电器设备中可控硅的控制方法及装置、电器设备制造方法及图纸

本申请公开了一种电器设备中可控硅的控制方法及装置、电器设备，其中控制方法为：先通过电器设备中主控芯片的外部引脚接收过零检测信号，然后根据过零检测的上升沿或者下降沿信号触发主控芯片的定时器开始计时，最后通过定时器根据计时值输出一个单周期的高低电平，以便根据通过定时器输出引脚的高低电平对可控硅进行控制的同时主控芯片可以并行执行其他任务，在检测到交流电过零信号后，通过硬件自动控制可控硅的导通时间，无需芯片进行软件干预，可以让单片机并行执行处理过零信号的任务以及其他任务，保证了处理过零信号的及时性，进而保证可控硅按时导通，从而使电器设备能够稳定地进行功率输出。能够稳定地进行功率输出。能够稳定地进行功率输出。

【技术实现步骤摘要】
电器设备中可控硅的控制方法及装置、电器设备


[0001]本申请涉及电器设备
，特别涉及一种电器设备中可控硅的控制方法及装置、电器设备。

技术介绍

[0002]目前，单片机能够通过内部FLASH保存掉电数据，无需外部EEPROM，但是单片机有时需要执行实时任务，例如需要通过实时检测过零信号来控制可控硅的导通时间。在实现本申请的过程中，专利技术人发现当单片机在进行FLASH擦写时，需要等待擦写工作完成后，才能去执行其他任务，这样会导致检测到过零信号的时间发生延后，或者导致驱动可控硅导通的时间的准确性降低，使得交流电器输出功率的稳定性较差。
[0003]需要说明的是，本
技术介绍
部分中公开的信息仅用于理解本申请构思的
技术介绍
，并且因此，它可以包含不构成现有技术的信息。

技术实现思路

[0004]本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本申请的第一个目的在于提出一种电器设备中可控硅的控制方法，在检测到交流电过零信号后，通过硬件自动控制可控硅的导通时间，无需芯片进行软件干预，可以让单片机并行执行处理过零信号的任务以及其他任务，保证了处理过零信号的及时性，进而保证可控硅按时导通，从而使电器设备能够稳定地进行功率输出。
[0005]本申请的第二个目的在于提出一种电器设备中可控硅的控制装置。
[0006]本申请的第三个目的在于提出一种电器设备。
[0007]为达上述目的，本申请第一方面实施例提出了一种电器设备中可控硅的控制方法，包括：通过所述电器设备中主控芯片的外部引脚接收过零检测信号；由所述过零检测信号触发所述主控芯片的定时器开始计时；所述定时器根据计时值输出控制信号，以对所述可控硅进行控制。
[0008]根据本申请实施例提出的电器设备中可控硅的控制方法，通过芯片的外部引脚自动触发定时器的计时功能，无需等到芯片完成当前任务之后再对过零信号进行处理，避免了芯片在执行长时间任务时难以及时对过零信号进行处理的问题，保证了处理过零信号的及时性，满足控制可控硅导通角的实时性需求，从而使电器设备能够稳定地进行功率输出；并且通过预先配置的计时程序，在计时程序被触发后，自动依据计时值的大小进行可控硅导通角的控制，无需芯片通过外部中断程序来持续性的间断参与处理过零信号的任务，因此过零信号的处理无需芯片进行软件干预，节约了芯片进入中断和退出中断所耗费的时间，避免了该耗费的时间导致的可控硅导通角误差，提高了可控硅导通角的准确性，使得芯片在处理过零信号的同时能够并行执行其他任务。
[0009]根据本申请的一个实施例，在所述外部引脚为定时器输入引脚时，所述定时器输入引脚响应于所述过零检测信号，直接硬件触发所述定时器开始计时。
[0010]根据本申请的一个实施例，在所述外部引脚为I/O输入引脚时，所述I/O输入引脚响应于所述过零检测信号，通过中断程序触发所述定时器开始计时。
[0011]根据本申请的一个实施例，在通过中断程序触发所述定时器开始计时之前，所述方法还包括：
[0012]对所述过零检测信号进行滤波处理。
[0013]根据本申请的一个实施例，在所述过零检测信号的上升沿和下降沿触发所述定时器开始计时。
[0014]根据本申请的一个实施例，所述定时器根据计时值输出控制信号，包括：
[0015]在每个周期，如果所述计时值小于第一预设值，所述定时器则输出低电平，直至所述计时值达到第一预设值时，所述定时器输出高电平。
[0016]根据本申请的一个实施例，在每个周期，如果所述计时值达到预设周期值，所述定时器则输出低电平。
[0017]根据本申请的一个实施例，所述第一预设值大于等于0且小于所述预设周期值，所述预设周期值小于等于10ms。
[0018]根据本申请的一个实施例，所述第一预设值和所述预设周期值通过所述主控芯片进行配置。
[0019]根据本申请的一个实施例，所述定时器通过计数的方式进行计时。
[0020]为达上述目的，本申请第二方面实施例提出了一种电器设备中可控硅的控制装置，包括：过零检测电路，用于对所述电器设备的供电电源进行过零检测，以输出过零检测信号；主控芯片，所述主控芯片包括外部引脚和定时器，所述外部引脚与所述过零检测电路相连，以接收所述过零检测信号，并由所述过零检测信号触发所述定时器开始计时，所述定时器根据计时值输出控制信号，以对所述可控硅进行控制。
[0021]为达上述目的，本申请第三方面实施例提出了一种电器设备，其特征在于，包括上述实施例所述的电器设备中可控硅的控制装置。
[0022]本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0023]图1是本申请一个实施例的电器设备中可控硅的控制方法的流程示意图。
[0024]图2是本申请一个实施例的定时器输出波形的时序图。
[0025]图3是本申请一个实施例的电器设备中可控硅的控制装置20的结构框图。
[0026]图4是本申请一个实施例的可控硅的控制装置20的电路拓扑图。
[0027]图5是本申请一个实施例的电器设备10的结构框图。
具体实施方式
[0028]下面详细描述本申请的实施例，下文描述的实施例的示例在附图中示出，其中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。
[0029]下面参考附图描述本申请实施例的电器设备中可控硅的控制方法及装置、电器设
备。
[0030]请参阅图1，本申请实施例中的电器设备中可控硅的控制方法包括以下步骤100至步骤300。
[0031]S100，通过电器设备中主控芯片的外部引脚接收过零检测信号。
[0032]电器设备为交流电器设备，并且可以是空调、冰箱、洗衣机等家电设备。电器设备中设置有主控芯片，主控芯片可以是单片机(Microcontroller Unit，微控制器单元)，并且主控芯片配置有多个外部引脚。
[0033]过零检测信号是通过硬件电路对交流信号进行整形得到的，请参阅图2，交流信号为外部输入电器设备的交流信号，例如可以是220V/50Hz的市电，交流信号经过整形后得到过零检测信号S2，S2为脉冲信号，在交流信号S1从负半周期变化为正半周期时，过零检测信号S2对应形成上升沿Trig_up，在交流信号S1从正半周期变化为负半周期时，过零检测信号S2对应形成下降沿Trig_down。
[0034]在通过硬件电路得到过零检测信号S2后，将S2输入主控芯片的外部引脚，通过外部引脚输入到主控芯片中，以对S2进行信号处理。
[0035]S200，由过零检测信号S2触发主控芯片的定时器开始计时。
[0036]主控芯片配置有定时器，定时器可以被配置为受到信号触发时开始计时，通过计时的方式来控制此芯片定时器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电器设备中可控硅的控制方法，其特征在于，包括：通过所述电器设备中主控芯片的外部引脚接收过零检测信号；由所述过零检测信号触发所述主控芯片的定时器开始计时；所述定时器根据计时值输出控制信号，以对所述可控硅进行控制。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述外部引脚为定时器输入引脚时，所述定时器输入引脚响应于所述过零检测信号，直接硬件触发所述定时器开始计时。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述外部引脚为I/O输入引脚时，所述I/O输入引脚响应于所述过零检测信号，通过中断程序触发所述定时器开始计时。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在通过中断程序触发所述定时器开始计时之前，所述方法还包括：对所述过零检测信号进行滤波处理。5.根据权利要求1
‑
4中任一项所述的方法，其特征在于，在所述过零检测信号的上升沿和下降沿触发所述定时器开始计时。6.根据权利要求1
‑
4中任一项所述的方法，其特征在于，所述定时器根据计时值输出控制信号，包括：在每个周期，如...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘继军，
申请(专利权)人：上海美仁半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：