本申请公开了一种图像处理方法、区域检测方法、检测设备和存储介质。该图像处理方法包括:获取待处理图像,并获取待处理图像的图像纹理特征;基于图像纹理特征的梯度变化情况,将待处理图像划分若干区域;将若干区域中符合图像梯度条件的区域,确定为电路板区域,其余区域确定为非电路板区域;按照电路板区域对待处理图像进行分割,得到电路板图像。通过上述实施方式,获取待处理图像的图像纹理特征的变化情况,将待处理图像划分为电路板区域和非电路板区域,并对区域进行分割得到电路板图像,以便于利用电路板图像与原始电路板设计图像进行对位操作,以及便于对电路板图像进行缺陷检测。检测。检测。
【技术实现步骤摘要】
一种图像处理方法、区域检测方法、检测设备和存储介质
[0001]本申请涉及图像处理
,特别是涉及一种图像处理方法、区域检测方法、检测设备和存储介质。
技术介绍
[0002]印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)行业的自动光学检测(Automated Optical Inspection,AOI)设备具有非常重要的实际意义。AOI是指针对PCB生产线上的PCB,通过光学相机采集图像,使用图像处理、机器学习等方法,检测和定位出PCB上的缺陷。
[0003]PCB在生产过程中无法避免地存在大量的缺陷,而PCB上线路非常小且密集,完全进行人工检查缺陷非常费时费力,且容易出错。此外,如果不对缺陷进行检测,而直接将存在缺陷的PCB板子放入下一个流程中进行制造,后续的修补成本会越来越高,且更容易报废,造成大量的浪费成本。
[0004]然而,在检测过程中,首先需要将原始PCB设计图和相机采集到的图像进行对位操作,才能进行比较,进而进行缺陷检测。而为了使相机拍摄的图像不遗漏PCB板,相机采集PCB板图像时通常会采集PCB板区域之外的区域,然而不对此部分图像进行处理,直接对原始PCB设计图和相机采集到的图像进行对位操作,可能导致对位失败造成大量的假点缺陷报点。
技术实现思路
[0005]为了解决现有技术存在的上述技术问题,本申请提供一种图像处理方法、区域检测方法、自动光学检测设备和存储介质。
[0006]为解决上述问题,本申请提供了一种图像处理方法,图像处理方法包括:获取待处理图像,并获取所述待处理图像的图像纹理特征;基于所述图像纹理特征的梯度变化情况,将所述待处理图像划分若干区域;将所述若干区域中符合图像梯度条件的区域,确定为电路板区域,其余区域确定为非电路板区域;按照所述电路板区域对所述待处理图像进行分割,得到电路板图像。
[0007]为解决上述问题,本申请提供了一种异常区域检测方法,所述异常区域检测方法包括:获取电路板图像,其中,所述电路板图像通过上述的图像处理方法处理得到;获取重复单元区域;利用所述重复单元区域对包括所述电路板图像的所有区域进行遍历匹配,得到所述重复单元区域与每一个区域的相似度;将所述电路板图像中相似度小于第一相似度阈值的区域,标记为异常区域。
[0008]为解决上述问题,本申请提供了一种自动光学检测设备,自动光学检测设备包括:处理器和存储器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器用于执行所述计算机程序以实现上述的方法。
[0009]为解决上述问题,本申请提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有程序指令,所述程序指令被处理器执行时实现上述的方法。
[0010]与现有技术相比,本申请的图像处理方法包括:获取待处理图像,并获取待处理图像的图像纹理特征;基于图像纹理特征的梯度变化情况,将待处理图像划分若干区域;将若干区域中符合图像梯度条件的区域,确定为电路板区域,其余区域确定为非电路板区域;按照电路板区域对待处理图像进行分割,得到电路板图像。通过上述实施方式,获取待处理图像的图像纹理特征的变化情况,将待处理图像划分为电路板区域和非电路板区域,并对区域进行分割得到电路板图像,以便于利用电路板图像与原始电路板设计图像进行对位操作,以及便于对电路板图像进行缺陷检测。
[0011]应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,而非限制本申请。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1是本申请提供的图像处理方法的一实施例流程示意图;
[0014]图2是本申请提供的图像处理方法的另一实施例流程示意图;
[0015]图3是本申请提供的待处理图像的一实施例示意图;
[0016]图4是图2所示的步骤S206之前的一实施例流程示意图;
[0017]图5是图1所示的步骤S104之前的一实施例流程示意图;
[0018]图6是本申请提供的确定电路板区域的一实施例流程示意图;
[0019]图7是本申请提供的确定电路板区域的一实施例流程示意图;
[0020]图8是本申请提供的异常区域检测方法的一实施例流程示意图;
[0021]图9是图8中步骤S802的一实施例流程示意图;
[0022]图10是本申请中第一重复单元区域和第一相邻区域的一实施例示意图;
[0023]图11是图9中步骤S903之后的步骤的一实施例流程示意图;
[0024]图12是本申请中第二重复单元区域和第二相邻区域的一实施例示意图;
[0025]图13是图9中步骤S903之后的步骤的另一实施例流程示意图;
[0026]图14是图8中步骤S104之前的步骤的一实施例流程示意图;
[0027]图15是本申请提供的相似度直方图的一实施例示意图;
[0028]图16是图8的步骤S804之后的步骤的一实施例流程示意图;
[0029]图17是本申请自动光学检测设备一实施例的结构示意图;
[0030]图18是本申请计算机存储介质一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0031]下面结合附图和实施例,对本申请作进一步的详细描述。特别指出的是,以下实施例仅用于说明本申请,但不对本申请的范围进行限定。同样的,以下实施例仅为本申请的部分实施例而非全部实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本申请保护的范围。
[0032]在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。
[0033]本申请的描述中,需要说明书的是,除非另外明确的规定和限定,术语“安装”、“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械来能接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间隔相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况连接上述属于在本申请的具体含义。
[0034]本申请提供了一种图像处理方法,参见图1,图1是本申请提供的图像处理方法的一实施例流程示意图。具体而言,可以包括如下步骤S101~步骤S104。
[0035]步骤S101:获取待处理图像,并获取待处理图像的图像纹理特征。
[0036]待处理图像中包括电路板图像。待处理图像可以通过自动光学检测设备获取,或通过将其他途径获取的待处理图像传输至自动光学检测设备进行后续处理。示例性地,通过本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:获取待处理图像,并获取所述待处理图像的图像纹理特征;基于所述图像纹理特征的梯度变化情况,将所述待处理图像划分若干区域;将所述若干区域中符合图像梯度条件的区域,确定为电路板区域,其余区域确定为非电路板区域;按照所述电路板区域对所述待处理图像进行分割,得到电路板图像。2.根据权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述基于所述图像纹理特征的梯度变化情况,将所述待处理图像划分若干区域,包括:基于所述图像纹理特征,计算所述待处理图像的图像梯度;按照所述待处理图像的图像梯度以及预设梯度阈值,将所述待处理图像划分若干区域。3.根据权利要求2所述的图像处理方法,其特征在于,所述将所述若干区域中符合图像梯度条件的区域,确定为电路板区域,其余区域确定为非电路板区域,包括:将所述图像梯度大于等于所述预设梯度阈值的区域,确定为所述电路板区域;将所述图像梯度小于所述预设梯度阈值的区域,确定为所述非电路板区域。4.根据权利要求2或3所述的图像处理方法,其特征在于,所述预设梯度阈值包括第一预设梯度阈值和第二预设梯度阈值,其中,所述第一预设梯度阈值大于所述第二预设梯度阈值;所述将所述若干区域中符合图像梯度条件的区域,确定为电路板区域,其余区域确定为非电路板区域,包括:将所述图像梯度大于等于所述第一预设梯度阈值的区域,确定为所述电路板区域;将所述图像梯度小于所述第一预设梯度阈值,且大于等于所述第二预设梯度阈值的区域,确定为板边区域;将所述图像梯度小于所述第二预设梯度阈值的区域,确定为所述非电路板区域;所述按照所述电路板区域对所述待处理图像进行分割,得到电路板图像,包括:按照所述非电路板区域、所述电路板区域和所述板边区域,对所述待处理图像进行分割,得到所述电路板图像。5.根据权利要求4所述的图像处理方法,其特征在于,所述按照所述非电路板区域、所述电路板区域和所述板边区域,对所述待处理图像进行分割,得到所述电路板图像之前,所述图像处理方法还包括:获取所述板边区域的第一区域图像;提取所述第一区域图像的第一边缘像素点集;对所述第一边缘像素点集执行开运算和/或闭运算的图像处理流程,以更新所述第一边缘像...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈龙,曹沿松,
申请(专利权)人:奥蒂玛光学科技深圳有限公司,
类型:发明
国别省市:
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