触控屏性能检测方法及设备技术

本发明专利技术涉及触控屏性能检测技术领域，具体涉及触控屏性能检测方法及设备，所述方法包括如下步骤：控制若干根具有对比性的试验指同时在待测触控屏上根据设定标准画线，得到测试图，然后通过分析所述测试图评价所述触控屏的性能。本发明专利技术触控屏性能检测方法可同时检测所述触控屏的定位和多点触控性能，不仅能快速有效完成多种性能测试，还能通过比对不同试验指的结果研究它们之间差异带来的影响。的结果研究它们之间差异带来的影响。的结果研究它们之间差异带来的影响。

【技术实现步骤摘要】
触控屏性能检测方法及设备


[0001]本专利技术涉及触控屏性能检测方法及设备。

技术介绍

[0002]数字移动终端、家用电器、汽车、机械设备上都有触控屏的身影，触控屏已经深入到我们生活的方方面面。但还未有能快速有效完成多种性能测试的方法和设备。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种能快速有效完成多种(两种以上)性能测试的方法和设备。
[0004]本专利技术方法方案如下：一种触控屏性能检测方法，控制若干根(两根以上)具有对比性的试验指同时在待测触控屏上根据设定标准画线，得到测试图，然后通过分析所述测试图评价所述触控屏的性能。
[0005]本专利技术触控屏性能检测方法可同时检测所述触控屏的定位和多点触控性能，还能通过比对不同试验指的结果研究它们之间差异带来的影响。本专利技术这里所说的具有对比性的试验指是指，这些试验指之间只存在某个维度的差异，从而方便确定影响。
[0006]优选如下方案：
[0007]一种触控屏性能检测方法，包括如下检测项目中的一种或两种以上：
[0008]项目一：
[0009]A1.采用若干根指尖粗细不同，对屏幕施加的压力度相同的试验指，根据标准一在所述触控屏的测试区域上同时画直线，得到测试图片一；
[0010]A2.比对所述标准一与所述测试图片一，分析所述触控屏的性能；
[0011]项目二：
[0012]B1.采用若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度不同的试验指，根据标准二在所述触控屏的测试区域上同时画直线，得到测试图片二；
[0013]B2.比对所述标准二与所述测试图片二，分析所述触控屏的性能；
[0014]项目三：
[0015]C1.采用若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度也相同的试验指，根据标准三在所述触控屏的测试区域上同时但画出不同形状的线条，得到测试图片三；
[0016]C2.比对所述标准三与所述测试图片三，分析所述触控屏的性能。
[0017]虽然通过上述3个测试项目中的任何一个，均可以确定所述触控屏的定位和多点触控性能，但在同时包括上述3个测试项目时，建议利用项目一的比对结果分析所述触控屏的定位和多点触控性能，利用项目二的比对结果分析所述触控屏的压力反馈性能，利用项目三的比对结果分析所述触控屏的图形响应性能，即绘制不同线条时流畅程度的差异。
[0018]作为各检测项目的优选方案：
[0019]项目一：
[0020]步骤S11.打开待测触控屏并打开画图软件；
[0021]步骤S12.随机选取触控屏的测试区域一，并将其移动到检测设备的试验指组一的正下方，试验指组一由若干根指尖粗细不同，对屏幕施加的压力度相同的试验指构成；
[0022]步骤S13.由所述检测设备的微型计算机从其存储中随机选择一张标准图片一；
[0023]步骤S14.所述微型计算机根据所述标准图片一控制所述试验指组一的各试验指同时在所述测试区域一上画直线；
[0024]步骤S15.所述检测设备通过其摄像机对测试区域一进行拍照，得到测试图片一，并上传到所述微型计算机；
[0025]步骤S16.所述微型计算机比较所述标准图片一与所述测试图片一，检测所述触控屏的性能。
[0026]项目二：
[0027]步骤S21.打开待测触控屏并打开画图软件；
[0028]步骤S22.随机选取触控屏的测试区域二，并将其移动到检测设备的试验指组二的正下方，试验指组二由若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度不同的试验指构成；
[0029]步骤S23.由所述检测设备的微型计算机从其存储中随机选择一张标准图片二；
[0030]步骤S24.所述微型计算机根据所述标准图片二控制所述试验指组二的各试验指同时在所述测试区域二上画直线；
[0031]步骤S25.所述检测设备通过其摄像机对测试区域二进行拍照，得到测试图片二，并上传到所述微型计算机；
[0032]步骤S26.所述微型计算机比较所述标准图片二与所述测试图片二，检测所述触控屏的性能。
[0033]项目三：
[0034]步骤S31.打开待测触控屏并打开画图软件；
[0035]步骤S32.随机选取触控屏的测试区域三，并将其移动到检测设备的试验指组三的正下方，试验指组三由若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度也相同的试验指构成；
[0036]步骤S33.由所述检测设备的微型计算机从其存储中随机选择一张标准图片三；
[0037]步骤S34.所述微型计算机根据所述标准图片三控制所述试验指组三的各试验指同时在所述测试区域三上画线但所画形状不同；
[0038]步骤S35.所述检测设备通过其摄像机对测试区域三进行拍照，得到测试图片三，并上传到所述微型计算机；
[0039]步骤S36.所述微型计算机比较所述标准图片三与所述测试图片三，检测所述触控屏的性能。
[0040]每次测试中，拍摄的测试图片与依据的标准图片尺寸保持一致。
[0041]所述微型计算机通过如下方式比较标准图片与测试图片：比对它们的像素信息。
[0042]所述检测方法包括上述3个测试项目，3个测试项目分步进行或3个测试项目依据同一张标准图片在同一个测试区域上同时进行。
[0043]本专利技术设备方案为：一种用于实施上述检测方法的设备，包括试验台架、摄像头、微型计算机和试验指组，所述摄像头、微型计算机、试验指组均安装在所述试验台架上，检测时，所述试验台架放置于待测触控屏上，由其边缘框定的区域即为测试区域，所述摄像头
与所述测试区域的中部相对，并与所述微型计算机相连，所述试验指组分布在所述摄像头外围，同样位于所述测试区域的正上方，所述微型计算机可控制所述试验台架驱动所述试验指组移动；
[0044]所述试验指组包括试验指组一，试验指组二和试验指组三；
[0045]其中，试验指组一由若干根指尖粗细不同，对屏幕施加的压力度相同的试验指构成；
[0046]试验指组二由若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度不同的试验指构成；
[0047]试验指组三由若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度也相同的试验指构成。
[0048]优选如下：试验指组一由5根指尖粗细不同的试验指组成，指尖直径分别为0.1mm、0.3mm、0.5mm、0.7mm、1.0mm，试验指对屏幕施加的压力度均为1N；
[0049]试验指组二由5根指尖粗细相同直径均为0.5mm的试验指组成，5根试验指对屏幕施加的压力度分别为0.5N、1N、3N、5N、7N；
[0050]试验指组三由2根指尖直径均为0.5mm，对屏幕施加的压力度均为3N的试验指组成。
[0051]相比于现有技术，本专利技术具有如下有益效果：
[0052]1)本专利技术触控屏性能检测方法可同时检测所述触控屏的定位和多点触控性能，不仅能快速有效完成多种性能测试，还能通过比对不同本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控屏性能检测方法，其特征在于，控制若干根具有对比性的试验指同时在待测触控屏上根据设定标准画线，得到测试图，然后通过分析所述测试图评价所述触控屏的性能。2.根据权利要求1所述的触控屏性能检测方法，其特征在于，其包括如下检测项目中的一种或两种以上：项目一：A1.采用若干根指尖粗细不同，对屏幕施加的压力度相同的试验指，根据标准一在所述触控屏的测试区域上同时画直线，得到测试图片一；A2.比对所述标准一与所述测试图片一，分析所述触控屏的性能；项目二：B1.采用若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度不同的试验指，根据标准二在所述触控屏的测试区域上同时画直线，得到测试图片二；B2.比对所述标准二与所述测试图片二，分析所述触控屏的性能；项目三：C1.采用若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度也相同的试验指，根据标准三在所述触控屏的测试区域上同时但画出不同形状的线条，得到测试图片三：C2.比对所述标准三与所述测试图片三，分析所述触控屏的性能。3.根据权利要求2所述的触控屏性能检测方法，其特征在于，同时包括上述3个测试项目时，利用项目一的比对结果分析所述触控屏的定位和多点触控性能，利用项目二的比对结果分析所述触控屏的压力反馈性能，利用项目三的比对结果分析所述触控屏的图形响应性能。4.根据权利要求2所述的触控屏性能检测方法，其特征在于，项目一具体步骤如下：步骤S11.打开待测触控屏并打开画图软件；步骤S12.随机选取触控屏的测试区域一，并将其移动到检测设备的试验指组一的正下方，试验指组一由若干根指尖粗细不同，对屏幕施加的压力度相同的试验指构成；步骤S13.由所述检测设备的微型计算机从其存储中随机选择一张标准图片一；步骤S14.所述微型计算机根据所述标准图片一控制所述试验指组一的各试验指同时在所述测试区域一上画直线；步骤S15.所述检测设备通过其摄像机对测试区域一进行拍照，得到测试图片一，并上传到所述微型计算机；步骤S16.所述微型计算机比较所述标准图片一与所述测试图片一，检测所述触控屏的性能。5.根据权利要求2所述的触控屏性能检测方法，其特征在于，项目二具体步骤如下：步骤S21.打开待测触控屏并打开画图软件；步骤S22.随机选取触控屏的测试区域二，并将其移动到检测设备的试验指组二的正下方，试验指组二由若干根指尖粗细相同，对屏幕施加的压力度不同的试验指构成；步骤S23.由所述检测设备的微型计算机从其存储中随机选择一张标准图片二；步骤S24.所述微型计算机根据所述标准图片二控制所述试验指组二的各试验指同时在所述测试区域二上画直线；
步骤S25.所述检...

【专利技术属性】
技术研发人员：符永高，杨熙冲，邓梅玲，胡嘉琦，陈华文，郭琮，谢漫茜，
申请(专利权)人：威凯检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：