本发明专利技术所要解决的问题是提供一种能够推导运送中的被检查体的孔隙率的孔隙率推导方法及孔隙率推导装置。为了解决上述问题，本发明专利技术提供一种孔隙率推导方法，是推导被检查体的孔隙率的方法，且包括：单位面积重量测定步骤，对运送中的被检查体的特定部位的单位面积重量进行测定；厚度测定步骤，对运送中的被检查体的特定部位的厚度进行测定；及，孔隙率推导步骤，根据单位面积重量、厚度、以及被检查体的真密度，推导被检查体的孔隙率。推导被检查体的孔隙率。推导被检查体的孔隙率。
【技术实现步骤摘要】
孔隙率推导方法及孔隙率推导装置
[0001]本专利技术涉及一种孔隙率推导方法及孔隙率推导装置。
技术介绍
[0002]以往，被检查体的检查方式是对被检查体的孔隙率进行测定。例如，作为对填充电解质的固态电解质的孔隙率进行测定的方法，已知如下方法：使用图像分析软件，对拍摄固态电解质的剖面所得到的图像测定孔隙率(参考专利文献1)。
[0003][先行技术文献][0004](专利文献)
[0005]专利文献1：国际公开第2018/186442号
技术实现思路
[0006][专利技术所要解决的问题][0007]专利文献1所记载的孔隙率的测定方法需要在测定孔隙率时将样本切断，之后拍摄剖面照片，因此，当在实际的生产线上应用上述方法时，会抽样检查。因此，不仅可能无法发现次品，而且也可能因反馈慢而导致次品增加。因此，期望开发一种在线推导运送中的被检查体的孔隙率的方法。
[0008]本专利技术是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种能够推导运送中的被检查体的孔隙率的孔隙率推导方法及孔隙率推导装置。
[0009][解决问题的技术手段][0010](1)本专利技术涉及一种孔隙率推导方法，是推导被检查体的孔隙率的方法，且包括：单位面积重量测定步骤，对运送中的前述被检查体的特定部位的单位面积重量进行测定；厚度测定步骤，对运送中的前述被检查体的前述特定部位的厚度进行测定；及，孔隙率推导步骤，根据前述单位面积重量、前述厚度、以及前述被检查体的真密度，推导前述被检查体的孔隙率。
[0011]根据(1)的专利技术，可以提供一种能够推导运送中的被检查体的孔隙率的孔隙率推导方法。
[0012](2)根据(1)所述的孔隙率推导方法，其中，前述被检查体是填充填充物的基材，前述单位面积重量测定步骤对前述基材及前述填充物的单位面积重量进行测定，前述孔隙率推导步骤根据前述基材及前述填充物的单位面积重量、前述被检查体的厚度、以及前述基材及前述填充物的真密度，推导前述被检查体的孔隙率。
[0013]根据(2)的专利技术，可以提供一种能够推导运送中的填充填充物的基材的孔隙率的孔隙率推导方法。
[0014](3)根据(2)所述的孔隙率推导方法，其中，前述填充物是电解质。
[0015]根据(3)的专利技术，能够推导用作电池材料的电解质层的孔隙率。
[0016](4)并且，本专利技术涉及一种孔隙率推导装置，包括：运送部，运送被检查体；单位面
积重量测定部，对运送中的前述被检查体的特定部位的单位面积重量进行测定；厚度测定部，对运送中的前述被检查体的前述特定部位的厚度进行测定；存储部，存储前述被检查体的真密度；及，推导部，根据前述单位面积重量、前述厚度、以及前述被检查体的真密度，推导前述被检查体的孔隙率。
[0017]根据(4)的专利技术，可以提供一种能够推导运送中的被检查体的孔隙率的孔隙率推导装置。
[0018](5)根据(4)所述的孔隙率推导装置，其中，前述被检查体是填充填充物的基材，前述单位面积重量测定部对前述基材及前述填充物的单位面积重量进行测定，前述存储部存储前述填充物及前述基材的真密度，前述推导部根据前述基材及前述填充物的单位面积重量、前述被检查体的厚度、以及前述基材及前述填充物的真密度，推导前述被检查体的孔隙率。
[0019]根据(5)的专利技术，可以提供一种能够推导运送中的填充填充物的基材的孔隙率的孔隙率推导装置。
附图说明
[0020]图1A是实施方式的作为孔隙率推导方法的对象的被检查体的概念剖面图。
[0021]图1B是用于根据图1A推导孔隙率时的推导方法的概念剖面图。
[0022]图2是示出实施方式的孔隙率推导装置的示意图。
具体实施方式
[0023]以下，针对本专利技术的一实施方式，参照图式加以说明。本专利技术的内容并不限于以下实施例的记载。
[0024]＜孔隙率推导方法＞
[0025]本实施方式的孔隙率推导方法是推导被检查体的孔隙率的方法，且是能够推导运送中的被检查体的孔隙率的方法。孔隙率推导方法包括：单位面积重量测定步骤，对运送中的被检查体的特定部位的单位面积重量进行测定；厚度测定步骤，对运送中的被检查体的特定部位的厚度进行测定；及，孔隙率推导步骤，根据上述所测得的参数、被检查体的真密度，推导基材的孔隙率。
[0026](单位面积重量测定步骤)
[0027]单位面积重量测定步骤是对运送中的上述被检查体的特定部位的单位面积重量(g/m2)进行测定的步骤。作为测定单位面积重量的方法，只要是能够对运送中的被检查体进行测定的方法即可，并无特别限制，可以列举例如荧光X射线检测方法。荧光X射线检测方法首先对作为测定对象的被检查体照射X射线，借此，构成被检查体的原子成为激发状态。接着，借由对原子从激发状态恢复至稳定状态时产生的荧光X射线进行检测，能够分别对例如基材及填充物等的被检查体的单位面积重量进行测定。根据荧光X射线的检测结果，获得每个元素不同的能量强度，且能够根据能量强度算出被检查体的单位面积重量。并且，根据使用荧光X射线的上述方法，能够以非接触的方式对作为测定对象的被检查体的单位面积重量进行测定，因此，能够对运送中的被检查体的单位面积重量进行测定。作为其他单位面积重量测定方法，可以列举如下方法等：对作为测定对象的被检查体照射β射线等的放射
线，并对放射线的透过量进行测定。
[0028](厚度测定步骤)
[0029]厚度测定步骤是对运送中的上述被检查体的特定部位的厚度进行测定的步骤。作为测定厚度的方法，只要是能够对运送中的被检查体进行测定的方法即可，并无特别限制，可以列举例如利用光谱干涉激光位移测定的方法。利用光谱干涉激光位移测定的方法例如是如下方法：在被检查体的厚度方向的两侧配置一对传感器，对被检查体照射包含各种波长的光，并对反射光与出射光的相位差进行测定，由此，测定从传感器到被检查体的距离，并算出被检查体的厚度。作为其他厚度测定方法，也可以列举利用超声波的测定方法等，但从高精度地对被检查体进行测定的观点出发，优选利用光谱干涉激光位移测定的方法。
[0030]单位面积重量测定步骤与作为厚度测定步骤中的测定部位的上述填充填充物的被检查体的特定部位是同步的同一特定部位。作为使单位面积重量测定步骤与厚度测定步骤中的测定部位同步的方法，可以列举以下方法：例如，记录由单位面积重量测定装置测定的位置坐标，指示厚度测定装置测量同一位置。
[0031](孔隙率推导步骤)
[0032]孔隙率推导步骤是根据上述单位面积重量测定步骤中所测得的单位面积重量、及上述厚度测定步骤中所测得的厚度、以及基材及填充物等被检查体的真密度，推导孔隙率的步骤。本实施方式的孔隙率表示基材中的孔隙的体积与基材中的填充物的体积的比率(％)。下面，以固态电解质片为例，对推导孔隙率的方法进行说明，所述固态电解质片是作为被检查体的填充填充物的基材的一例。
[0033]图1A是示出在作为基材的无纺布片中填充作为填充物的固态电解质的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种孔隙率推导方法，是推导被检查体的孔隙率的方法，且包括：单位面积重量测定步骤，对运送中的前述被检查体的特定部位的单位面积重量进行测定；厚度测定步骤，对运送中的前述被检查体的前述特定部位的厚度进行测定；及，孔隙率推导步骤，根据前述单位面积重量、前述厚度、以及前述被检查体的真密度，推导前述被检查体的孔隙率。2.根据权利要求1所述的孔隙率推导方法，其中，前述被检查体是填充填充物的基材，前述单位面积重量测定步骤对前述基材及前述填充物的单位面积重量进行测定，前述孔隙率推导步骤根据前述基材及前述填充物的单位面积重量、前述被检查体的厚度、以及前述基材及前述填充物的真密度，推导前述被检查体的孔隙率。3.根据权利要求2所述的孔隙率推导方法，其中，前述填充物是电解...
【专利技术属性】
技术研发人员：胜山泰郎，田尻雄一，福岛岳大，小山莉央，
申请(专利权)人：本田技研工业株式会社，
类型：发明
国别省市：
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