一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡制造技术

本实用新型专利技术公开了一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡，涉及探针卡技术领域。本实用新型专利技术包括第一固定壳和设置在第一固定壳顶部的第二固定壳，第一固定壳的内部设置有检测电路板，检测电路板的底部固定有探针，且探针与第一固定壳滑动连接；第一固定壳内部的两侧均安装有定位机构，用于对检测电路板进行升降限位。本实用新型专利技术通过连接杆、限位板、复位弹簧、第一定位块和第二定位块的配合，使得探针卡在进行使用时能够便于对检测电路板进行安装和拆卸，且通过卡板、螺纹杆、第二锥齿轮和第二连接轴的配合，使得探针卡在进行使用时能够便于将第二固定壳脱离第一固定壳。便于将第二固定壳脱离第一固定壳。便于将第二固定壳脱离第一固定壳。

【技术实现步骤摘要】
一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡


[0001]本技术属于探针卡
，特别是涉及一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡。

技术介绍

[0002]随着电器件越多的使用，集成电路的需要也是越来越多，集成电路制造领域中，芯片测试是芯片制造业不可缺少的一个重要环节，芯片根据不同的用处和环境进行分类，其中耐高压低漏电模块化芯片在生产完成且还没封装前需要通过探针卡进行测试检验，现有的探针卡在进行使用时不便对检测的电路板进行安装和拆卸。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡，以解决现有的问题：现有的探针卡在进行使用时不便对检测的电路板进行安装和拆卸。
[0004]为解决上述技术问题，本技术是通过以下技术方案实现的：一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡，包括第一固定壳和设置在第一固定壳顶部的第二固定壳，所述第一固定壳的内部设置有检测电路板，所述检测电路板的底部固定有探针，且所述探针与第一固定壳滑动连接；
[0005]所述第一固定壳内部的两侧均安装有定位机构，用于对检测电路板进行升降限位；
[0006]所述定位机构包括滑板、限位块、连接杆和压板，所述限位块的一侧固定有滑板，且所述滑板与第一固定壳滑动连接，所述限位块的两端均滑动连接有连接杆，两个所述连接杆的底部滑动连接有压板，所述限位块的内部还安装有弹性组件，用于对连接杆进行复位。
[0007]进一步地，所述定位机构还包括第一定位块和第二定位块，所述限位块两端的内部都均布固定有第一定位块，且所述第一定位块靠近连接杆一端的顶部开设有第一倾斜面，所述连接杆靠近第一定位块的一端固定有第二定位块，且所述第二定位块靠近第一定位块一端的底部开设有第二倾斜面。
[0008]进一步地，所述弹性组件包括限位板和复位弹簧，所述复位弹簧的一端与限位块固定，所述复位弹簧的另一端固定有限位板。
[0009]进一步地，所述第二固定壳两侧的内部均滑动连接有卡板，且所述卡板与第一固定壳滑动连接。
[0010]进一步地，所述第二固定壳的内部还安装有位移机构，用于带动卡板进行移动。
[0011]进一步地，所述位移机构包括第一连接轴、转动把手、定位板、螺纹杆、第一锥齿轮、第二锥齿轮和第二连接轴，所述第二固定壳一端的内部转动连接有第一连接轴，所述第一连接轴的一侧固定有转动把手，所述第一连接轴的另一端固定有第一锥齿轮，所述第一锥齿轮远离第一连接轴的一端啮合连接有第二锥齿轮，所述第二锥齿轮的内部固定有第二
连接轴，所述第二连接轴的两侧均设置有螺纹杆，两个所述螺纹杆的螺纹旋向相反，且所述螺纹杆与卡板螺纹连接。
[0012]进一步地，所述第一连接轴的外侧且位于第二固定壳的内部转动连接有定位板，且所述定位板的底部与第二固定壳固定。
[0013]本技术具有以下有益效果：
[0014]1、本技术通过连接杆、限位板、复位弹簧、第一定位块和第二定位块的配合，使得探针卡在进行使用时能够便于对检测电路板进行安装和拆卸。
[0015]2、本技术通过卡板、螺纹杆、第二锥齿轮和第二连接轴的配合，使得探针卡在进行使用时能够便于将第二固定壳脱离第一固定壳。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本技术整体的结构示意图；
[0018]图2为本技术第一固定壳与第二固定壳的连接结构示意图；
[0019]图3为本技术第一固定壳的内部结构示意图；
[0020]图4为本技术限位块的内部结构示意图；
[0021]图5为本技术压板与连接杆的连接结构示意图；
[0022]图6为本技术第二固定壳的内部结构示意图；
[0023]图7为本技术图6中A处局部放大图。
[0024]附图中，各标号所代表的部件列表如下：
[0025]1、第一固定壳；2、第二固定壳；3、检测电路板；4、探针；5、滑板；6、限位块；7、连接杆；8、限位板；9、复位弹簧；10、第一定位块；11、压板；12、第二定位块；13、第一连接轴；14、转动把手；15、定位板；16、卡板；17、螺纹杆；18、第一锥齿轮；19、第二锥齿轮；20、第二连接轴。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]请参阅图1
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7所示，本技术为一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡，包括第一固定壳1和设置在第一固定壳1顶部的第二固定壳2，第一固定壳1的内部设置有检测电路板3，检测电路板3的底部固定有探针4，且探针4与第一固定壳1滑动连接，进而能够通过探针4与第一固定壳1的滑动来接防止检测电路板3在第一固定壳1的内部进行滑动；
[0028]在进行使用时将检测电路板3放入第一固定壳1的内部，并通过探针4与第一固定壳1的滑动连接对检测电路板3进行定位，使得检测电路板3防止在第一固定壳1的内部不能
够在进行移动，只能进行升降；
[0029]第一固定壳1内部的两侧均安装有用于对检测电路板3进行升降限位的定位机构，定位机构包括滑板5、限位块6、连接杆7、第一定位块10、压板11和第二定位块12，限位块6的一侧固定有滑板5，且滑板5与第一固定壳1滑动连接，第一固定壳1的内部且与滑板5相对应的位置开设有滑槽，第一固定壳1与滑板5通过滑槽滑动连接，进而使得定位机构能够便于对位置进行移动调节；
[0030]限位块6的两端均滑动连接有连接杆7，两个连接杆7的底部滑动连接有压板11，进而通过压板11的升降对检测电路板3进行定位，限位块6两端的内部都均布固定有第一定位块10，且第一定位块10靠近连接杆7一端的顶部开设有第一倾斜面，连接杆7靠近第一定位块10的一端固定有第二定位块12，且第二定位块12靠近第一定位块10一端的底部开设有第二倾斜面，使得连接杆7在进行升降时能够通过第一倾斜面和第二倾斜面的配合进行下降滑动，并通过第一定位块10的底部平面进行上升限位，限位块6的内部还安装有用于对连接杆7进行升降后复位的弹性组件；
[0031]弹性组件包括限位板8和复位弹簧9，复位弹簧9的一端与限位块6固定，复位弹簧9的另一端固定有限位板8，进而通过复位弹簧9的压缩使得限位板8跟随下降时的连接杆7进行移动，在通过复位弹簧9的反弹使得限位板8带动连接杆7进行复位移动；
[0032]在安装检测电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡，其特征在于：包括第一固定壳(1)和设置在第一固定壳(1)顶部的第二固定壳(2)，所述第一固定壳(1)的内部设置有检测电路板(3)，所述检测电路板(3)的底部固定有探针(4)，且所述探针(4)与第一固定壳(1)滑动连接；所述第一固定壳(1)内部的两侧均安装有定位机构，用于对检测电路板(3)进行升降限位；所述定位机构包括滑板(5)、限位块(6)、连接杆(7)和压板(11)，所述限位块(6)的一侧固定有滑板(5)，且所述滑板(5)与第一固定壳(1)滑动连接，所述限位块(6)的两端均滑动连接有连接杆(7)，两个所述连接杆(7)的底部滑动连接有压板(11)，所述限位块(6)的内部还安装有弹性组件，用于对连接杆(7)进行复位。2.根据权利要求1所述的一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡，其特征在于：所述定位机构还包括第一定位块(10)和第二定位块(12)，所述限位块(6)两端的内部都均布固定有第一定位块(10)，且所述第一定位块(10)靠近连接杆(7)一端的顶部开设有第一倾斜面，所述连接杆(7)靠近第一定位块(10)的一端固定有第二定位块(12)，且所述第二定位块(12)靠近第一定位块(10)一端的底部开设有第二倾斜面。3.根据权利要求1所述的一种耐高压低漏电模块化芯片测试探针卡，其特征在于：所述弹性组件包括限位板(8)和复位弹簧(9)，所述复位弹簧(9)的一端与限位块(6)固定，所述复位...

【专利技术属性】
技术研发人员：张磊，
申请(专利权)人：无锡普罗卡科技有限公司，
类型：新型
国别省市：