本申请公开了一种量子芯片测试盒及测试装置，包括用于装载量子芯片的盒体，所述盒体上设置有接线端子；以及测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接。本申请中，当需要对量子芯片进行测试时，将量子芯片置于量子芯片测试盒内，将测试电路与所述量子电路连接，利用盒体为量子芯片提供封闭的测试环境，使量子芯片与外界环境隔离，可以阻止外界振动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动，从而避免在测试过程中因量子芯片振动而产生的信号扰动，从而保证了量子芯片测试结果的准确性。测试结果的准确性。测试结果的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种量子芯片测试盒及测试装置
[0001]本申请属于量子计算
，特别是一种量子芯片测试盒及测试装置。
技术介绍
[0002]量子芯片是量子计算机必不可少的核心部件，为了保障量子芯片的良品率，在量子芯片制备完成后，需要对量子芯片进行测试，通常采用芯片测试组件与量子芯片上的量子电路形成电学连接，从而对量子电路进行检测，以实现对量子芯片的测试。
[0003]量子芯片在测试过程中，对振动噪声较为敏感，现有技术中，在对量子芯片进行测试操作时，外界振动噪声容易传递至量子芯片，使量子芯片振动从而产生信号扰动，从而影响量子芯片测试结果的准确性。
[0004]需要说明的是，公开于本申请
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本申请一般
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
[0005]本申请的目的是提供一种量子芯片测试盒，以解决现有技术中的不足，它提供了一种量子芯片测试盒及测试装置。
[0006]本申请的一个实施例提供了一种量子芯片测试盒，包括：
[0007]用于装载量子芯片的盒体，所述盒体上设置有接线端子；
[0008]测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接。
[0009]如上所述的量子芯片测试盒，其中，还包括固定于所述盒体内部的电路板，所述量子芯片固定于所述电路板上。
[0010]如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述测试电路包括：
[0011]位于电路板上的信号传输线，所述信号传输线的第一端与所述量子电路电连接；
[0012]连接线，所述连接线的第一端与所述信号传输线的第二端电连接，所述连接线的第二端与所述接线端子电连接，所述连接线与所述盒体固定。
[0013]如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体的内壁具有限位槽，所述连接线嵌入所述限位槽内。
[0014]如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体的内部设置有压线板，所述压线板覆盖所述连接线并与所述盒体的内壁固定。
[0015]如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述信号传输线的第一端通过键合线与所述量子电路电连接。
[0016]如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体上设置有用于连接抽气装置的抽气口。
[0017]如上所述的量子芯片测试盒，其中，所述盒体包括可拆卸的盒盖与盒身，所述盒盖
与盒身密封连接。
[0018]本申请的另一实施例还提供了一种测试装置，包括：
[0019]上述量子芯片测试盒；
[0020]用于承载所述盒体的隔振平台；
[0021]芯片测试组件，所述芯片测试组件与所述接线端子电连接；
[0022]抽气装置，与所述盒体连通。
[0023]与现有技术相比，本申请提供了一种量子芯片测试盒，包括用于装载量子芯片的盒体，所述盒体上设置有接线端子；以及测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接。本申请中，当需要对量子芯片进行测试时，将量子芯片置于量子芯片测试盒内，将测试电路与所述量子电路连接，利用盒体为量子芯片提供封闭的测试环境，使量子芯片与外界环境隔离，可以阻止外界振动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动，从而避免在测试过程中因量子芯片振动而产生的信号扰动，保证了量子芯片测试结果的准确性。
附图说明
[0024]图1为本申请提供的一种量子芯片测试盒的立体图；
[0025]图2为本申请提供的一种量子芯片测试盒中电路板的俯视图。
[0026]附图标记说明：
[0027]1－盒体，2－抽气口，3－电路板，4－接线端子，5－连接线，6－安装板，7－压线板；
[0028]11－盒身，12－盒盖。
具体实施方式
[0029]下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。
[0030]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本申请各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本申请的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
[0031]另外，应该理解的是，当层(或膜)、区域、图案或结构被称作在衬底、层 (或膜)、区域和/或图案“上”时，它可以直接位于另一个层或衬底上，和/ 或还可以存在插入层。另外，应该理解，当层被称作在另一个层“下”时，它可以直接位于另一个层下，和/或还可以存在一个或多个插入层。另外，可以基于附图进行关于在各层“上”和“下”的指代。
[0032]量子芯片是量子计算机必不可少的核心部件，为了保障量子芯片的良品率，在量子芯片制备完成后，需要对量子芯片进行测试，量子芯片在测试过程中，对振动噪声较为敏感，现有技术中，在对量子芯片进行测试操作时，外界振动噪声容易传递至量子芯片，使量子芯片振动从而产生信号扰动，从而影响量子芯片测试结果的准确性。
[0033]图1为本申请提供的一种量子芯片测试盒的立体图。
[0034]结合附图1所示，本申请实施例提供的一种量子芯片测试盒，包括：
[0035]用于装载量子芯片的盒体1，所述盒体1上设置有接线端子4；
[0036]测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子4电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接，所述量子芯片上的量子电路与所述测试电路连接，当需要对量子芯片进行测试时，利用盒体1为量子芯片提供一个封闭的测试环境，将量子芯片与外部环境隔离开，阻止外界振动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动。
[0037]本实施例中，当需要对量子芯片进行测试时，将待测试的量子芯片置于量子芯片测试盒内，将测试电路与所述量子电路连接，利用盒体1为量子芯片提供封闭的测试环境，使量子芯片与外界环境隔离，可以阻止外界振动噪声传递至量子芯片而引起量子芯片振动，从而避免在测试过程中因量子芯片振动而产生的信号扰动，保证了量子芯片测试结果的准确性。
[0038]图2为本申请提供的一种量子芯片测试盒中电路板3的俯视图。
[0039]结合附图2所示，在本申请的一些实施例中，还包括固定于所述盒体1 内部的电路板3，所述量子芯片固定于所述电路板3上，利用电路板3为量子芯片提供有效固定，由于量子芯片与所述电路板3紧密连接，且电路板3固定于所述盒体1内部，从而在对量子芯片进行测试时，即便量子芯片测试盒受到外力而产生不希望的振动，量子芯片仍然能够在电路板3的固定作用下保持稳定，避免量子芯片在盒体1内部振动，提高了量子芯片的稳定性。
[0040]本实本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种量子芯片测试盒，其特征在于，包括：用于装载量子芯片的盒体(1)，所述盒体(1)上设置有接线端子(4)；测试电路，所述测试电路的一端与所述接线端子(4)电连接，所述测试电路的另一端用于与所述量子芯片上的量子电路电连接。2.如权利要求1所述的量子芯片测试盒，其特征在于，还包括固定于所述盒体(1)内部的电路板(3)，所述量子芯片固定于所述电路板(3)上。3.如权利要求2所述的量子芯片测试盒，其特征在于，所述测试电路包括：位于电路板(3)上的信号传输线，所述信号传输线的第一端与所述量子电路电连接；连接线(5)，所述连接线(5)的第一端与所述信号传输线的第二端电连接，所述连接线(5)的第二端与所述接线端子(4)电连接，所述连接线(5)与所述盒体(1)固定。4.如权利要求3所述的量子芯片测试盒，其特征在于，所述盒体(1)的内壁具有限位槽，所述连接线(...
【专利技术属性】
技术研发人员：金贤胜，刘尧，张福，
申请(专利权)人：合肥本源量子计算科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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