存储介质、透镜装置、图像拾取装置和处理装置制造方法及图纸

公开了存储介质、透镜装置、图像拾取装置和处理装置。提供了一种存储介质，该存储介质存储用于取得校正量的校正数据，该校正量用于关于在由透镜装置形成的图像中的光量分布来校正从该图像取得的图像数据，其中，校正数据包括关于像高h的n阶多项式的系数(其中n是非负整数)，所述系数与透镜装置的状态对应。所述系数满足第一条件表达式：

【技术实现步骤摘要】
存储介质、透镜装置、图像拾取装置和处理装置
[0001]本申请是申请号为201911258256.1，申请日为2019年12月10日，题为“透镜装置、图像拾取装置和处理装置”的中国专利技术专利申请的分案申请。


[0002]本专利技术涉及存储介质、透镜装置、图像拾取装置、处理装置、相机装置、制造透镜装置的方法和制造处理装置的方法。

技术介绍

[0003]在大多数广播相机(电视相机)、电影相机、照片相机、视频相机和类似的相机中，像面的周边部分的光量小于像面的中心部分的光量。周边部分的光量与中心部分的光量的比(相对照度)随着通过例如变焦、聚焦或孔径光阑的操作来操作光学系统而变化。
[0004]比的变化是由中心部分的光量的变化和周边部分的光量的变化中的一个或两个引起的。主要原因是当以上述方式操作光学系统时，例如，一部分的轴上光束和轴外光束不能透过透镜、孔径光阑、其他光学构件或结构构件。这通过增大透镜或相似构件的有效直径以便覆盖随着操作光学系统而变化的轴上光束和轴外光束的所有路径来改善。然而，增大的有效直径不利于缩小透镜装置的尺寸和重量。另外，增大的有效直径增大了球面像差、像场弯曲和其它类型的像差，并且它们的校正是困难的。因此，已知通过图像处理校正光量下降而不是光学地校正光量下降的方法。关于由透镜装置形成的图像中的光量分布，通过由相机装置拾取图像而取得的图像数据的校正在下文中被称为“光量(分布)校正”或“光量(分布)补偿”。
[0005]在日本专利申请公开No.2008
‑
96907中，公开了具有关于横向色差和周边光量的减小的校正的信息(校正数据)的透镜装置，该透镜装置被配置成基于来自相机装置的命令来向相机装置发送信息。在日本专利申请公开No.H11
‑
164194中，公开了一种方法，该方法包含使用像高的二阶、三阶或四阶表达式作为校正表达式以便加快校正边缘变暗特性的处理。
[0006]当各像高处的校正量由作为相对低阶表达式的n阶多项式来表示时，虽然具有可以减小数据量的优点，但是当近似在取决于像高的光量的变化急剧的情况下的校正量时，在表现出的误差方面可能是不利的。例如，在校正量由四阶多项式近似的情况下，当校正量随着像高变化而波动时，校正后的图像数据表现出环状不均匀，这可能会使人感到奇怪。

技术实现思路

[0007]实施例的一方面例如提供了一种存储介质，该存储介质存储在通过图像拾取而取得的图像数据的光量补偿方面有益的校正数据。
[0008]根据本专利技术的至少一个实施例，提供了一种存储介质，该存储介质存储用于取得校正量的校正数据，该校正量用于关于在由透镜装置形成的图像中的光量分布来校正从该图像取得的图像数据，其中，校正数据包括像高h的n阶多项式的系数(其中n是非负整数)，
所述系数与透镜装置的状态对应。所述系数满足第一条件表达式：
[0009]‑
0.15≤dD
′
(h)
‑
dDlens(h)≤1.98，
[0010]其中dDlens(h)表示在像高h处的光量的每一像高h的增加量dh的变化量，并且dD
′
(h)表示在像高h处的所述n阶多项式的值的倒数的每一增加量dh的变化量。
[0011]参考附图，本专利技术的更多特征将从以下示例实施例的描述中变得清楚。
附图说明
[0012]图1是示出根据本专利技术的第一实施例的图像拾取装置的配置示例的图。
[0013]图2是示出焦距(对数刻度)和F数之间的示例性关系的曲线图。
[0014]图3是示出第一实施例中的示例性处理流程的图。
[0015]图4是示出透镜装置的示例性光学系统的图。
[0016]图5A是示出校正之前和之后的示例性光量分布的曲线图。
[0017]图5B是示出校正之前和之后的示例性光量分布的曲线图。
[0018]图5C是示出校正之前和之后的示例性光量分布的曲线图。
[0019]图5D是示出校正之前和之后的示例性光量分布的曲线图。
[0020]图6是示出根据本专利技术的第二实施例的图像拾取装置的配置示例的图。
[0021]图7是示出第二实施例中的处理的示例性流程的图。
[0022]图8是示出根据本专利技术的第三实施例的图像拾取装置的配置示例的图。
[0023]图9是示出第三实施例中的示例性处理流程的图。
[0024]图10是示出根据本专利技术的第四实施例的制造方法的示例性流程的图。
[0025]图11是示出根据本专利技术的第五实施例的制造方法的示例性流程的图。
[0026]图12A是示出要解决的问题的曲线图。
[0027]图12B是示出要解决的问题的曲线图。
[0028]图12C是示出要解决的问题的曲线图。
[0029]图13是示出在各像高处的光量与在像高为0处的光量的比的曲线图。
具体实施方式
[0030]现在，参考附图描述本专利技术的实施例。在所有用于示出实施例的附图中，原则上(除非另有说明)，相似的组件等由相似的标号表示，并且省略其重复描述。
[0031][第一实施例][0032]图1是示出根据本专利技术第一实施例的图像拾取装置的配置示例的图。图像拾取装置被配置以使得透镜装置100可拆卸地安装到相机装置200。聚焦透镜单元101被配置成移动以进行聚焦。聚焦透镜单元可以具有其中聚焦透镜单元的子单元移动以进行聚焦的所谓的内聚焦或浮动聚焦的功能。变焦透镜单元102被配置成移动以进行变焦。变焦透镜单元可以包括被配置成移动以进行变焦的三个或更多个透镜子单元。孔径光阑103具有可以根据变焦或由用户执行的操作而变化的孔径。孔径光阑可以被连续地操作。
[0033]检测器110(在下文中也被称为“聚焦状态检测器”)被配置成检测聚焦透镜单元101的状态(例如，位置)。当聚焦透镜单元101包括多个透镜子单元时，检测器110可以仅检测这些透镜子单元中的任一个的状态，或者可以检测每个透镜子单元的状态。检测器111
(在下文中也被称为“变焦状态检测器”)被配置成检测变焦透镜单元102的状态(例如，位置)。通常，变焦透镜单元102由两个或更多个透镜子单元组成，但是检测器111可以仅检测这些透镜子单元中的任一个的状态，或者可以检测每个透镜子单元的状态。检测器112(在下文中也被称为“光圈状态检测器”)被配置成检测孔径光阑103的状态(例如，孔径或有效F数)。可以添加扩束器透镜单元和检测器(在下文中也被称为“插入/移除状态检测器”)，该扩束器透镜单元被插入到光路中以改变变焦透镜单元的焦距范围，该检测器被配置成检测扩束器透镜单元的插入/移除的状态。
[0034]此外，可以添加用于校正图像稳定性(用于图像稳定性)的图像稳定透镜单元和被配置成检测图像稳定透镜单元的状态(例如，位置)的检测器(在下文中也被称为“图像稳定状态检测器”)。可以基于在图像稳定透镜单元相对于光轴的变化量与在像面上的光轴的变化量之间的关系本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储介质，其特征在于，该存储介质存储用于取得校正量的校正数据，该校正量用于关于在由透镜装置形成的图像中的光量分布来校正从该图像取得的图像数据，其中，透镜装置满足不等式1.10<Ft/Fd<4.00；以及
‑
0.01<(Fd
‑
Fw)/Log(fd/fw)<1.20，其中Fw表示在广角端处的最小F数，Ft表示在望远端处的最小F数，fw表示在广角端处的焦距，ft表示在望远端处的焦距，并且Fd表示在由如下表达式表示的焦距fd处的最小F数：fd＝Fw/Ft
×
ft，校正数据包括关于像高h的n阶多项式的系数，其中n是非负整数，所述系数与透镜装置的状态对应，校正数据满足：
‑
0.15≤dD
′
(h)
‑
dDlens(h)≤1.98，其中dDlens(h)表示在像高h处的光量的倾斜，并且dD
′
(h)表示在像高h处的所述n阶多项式的值的倒数的倾斜，并且其中校正数据在透镜装置的状态中满足：Ave_nY/Ave_0n≤0.95，并且其中，Ave_0n表示在从像高零到第一像高hn的每个像高处的图像的相对照度与由所述n阶多项式表示的校正量的乘积的平均值，并且Ave_nY表示在从第一像高hn到最大像高Y的每个像高处的图像的相对照度与由所述n阶多项式表示的校正量的乘积的平均值，其中第一像高hn满足：0.70
×
Y≤hn<1.00
×
Y。2.根据权利要求1所述的存储介质，其中，校正数据是在满足如下不等式的透镜装置的状态下的校正数据：0.10≤|dDlens_0n
‑
dDlens_nY|，其中，dDlens_0n表示在像高零和第二像高hn之间的图像的相对照度的倾斜，并且dDlens_nY表示第二像高hn与最大像高Y之间的图像的相对照度的倾斜。3.根据权利要求2所述的存储介质，其中，第二像高hn满足如下不等式：0.10
×
Y≤hn≤0.80
×
Y。4.根据权利要求2所述的存储介质，其中，第二像高hn满足如下不等式：0.70
×
Y≤hn≤1.00
×
Y。5.根据权利要求1所述的存储介质，其中，系数包括作为所述n阶多项式的四阶多项式的系数A0、系数A1、系数A2、系数A3和系数A4，所述n阶多项式是由如下表达式来表示的：D＝A4×
h4+A3×
h3+A2×
h2+A1×
h+A0，其中，D表示校正量。6.根据权利要求5所述的存储介质，其中，系数A3和系数A4满足如下不等式：
‑
0.10<A3+10
×
A4<0.10。7.根据权利要求5所述的存储介质，其中，系数A3和系数A4满足如下不等式：
|A4|≤0.0020；以及|A3|≤0.0150。8.根据权利要求1所述的存储介质，其中，如下不等式被满足：|ddAve/A0|≤0.50，其中，ddAve表示在从像高零到第二像高hn的每个像高h处的图像的相对照度与由所述n阶多项式表示的校正量的乘积的在像高h处的二阶导数的值，并且A0表示所述n阶多项式的第0阶项的系数。9.根据权利要求1所述的存储介质...

【专利技术属性】
技术研发人员：山田智也，后藤和史，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：