一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备制造技术

本实用新型专利技术提出了一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，涉及灰阶响应检测设备技术领域。包括灰阶响应检测组件与监测组件，灰阶响应检测组件的下方设有工作盘，灰阶响应检测组件设有多个，多个灰阶响应检测组件环绕工作盘的外侧，监测组件位于两个灰阶响应检测组件之间，将需要测试的设备放置到工作盘。经过底部接入端进行安装与连接，将设备中的静电释放，避免检测时出现干扰，根据检测的设备不同，将多组灰阶响应检测组件由连接摆臂组件调整不同的方位，达到不同的角度，进行不同的接触连接，为了达到测试效果的及时性，采用监测组件与灰阶响应检测组件为一组的配合测试，当出现问题时激光发射器与颜色识别器进行及时的响应。响应。响应。

【技术实现步骤摘要】
一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备


[0001]本技术涉及灰阶响应检测设备
，具体而言，涉及一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备。

技术介绍

[0002]灰阶，是将最亮与最暗之间的亮度变化，区分为若干份。以便于进行信号输入相对应的屏幕亮度管控。每张数字影像都是由许多点所组合而成的,这些点又称为像素(pixels)，通常每一个像素可以呈现出许多不同的颜色，它是由红、绿、蓝(RGB)三个子像素组成的。每一个子像素，其背后的光源都可以显现出不同的亮度级别。而灰阶代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别。
[0003]现有的灰阶响应检测设备，在测试过程中，其测试与连接组件单一，降低适用性，导致检测效果下降。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，其能够在测试过程中，根据需要进行测试与连接，提升检测性，保障使用性能。
[0005]本技术的实施例是这样实现的：本申请实施例提供一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，包括灰阶响应检测组件与监测组件，灰阶响应检测组件的下方设有工作盘，灰阶响应检测组件设有多个，多个灰阶响应检测组件环绕工作盘的外侧，监测组件位于两个灰阶响应检测组件之间。
[0006]在本技术的一些实施例中，灰阶响应检测组件的一端设有连接摆臂组件，连接摆臂组件包括角度盘与转动轴，连接摆臂组件通过角度盘与灰阶响应检测组件连接，连接摆臂组件通过转动轴与工作盘活动连接。
[0007]在本技术的一些实施例中，监测组件的底部设有环盘，环盘的外侧设有连接支脚，连接支脚设有多个，多个连接支脚环绕环盘设置，环盘设置的中间设有固定盘，固定盘位于工作盘底部。
[0008]在本技术的一些实施例中，工作盘的表面设有底部接入端，底部接入端设有多个，多个底部接入端均布在工作盘上，工作盘的外壁涂覆有隔温涂层。
[0009]在本技术的一些实施例中，监测组件的顶部设有视觉激光发射器，监测组件的外侧设有颜色识别器，颜色识别器设有多个，多个颜色识别器环绕监测组件设置。
[0010]在本技术的一些实施例中，灰阶响应检测组件包括双接入孔、双接入块与信息处理模组，双接入孔设有多个，多个双接入孔环绕灰阶响应检测组件外侧设置，双接入块位于两个双接入孔之间，信息处理模组位于灰阶响应检测组件的内部。
[0011]相对于现有技术，本技术的实施例至少具有如下优点或有益效果：
[0012]本申请实施例提供一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，包括灰阶响应检测组件与监测组件，灰阶响应检测组件的下方设有工作盘，灰阶响应检测组件设有多个，多个
灰阶响应检测组件环绕工作盘的外侧，监测组件位于两个灰阶响应检测组件之间，将需要测试的设备放置到工作盘。经过底部接入端进行安装与连接，将设备中的静电释放，避免检测时出现干扰，根据检测的设备不同，将多组灰阶响应检测组件由连接摆臂组件调整不同的方位，达到不同的角度，进行不同的接触连接，为了达到测试效果的及时性，采用监测组件与灰阶响应检测组件为一组的配合测试，当出现问题时激光发射器与颜色识别器进行及时的响应，从而提升整体的测试性能。
[0013]在实际使用时，采用双接入孔与双接入块，形成两个配套化连接，便于安装不同的连接线缆与设备，再经过信息处理模组的数据传输与处理，提升测试效果。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0015]图1为本技术整体示意图；
[0016]图2为本技术俯视示意图；
[0017]图3为本技术仰视示意图。
[0018]图标：1、环盘；2、工作盘；3、固定盘；4、监测组件；5、连接摆臂组件；6、灰阶响应检测组件；7、连接支脚；8、角度盘；9、双接入孔；10、信息处理模组；11、双接入块；12、视觉激光发射器；13、颜色识别器；14、底部接入端；15、隔温涂层；16、转动轴。
具体实施方式
[0019]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0020]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0022]在本技术实施例的描述中，需要说明的是，若出现术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，若出现术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微
倾斜。
[0023]在本技术实施例的描述中，“多个”代表至少2个。
[0024]在本技术实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，若出现术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0025]实施例
[0026]请参照图1
‑
图3，图1为本技术整体示意图；图2为本技术俯视示意图；图3为本技术仰视示意图。
[0027]本实施例提供一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，包括灰阶响应检测组件6与监测组件4，灰阶响应检测组件6的下方设有工作盘2，灰阶响应检测组件6设有多个，多个灰阶响应检测组件6环绕工作盘2的外侧，监测组件4位于两个灰阶响应检测组件6之间。
[0028]在本实施例中，基于图1
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，其特征在于，包括灰阶响应检测组件与监测组件，所述灰阶响应检测组件的下方设有工作盘，所述灰阶响应检测组件设有多个，多个所述灰阶响应检测组件环绕所述工作盘的外侧，所述监测组件位于两个所述灰阶响应检测组件之间。2.根据权利要求1所述的一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，其特征在于，所述灰阶响应检测组件的一端设有连接摆臂组件，所述连接摆臂组件包括角度盘与转动轴，所述连接摆臂组件通过所述角度盘与所述灰阶响应检测组件连接，所述连接摆臂组件通过所述转动轴与所述工作盘活动连接。3.根据权利要求1所述的一种具有双接触结构的灰阶响应检测设备，其特征在于，所述监测组件的底部设有环盘，所述环盘的外侧设有连接支脚，所述连接支脚设有多个，多个所述连接支脚环绕所述环盘设置，所述环盘设置的中间设有固定盘，所述固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾礼明，辛宏伟，
申请(专利权)人：东莞市贝特森精密仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：