017]进一步地，所述Z轴位移平台B上设置用于将所述承托板载台B在Z轴方向锁紧的锁紧螺钉B。
[0018]进一步地，所述锁紧螺钉B位于所述Z轴位移平台B侧面。
[0019]进一步地，所述射频连接器载台A上设置射频连接器A。
[0020]进一步地，所述射频连接器载台B上设置射频连接器B。
[0021]与现有技术相比，本技术的有益效果之一是：
[0022]本技术的一种二端口微带器件测试装置，1)可快速高效完成器件测试，且使用压接的方法完成微带线的连接，不需要焊接，无损测试；2)适用于各种微带线器件，不同长度、不同宽度和不同介质厚度均可使用。
附图说明
[0023]为了更清楚的说明本申请文件实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术的描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是对本申请文件中一些实施例的参考，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的情况下，还可以根据这些附图得到其它的附图。
[0024]图1为根据本技术一个实施例的二端口微带器件测试装置整体结构示意图。
[0025]图2为根据本技术一个实施例的滚珠弹簧螺丝结构示意图。
[0026]图3为根据本技术一个实施例的承托板载台A组合体结构示意图。
[0027]图4为根据本技术一个实施例的承托板载台B组合体结构示意图。
[0028]图5为根据本技术一个实施例的二端口微带器件测试装置俯视示意图。
[0029]其中，附图标记对应的附图名称为：
[0030]1‑
X轴位移平台，2
‑
射频连接器载台A，3
‑
射频连接器载台B，4
‑
滚珠弹簧螺丝，5
‑
承托板载台A，6
‑
Z轴位移平台A，7
‑
锁紧螺钉A，8
‑
承托板载台B，9
‑
Z轴位移平台B，10
‑
锁紧螺钉B，11
‑
射频连接器A，12
‑
射频连接器B，13
‑
承托板，14
‑
0.5毫米厚度待测件载台，15
‑
1毫米厚度待测件载台，16
‑
2毫米厚度待测件载台，17
‑
4毫米厚度待测件载台，18
‑
8毫米厚度待测件载台，19
‑
待测件。
具体实施方式
[0031]下面结合实施例对本技术作进一步地详细说明，但本技术的实施方式不限于此。
[0032]参见图1至图5所示，一种二端口微带器件测试装置，其包括：
[0033]X轴位移平台1；
[0034]射频连接器载台A2和射频连接器载台B3，其设置于所述X轴位移平台1上，且所述射频连接器载台A2和射频连接器载台B3能够在所述X轴位移平台1沿X方向移动。
[0035]其中，射频连接器载台A2可通过螺钉安装在X轴位移平台1一边，射频连接器载台B3通过螺钉安装在X轴位移平台1另一边。以上结构主要是满足射频连接器载台A2和射频连接器载台B3在X轴方向的移动，其实现移动连接的方式可以是丝杆、滑轨等。
[0036]Z轴位移平台A6和Z轴位移平台B9，所述Z轴位移平台A6和Z轴位移平台B9设置于所述X轴位移平台1，所述Z轴位移平台A6与所述射频连接器载台A2能够一同沿X轴方向移动，所述Z轴位移平台B9与所述射频连接器载台B3能够一同沿X轴方向移动。所述射频连接器载台A2上设置射频连接器A11。所述射频连接器载台B3上设置射频连接器B12。
[0037]其中，进一步优选方案是，Z轴位移平台A6通过螺丝安装在射频连接器载台A2下部，Z轴位移平台B9通过螺丝安装在射频连接器载台B3下部，射频连接器A11安装在射频连接器载台A2上部，射频连接器B12安装在射频连接器载台B3上部。
[0038]承托板载台A5和承托板载台B8，所述承托板载台A5与所述Z轴位移平台A6连接且能够沿Z轴方向移动，所述承托板载台B8与所述Z轴位移平台B9连接且能够沿Z轴方向移动，所述承托板载本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种二端口微带器件测试装置，其特征在于包括：X轴位移平台(1)；射频连接器载台A(2)和射频连接器载台B(3)，其设置于所述X轴位移平台(1)上，且所述射频连接器载台A(2)和射频连接器载台B(3)能够在所述X轴位移平台(1)沿X方向移动；Z轴位移平台A(6)和Z轴位移平台B(9)，所述Z轴位移平台A(6)和Z轴位移平台B(9)设置于所述X轴位移平台(1)，所述Z轴位移平台A(6)与所述射频连接器载台A(2)能够一同沿X轴方向移动，所述Z轴位移平台B(9)与所述射频连接器载台B(3)能够一同沿X轴方向移动；承托板载台A(5)和承托板载台B(8)，所述承托板载台A(5)与所述Z轴位移平台A(6)连接且能够沿Z轴方向移动，所述承托板载台B(8)与所述Z轴位移平台B(9)连接且能够沿Z轴方向移动，所述承托板载台A(5)和承托板载台B(8)上设置容纳承托板(13)的腔体；承托板(13)，其贯穿所述承托板载台A(5)和承托板载台B(8)的腔体；滚珠弹簧螺丝(4)，其为若干且分别设置于所述承托板载台A(5)和承托板载台B(8)的腔体内且位于所述承托板(13)下方；待测件载台，其上用于放置待测件(19)且位于所述射频连接器载台A(2)...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵强，仲继美，
申请(专利权)人：成都朗格微电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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