一种水平井轨迹分析方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:35049463 阅读:23 留言:0更新日期:2022-09-28 10:47
本文提供一种水平井轨迹分析方法、装置、设备和存储介质,其中方法包括:对水平井的目标区段所在地层进行划分,获得若干第一分层及各所述第一分层的参数数据;根据所述第一分层的参数数据对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹,每个所述单元轨迹分别对应一个所述第一分层;根据所述第一分层的参数数据对各所述单元轨迹进行投影,获取目标区段关于地层的分析图像。本文提供的方法操作简单便捷,并且图像不易产生错位、重叠;得到的分析图像不仅能够展示水平井目标区段的轨迹走向,还能够直观地展示各区段在地层中的相对位置关系,对于地质成图及水平井生产动态分析均具有重要的指导价值。重要的指导价值。重要的指导价值。

【技术实现步骤摘要】
一种水平井轨迹分析方法、装置、设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及石油天然气勘探开发
,尤其是一种水平井轨迹分析方法、装置、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着开发的进行,特别是逐渐向非常规等领域发展,为了获得更高的产量,越来越多的油田开始采用水平井或者大斜度井开发。由于水平井资料具有丰富的横向信息,与传统的直井或者定向井相比明,水平井在描述储集层横向变化具有无可比拟的优势。由于储层的非均质性以及地质导向的局限性,水平井轨迹会在目标油藏上下摆动,导致水平井水平段物性发生巨大变化。而油藏分析往往关注水平段轨迹在油藏的相对位置以及井网或者井排内注采对应关系,需要逐井分析单井纵向位置。传统方法都是通过切单井或者井排剖面图,或者将不同井排的井投影到同一井剖面图中。但是,这些方法都具有局限性,表现在单井切剖面图步骤繁琐,且缺少整体性,单靠一张井身垂直剖面图不可能反映出它的全貌,还需配合如井身水平投影等其他图像;并且单井剖面图也无法用来对井轨迹与目标地层的相对位置进行分析。而如果按照井排投影,由于构造起伏影响,还存在井轨迹投影错位的缺陷。因此,油藏分析急需创立一种更加快捷且直观的方法,将水平井轨迹与目标储集层位置进行直观显示,来精确判断不同井段所处层位。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的上述问题,本文的目的在于,提供一种水平井轨迹分析方法,以解决现有的井轨迹分析方法无法便捷、直观地对井轨迹与油藏储集层相对位置关系进行展示的缺陷。
[0004]为了解决上述技术问题,本文的具体技术方案如下:
[0005]第一方面,本文提供一种水平井轨迹分析方法,包括:
[0006]对水平井的目标区段所在地层进行划分,获得若干第一分层及各所述第一分层的参数数据;
[0007]根据所述第一分层的参数数据对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹,每个所述单元轨迹分别对应一个所述第一分层;
[0008]根据所述第一分层的参数数据对各所述单元轨迹进行投影,获取目标区段关于地层的分析图像。
[0009]具体地,所述第一分层的参数数据包括相邻两个所述第一分层之间的层界面数据,根据所述第一分层的参数数据对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹,包括:
[0010]根据所述层界面数据,获得所述目标区段的轨迹与相邻两个所述第一分层之间层界面的交点;
[0011]根据所述交点对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹。
[0012]进一步地,所述根据所述第一分层的参数数据对各所述单元轨迹进行投影,获取目标区段关于地层的分析图像,包括:
[0013]根据所述第一分层的参数数据计算各所述单元轨迹在第二分层中的投影数据,其中所述第二分层的层数与第一分层的层数相等,且各所述第二分层的厚度相等;
[0014]根据所述投影数据,将所述各单元轨迹投影至各所述第二分层中。
[0015]进一步地,所述第一分层的参数数据还包括各所述第一分层的厚度数据和各所述第一分层相对于所述地层的位置关系数据,所述根据所述第一分层的参数数据计算各所述单元轨迹在所述第二分层中的投影数据,包括:
[0016]根据所述位置关系数据,计算所述单元轨迹在所述第二分层中的基础纵向数据;
[0017]根据所述厚度数据和所述层界面数据,计算所述单元轨迹在所述第二分层中的相对纵向数据。
[0018]具体地,所述根据所述厚度数据和所述层界面数据,计算所述单元轨迹在所述第二分层中的相对纵向数据,包括:
[0019]根据所述层界面数据,计算所述单元轨迹中各点和与之相邻的所述层界面间的距离;
[0020]根据所述距离和所述厚度数据,计算所述单元轨迹中各点的相对纵向数据。
[0021]优选地,所述方法还包括:
[0022]对所述分析图像进行着色。
[0023]具体地,所述目标区段可通过以下步骤确定,包括:
[0024]根据所述水平井轨迹进入目的层/层组的端点确定所述目标区段的起始点,根据所述水平井轨迹离开目的层/层组的端点确定所述目标区段的终点;
[0025]或根据所述水平井轨迹距离目的层/层组的层顶第一预设距离的端点为起始点,根据所述水平井轨迹距离所述目的层/层组的层底第二预设距离的点所述目标区段的终点。
[0026]第二方面,本文还提供一种水平井轨迹分析装置,包括:
[0027]地层划分模块,用于对水平井的目标区段所在地层进行划分,获得若干第一分层及所述第一分层的参数数据;
[0028]轨迹分割模块,用于根据所述参数数据对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹,每个所述单元轨迹分别对应一个所述第一分层;
[0029]投影模块,用于根据所述参数数据对各所述单元轨迹进行投影,获取目标区段关于地层的分析图像。
[0030]第三方面,本文还提供一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述技术方案提供的一种水平井轨迹分析方法。
[0031]第四方面,本文还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述技术方案提供的一种水平井轨迹分析方法。
[0032]采用上述技术方案,本文所述的一种水平井轨迹分析方法、装置、设备和存储介质,操作简单便捷,并且图像不易产生错位、重叠;得到的分析图像不仅能够展示水平井目
标区段的轨迹走向,还能够直观地展示各区段在地层中的相对位置关系,对于地质成图及水平井生产动态分析均具有重要的指导价值。
[0033]为让本文的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本文实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本文的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0035]图1示出了本文实施例提供的一种水平井轨迹分析方法的流程示意图;
[0036]图2示出了计算各单元轨迹在第二分层中的投影数据的流程示意图;
[0037]图3示出了应用本说明书实施例提供的一种水平井轨迹分析方法获取水平井轨迹分析图像的流程示意图;
[0038]图4示出了一种水平井轨迹分析装置的结构示意图;
[0039]图5示出了井网(井排)中各注采井轨迹示意图;
[0040]图6示出了获取井网(井排)中0

4H注采井分析图像的流程示意图;
[0041]图7示出了井网(井排)的分析图像;
[0042]图8示出了一种计算机设备。
[0043]附图符号说明:
[0044]41、地层划分模块;
[0045]42、本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种水平井轨迹分析方法,其特征在于,包括:对水平井的目标区段所在地层进行划分,获得若干第一分层及各所述第一分层的参数数据;根据所述第一分层的参数数据对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹,每个所述单元轨迹分别对应一个所述第一分层;根据所述第一分层的参数数据对各所述单元轨迹进行投影,获取目标区段关于地层的分析图像。2.根据权利要求1所述的一种水平井轨迹分析方法,其特征在于,所述第一分层的参数数据包括相邻两个所述第一分层之间的层界面数据,根据所述第一分层的参数数据对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹,包括:根据所述层界面数据,获得所述目标区段的轨迹与相邻两个所述第一分层之间层界面的交点;根据所述交点对所述目标区段的轨迹进行分割,获得若干单元轨迹。3.根据权利要求2所述一种水平井轨迹分析方法,其特征在于,所述根据所述第一分层的参数数据对各所述单元轨迹进行投影,包括:根据所述第一分层的参数数据计算各所述单元轨迹在第二分层中的投影数据,其中所述第二分层的层数与第一分层的层数相等,且各所述第二分层的厚度相等;根据所述投影数据,将所述各单元轨迹投影至各所述第二分层中。4.根据权利要求3所述的一种水平井轨迹分析方法,其特征在于,所述第一分层的参数数据还包括各所述第一分层的厚度数据和各所述第一分层相对于所述地层的位置关系数据;所述根据所述第一分层的参数数据计算各所述单元轨迹在所述第二分层中的投影数据,包括:根据所述位置关系数据,计算所述单元轨迹在所述第二分层中的基础纵向数据;根据所述厚度数据和所述层界面数据,计算所述单元轨迹在所述第二分层中的相对纵向数据。5.根据权利要求4所述的一种水平井轨迹分析方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓亚李勇胡丹丹张文旗郭睿田中元许家铖马瑞程陈一航徐炜
申请(专利权)人:中国石油天然气股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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