下压锁紧测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了下压锁紧测试座。有益效果在于：本实用新型专利技术通过在下压锁紧座上盖上开设有滑槽，并在滑槽内安装下压锁紧座弹簧压块，同时配合复位弹簧以及锁紧片的设计，使得该测试座在使用时可以通过先将下压锁紧座上盖下压来实现下压锁紧座弹簧压块向滑槽上侧移动，从而实现锁紧片处的松开，确保测试器件引脚在插入到锁紧片之间时不会发生磨损，同时在测试器件安装后只需松开下压锁紧座上盖，便可在复位弹簧作用下实现上盖的上移以及下压锁紧座弹簧压块的复位压紧，从而使测试器件引脚在锁紧片作用下有效夹固，方便测试过程的高效进行，提高了测试座的使用寿命。提高了测试座的使用寿命。提高了测试座的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
下压锁紧测试座


[0001]本技术涉及电器部元件测试座
，具体涉及下压锁紧测试座。

技术介绍

[0002]目前在电器元件生产过程中，为了对电器元件的生产质量进行把控，常需要采用测试座来对生产后的电器元件进行通电测量，而在测量时常会用到测试座。
[0003]然而目前市面上的长引脚器件配套测试座在使用时器件引脚和测试座弹簧片是过盈配合，器件往测试座里插的时候存在摩擦阻力，容易引起器件引脚表面磨损，同时器件的有效接触完全依赖弹簧片自身的弹性，随着使用时间和次数的增多测试座弹簧片的弹性逐渐退化，大大降低了测试座的使用寿命，因此急需一种下压锁紧测试座来解决现有问题。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]为了克服现有技术不足，现提出下压锁紧测试座，解决了目前市面上的长引脚器件配套测试座在使用时器件引脚和测试座弹簧片是过盈配合，器件往测试座里插的时候存在摩擦阻力，容易引起器件引脚表面磨损，同时器件的有效接触完全依赖弹簧片自身的弹性，随着使用时间和次数的增多测试座弹簧片的弹性逐渐退化，大大降低了测试座的使用寿命的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了下压锁紧测试座，包括下压锁紧座底座、下压锁紧座弹簧压块、下压锁紧座上盖和复位弹簧，所述下压锁紧座底座上端四角处安装有所述复位弹簧，所述复位弹簧顶端连接有所述下压锁紧座上盖，所述下压锁紧座上盖上端中部开设有滑槽，所述滑槽内两侧对称安装有所述下压锁紧座弹簧压块，所述下压锁紧座弹簧压块的伸缩部连接有锁紧片，所述锁紧片底端连接有测试座插针，所述锁紧片之间安装有测试器件。
[0008]进一步的，所述滑槽采用上宽下窄的结构，所述下压锁紧座弹簧压块与所述滑槽内壁接触。
[0009]通过采用上述技术方案，能够确保所述下压锁紧座上盖在下压时，所述下压锁紧座弹簧压块会沿所述滑槽内壁向上滑动，从而带动所述锁紧片撑开，此时将所述测试器件的引脚插入到所述锁紧片之间没有任何阻力，从而避免了所述测试器件在插入到所述下压锁紧座上盖中时引脚处的磨损。
[0010]进一步的，所述复位弹簧与所述下压锁紧座底座以及所述下压锁紧座上盖均通过卡压的方式相连，所述复位弹簧有四个。
[0011]通过采用上述技术方案，所述复位弹簧能够实现所述下压锁紧测试座在下压后外力撤去时的自动复位。
[0012]进一步的，所述锁紧片成型于所述测试座插针上，所述锁紧片上位于所述滑槽处
采用内凹结构。
[0013]通过采用上述技术方案，所述锁紧片为实现所述测试器件引脚夹固测量的主要部件。
[0014]进一步的，所述下压锁紧座弹簧压块由一个滑块和一个弹簧组成，所述测试器件上的引脚与所述下压锁紧座上盖上的所述滑槽一一对应。
[0015]通过采用上述技术方案，方便所述测试器件的便可安装。
[0016]进一步的，所述下压锁紧座上盖以及所述下压锁紧座底座均采用绝缘塑料制成，所述锁紧片以及所述测试座插针均采用铍铜制成。
[0017]通过采用上述技术方案，能够有效确保该测试座的使用性能。
[0018](三)有益效果
[0019]本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：
[0020]为解决目前市面上的长引脚器件配套测试座在使用时器件引脚和测试座弹簧片是过盈配合，器件往测试座里插的时候存在摩擦阻力，容易引起器件引脚表面磨损，同时器件的有效接触完全依赖弹簧片自身的弹性，随着使用时间和次数的增多测试座弹簧片的弹性逐渐退化，大大降低了测试座的使用寿命的问题，本技术通过在下压锁紧座上盖上开设上宽下窄结构的滑槽，并在滑槽内安装下压锁紧座弹簧压块，同时配合复位弹簧以及锁紧片的设计，使得该测试座在使用时可以通过先将下压锁紧座上盖下压来实现下压锁紧座弹簧压块向滑槽上侧移动，从而实现锁紧片处的松开，确保测试器件引脚在插入到锁紧片之间时不会发生磨损，同时在测试器件安装后只需松开下压锁紧座上盖，便可在复位弹簧作用下实现上盖的上移以及下压锁紧座弹簧压块的复位压紧，从而使测试器件引脚在锁紧片作用下有效夹固，方便测试过程的高效进行，提高了测试座的使用寿命。
附图说明
[0021]图1是本技术所述下压锁紧测试座的结构示意图；
[0022]图2是本技术所述下压锁紧测试座的左剖视图；
[0023]图3是本技术所述下压锁紧测试座的仰视图。
[0024]附图标记说明如下：
[0025]1、下压锁紧座上盖；2、下压锁紧座底座；3、下压锁紧座弹簧压块；4、测试器件；5、复位弹簧；6、测试座插针；7、锁紧片；8、滑槽。
具体实施方式
[0026]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0027]如图1
‑
图3所示，本实施例中的下压锁紧测试座，包括下压锁紧座底座2、下压锁紧座弹簧压块3、下压锁紧座上盖1和复位弹簧5，下压锁紧座底座2上端四角处安装有复位弹簧5，复位弹簧5顶端连接有下压锁紧座上盖1，下压锁紧座上盖1上端中部开设有滑槽8，滑槽8采用上宽下窄的结构，下压锁紧座弹簧压块3与滑槽8内壁接触，能够确保下压锁紧座上盖1在下压时，下压锁紧座弹簧压块3会沿滑槽8内壁向上滑动，从而带动锁紧片7撑开，此时
将测试器件4的引脚插入到锁紧片7之间没有任何阻力，从而避免了测试器件4在插入到下压锁紧座上盖1中时引脚处的磨损，滑槽8内两侧对称安装有下压锁紧座弹簧压块3，下压锁紧座弹簧压块3的伸缩部连接有锁紧片7，锁紧片7底端连接有测试座插针6，锁紧片7之间安装有测试器件4。
[0028]如图1
‑
图3所示，本实施例中，复位弹簧5与下压锁紧座底座2以及下压锁紧座上盖1均通过卡压的方式相连，复位弹簧5有四个，复位弹簧5能够实现下压锁紧测试座在下压后外力撤去时的自动复位，锁紧片7成型于测试座插针6上，锁紧片7上位于滑槽8处采用内凹结构，锁紧片7为实现测试器件4引脚夹固测量的主要部件，下压锁紧座弹簧压块3由一个滑块和一个弹簧组成，测试器件4上的引脚与下压锁紧座上盖1上的滑槽8一一对应，方便测试器件4的便可安装。
[0029]如图1
‑
图3所示，本实施例中，下压锁紧座上盖1以及下压锁紧座底座2均采用绝缘塑料制成，锁紧片7以及测试座插针6均采用铍铜制成，能够有效确保该测试座的使用性能。
[0030]本实施例的具体实施过程如下：当需要对测试器件4进行通电测量时，首先将下压锁紧座上盖1下压，以使下压锁紧座弹簧压块3沿着滑槽8内壁向上滑动，从而实现锁紧片7处的撑开，然后便可将测试器件4无阻力插入到锁紧片7之间，接着只需松开下压锁紧座上盖1，以使下压锁紧座上盖1在复位弹簧5下复位，使下压锁紧座弹簧压块3恢复到本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.下压锁紧测试座，其特征在于：包括下压锁紧座底座(2)、下压锁紧座弹簧压块(3)、下压锁紧座上盖(1)和复位弹簧(5)，所述下压锁紧座底座(2)上端四角处安装有所述复位弹簧(5)，所述复位弹簧(5)顶端连接有所述下压锁紧座上盖(1)，所述下压锁紧座上盖(1)上端中部开设有滑槽(8)，所述滑槽(8)内两侧对称安装有所述下压锁紧座弹簧压块(3)，所述下压锁紧座弹簧压块(3)的伸缩部连接有锁紧片(7)，所述锁紧片(7)底端连接有测试座插针(6)，所述锁紧片(7)之间安装有测试器件(4)。2.根据权利要求1所述的下压锁紧测试座，其特征在于：所述滑槽(8)采用上宽下窄的结构，所述下压锁紧座弹簧压块(3)与所述滑槽(8)内壁接触。3.根据权利要求1所述的下压锁紧测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱雨帆，
申请(专利权)人：杭州瑞来电子有限公司，
类型：新型
国别省市：