一种多通道测温校正方法、系统、存储介质及电子设备技术方案

本申请公开了一种多通道测温校正方法、系统、存储介质及电子设备,该方法包括：采集第一时间的多个第一温度信息；开启一温度通道，根据一温度信息计算所述温度通道的校正系数；关闭当前温度通道并切换下一温度通道，直至计算出所有温度通道的校正系数，其中，一所述校正系数对应一所述第一温度信息；采集第二时间的多个第二温度信息；利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度。本申请具有的技术效果是：降低了多通道测温及校正系统的生产成本。通道测温及校正系统的生产成本。通道测温及校正系统的生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道测温校正方法、系统、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及测温校正的
，尤其是涉及一种多通道测温校正方法、系统、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]温度是工农生产过程中一个很重要而普遍的参数，温度的测量及校正起到了非常重要的作用，比如保证产品质量、提高生产效率、节约能源、生产安全中都需要对温度进行精准测量。因此多通道、低成本、高精度的测温装置有着广泛的需求。
[0003]在行业目前采用的测温校正方法中，要测量多路通道的温度时，一般通过一个带多路模拟数字转换器(Digital to analog converter)功能的微型计算机或外接ADC芯片拓展测温校正通道的微型计算机进行测温，而多通道ADC的微型计算机或外接ADC芯片的微型计算机的价格较为昂贵，存在生产成本过高的问题。

技术实现思路

[0004]为了改善多通道测温校正过程中生产成本高的问题，本申请提供一种多通道测温校正方法、系统、存储介质及电子设备。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种多通道测温校正的方法，采用如下技术方案：多通道测温校正方法，适用于单一ADC通道的微型计算机，所述方法包括：采集第一时间的多个第一温度信息；开启一温度通道，根据一第一温度信息计算所述温度通道的校正系数；关闭当前温度通道并切换下一温度通道，直至计算出所有温度通道的校正系数，其中，一所述校正系数对应一所述第一温度信息；采集第二时间的多个第二温度信息；利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度。
[0006]通过上述技术方案，获取多个第一温度信息，然后逐一打开温度通道，通过温度通道将第一温度信息逐一输入到微型计算机的ADC通道中，微型计算机逐一计算第一温度信息的校正系数。采集第二温度信息，将第二温度信息逐一输入到微型计算机中，微型计算机利用校正系数对第二温度信息进行校正，该方案只使用一个ADC通道实现了多个温度的测温校正，从而降低了生产成本。
[0007]优选的，在所述采集第一时间的多个第一温度信息之前，还包括：输出第一控制信号，所述第一控制信号用于开启温度电源。
[0008]优选的，在输出第一控制信号，所述第一控制信号用于开启温度电源之后，还包括：输出第二控制信号，所述第二控制信号用于关闭温度电源。
[0009]通过上述技术方案，启闭温度电源，以控制测温装置的工作时长，减少测温装置的发热量，减少发热量对测温的影响，进而提高了测温的准确度，同时，合理使用温度电源，减
缓温度电源老化，延长温度电源的使用寿命，使整个测温校正过程处于低功耗的状态。
[0010]优选的，开启一温度通道，所述开启一温度通道，根据一第一温度信息计算所述温度通道的校正系数，包括：通过ADC转换器将第一温度信息转换成第一AD信息；利用第一校正公式计算所述温度通道的校正系数，其中，第一校正公式为：其中，AD1为第一AD信息，N为ADC转换器的最大量程，R1为校正电阻阻值，R2为标准分压阻值，U2为温度电源标准电压，U1为AD参考电压，K为校正系数。
[0011]通过上述技术方案，将温度电源的误差与电子元件参数的误差折算成一个校正系数，改善了因温度电源与电子元件参数叠加产生的误差，进一步提高了测温的准确性。同时采用时分复用的技术手段，将多个第一温度信息相互交织在不同的时间段内沿着同一个通道传输，一次测量并计算校正系数的时间在几十微妙级别，提高了测温校正的效率。
[0012]优选的，所述利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度，包括：通过ADC转换器将第二温度信息转换为第二AD信息；利用第二校正公式计算测温装置的内阻，其中，第二校正公式为：式中，AD2为第二AD信息，N为ADC转换器的最大量程，Rx为测温装置的内阻，R2为标准分压阻值，U2为温度电源标准电压，U1为AD参考电压，K为校正系数；根据测温装置的内阻，以查表或插值的方式得到最终的温度。
[0013]通过上述技术方案，将测温装置的芯片数据手册提前预存储在微型计算机内，通过计算得到测温装置的内阻后，通过查表或插值的方式直接可得最终测量后的温度，减少了运算量，提高了整体的校正检测效率。
[0014]优选的，在利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度之后，还包括：将所述最终的温度存储至微型计算机内置的存储器中。
[0015]通过上述技术方案，将最终测量的温度存储至微型计算机内，便于最终测量温度数据的调用。
[0016]第二方面，本申请实施例提供一种多通道测温校正的系统，采用如下技术方案：温度采集模块，用于采集第一时间的多个第一温度信息；系数计算模块，用于开启一温度通道，根据一温度信息计算当前温度通道的校正系数；通道切换模块，用于关闭当前温度通道并切换下一温度通道，直至计算出所有温度通道的校正系数，其中，一所述校正系数对应一所述第一温度信息；温度采集模块，还用于采集第二时间的多个第二温度信息；系数计算模块，还用于利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度。
[0017]通过上述技术方案，通过一温度通道计算获得的第一时间的第一温度信息得到多个第一温度信息对应的校正系数，再将获得的多个第二时间的第二温度信息继续通过一温度通道，利用校正系数得到校正后的温度。只使用一温度通道就实现了多通道测温校正，从而改善了多通道测温校正生产成本高的问题。
[0018]优选的，所述多通道测温校正系统，还包括：IO口扩展模块，用于对数据通道进行拓展。
[0019]通过上述技术方案，扩展了微型计算机的数据通道，可采集更多的温度信息，同时预留数据口，可随时增加其他功能模块。
[0020]第三方面，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0021]第四方面，本申请实施例提供一种电子设备，可包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0022]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：1.通过一温度通道计算获得的第一时间的第一温度信息得到多个第一温度信息对应的校正系数，再将获得的多个第二时间的第二温度信息继续通过一温度通道，利用校正系数得到校正后的温度。只使用一温度通道就实现了多通道测温校正，从而改善了多通道测温校正生产成本高的问题。
[0023]2.通过将测温装置的芯片数据手册提前预存储在微型计算机内，通过计算得到测温装置的内阻后，通过查表或插值的方式直接可得最终测量后的温度，减少了运算量，提高了整个测温校正的运行速度。
[0024]3.通过及时控制温度电源，减少电子元件的发热量，进一步加大了测温校正的准确度，同时，合理利用温度电源，减缓温度电源老化，延长温度电源的使用寿命，使整个测温校正过程处于低功耗的状态。
附图说明本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道测温校正方法，其特征在于，适用于单一ADC通道的微型计算机，所述方法包括：采集第一时间的多个第一温度信息；开启一温度通道，根据一第一温度信息计算所述温度通道的校正系数；关闭当前温度通道并切换下一温度通道，直至计算出所有温度通道的校正系数，其中，一所述校正系数对应一所述第一温度信息；采集第二时间的多个第二温度信息；利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度。2.根据权利要求1所述的多通道测温校正方法，其特征在于，在所述采集第一时间的多个第一温度信息之前，还包括：输出第一控制信号，所述第一控制信号用于开启温度电源。3.根据权利要求2所述的多通道测温校正方法，其特征在于，在输出第一控制信号，所述第一控制信号用于开启温度电源之后，还包括：输出第二控制信号，所述第二控制信号用于关闭温度电源。4.根据权利要求1所述的多通道测温校正方法，其特征在于，所述开启一温度通道，根据一第一温度信息计算所述温度通道的校正系数，包括：通过ADC转换器将第一温度信息转换成第一AD信息；利用第一校正公式计算所述温度通道的校正系数，其中，第一校正公式为：其中，AD1为第一AD信息，N为ADC转换器的最大量程，R1为校正电阻阻值，R2为标准分压阻值，U2为温度电源标准电压，U1为AD参考电压，K为校正系数。5.根据权利要求4所述的多通道测温校正方法，其特征在于，所述利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度，包括：通过ADC转换器将第二温度信息转换为第二AD信息；利用第二校正公式计算测...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文军，江纬，叶立平，唐善斌，唐可信，
申请(专利权)人：湖南艾酷生科技有限公司，
类型：发明
国别省市：