激光接收模组以及激光雷达制造技术

本发明专利技术属于光学测量、光学扫描技术领域，尤其涉及激光雷达技术领域，具体涉及激光接收模组以及激光雷达。所述激光接收模组包括：镜片，用于会聚接收光；接收芯片，用于接收会聚后的接收光；以及光强度调整组件，设置在所述镜片和所述接收芯片之间，用于调节会聚后的接收光的强度。所述光强度调整组件可以减少入射到接收芯片的光通量，从而避免曝光，从而实现识别强反射物体的功能。别强反射物体的功能。别强反射物体的功能。

【技术实现步骤摘要】
激光接收模组以及激光雷达


[0001]本专利技术属于光学测量、光学扫描
，尤其涉及激光雷达
，具体涉及激光接收模组以及激光雷达。

技术介绍

[0002]在现有的扫地机器人的
，通常会采用激光雷达对外界环境进行扫描，以获取外界障碍物的距离和方位信息，其中激光雷达包含有激光发射器和激光接收器。但现有的激光雷达在向浅色或带有反射层的强反射物体发出激光时，来自强反色物体的强反射光的光强度容易超出激光接收器的预设阈值，反射光入射至激光雷达内的激光接收器时，会导致激光接收器过曝，难以识别白色物体等强反射物体。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足，本专利技术提供了一种激光接收模组以及激光雷达，以解决现有的激光雷达在向浅色或带有反射层的强反射物体发出激光时，来自强反色物体的强反射光的光强度容易超出激光接收器的预设阈值，而导致激光接收器过曝的情况，从而难以识别白色物体等强反射物体的问题。
[0004]本专利技术其中一方案提供了一种激光接收模组，包括：镜片；接收芯片；以及光强度调整组件，设置在所述镜片和所述接收芯片之间，接收光通过所述镜片入射所述激光接收模组并经过所述光强度调整组件射向所述接收芯片，所述光强度调整组件用于调节射向所述接收芯片的所述接收光的强度。
[0005]在本专利技术其中一个优选方案中，所述光强度调整组件包括：
[0006]光学滤波片，可转动地设置在所述镜片和所述接收芯片之间，所述光学滤波片的旋转轴垂直于所述镜片的光轴设置。
[0007]在本专利技术其中一个优选方案中，所述光学滤波片具有第一转动位置和第二转动位置；
[0008]当所述光学滤波片位于第一转动位置时，穿过所述光学滤波片且射向所述接收芯片的所述接收光具有第一光强度；当所述光学滤波片位于第二转动位置时，穿过所述光学滤波片且射向所述接收芯片的所述接收光具有第二光强度；所述第一光强度大于所述第二光强度。
[0009]在本专利技术其中一个优选方案中，所述激光接收模组还包括：检测装置，用于检测入射到所述激光接收模组的接收光的光强度；驱动装置，用于使所述光学滤波片在第一转动位置和第二转动位置之间转动；
[0010]当所述检测装置检测到的接收光的光强度小于预设阈值时，所述光学滤波片位于第一转动位置；当所述检测装置检测到的接收光的光强度大于或等于所述预设阈值时，所述驱动装置驱动所述光学滤波片固定在第二转动位置。
[0011]在本专利技术其中一个优选方案中，当所述光学滤波片位于第一转动位置时，所述光
学滤波片与所述镜片的光轴垂直；当所述光学滤波片位于第二转动位置时，所述光学滤波片倾斜于所述镜片的光轴。
[0012]在本专利技术其中一个优选方案中，所述光强度调整组件还包括旋转支架，
[0013]所述旋转支架可转动地设置在所述镜片和所述接收芯片之间，所述光学滤波片设置在所述旋转支架上，所述旋转支架用于带动所述光学滤波片转动。
[0014]在本专利技术其中一个优选方案中，所述光强度调整组件还包括：
[0015]第一电磁铁，设置在所述旋转支架与所述镜片之间；
[0016]第二电磁铁，设置在所述旋转支架与所述接收芯片之间；
[0017]所述旋转支架的边缘设置有磁吸装置，当所述第一电磁铁通电时，所述第一电磁铁吸合所述磁吸装置，以使所述旋转支架位于第一转动位置；当所述第二电磁铁通电时，所述第二电磁铁吸合所述磁吸装置，以使所述旋转支架位于第二转动位置。
[0018]在本专利技术其中一个优选方案中，所述接收芯片位于所述镜片的焦点位置上，所述接收芯片所在的平面与所述镜片的光轴垂直；
[0019]和/或，所述光强度调整组件的中心对称轴与所述镜片的光轴同轴设置；
[0020]和/或，所述光学滤波片从第一转动位置转动到第二转动位置形成的夹角的度数在1
‑
40度的范围内。
[0021]在本专利技术其中一个优选方案中还提出了一种激光接收模组，包括：镜片；接收芯片；以及光强度调整组件，设置在所述镜片和所述接收芯片之间，接收光通过所述镜片入射所述激光接收模组并经过所述光强度调整组件射向所述接收芯片；
[0022]当所述接收光的光强度小于预设阈值时，所述光强度调整组件处于第一状态；当所述接收光的光强度大于所述预设阈值时，所述光强度调整组件处于第二状态，并降低射向所述接收芯片的所述接收光的强度。
[0023]在本专利技术其中一个优选方案中还指出了一种激光雷达，包括以上多个方案中任意一个所述的激光接收模组。
[0024]本专利技术以上方案所提供的激光接收模组以及激光雷达具有以下有益效果：
[0025]1、本专利技术其中一个实施例提出的一种激光接收模组，通过镜片会聚接收光，以及通过接收芯片接收会聚后的接收光，并使接收光经过位于镜片与接收芯片之间的光强度调整组件。由于光强度调整组件可用于调节会聚后的接收光的光强度，避免曝光，激光接收模组可以调整入射至接收芯片上的接收光的光通量，避免接收芯片在接收来自白色物体等强反射物体时过度曝光，从而能够识别白色物体等强反射物体。
[0026]2、本专利技术其中一个实施例提出的一种激光接收模组，所述光强度调整组件包括滤波片以及用于带动所述滤波片转动的旋转支架，当激光接收模组接收到的接收光的光强度大于接收芯片的接收预设阈值时，旋转支架带动所述滤波片向第一方向转动，令滤波片处于倾斜状态。此时，镜片所会聚的接收光与滤波片之间形成倾斜夹角，接收光在射入所述滤波片的过程中会产生折射，降低了从滤波片射出的接收光的光通量，从而避免过度曝光，从而有效的识别被探测物体距离。当激光接收模组接收到的接收光的光强度处于接收芯片的接收预设阈值内时，旋转支架带动所述滤波片向第二方向转动，令滤波片处于水平状态；此时，镜片所会聚的接收光垂直穿过滤波片并入射至接收芯片。
[0027]3、本专利技术其中一个实施例提出的一种激光接收模组，所述光强度调整组件还包括
第一电磁铁，设置在所述旋转支架与所述镜片之间；第二电磁铁，设置在所述旋转支架与所述接收芯片之间；所述旋转支架的边缘设置有磁吸装置，当激光接收模组接收到的接收光的光强度大于接收芯片的接收预设阈值时，向所述第一电磁铁通电，所述第一电磁铁吸合所述磁吸装置，以使所述旋转支架朝第一方向转动，令滤波片处于倾斜状态；当激光接收模组接收到的接收光的光强度处于接收芯片的接收预设阈值内时，向所述第二电磁铁通电，所述第二电磁铁吸合所述磁吸装置，以使所述旋转支架朝第二方向转动，令滤波片处于水平状态。只需要向第一电磁铁或第二电磁铁通电，即可令第一电磁铁或第二电磁铁吸合磁吸装置实现滤光片转动情况的调整，结构简单，便于快速调整滤光片倾斜状态。
[0028]4、本专利技术其中一个实施例提出的一种激光接收模组，所述镜头本体内还包括环形挡光板，设置在所述通光孔内，所述环形挡光板位于镜片与光强度调整组件之间，其中环形挡光板的中心轴与接收光的传播方向平行，环形挡光板的中心轴与镜片的光轴同轴设置，镜片所会聚的接收光经过通光孔时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光接收模组，其特征在于，包括：镜片；接收芯片；以及光强度调整组件，设置在所述镜片和所述接收芯片之间，接收光通过所述镜片入射所述激光接收模组并经过所述光强度调整组件射向所述接收芯片，所述光强度调整组件用于调节射向所述接收芯片的所述接收光的强度。2.如权利要求1所述的激光接收模组，其特征在于，所述光强度调整组件包括：光学滤波片，可转动地设置在所述镜片和所述接收芯片之间，所述光学滤波片的旋转轴垂直于所述镜片的光轴设置。3.如权利要求2所述的激光接收模组，其特征在于，所述光学滤波片具有第一转动位置和第二转动位置；当所述光学滤波片位于第一转动位置时，穿过所述光学滤波片且射向所述接收芯片的所述接收光具有第一光强度；当所述光学滤波片位于第二转动位置时，穿过所述光学滤波片且射向所述接收芯片的所述接收光具有第二光强度；所述第一光强度大于所述第二光强度。4.如权利要求3所述的激光接收模组，其特征在于，还包括：检测装置，用于检测入射到所述激光接收模组的接收光的光强度；驱动装置，用于使所述光学滤波片在第一转动位置和第二转动位置之间转动；当所述检测装置检测到的接收光的光强度小于预设阈值时，所述光学滤波片位于第一转动位置；当所述检测装置检测到的接收光的光强度大于或等于所述预设阈值时，所述驱动装置驱动所述光学滤波片固定在第二转动位置。5.如权利要求4所述的激光接收模组，其特征在于，当所述光学滤波片位于第一转动位置时，所述光学滤波片与所述镜片的光轴垂直；当所述光学滤波片位于第二转动位置时，所述光学滤波片倾斜于所述镜片的光轴。6.如权利要求5所述的激光接收模组，其特征在于，所述光强度调整组...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄柏良，
申请(专利权)人：湖南阿秒光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：