一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法技术

本发明专利技术提供了一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法，包括步骤S1、构建二维坐标系；步骤S2、确定晶粒单元；步骤S3、测试晶粒亮度；步骤S4、修正晶粒亮度，具体的，采用修正系数K修正每个晶粒单元中的晶粒通道亮度差异。本发明专利技术能够使得LED外延片亮度呈周期性交替的行间隔变化的MAP分布被修正为自然过渡的MAP，符合外延片的生长特性，确保了最终测试结果的准确性，从而解决多针测试机存在多针亮度通道差异常的问题，避免出现多通道亮度偏差的情况。避免出现多通道亮度偏差的情况。避免出现多通道亮度偏差的情况。

【技术实现步骤摘要】
一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法


[0001]本专利技术涉及LED晶粒亮度的测试领域，具体涉及一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法。

技术介绍

[0002]LED多针测试机是一种多组探针同时测试多颗晶粒的设备，相较于传统的单组针测试单颗晶粒的设备而言，具有产能大和效率高的优势。例如，4组针测试机在进行测试时对从上到下排列的4颗晶粒并列测试，其测试产能在理论上为单组针测试设备的4倍。因此，4组针测试机已在LED芯片厂被广泛应用。
[0003]4组针测试机同时测试4颗晶粒，且由同一个收光头接受4组针所在的四组通道测出的光源。因各通道的探针在测试过程中不断被磨损、操作人员调试探针位置偏离标准范围和机台测试稳定性不足造成的偏差等多个原因，使得收光头接收到的每组通道的亮度会各自发生不同幅度的变化，进而会导致每组通道下的测试亮度相比档案校正初期的亮度出现偏差，且每组通道的偏差不一致，最终会出现各个通道间亮度偏差过大的问题，即每一行晶粒亮度分布与实际不一致。如在亮度测试结果中，可以在MAP里清晰的发现亮度存在规律性的“断层”现象，即MAP里不同颜色呈周期性交替的行间隔变化，与LED外延片的特性不符，存在测试规律性，属于测试上的异常，且部分区域的“断层”每4行变化一次，与4组通道数相匹配，各组通道每换行一次亮度周期性变化，即多针亮度通道差异常。
[0004]而LED外延片的特性是在较小区域内(该区域包含市面上所有尺寸晶粒4颗并联所囊括的面积)要求每一颗晶粒的亮度和波长是基本一致的，且LED外延片的亮度分布呈现从内到外或从上到下自然递增或递减的现象，即MAP里不同颜色间的变化是逐步过渡的。所以，4组针测试机的实际测试结果与外延片特性是不符的，即出现行业内多针亮度通道差异常的问题。
[0005]现有的多种多针测试机均会不同程度的存在多针亮度通道差异常的问题，进而影响测试LED晶粒亮度的准确性。

技术实现思路

[0006]本专利技术目的在于提供一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法，用于解决多针测试机存在多针亮度通道差异常的问题，以提高测试LED晶粒亮度的准确性，避免出现多通道亮度偏差的情况。其具体技术方案如下：
[0007]一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法，包括以下步骤：
[0008]步骤S1、构建二维坐标系
[0009]在测试前，先通过LED多针测试机对LED外延片进行扫描，并通过扫描结果构建二维坐标系，以计算出LED外延片上每颗晶粒的坐标位置；
[0010]步骤S2、确定晶粒单元
[0011]所述LED多针测试机包括n组并联的探针，其中，数值n为大于等于2的自然数；
[0012]将所述LED外延片在二维坐标系纵轴方向上排布的晶粒总行数记为H，各行晶粒与二维坐标系横轴方向平行；
[0013]若H为数值n的整数倍，则依次将H等分成p个晶粒单元，在每个晶粒单元中均含有n行晶粒；
[0014]若H为数值n的整数倍还有余数，则依次将H分成p+1个晶粒单元，其中，在前p个晶粒单元中的每个晶粒单元中均含有n行晶粒；在第p+1个晶粒单元中含有H
‑
p*n行晶粒；
[0015]步骤S3、测试晶粒亮度
[0016]在前p个晶粒单元中，从第一个晶粒单元开始，采用所述LED多针测试机中的n组探针沿二维坐标系横轴方向对每个晶粒单元中的各行晶粒进行亮度测试，直至测试至第p个晶粒单元；
[0017]在第p+1个晶粒单元中，对H
‑
p*n行晶粒采用LED多针测试机中的对应组数的探针沿二维坐标系横轴方向对各行晶粒进行亮度测试；
[0018]步骤S4、修正晶粒亮度
[0019]采用修正系数K修正每个晶粒单元中的晶粒通道亮度差异。
[0020]在部分实施方案中，在步骤S4中，每个晶粒单元中对应确定n
‑
1个修正系数K，所述修正系数K的确定步骤如下：
[0021]步骤S4.1、确定标准通道和对照通道
[0022]在每个晶粒单元中随机确定一行晶粒作为标准通道，记为B0；而在该晶粒单元中剩余的其他行晶粒作为对照通道，其中，在对照通道中的各行晶粒分别记为B1、B2、B3、......和Bn
‑
1；
[0023]步骤S4.2、计算标准通道和对照通道中各行晶粒亮度的平均值
[0024]在标准通道中，计算出B0行各晶粒亮度的平均值LOP0；
[0025]在对照通道中，分别计算出B1行各晶粒亮度的平均值LOP1；计算出B2行各晶粒亮度的平均值LOP2；计算出B3行各晶粒亮度的平均值LOP3；依次类推，直至计算出Bn
‑
1行各晶粒亮度的平均值LOPn
‑
1；
[0026]步骤S4.3、计算修正系数K
[0027]在对照通道中，B1行对应的修正系数为K1＝LOP0/LOP1；B2行对应的修正系数为K2＝LOP0/LOP2；B3行对应的修正系数为K3＝LOP0/LOP3；依次类推，直至计算出Bn
‑
1行对应的修正系数为Kn
‑
1＝LOP0/LOPn
‑
1。
[0028]在部分实施方案中，在步骤S4中，采用修正系数K修正晶粒亮度的过程如下：
[0029]步骤S4.4、修正每个晶粒单元中的晶粒通道亮度差异
[0030]在每个晶粒单元中，以标准通道中B0行各晶粒亮度的平均值LOP0作为亮度基础，通过修正系数K修正对照通道中各行晶粒的亮度；具体的，B1行晶粒通道亮度为K1*LOP1；B2行晶粒通道亮度为K2*LOP2；B3行晶粒通道亮度为K3*LOP3；依次类推，直至计算出Bn
‑
1行晶粒通道亮度为Kn
‑
1*LOPn
‑
1。
[0031]在部分实施方案中，采用所述LED多针测试机的测试方向是沿二维坐标系横轴方向的正向方向和反向方向往复进行。
[0032]在部分实施方案中，所述LED多针测试机的测试方向在由二维坐标系横轴方向的正向方向和反向方向交替时，所述LED多针测试机中的n组探针沿二维坐标系纵轴方向移动
至下一个晶粒单元测试。
[0033]在部分实施方案中，所述LED多针测试机中的每组探针均包括两根探针，在测试晶粒亮度时，每组探针中的两根探针分别接触晶粒的正极和负极。
[0034]应用本专利技术的技术方案，至少具有以下有益效果：
[0035](1)本专利技术中所述LED多针测试机通道亮度差异的修正方法，先通过对LED外延片构建二维坐标系；其次，确定晶粒单元；然后，测试晶粒亮度；最后，采用修正系数K修正每个晶粒单元中的晶粒通道亮度差异，使得LED外延片亮度呈周期性交替的行间隔变化的MAP分布被修正为自然过渡的MAP，符合外延片的生长特性，确保了最终测试结果的准确性，从而解决多针测试机存在多针亮度通道差异常的问题，避免出现多通道亮本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED多针测试机通道亮度差异的修正方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1、构建二维坐标系在测试前，先通过LED多针测试机对LED外延片进行扫描，并通过扫描结果构建二维坐标系，以计算出LED外延片上每颗晶粒的坐标位置；步骤S2、确定晶粒单元所述LED多针测试机包括n组并联的探针，其中，数值n为大于等于2的自然数；将所述LED外延片在二维坐标系纵轴方向上排布的晶粒总行数记为H，各行晶粒与二维坐标系横轴方向平行；若H为数值n的整数倍，则依次将H等分成p个晶粒单元，在每个晶粒单元中均含有n行晶粒；若H为数值n的整数倍还有余数，则依次将H分成p+1个晶粒单元，其中，在前p个晶粒单元中的每个晶粒单元中均含有n行晶粒；在第p+1个晶粒单元中含有H
‑
p*n行晶粒；步骤S3、测试晶粒亮度在前p个晶粒单元中，从第一个晶粒单元开始，采用所述LED多针测试机中的n组探针沿二维坐标系横轴方向对每个晶粒单元中的各行晶粒进行亮度测试，直至测试至第p个晶粒单元；在第p+1个晶粒单元中，对H
‑
p*n行晶粒采用LED多针测试机中的对应组数的探针沿二维坐标系横轴方向对各行晶粒进行亮度测试；步骤S4、修正晶粒亮度采用修正系数K修正每个晶粒单元中的晶粒通道亮度差异。2.根据权利要求1所述的LED多针测试机通道亮度差异的修正方法，其特征在于，在步骤S4中，每个晶粒单元中对应确定n
‑
1个修正系数K，所述修正系数K的确定步骤如下：步骤S4.1、确定标准通道和对照通道在每个晶粒单元中随机确定一行晶粒作为标准通道，记为B0；而在该晶粒单元中剩余的其他行晶粒作为对照通道，其中，在对照通道中的各行晶粒分别记为B1、B2、B3、......和Bn
‑
1；步骤S4.2、计算标准通道和对照通道中各行晶粒亮度的平均值在标准通道中，计算出B0行各晶粒亮度的平均值LOP0；在对照通道中，分别计算出B1行各晶粒亮度的平均值LOP1；计算出B2行各晶粒亮度的平均...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭超，李超，陈艳恒，
申请(专利权)人：湘能华磊光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：