一种电池测试机的测试方法技术

本发明专利技术实施例公开了一种电池测试机的测试方法，电池测试机包括测试平台，测试平台包括第1至第N测试位置，该测试方法包括：在第i测试位置设置第i标片电池，采集第i标片电池的测试电参数，根据第i标片电池的参考电参数和测试电参数，确定第i测试位置所对应的电参数校准系数；在第i测试位置设置一待测电池，根据第i测试位置所对应的电参数校准系数，对待测电池的测试电参数进行修正，以得到待测电池的修正后电参数；其中，N和i均为正整数，N≥1，1≤i≤N。本发明专利技术实施例中，可以通过一次测试得到多个测试位置所对应的电参数校准系数，同时校准多个测试位置，提高校准效率，还可以同时测试多片电池，提高测试效率及产能。提高测试效率及产能。提高测试效率及产能。

【技术实现步骤摘要】
一种电池测试机的测试方法


[0001]本专利技术实施例涉及光伏
，尤其涉及一种电池测试机的测试方法。

技术介绍

[0002]在太阳能电池制作完成后，需要对其测试分档，一般的分档方法都在建立在IV测试效率的基础上，所以IV电性能是电池片分档必须测试的项目之一。
[0003]常规的IV测试方法在每次测试前通过校准光照强度的方式实现对电池测试的校准，由于光源是共用的，不同测试位置的实际光强不同，采用常规光强校准的方式，只能单次闪光测试单片电池，不能同时测试多片电池。此外，单次闪光测试单片电池的测试方案产能有限，测试效率低，越来越不能满足产线大批量电池的测试需求。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种电池测试机的测试方法，以解决常规的IV测试方法只能单次闪光测试单片电池，不能同时测试多片电池，测试效率低的问题。
[0005]本专利技术实施例提供了一种电池测试机的测试方法，所述电池测试机包括测试平台，所述测试平台包括第1至第N测试位置，该测试方法包括：
[0006]在第i测试位置设置第i标片电池，采集所述第i标片电池的测试电参数，根据所述第i标片电池的参考电参数和测试电参数，确定所述第i测试位置所对应的电参数校准系数；
[0007]在所述第i测试位置设置一待测电池，根据所述第i测试位置所对应的电参数校准系数，对所述待测电池的测试电参数进行修正，以得到所述待测电池的修正后电参数；
[0008]其中，N和i均为正整数，N≥1，1≤i≤N。
[0009]可选的，所述电参数校准系数至少包括：短路电流校准系数
[0010][0011]其中，为所述第i测试位置所对应的短路电流校准系数，Isc_i为所述第i标片电池的测试短路电流，STD_Isc_i为所述第i标片电池的参考短路电流；
[0012][0013]其中，Isc_A为所述待测电池的修正后短路电流，Isc_A0为所述待测电池的测试短路电流。
[0014]可选的，所述电参数校准系数还包括：开路电压校准系数β；
[0015]βi＝Voc_i
‑
STD_Voc_i，
[0016]其中，βi为所述第i测试位置所对应的开路电压校准系数，Voc_i为所述第i标片电池的测试开路电压，STD_Voc_i为所述第i标片电池的参考开路电压；
[0017]Voc_A＝βi+Voc_A0，
[0018]其中，Voc_A为所述待测电池的修正后开路电压，Voc_A0为所述待测电池的测试开
路电压。
[0019]可选的，环境温度大于或等于第一温度，所述第i测试位置所对应的所述开路电压校准系数β大于或等于零；
[0020]环境温度小于所述第一温度，所述第i测试位置所对应的所述开路电压校准系数β小于零。
[0021]可选的，所述电参数校准系数还包括：填充因子校准系数α；
[0022]αi＝(FF_i
‑
STD_FF_i)/STD_FF_i，
[0023]其中，αi为所述第i测试位置所对应的填充因子校准系数，FF_i为所述第i标片电池的测试填充因子，STD_FF_i为所述第i标片电池的参考填充因子；
[0024]FF_A＝(1+αi)*FF_A0，
[0025]其中，FF_A为所述待测电池的修正后填充因子，FF_A0为所述待测电池的测试填充因子。
[0026]可选的，所述电池测试机还包括氙灯，该测试方法还包括：
[0027]对所述氙灯产生的测试光斑所覆盖的各个电池分别采集测试电参数。
[0028]可选的，电池的参考电参数为所述电池在第一光强下的电参数，所述第一光强为1000w/cm2；
[0029]电池的测试电参数为所述电池在第二光强下的电参数，所述第二光强G满足，0.6*103w/cm2≤G≤1.5*103w/cm2。
[0030]可选的，所述第i测试位置还设置有参考电池；该测试方法包括：
[0031]对所述电池进行IV测试闪光，通过所述参考电池获取测试光强；
[0032]若所述测试光强不满足所述第二光强的条件，调节所述IV测试闪光的光强，重新采集所述电池的测试电参数，直至所述测试光强满足所述第二光强的条件。
[0033]可选的，该测试方法包括：采用同一标片电池确定所述第1至第N测试位置所对应的电参数校准系数。
[0034]本专利技术实施例提供的电池测试机的测试方法，首先在测试位置设置标片电池，采集该标片电池的测试电参数，根据标片电池的参考电参数和测试电参数，确定该标片电池所在测试位置所对应的电参数校准系数；然后在校准后的测试位置设置一待测电池，根据该测试位置所对应的电参数校准系数，对待测电池的测试电参数进行修正，得到待测电池的修正后电参数，可以通过一次测试得到多个测试位置所对应的电参数校准系数，同时校准多个测试位置，互不干扰，提高校准效率，还可以同时测试多片电池，提高测试效率及产能。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图虽然是本专利技术的一些具体的实施例，对于本领域的技术人员来说，可以根据本专利技术的各种实施例所揭示和提示的器件结构，驱动方法和制造方法的基本概念，拓展和延伸到其它的结构和附图，毋庸置疑这些都应该是在本专利技术的权利要求范围之内。
[0036]图1是本专利技术实施例提供的一种电池测试机的测试方法的流程图；
[0037]图2是本专利技术实施例提供的一种监控测试光强的测试方法的流程图；
[0038]图3是本专利技术实施例提供的一种测试平台的结构示意图。
具体实施方式
[0039]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将参照本专利技术实施例中的附图，通过实施方式清楚、完整地描述本专利技术的技术方案，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例所揭示和提示的基本概念，本领域的技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0040]本专利技术实施例提供一种电池测试机的测试方法，该电池测试机包括测试平台，测试平台包括第1至第N测试位置，图1是本专利技术实施例提供的一种电池测试机的测试方法的流程图，如图1所示，该测试方法包括：
[0041]S110、在第i测试位置设置第i标片电池，采集第i标片电池的测试电参数，根据第i标片电池的参考电参数和测试电参数，确定第i测试位置所对应的电参数校准系数。
[0042]测试前，先校准测试平台的各测试位置，即先确定各测试位置所对应的电参数校准系数。为了方便描述，下面以第i测试位置为例进行解释说明。具体的，标片电池是在1个Sun的条件下标准好的标准电池，即在环境温度为25℃，光谱AM1.5，且光强为1000w/cm2的条件下标准好的标准电池，将标片电池在1个Sun的条件下对应的电参数作为参考电参数。将一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电池测试机的测试方法，其特征在于，所述电池测试机包括测试平台，所述测试平台包括第1至第N测试位置，该测试方法包括：在第i测试位置设置第i标片电池，采集所述第i标片电池的测试电参数，根据所述第i标片电池的参考电参数和测试电参数，确定所述第i测试位置所对应的电参数校准系数；在所述第i测试位置设置一待测电池，根据所述第i测试位置所对应的电参数校准系数，对所述待测电池的测试电参数进行修正，以得到所述待测电池的修正后电参数；其中，N和i均为正整数，N≥1，1≤i≤N。2.根据权利要求1所述的电池测试机的测试的方法，其特征在于，所述电参数校准系数至少包括：短路电流校准系数至少包括：短路电流校准系数其中，为所述第i测试位置所对应的短路电流校准系数，Isc_i为所述第i标片电池的测试短路电流，STD_Isc_i为所述第i标片电池的参考短路电流；其中，Isc_A为所述待测电池的修正后短路电流，Isc_A0为所述待测电池的测试短路电流。3.根据权利要求2所述的电池测试机的测试方法，其特征在于，所述电参数校准系数还包括：开路电压校准系数β；βi＝Voc_i
‑
STD_Voc_i，其中，βi为所述第i测试位置所对应的开路电压校准系数，Voc_i为所述第i标片电池的测试开路电压，STD_Voc_i为所述第i标片电池的参考开路电压；Voc_A＝βi+Voc_A0，其中，Voc_A为所述待测电池的修正后开路电压，Voc_A0为所述待测电池的测试开路电压。4.根据权利要求3所述的电池测试机的测试方法，其特征在于，环境温度大于或等于第一温度，所述第i测试位置所对应的所述开路电压校准系数β大于或等于零；环境...

【专利技术属性】
技术研发人员：李硕，姚远洲，姚铮，吴华德，张达奇，吴坚，蒋方丹，
申请(专利权)人：嘉兴阿特斯技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：