一种瞬态电流采集电路及MCU低功耗测试系统技术方案

本申请实施例提供的一种瞬态电流采集电路及MCU低功耗测试系统，所述瞬态电流采集电路包括：电源、精密电阻、被测芯片、模数转换电路和数据处理电路；电源的电源输出端与精密电阻的第一端电连接，精密电阻的第二端与被测芯片的电源输入端电连接；被测芯片的信号输出端与模数转换电路的信号输入端电连接；模数转换电路的第一电压采样端与精密电阻的第一端电连接，模数转换电路的第二电压采样端与精密电阻的第二端电连接；模数转换电路的数据输出端与数据处理电路的数据输入端电连接；数据处理电路用于根据第一电压和第二电压，确定被测芯片的瞬态电流。采用本申请实施例提供的技术方案，可以提高被测芯片的瞬态电流的测试效率以及准确性。及准确性。及准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种瞬态电流采集电路及MCU低功耗测试系统


[0001]本申请涉及电子
，具体地涉及一种瞬态电流采集电路及MCU低功耗测试系统。

技术介绍

[0002]在集成电路的研发、设计和生产环节中，通常需要对集成电路的瞬态电流进行测试。但是，现有的测量仪表(例如，万用表、示波器等)通常不具备直接测量瞬态电流的功能，使用时需要用户搭建测试系统，然后通过换算得到瞬态电流，效率较低。另外，集成电路的瞬态电流通常较小，采用上述方法获得的瞬态电流的准确性通常较差。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种瞬态电流采集电路及MCU低功耗测试系统，以利于解决现有技术中通过用户搭建测试系统测量瞬态电流效率较低，且准确性较差的问题。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种瞬态电流采集电路，包括：电源、精密电阻、被测芯片、模数转换电路和数据处理电路；
[0005]所述电源的电源输出端与所述精密电阻的第一端电连接，所述精密电阻的第二端与所述被测芯片的电源输入端电连接，所述电源的电源输出端用于输出电源；
[0006]所述被测芯片的信号输出端与所述模数转换电路的信号输入端电连接，所述被测芯片的信号输出端用于输出开始采样信号和结束采样信号；
[0007]所述模数转换电路的第一电压采样端与所述精密电阻的第一端电连接，所述模数转换电路的第一电压采样端用于采集第一电压，所述模数转换电路的第二电压采样端与所述精密电阻的第二端电连接，所述模数转换电路的第二电压采样端用于采集第二电压；
[0008]所述模数转换电路的数据输出端与所述数据处理电路的数据输入端电连接，所述模数转换电路的数据输出端用于输出所述第一电压和所述第二电压；
[0009]所述数据处理电路用于根据所述第一电压和所述第二电压，确定所述被测芯片的瞬态电流。
[0010]在一种可能的实现方式中，还包括：
[0011]输出设备，所述输出设备与所述数据处理电路的数据输出端电连接，所述输出设备用于输出所述瞬态电流。
[0012]在一种可能的实现方式中，所述电源的电压采集端与所述被测芯片的电源输入端电连接，所述电源的电压采集端用于采集第三电压，所述第三电压为所述被测芯片的电源输入端电压。
[0013]在一种可能的实现方式中，所述电源用于根据所述第三电压调整所述电源的电源输出端输出的电压值。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述被测芯片包括串行外设接口SPI模块，所述被测芯片用于在所述SPI模块工作时，通过信号输出端输出开始采样信号和结束采样信号。
[0015]在一种可能的实现方式中，所述被测芯片包括模数转换器ADC，所述被测芯片用于在所述ADC工作时，通过信号输出端输出开始采样信号和结束采样信号。
[0016]在一种可能的实现方式中，所述被测芯片包括振荡电路模块，所述被测芯片用于在所述振荡电路模块工作时，通过信号输出端输出开始采样信号和结束采样信号。
[0017]在一种可能的实现方式中，所述被测芯片包括微控制单元MCU。
[0018]第二方面，本申请实施例提供了一种MCU低功耗测试系统，包括：微控制单元MCU芯片和第一方面任一项所述的瞬态电流采集电路；所述MCU芯片的信号输入端与所述被测芯片的信号输出端相连，所述MCU芯片的信号输出端与所述数模转换电路的信号输入端相连。
[0019]在一种可能的实现方式中，所述MCU芯片用于判断在需要进行电流检测时，向所述模数转换电路发送开始采样信号和结束采样信号。
[0020]采用本申请实施例提供的瞬态电流采集电路及MCU低功耗测试系统，可以提高被测芯片的瞬态电流的测试效率以及准确性。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0022]图1为本申请实施例提供的一种瞬态电流采集电路的结构框图。
具体实施方式
[0023]为了更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。
[0024]应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0025]在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
[0026]应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，甲和/或乙，可以表示：单独存在甲，同时存在甲和乙，单独存在乙这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0027]本申请实施例涉及的被测芯片是指具备内部运行程序的芯片，其可以为各种类型的芯片，本申请试试对被测芯片的具体产品形态不作限制。该瞬态电流采集电路采集的瞬态电流即被测芯片的瞬态电流。例如，当被测芯片内部的串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)模块、模数转换器(Digital
‑
to
‑
Analog Converter，ADC)、震荡电路模块等模块工作时产生的瞬态电流，该瞬态电流通常较小，通常从几微安到几毫安，且电流时间非常短。为了便于对芯片的瞬态电流进行测试，本申请实施例提供了一种瞬态电流采集电路，下面结合附图进行详细说明。
[0028]参见图1，为本申请实施例提供的一种瞬态电流采集电路的结构框图。如图1所示，该瞬态电流采集电路包括电源101、精密电阻102、被测芯片103、模数转换电路104和数据处理电路105。其中，电源101包括电源输出端和电压采集端，的电源输出端与精密电阻102的第一端(图1所示的精密电阻102的左侧)电连接，精密电阻102的第二端(图1所示的精密电阻102的右侧)与被测芯片103的电源输入端电连接，电源101的电源输出端用于输出电源，进而通过精密电阻102为被测芯片103供电。其中，精密电阻102是具有高精度，低温漂和高可靠性的一种电阻器，其最低温漂可以做到1PPM，最高精度可以做到0.01％。由于瞬态电流通常较小，因此采用精密电阻102可以提高瞬态电流测试的准确性。
[0029]另外，电源101的电压采集端与被测芯片103的电源输入端电连接，电源101的电压采集端用于采集被测芯片103的电源输入端的电压(在下文中称为第三电压)。电压可以根据采集的第三电压的大小判断被测芯片103的电源输入端的电压是否达到被测芯片103的工作电压，若未达到被测芯片103的工作电压，则调整电源101的供给电压值，使得本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瞬态电流采集电路，其特征在于，包括：电源、精密电阻、被测芯片、模数转换电路和数据处理电路；所述电源的电源输出端与所述精密电阻的第一端电连接，所述精密电阻的第二端与所述被测芯片的电源输入端电连接，所述电源的电源输出端用于输出电源；所述被测芯片的信号输出端与所述模数转换电路的信号输入端电连接，所述被测芯片的信号输出端用于输出开始采样信号和结束采样信号；所述模数转换电路的第一电压采样端与所述精密电阻的第一端电连接，所述模数转换电路的第一电压采样端用于采集第一电压，所述模数转换电路的第二电压采样端与所述精密电阻的第二端电连接，所述模数转换电路的第二电压采样端用于采集第二电压；所述模数转换电路的数据输出端与所述数据处理电路的数据输入端电连接，所述模数转换电路的数据输出端用于输出所述第一电压和所述第二电压；所述数据处理电路用于根据所述第一电压和所述第二电压，确定所述被测芯片的瞬态电流。2.根据权利要求1所述的瞬态电流采集电路，其特征在于，还包括：输出设备，所述输出设备与所述数据处理电路的数据输出端电连接，所述输出设备用于输出所述瞬态电流。3.根据权利要求1所述的瞬态电流采集电路，其特征在于，所述电源的电压采集端与所述被测芯片的电源输入端电连接，所述电源的电压采集端用于采集第三电压，所述第三电压为所述被测芯片的电源输入端电...

【专利技术属性】
技术研发人员：何礼华，区健庆，孙万里，
申请(专利权)人：珠海极海半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：