芯片电源测试的上电控制电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片电源测试的上电控制电路，包括电源模块、通信模块、控制模块、电容配置模块和供电配置模块；电源模块供电；通信模块与外部连接，用于接收外部下发的控制信号并传递给控制模块，也用于接收控制模块上传的数据并外传；电容配置模块接收控制模块下发的控制指令，得到对应的电容组合并将组合后的电容连接到供电配置模块；供电配置模块接收控制模块下发的控制指令，结合所连接的组合后的电容为被测芯片提供对应的电源信号；控制模块控制电路工作。本实用新型专利技术能够配置多组电容组合并连接到供电配置模块，调节被测芯片的上电时序和上电边沿斜率，而不需要人工调节电容量或更换电容组件，可靠性高、实用性好且简单高效。简单高效。简单高效。

【技术实现步骤摘要】
芯片电源测试的上电控制电路


[0001]本技术具体涉及一种芯片电源测试的上电控制电路。

技术介绍

[0002]随着经济技术的发展和人们生活水平的提高，芯片已经广发应用于人们的生产和生活当中，给人们的生产和生活带来了无尽的便利。因此，保障芯片的稳定可靠运行，就成为了研究人员的研究重点。
[0003]随着集成电路技术的发展，芯片的集成度和复杂度也越来越高。具有大规模、高集成度的芯片，其内部往往存在多个电源域，因此在对该类芯片进行验证的过程中，电源的验证过程也越来越复杂。目前，常用的北斗导航芯片都包括射频、基带、模数转换等多个功能部分，对电源的上电时序存在特殊的要求。上电时序包括芯片所需各个电源的先后上电顺序、电源启动时的上电斜率等方面。当不满足上电时序要求时，芯片往往进入异常状态无法正常工作。因此，上电时序验证是芯片验证阶段一个重要环节。
[0004]目前，在芯片验证阶段，对芯片上电时序进行验证，一般是通过人工进行操作。在进行上电顺序控制时，需要人工设置或更改电路板上的电阻/电容的组合，并人工控制上电顺序；而在上电边沿斜率控制时，也需要人工对电容元件的数量进行增减。但是明显的，人工的方式不仅费时费力，而且效率极低。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种可靠性高、实用性好且简单高效的芯片电源测试的上电控制电路。
[0006]本技术提供的这种芯片电源测试的上电控制电路，包括电源模块、通信模块、控制模块、电容配置模块和供电配置模块；通信模块、电容配置模块和供电配置模块均与控制模块连接，电容配置模块还与供电配置模块连接；电源模块用于给所述芯片电源测试的上电控制电路供电；通信模块与外部连接，通信模块用于接收外部对所述芯片电源测试的上电控制电路下发的控制信号并传递给控制模块，也用于接收控制模块上传的数据并以通信的方式上传给外部；电容配置模块用于接收控制模块下发的控制指令，得到对应的电容组合并将组合后的电容连接到供电配置模块；供电配置模块连接被测芯片，供电配置模块用于接收控制模块下发的控制指令，并结合所连接的组合后的电容，为被测芯片提供对应的电源信号；控制模块用于控制所述芯片电源测试的上电控制电路的工作。
[0007]所述的通信模块为由型号为MAX13235的通信芯片构成的通信电路。
[0008]所述的控制模块为单片机、DSP、PLC或专用工业控制器。
[0009]所述的控制模块为由型号为STM32F103CBT6的微控制器芯片构成的控制电路。
[0010]所述的电容配置模块包括若干路电容配置电路；每一路电容配置电路均与控制模块连接，用于接收控制模块下发的控制指令，输出对应的电容组合并将组合后的电容连接到供电配置模块。
[0011]所述的电容配置电路为由型号为TS3A4741的开关芯片构成的开关电路。
[0012]所述的供电配置模块为由型号为TPS65266的电源芯片构成的供电电路。
[0013]本技术提供的这种芯片电源测试的上电控制电路，能够根据外部发送的指令配置多组电容组合并连接到供电配置模块，从而调节被测芯片的上电时序和上电边沿斜率，而不需要人工调节电容量或更换电容组件；因此本技术的可靠性高、实用性好且简单高效。
附图说明
[0014]图1为本技术的功能模块图。
[0015]图2为本技术的通信模块的电路原理示意图。
[0016]图3为本技术的电容配置电路的第一电路原理示意图。
[0017]图4为本技术的电容配置电路的第二电路原理示意图。
[0018]图5为本技术的电容配置电路的第三电路原理示意图。
[0019]图6为本技术的供电配置模块的电路原理示意图。
[0020]图7为本技术的控制模块的电路原理示意图。
具体实施方式
[0021]如图1所示为本技术的功能模块图：本技术提供的这种芯片电源测试的上电控制电路，包括电源模块、通信模块、控制模块、电容配置模块和供电配置模块；通信模块、电容配置模块和供电配置模块均与控制模块连接，电容配置模块还与供电配置模块连接；电源模块用于给所述芯片电源测试的上电控制电路供电；通信模块与外部连接，通信模块用于接收外部对所述芯片电源测试的上电控制电路下发的控制信号并传递给控制模块，也用于接收控制模块上传的数据并以通信的方式上传给外部设备；电容配置模块用于接收控制模块下发的控制指令，得到对应的电容组合并将组合后的电容连接到供电配置模块；供电配置模块连接被测芯片，供电配置模块用于接收控制模块下发的控制指令，并结合所连接的组合后的电容，为被测芯片提供对应的电源信号；控制模块用于控制所述芯片电源测试的上电控制电路的工作。
[0022]如图2所示为本技术的通信模块的电路原理示意图：通信模块为由型号为MAX13235的通信芯片构成的通信电路；芯片的2脚和4脚之间直接连接电容C2；芯片的5脚和6脚之间直接连接电容C6；芯片的16脚和17脚为第一路RS232通信引脚，其连接外部设备并与外部设备进行通信；对应的，芯片的13脚和15脚为第一路UART通信引脚，其连接控制模块并与控制模块通信；第一路RS232通信引脚和第一路UART通信引脚对应工作，用于将控制模块的通信数据与外部设备的RS232通信数据进行相互转换；同样的，芯片的8脚和9脚为第二路RS232通信引脚，其连接外部设备并与外部设备进行通信；对应的，芯片的10脚和12脚为第二路UART通信引脚，其连接控制模块并与控制模块通信；第二路RS232通信引脚和第二路UART通信引脚对应工作，用于将控制模块的通信数据与外部设备的RS232通信数据进行相互转换；芯片的14脚和20脚均直接连接电源信号+3.3V，以保证引脚电平为高电平；芯片的18脚直接接地；芯片的3脚和7脚均通过各自的接地电容接地；芯片的11脚和19脚为电源信号，均连接+3.3V电源线信号并取电，同时也通过电容C1或C3接地并滤波。
[0023]如图3所示为本技术的电容配置电路的第一电路原理示意图：图中的电容配置电路用于调节被测芯片的内核部分的电源电路的电容值；具体实施时，可以采用若干路同样的电容配置电路共同用于调节被测芯片的内核部分的电源电路的电容值；
[0024]图3中，电容配置电路为由型号为TS3A4741的开关芯片构成的开关电路；芯片的8脚直接连接电源信号+3.3V并取电，同时也通过电容C8接地并滤波；芯片的4脚为接地引脚，并直接接地；芯片的1、2和7脚为第一组开关：其中第一组开关的控制端为7脚，7脚连接控制模块并获取对应的控制指令；第一组开关的活动端一端为1脚，1脚直接通过电容C10接地；第一组开关的活动端另一端为2脚，2脚直接连接供电配置模块；类似的，芯片的3、5和6脚为第二组开关：其中第二组开关的控制端为3脚，3脚连接控制模块并获取对应的控制指令；第二组开关的活动端一端为5脚，5脚直接通过电容C12接地；第二组开关的活动端另一端为6脚，6脚直接连接供电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片电源测试的上电控制电路，其特征在于包括电源模块、通信模块、控制模块、电容配置模块和供电配置模块；通信模块、电容配置模块和供电配置模块均与控制模块连接，电容配置模块还与供电配置模块连接；电源模块用于给所述芯片电源测试的上电控制电路供电；通信模块与外部连接，通信模块用于接收外部对所述芯片电源测试的上电控制电路下发的控制信号并传递给控制模块，也用于接收控制模块上传的数据并以通信的方式上传给外部；电容配置模块用于接收控制模块下发的控制指令，得到对应的电容组合并将组合后的电容连接到供电配置模块；供电配置模块连接被测芯片，供电配置模块用于接收控制模块下发的控制指令，并结合所连接的组合后的电容，为被测芯片提供对应的电源信号；控制模块用于控制所述芯片电源测试的上电控制电路的工作。2.根据权利要求1所述的芯片电源测试的上电控制电路，其特征在于所述的通信模块为由型号为MAX13235的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘铮，丁杰，赵磊，蒿宏雷，
申请(专利权)人：长沙金维信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：