本实用新型专利技术公开了一种芯片自动检测筛选装置，包括用于吸取芯片并将芯片依次搬运至测高工位、良品下料工位或不良品下料工位的吸料搬运机构，用于放置待测品料盘并带动待测品料盘沿着Y轴方向移动的第一Y轴移动驱动装置，用于放置良品料盘并带动良品料盘沿着Y轴方向移动的第二Y轴移动驱动装置，用于放置不良品料盘并带动不良品料盘沿着Y轴移动的第三Y轴移动驱动装置，以及用于对芯片进行高度测量的测高机构。本实用新型专利技术的结构简单、新颖，设计合理，可实现芯片的自动化高度测量和自动化不良品筛选作业，自动化程度高，替代了人手分拣，节省时间，大大提高了生产效率，可满足企业的规模化生产需求。模化生产需求。模化生产需求。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片自动检测筛选装置
[0001]本技术涉及芯片检测的
，更具体地说，是涉及一种芯片自动检测筛选装置。
技术介绍
[0002]在芯片制作完成后，需要对芯片的高度进行测量，从而将不良品和良品分出，然而，现有的芯片产线中都是通过人工来对芯片进行测量和不良品筛选的，这样操作麻烦、费时，大大降低了生产效率，不利于生产。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于克服现有技术中的上述缺陷，提供一种芯片自动检测筛选装置。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了一种芯片自动检测筛选装置，包括用于吸取芯片并将芯片依次搬运至测高工位、良品下料工位或不良品下料工位的吸料搬运机构，用于放置待测品料盘并带动待测品料盘沿着Y轴方向移动的第一Y轴移动驱动装置，用于放置良品料盘并带动良品料盘沿着Y轴方向移动的第二Y轴移动驱动装置，用于放置不良品料盘并带动不良品料盘沿着Y轴移动的第三Y轴移动驱动装置，以及用于对芯片进行高度测量的测高机构，所述吸料搬运机构平行于X轴方向布置，所述第一Y轴移动驱动装置、第二Y轴移动驱动装置和第三Y轴移动驱动装置沿着吸料搬运机构的搬运方向依次布置于吸料搬运机构的吸料部位的X轴平移路径下方，所述吸料搬运机构的吸料部位能够沿着X轴方向平移，所述测高机构布置于吸料搬运机构的吸料部位的X轴平移路径下方且位于吸料搬运机构的上料工位与良品下料工位之间。
[0005]作为优选的实施方式，所述吸料搬运机构设置有两个吸料部位。
[0006]作为优选的实施方式，所述吸料搬运机构包括支架、X轴平移模组、平移座、升降驱动气缸、吸盘和吸盘安装座，所述X轴平移模组横向安装在支架的横梁正面，所述平移座设有两个并分别安装在X轴平移模组的两个平移部位上，所述升降驱动气缸设有两个并分别朝下安装在各自对应的平移座正面，所述吸盘设有两个并分别通过吸盘安装座安装在各自对应的升降驱动气缸的输出轴上。
[0007]作为优选的实施方式，还包括安装板，所述吸料搬运机构、测高机构、第一Y轴移动驱动装置、第二Y轴移动驱动装置和第三Y轴移动驱动装置均安装在安装板上。
[0008]作为优选的实施方式，还包括上二维码扫码器和/或下二维码扫码器，所述上二维码扫码器朝下安装在吸料搬运机构的吸料部位一侧，所述下二维码扫码器朝上布置于吸料搬运机构的吸料部位的X轴平移路径下方且位于吸料搬运机构的上料工位与测高机构之间。
[0009]作为优选的实施方式，所述第一Y轴移动驱动装置和第二Y轴移动驱动装置均包括第一Y轴平移模组和料盘放置盘，所述第一Y轴平移模组平行于Y轴方向布置，所述料盘放置
盘安装在第一Y轴平移模组的平移部位上。
[0010]作为优选的实施方式，所述第三Y轴移动驱动装置包括第二Y轴平移模组，所述第二Y轴平移模组平行于Y轴方向布置，所述第二Y轴平移模组的平移部位能够与不良品料盘可拆卸连接。
[0011]作为优选的实施方式，所述测高机构包括测高吸附平台、测高光源和测高CCD镜头，所述测高吸附平台位于吸料搬运机构的吸料部位的X轴平移路径下方，所述测高光源位于测高吸附平台的Y轴方向一侧并朝向测高吸附平台，所述测高CCD镜头位于测高吸附平台的Y轴方向另一侧并朝向测高吸附平台，所述测高吸附平台上贯穿设置有至少一个吸料气孔。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0013]本技术的结构简单、新颖，设计合理，可实现芯片的自动化高度测量和自动化不良品筛选作业，自动化程度高，替代了人手分拣，节省时间，大大提高了生产效率，可满足企业的规模化生产需求。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1是本技术实施例提供的结构示意图；
[0016]图2是本技术实施例提供的俯视图；
[0017]图3是本技术实施例提供的正视图；
[0018]图4是本技术实施例提供的吸料搬运机构的吸料部位的结构示意图；
[0019]图5是本技术实施例提供的测高吸附平台的结构示意图。
具体实施方式
[0020]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参考图1至图5，本技术的实施例提供了一种芯片自动检测筛选装置，包括安装板9，上二维码扫码器20，下二维码扫码器21，用于吸取芯片并将芯片依次搬运至测高工位、良品下料工位或不良品下料工位的吸料搬运机构1，用于放置待测品料盘2并带动待测品料盘2沿着Y轴方向移动的第一Y轴移动驱动装置3，用于放置良品料盘4并带动良品料盘4沿着Y轴方向移动的第二Y轴移动驱动装置5，用于放置不良品料盘6并带动不良品料盘6沿着Y轴移动的第三Y轴移动驱动装置7，以及用于对芯片进行高度测量的测高机构8，下面将对各个组成部分的结构及其工作原理进行说明。
[0022]吸料搬运机构1平行于X轴方向布置于安装板9上，吸料搬运机构1的吸料部位能够
沿着X轴方向平移。
[0023]优选的，吸料搬运机构1可以包括支架11、X轴平移模组12、平移座13、升降驱动气缸14、吸盘15和吸盘安装座16，X轴平移模组12横向安装在支架11的横梁正面，平移座13设有两个并分别安装在X轴平移模组12的两个平移部位上，升降驱动气缸14设有两个并分别朝下安装在各自对应的平移座13正面，吸盘15设有两个并分别通过吸盘安装座16安装在各自对应的升降驱动气缸14的输出轴上。
[0024]其中，本实施例的吸料搬运机构设置有两个吸料部位，这样便可实现两个吸料部位协同工作，从而提升工作效率，而在其他实施例中，吸料搬运机构也可以设置单个吸料部位，非本实施例为限。
[0025]第一Y轴移动驱动装置3、第二Y轴移动驱动装置5和第三Y轴移动驱动装置7均安装在安装板9上并沿着吸料搬运机构1的搬运方向依次布置于吸料搬运机构1的吸料部位的X轴平移路径下方。
[0026]较佳的，第一Y轴移动驱动装置3和第二Y轴移动驱动装置5均可以包括第一Y轴平移模组31和料盘放置盘32，第一Y轴平移模组31平行于Y轴方向布置，料盘放置盘32安装在第一Y轴平移模组31的平移部位上。
[0027]实施时，第三Y轴移动驱动装置7可以包括第二Y轴平移模组，第二Y轴平移模组平行于Y轴方向布置，第二Y轴平移模组的平移部位能够与不良品料盘6可拆卸连接。
[0028]测高机构本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片自动检测筛选装置，其特征在于：包括用于吸取芯片并将芯片依次搬运至测高工位、良品下料工位或不良品下料工位的吸料搬运机构(1)，用于放置待测品料盘(2)并带动待测品料盘(2)沿着Y轴方向移动的第一Y轴移动驱动装置(3)，用于放置良品料盘(4)并带动良品料盘(4)沿着Y轴方向移动的第二Y轴移动驱动装置(5)，用于放置不良品料盘(6)并带动不良品料盘(6)沿着Y轴移动的第三Y轴移动驱动装置(7)，以及用于对芯片进行高度测量的测高机构(8)，所述吸料搬运机构(1)平行于X轴方向布置，所述第一Y轴移动驱动装置(3)、第二Y轴移动驱动装置(5)和第三Y轴移动驱动装置(7)沿着吸料搬运机构(1)的搬运方向依次布置于吸料搬运机构(1)的吸料部位的X轴平移路径下方，所述吸料搬运机构(1)的吸料部位能够沿着X轴方向平移，所述测高机构(8)布置于吸料搬运机构(1)的吸料部位的X轴平移路径下方且位于吸料搬运机构(1)的上料工位与良品下料工位之间。2.根据权利要求1所述的一种芯片自动检测筛选装置，其特征在于：所述吸料搬运机构(1)设置有两个吸料部位。3.根据权利要求1所述的一种芯片自动检测筛选装置，其特征在于：所述吸料搬运机构(1)包括支架(11)、X轴平移模组(12)、平移座(13)、升降驱动气缸(14)、吸盘(15)和吸盘安装座(16)，所述X轴平移模组(12)横向安装在支架(11)的横梁正面，所述平移座(13)设有两个并分别安装在X轴平移模组(12)的两个平移部位上，所述升降驱动气缸(14)设有两个并分别朝下安装在各自对应的平移座(13)正面，所述吸盘(15)设有两个并分别通过吸盘安装座(16)安装在各自对应的升降驱动气缸(14)的输出轴上。4.根据权利要求1所述的一种芯片自动检测筛...
【专利技术属性】
技术研发人员：张华，蒲继雄，丁攀峰，冯文灿，
申请(专利权)人：东莞广达智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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