测试工装制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试工装，该测试工装包括第一插槽排、第二插槽排、用于将第二插槽排支撑于第一插槽排上方的升降机构以及用于将第二插槽排锁定在预设高度处的锁紧机构；升降机构为交叉臂式结构且自身沿升降方向的两端均包括转动部和滑动部，转动部位于测试工装的第一侧并与对应的插槽排铰接，滑动部位于测试工装的第二侧并可沿远离或靠近对应的转动部的方向滑动地设置在对应的插槽排上，测试工装的第一侧、第二侧沿滑动部的滑动方向依次分布。该测试工装，可以将任一高度的资源板卡牢固插入，可以避免现有的备用插槽排在测试工装使用过程中可能会出现随意丢放造成丢失以及损坏情况的发生。损坏情况的发生。损坏情况的发生。

【技术实现步骤摘要】
测试工装


[0001]本技术涉及机械
，特别是涉及一种测试工装。

技术介绍

[0002]半导体测试机的资源板卡在出场前需要装入至测试工装内，进行功能性测试。由于半导体测试机的种类较多，同时资源板卡的尺寸及形式也较多，这就造成了每一种尺寸类型的资源板卡都需要设计一种测试工装，这种问题不但造成了成本上的浪费，同时测试工装也会占用很大的一部分空间进而造成空间的浪费。
[0003]为了解决上述问题，通常在测试工装内增设一个可拆卸的备用插槽排，利用该备用插槽排可满足高度较小的资源板卡的安装。但在使用过程中，备用插槽排可能会出现随意丢放造成丢失以及损坏的情况。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对备用插槽排可能会出现随意丢放造成丢失以及损坏的情况的问题，提供一种测试工装。
[0005]一种测试工装，包括：第一插槽排、第二插槽排、用于将所述第二插槽排支撑于所述第一插槽排上方的升降机构以及用于将所述第二插槽排锁定在预设高度处的锁紧机构；
[0006]所述升降机构为交叉臂式结构且自身沿升降方向的两端均包括转动部和滑动部，所述转动部位于所述测试工装的第一侧并与对应的插槽排铰接，所述滑动部位于所述测试工装的第二侧并可沿远离或靠近对应的所述转动部的方向滑动地设置在对应的插槽排上，所述测试工装的第一侧、第二侧沿所述滑动部的滑动方向依次分布。
[0007]在其中一个实施例中，所述升降机构包括：相交叉的第一交叉臂、第二交叉臂，所述第一交叉臂与所述第二交叉臂在交叉处铰接；
[0008]所述第一交叉臂、所述第二交叉臂的一端部均构成所述转动部，所述第一交叉臂、所述第二交叉臂的另一端部均构成所述滑动部。
[0009]在其中一个实施例中，所述第一插槽排和/或所述第二插槽排的侧壁上设置有安装凸台，所述转动部与对应的所述安装凸台铰接。
[0010]在其中一个实施例中，所述第一插槽排和/或所述第二插槽排上设置有两个沿所述升降机构的升降方向间隔分布的限位条，所述限位条的长度方向与所述滑动部的滑动方向相同；
[0011]所述滑动部的靠近所述第一插槽排和/或所述第二插槽排的壁上设置有可转动的滑动轮，所述滑动轮可滑动地设置在两个所述限位条之间的空隙中。
[0012]在其中一个实施例中，所述限位条的靠近所述滑动轮的壁上设置有限位槽，所述滑动轮的曲面限位于所述限位槽中。
[0013]在其中一个实施例中，所述升降机构的数目为2个，2个所述升降机构分布在所述测试工装沿宽度方向的两侧。
[0014]在其中一个实施例中，所述锁紧机构包括：锁紧件以及可伸缩的支撑管，所述支撑管用于将所述第二插槽排支撑于所述第一插槽排的上方，所述锁紧件用于锁定所述支撑管的伸缩长度。
[0015]在其中一个实施例中，所述支撑管包括：内管及套设于所述内管外部的外管，所述内管沿所述升降机构的伸缩方向间隔设置多个第一安装孔，所述外管沿所述升降机构的伸缩方向间隔设置多个第二安装孔；
[0016]所述锁紧件并能够穿设于对应的所述第一安装孔及对应的所述第二安装孔中。
[0017]在其中一个实施例中，所述支撑管、所述锁紧件的数目均为4个，所述支撑管与所述锁紧件一一对应，且每个所述支撑管分布在所述测试工装对应的角部处。
[0018]在其中一个实施例中，所述测试工装还包括底托及换热扇，所述第一插槽排设置于所述底托上，所述换热扇设置在所述底托的靠近所述第一插槽排的壁上。
[0019]上述测试工装，可根据半导体测试机的种类、资源板卡的尺寸及形式，利用升降机构对第二插槽排进行升降，对第二插槽排的高度进行调节，从而实现任一高度的资源板卡的插入；另外，由于升降机构为交叉臂式结构且自身转动部与对应的插槽排铰接且两个转动部位于测试工装的同一侧(即第一侧)，滑动部可沿远离或靠近对应的转动部的方向滑动地设置在对应的插槽排上且两个滑动部也位于测试工装的同一侧(即第二侧)，使得升降机构在升降过程中其轮廓始终保持为平行四边形结构，如此可以保证第二插槽排与第一插槽排相平行，从而可以将资源板卡牢固插入。
[0020]综上所述，上述测试工装，可以将任一高度的资源板卡牢固插入，可以避免现有的备用插槽排在测试工装使用过程中可能会出现随意丢放造成丢失以及损坏情况的发生。
附图说明
[0021]图1为本技术一实施例提供的测试工装的结构示意图；
[0022]图2为本技术一实施例提供的测试工装的侧视图；
[0023]图3为本技术一实施例提供的资源板卡从测试工装上拆除的示意图；
[0024]图4为图1在A处的局部放大示意图。
[0025]其中，附图中的标号说明如下：
[0026]10、测试工装；100、第一插槽排；100a、第一插槽；200、第二插槽排；200a、第二插槽；300、升降机构；310、转动部；320、滑动部；330、第一交叉臂；340、第二交叉臂；400、锁紧机构；410、支撑管；411、内管；412、外管；412a、第二安装孔；420、锁紧件；500、安装凸台；600、限位条；600a、限位槽；700、滑动轮；800、底托；900、换热扇；1000、安装板；1100、加强筋；20、资源板卡。
具体实施方式
[0027]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0028]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0029]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0030]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试工装，其特征在于，包括：第一插槽排(100)、第二插槽排(200)、用于将所述第二插槽排(200)支撑于所述第一插槽排(100)上方的升降机构(300)以及用于将所述第二插槽排(200)锁定在预设高度处的锁紧机构(400)；所述升降机构(300)为交叉臂式结构且自身沿升降方向的两端均包括转动部(310)和滑动部(320)，所述转动部(310)位于所述测试工装(10)的第一侧并与对应的插槽排铰接，所述滑动部(320)位于所述测试工装(10)的第二侧并可沿远离或靠近对应的所述转动部(310)的方向滑动地设置在对应的插槽排上，所述测试工装(10)的第一侧、第二侧沿所述滑动部(320)的滑动方向依次分布。2.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述升降机构(300)包括：相交叉的第一交叉臂(330)、第二交叉臂(340)，所述第一交叉臂(330)与所述第二交叉臂(340)在交叉处铰接；所述第一交叉臂(330)、所述第二交叉臂(340)的一端部均构成所述转动部(310)，所述第一交叉臂(330)、所述第二交叉臂(340)的另一端部均构成所述滑动部(320)。3.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述第一插槽排(100)和/或所述第二插槽排(200)的侧壁上设置有安装凸台(500)，所述转动部(310)与对应的所述安装凸台(500)铰接。4.根据权利要求1所述的测试工装，其特征在于，所述第一插槽排(100)和/或所述第二插槽排(200)上设置有两个沿所述升降机构(300)的升降方向间隔分布的限位条(600)，所述限位条(600)的长度方向与所述滑动部(320)的滑动方向相同；所述滑动部(320)的靠近所述第一插槽排(100)和/或所述第二插槽排(200)的壁上设置有可转动的滑动轮(700)，所述滑动轮(700...

【专利技术属性】
技术研发人员：张强，王晶，贾超峰，徐流鑫，彭涛然，
申请(专利权)人：北京华峰测控技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：