一种用于测量轨道的性能评估测试仪器制造技术

本实用新型专利技术涉及轨道测量技术领域，具体是一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，包括安装框架，安装框架两侧分别安装有固定承载板和活动承载板，安装框架上安装有连接组件，安装框架和固定承载板通过连接组件固定连接，安装框架和活动承载板通过连接组件滑动连接，安装框架内固定有多功能采集模块，多功能采集模块包括位移采集芯片、温度采集模块以及存储芯片，位移采集芯片包括轨道振动采集模块、轨道水平采集模块以及轨道倾角采集模块，多功能采集模块上固定有工作指示灯和数据传输端口，本实用新型专利技术能够一次性完成多项数据的测量工作，有利于提高轨道信息的测量和分析记录作业的效率，同时降低了测量轨道所使用的测量仪器的成本。成本。成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量轨道的性能评估测试仪器


[0001]本技术涉及轨道测量
，具体是一种用于测量轨道的性能评估测试仪器。

技术介绍

[0002]在SMT、太阳能、钢铁、食品烘培等行业中，产品需要通过链条，滚轴等传输方式来加产品进行运输，有些设备要求精度控制较高，对生产过程种所传输产品的状态，轨道状态有需求，因此需要测量运输轨道的信息，如轨道平行状况、轨道左右的倾斜角度、平均传输速度以及环境温度等。
[0003]但现有的侧量仪器大多只能测量单一数据，需要多种测量仪器进行多项数据信息的测量，测量成本较高，且部分测量仪器在测量时多通过人工手动测量，精准度较低，且测量效率较低。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]本技术的技术方案是：一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，包括安装框架，所述安装框架两侧分别安装有固定承载板和活动承载板，所述安装框架上安装有连接组件，所述安装框架和固定承载板通过连接组件固定连接，所述安装框架和活动承载板通过连接组件滑动连接，所述安装框架内固定有多功能采集模块，所述多功能采集模块包括位移采集芯片、温度采集模块以及存储芯片，所述位移采集芯片包括轨道振动采集模块、轨道水平采集模块以及轨道倾角采集模块，所述多功能采集模块上固定有工作指示灯和数据传输端口，所述工作指示灯与位移采集芯片、温度采集模块以及存储芯片均电性连接，所述位移采集芯片和温度采集模块均与存储芯片电性连接，所述数据传输端口与存储芯片电性连接。
[0006]优选的，所述连接组件包括活动轴和固定轴，所述活动轴远离安装框架的一端与活动承载板固定，所述活动轴另一端贯穿安装框架并与安装框架间隙配合，所述固定轴远离安装框架的一端与固定承载板固定，所述固定轴另一端贯穿安装框架并与安装框架固定，所述活动轴上固定有滑动块，所述滑动块与安装框架滑动连接。
[0007]优选的，所述安装框架靠近活动承载板一侧的侧壁滑动连接有连接轴，所述连接轴贯穿安装框架侧壁，所述温度采集模块包括温度传感器，所述温度传感器与连接轴远离安装框架的一端固定，所述温度传感器远离连接轴一侧的侧壁与活动承载板固定，所述连接轴远离温度传感器的一端也固定有滑动块，所述滑动块与安装框架滑动连接。
[0008]优选的，所述安装框架内壁固定有滑轨，所述滑轨与滑动块滑移配合，位于所述连接轴上的滑动块一侧固定有磁条固定块，所述磁条固定块与位移采集芯片相适配，所述磁条固定块内包含有磁条。
[0009]优选的，所述安装框架外侧固定有支撑外壳，所述活动轴和固定轴均贯穿支撑外壳，所述活动轴和固定轴上均套设有连接套管，所述连接套管与支撑外壳固定，所述连接套管与活动轴和固定轴均滑动连接。
[0010]优选的，所述活动轴上套设有复位弹簧，所述复位弹簧位于活动承载板和支撑外壳之间，所述复位弹簧一端与活动承载板一侧的侧壁固定，所述复位弹簧另一端与连接套管侧壁固定。
[0011]优选的，所述支撑外壳上表面固定有隔热板，所述隔热板为板状框体，所述隔热板内壁固定有操作面板，所述操作面板与多功能采集模块电性连接，所述操作面板上开设有供工作指示灯和数据传输端口贯穿的通孔。
[0012]本技术通过改进在此提供一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，与现有技术相比，具有如下改进及优点：
[0013]其一：本技术通过多功能采集模块的设置，通过位移采集芯片以及温度采集模对运行全程中的轨道进行数据采集，包括轨道平行状况、轨道左右的倾斜角度、平均传输速度以及环境温度的测量和分析记录，从而使得该用于测量轨道的性能评估测试仪器在单次行程中对轨道的多个综合信息进行测量以及分析记录，从而有利于一次性完成多项数据的测量工作，有利于提高轨道信息的测量和分析记录作业的效率，同时降低了测量轨道所使用的测量仪器的成本；
[0014]其二：本技术通过连接组件、滑轨、滑动块的设置，有利于将该用于测量轨道的性能评估测试仪器活动架设在轨道上，通过磁条固定块的设置，当活动承载板移动时，活动承载板通过连接轴带动滑动块运动，滑动块带动磁条固定块滑动，磁条固定块运动时位移采集芯片感应磁条固定块的磁场变化，从而计算出位移的变换，从而测量出轨道的形变量，通过温度传感器的设置，实时检测该用于测量轨道的性能评估测试仪器的工作环境温度，从而有利于测量出轨道的综合信息并进行分析记录。
附图说明
[0015]下面结合附图和实施例对本技术作进一步解释：
[0016]图1是本技术多功能采集模块的原理框图；
[0017]图2是本技术整体的立体结构示意图；
[0018]图3是本技术隐藏操作面板后的立体结构示意图；
[0019]图4是本技术隐藏支撑外壳后的俯视结构示意图。
[0020]附图标记说明：
[0021]1、安装框架；11、支撑外壳；12、隔热板；13、滑轨；2、固定承载板；3、活动承载板；4、滑动块；41、磁条固定块；5、连接组件；51、活动轴；511、复位弹簧；512、连接套管；52、固定轴；6、连接轴；7、温度传感器；8、操作面板；9、多功能采集模块；91、工作指示灯；92、数据传输端口。
具体实施方式
[0022]下面对本技术进行详细说明，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施
例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]本技术通过改进在此提供一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，本技术的技术方案是：
[0024]如图1
‑
图4所示，一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，包括安装框架1，安装框架1两侧分别安装有固定承载板2和活动承载板3，安装框架1上安装有连接组件5，安装框架1和固定承载板2通过连接组件5固定连接，安装框架1和活动承载板3通过连接组件5滑动连接，安装框架1内固定有多功能采集模块9，多功能采集模块9包括位移采集芯片、温度采集模块以及存储芯片，位移采集芯片包括轨道振动采集模块、轨道水平采集模块以及轨道倾角采集模块，多功能采集模块9上固定有工作指示灯91和数据传输端口92，工作指示灯91与位移采集芯片、温度采集模块以及存储芯片均电性连接，位移采集芯片和温度采集模块均与存储芯片电性连接，数据传输端口92与存储芯片电性连接。
[0025]通过多功能采集模块9的设置，通过位移采集芯片以及温度采集模对运行全程中的轨道进行数据采集，包括轨道平行状况、轨道左右的倾斜角度、平均传输速度以及环境温度的测量和分析记录，从而使得该用于测量轨道的性能评估测试仪器在单次行程中对轨道的多个综合信息进行测量以及分析记录，从而有利于一次性完成多项数据的测量工作，有利于提高轨道信息的测量和分析记录作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，其特征在于：包括安装框架(1)，所述安装框架(1)两侧分别安装有固定承载板(2)和活动承载板(3)，所述安装框架(1)上安装有连接组件(5)，所述安装框架(1)和固定承载板(2)通过连接组件(5)固定连接，所述安装框架(1)和活动承载板(3)通过连接组件(5)滑动连接，所述安装框架(1)内固定有多功能采集模块(9)，所述多功能采集模块(9)包括位移采集芯片、温度采集模块以及存储芯片，所述位移采集芯片包括轨道振动采集模块、轨道水平采集模块以及轨道倾角采集模块，所述多功能采集模块(9)上固定有工作指示灯(91)和数据传输端口(92)，所述工作指示灯(91)与位移采集芯片、温度采集模块以及存储芯片均电性连接，所述位移采集芯片和温度采集模块均与存储芯片电性连接，所述数据传输端口(92)与存储芯片电性连接。2.根据权利要求1所述的一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，其特征在于：所述连接组件(5)包括活动轴(51)和固定轴(52)，所述活动轴(51)远离安装框架(1)的一端与活动承载板(3)固定，所述活动轴(51)另一端贯穿安装框架(1)并与安装框架(1)间隙配合，所述固定轴(52)远离安装框架(1)的一端与固定承载板(2)固定，所述固定轴(52)另一端贯穿安装框架(1)并与安装框架(1)固定，所述活动轴(51)上固定有滑动块(4)，所述滑动块(4)与安装框架(1)滑动连接。3.根据权利要求2所述的一种用于测量轨道的性能评估测试仪器，其特征在于：所述安装框架(1)靠近活动承载板(3)一侧的侧壁滑动连接有连接轴(6)，所述连接轴(6)贯穿安装框架(1)侧壁，所述温度采集模块包括温度传感器(7)，所述温度传感器(7)与连接轴(6)远离安装框...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜桂红，
申请(专利权)人：伟凯美深圳自动化技术有限公司，
类型：新型
国别省市：