一种用于激光粒度仪的三镜头光路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于激光粒度仪的三镜头光路。其构造为：在滤波镜头的输入端连接有傅里叶镜头，在傅里叶镜头的输入端连接有光纤接口，来自光纤接口的激光束依次穿过傅里叶镜头、滤波镜头、测量样品、标准傅里叶变换镀膜镜头到达探测器，在探测器与标准傅里叶变换镀膜镜头之间设置有辅助探测器。在本实用新型专利技术中，光纤接口接入大功率光纤激光器，傅里叶镜头将激光器的发散光变成汇聚光，滤波镜头主要消除分散的杂光，使光路上的汇聚光更加纯净，使仪器获得更低的背景值，测量更加准确灵敏。检测样品通过激光束照射会产生散射光信号，标准傅里叶变换镀膜镜头会把散射信号汇聚到探测器上，探测信号会更强更灵敏。探测信号会更强更灵敏。探测信号会更强更灵敏。

【技术实现步骤摘要】
一种用于激光粒度仪的三镜头光路


[0001]本技术涉及激光粒度仪
，具体涉及一种用于激光粒度仪的三镜头光路。

技术介绍

[0002]激光粒度仪是通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响。
[0003]由于激光具有很好的单色性和极强的方向性，所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。当光束遇到颗粒阻挡时，一部分光将发生散射现象。散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角。该夹角的大小与颗粒的大小有关，颗粒越大，产生的散射光的夹角就越小；颗粒越小，产生的散射光的夹角就越大。基于此原理，通过在不同角度上测量散射光的强度，可以确切得到样品的粒度分布。在激光粒度仪的构造中，光路结构是其核心组成部分，对检测的准确性和灵敏性具有直接影响。现有技术中，常规光路结构仍有待改善，尤其当检测样品通过激光束照射时会产生散射光信号，对检测结果具有直接影响。

技术实现思路

[0004]本技术旨在针对现有技术的技术缺陷，提供一种用于激光粒度仪的三镜头光路，以解决常规光路结构的检测准确性、灵敏性有待提升的技术问题。
[0005]本技术要解决的另一技术问题是，检测样品通过激光束照射时所产生的散射光信号影响检测结果。
[0006]为实现以上技术目的，本技术采用以下技术方案：
[0007]一种用于激光粒度仪的三镜头光路，包括滤波镜头，傅里叶镜头，光纤接口，激光束，测量样品，标准傅里叶变换镀膜镜头，探测器，辅助探测器，其中，在滤波镜头的输入端连接有傅里叶镜头，在傅里叶镜头的输入端连接有光纤接口，来自光纤接口的激光束依次穿过傅里叶镜头、滤波镜头、测量样品、标准傅里叶变换镀膜镜头到达探测器，在探测器与标准傅里叶变换镀膜镜头之间设置有辅助探测器。
[0008]作为优选，辅助探测器位于激光束旁侧。
[0009]作为优选，辅助探测器有若干个。
[0010]作为优选，激光束的末端汇聚在探测器上。
[0011]本技术提供了一种用于激光粒度仪的三镜头光路。在该技术方案中，光纤接口接入大功率光纤激光器，傅里叶镜头将激光器的发散光变成汇聚光，滤波镜头主要消除分散的杂光，使光路上的汇聚光更加纯净，使仪器获得更低的背景值，测量更加准确灵敏。检测样品通过激光束照射会产生散射光信号，标准傅里叶变换镀膜镜头会把散射信号汇聚到探测器上，探测信号会更强更灵敏。
附图说明
[0012]图1是本技术的结构示意图；
[0013]图中：
[0014]1、滤波镜头2、傅里叶镜头3、光纤接口4、激光束
[0015]5、测量样品6、标准傅里叶变换镀膜镜头7、探测器8、辅助探测器。
具体实施方式
[0016]以下将对本技术的具体实施方式进行详细描述。为了避免过多不必要的细节，在以下实施例中对属于公知的结构或功能将不进行详细描述。以下实施例中所使用的近似性语言可用于定量表述，表明在不改变基本功能的情况下可允许数量有一定的变动。除有定义外，以下实施例中所用的技术和科学术语具有与本技术所属领域技术人员普遍理解的相同含义。
[0017]实施例1
[0018]一种用于激光粒度仪的三镜头光路，如图1所示，包括滤波镜头1，傅里叶镜头2，光纤接口3，激光束4，测量样品5，标准傅里叶变换镀膜镜头6，探测器7，辅助探测器8，其中，在滤波镜头1的输入端连接有傅里叶镜头2，在傅里叶镜头2的输入端连接有光纤接口3，来自光纤接口3的激光束4依次穿过傅里叶镜头2、滤波镜头1、测量样品5、标准傅里叶变换镀膜镜头6到达探测器7，在探测器7与标准傅里叶变换镀膜镜头6之间设置有辅助探测器8。
[0019]实施例2
[0020]一种用于激光粒度仪的三镜头光路，如图1所示，包括滤波镜头1，傅里叶镜头2，光纤接口3，激光束4，测量样品5，标准傅里叶变换镀膜镜头6，探测器7，辅助探测器8，其中，在滤波镜头1的输入端连接有傅里叶镜头2，在傅里叶镜头2的输入端连接有光纤接口3，来自光纤接口3的激光束4依次穿过傅里叶镜头2、滤波镜头1、测量样品5、标准傅里叶变换镀膜镜头6到达探测器7，在探测器7与标准傅里叶变换镀膜镜头6之间设置有辅助探测器8。其中，辅助探测器8位于激光束4旁侧。辅助探测器8有若干个。激光束4的末端汇聚在探测器7上。
[0021]以上对本技术的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术。凡在本技术的申请范围内所做的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于激光粒度仪的三镜头光路，其特征在于包括滤波镜头(1)，傅里叶镜头(2)，光纤接口(3)，激光束(4)，测量样品(5)，标准傅里叶变换镀膜镜头(6)，探测器(7)，辅助探测器(8)，其中，在滤波镜头(1)的输入端连接有傅里叶镜头(2)，在傅里叶镜头(2)的输入端连接有光纤接口(3)，来自光纤接口(3)的激光束(4)依次穿过傅里叶镜头(2)、滤波镜头(1)、测量样品(5)、标准傅里叶变换镀膜镜头(6)...

【专利技术属性】
技术研发人员：王成亮，于代君，
申请(专利权)人：山东耐克特分析仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：