天线测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种天线测试治具，包括固定支架、测试平台、复位弹簧组件、驱动机构、浮动机构、以及测试机构，其中固定支架的侧板上设有第一通孔结构，浮动机构上设有与第一通孔结构相对设置的凹槽结构，凹槽结构沿着斜向上的方向延伸；驱动机构包括相互连接的驱动件和贯穿第一通孔结构的推杆，推杆远离驱动件的一端与凹槽结构匹配连接；测试平台上设有限位槽与线夹通孔结构，限位槽用于固定待测天线，测试机构包括依次电性连接的测试夹、测试馈线和测试电路板，测试夹贯穿线夹通孔结构。与现有技术相比，本申请便于观察测试状态且测试过程中接触稳定性高，具有复位功能，有利于进行自动化测试。自动化测试。自动化测试。

【技术实现步骤摘要】
天线测试治具


[0001]本技术涉及天线测试
，特别是涉及一种天线测试治具。

技术介绍

[0002]现有的天线测试治具，一般将待测天线置于测试位置后，通过气缸或电机将测试板覆盖在待测天线上方进行测试。这种测试方法，挡住了操作人员的实现，容易造成待测天线摆放位置不准确，且测试时测试板下压与馈点接触存在接触不良的现象。
[0003]因此，亟需一种便于观察测试状态且测试过程中接触稳定性高的天线测试治具。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种天线测试治具，便于观察测试状态且测试过程中接触稳定性高，具有复位功能，有利于进行自动化测试，提高测试效率，解放劳动力。
[0005]为了实现上述目的，本技术采取的技术方案是：
[0006]一种天线测试治具，包括固定支架和位于所述固定支架上方的测试平台，所述固定支架与所述测试平台通过复位弹簧组件连接，还包括驱动机构、与所述测试平台固定连接的浮动机构、以及与所述固定支架固定连接的测试机构，其中：
[0007]所述固定支架的侧板上设有第一通孔结构，所述浮动机构上设有与所述第一通孔结构相对设置的凹槽结构，所述凹槽结构沿着斜向上的方向延伸；
[0008]所述驱动机构包括相互连接的驱动件和贯穿所述第一通孔结构的推杆，所述推杆远离所述驱动件的一端与所述凹槽结构匹配连接；
[0009]所述测试平台上设有限位槽与线夹通孔结构，所述限位槽用于固定待测天线，所述测试机构包括依次电性连接的测试夹、测试馈线和测试电路板，所述测试夹贯穿所述线夹通孔结构；
[0010]当向靠近所述驱动件一端拉动所述推杆，所述复位弹簧组件解压，所述测试平台上移，所述测试夹紧夹所述待测天线；
[0011]当向远离所述驱动件一端推动所述推杆，所述复位弹簧组件压缩，所述测试平台下移，所述测试夹松夹所述待测天线。
[0012]优选地，所述推杆上设有第一限位环，所述第一限位环的内径不小于所述第一通孔结构的直径，所述第一限位环位于所述推杆远离所述浮动机构的一侧。
[0013]优选地，所述推杆上设有第二限位环，所述第二限位环的内径不小于所述第一通孔结构的直径，所述第二限位环位于所述固定支架与所述浮动机构之间。
[0014]优选地，所述推杆与所述第一通孔结构通过螺纹结构连接。
[0015]优选地，还包括设置在所述浮动机构内且与所述固定支架固定连接的固定机构，所述固定机构包括固定筒和固定闩，所述固定闩穿过所述测试夹将所述测试夹固定在所述固定筒上，所述测试机构贯穿所述固定筒。
[0016]优选地，还包括限位片，所述测试平台上设有安装所述限位片的限位卡槽，所述限
位片用于精准定位所述待测天线。
[0017]优选地，所述测试夹包括线夹本体和收紧部，所述线夹本体与测试馈线电性连接，所述收紧部用于根据所述推杆的位置夹紧或夹松所述待测天线。
[0018]优选地，所述收紧部靠近所述待测天线的侧壁上设有凸起结构，当所述收紧部夹紧所述待测天线时，所述凸起结构与所述待测天线抵接。
[0019]优选地，还包括固定在所述固定支架上的防护罩，所述防护罩用于防护所述天线测试治具。
[0020]本技术的有益效果在于：不管出于测试状态还是未测试状态，待测天线均位于测试平台顶部，便于操作人员观察；测试机构为提前电性连接好的测试夹、测试馈线和测试电路板，待测天线通过浮动机构能够在测试状态下与测试夹形成良好的电性接触，在完成测试后又可以通过复位弹簧组件恢复至未测试状态，保障测试过程接触稳定性的同时，还有利于促进测试过程的自动化发展，提高测试效率。
附图说明
[0021]图1为本技术实施例中天线测试治具的结构示意图；
[0022]图2为图1所示的天线测试治具的结构爆炸示意图；
[0023]图3为本技术实施例中天线测试治具(含防护罩)的结构示意图；
[0024]图4为图3所示的天线测试治具未测试状态下的结构示意图；
[0025]图5为图4所示的天线测试治具的正视图；
[0026]图6为图4所示的天线测试治具的第一剖面示意图；
[0027]图7为图4所示的天线测试治具的第二剖面示意图；
[0028]图8为图3所示的天线测试治具测试状态下的结构示意图；
[0029]图9为图8所示的天线测试治具的正视图；
[0030]图10为图8所示的天线测试治具的第一剖面示意图；
[0031]图11为图8所示的天线测试治具的第二剖面示意图；
[0032]图12为本技术实施例中测试平台的结构示意图；
[0033]图13为本技术实施例中固定筒的结构示意图；
[0034]图14为本技术实施例中测试夹与测试馈线的结构示意图；
[0035]图15为本技术实施例中限位片的结构示意图。
[0036]附图标记：100、固定支架；110、侧板；111、第一通孔结构；200、测试平台；210、限位槽；220、限位卡槽；230、线夹通孔结构；300、复位弹簧组件；310、固定柱；320、复位弹簧；330、固定螺栓；400、驱动机构；410、驱动件；420、推杆；421、端部；430、第一限位环；500、浮动机构；511、凹槽结构；512、第二通孔结构；600、测试机构；610、测试夹；611、线夹本体；611A、第三通孔结构；612、收紧部；612A、凸起结构；620、测试馈线；630、测试电路板；700、固定机构；710、固定筒；711、第四通孔结构；712、馈线出口；720、固定闩；810、限位片；811、固定部；812、限位部；812A、限位凹槽；820、防护罩；900、被测天线；910、导电层；920、屏蔽层。
具体实施方式
[0037]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本
技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施的限制。
[0038]本申请实施例通过提供一种天线测试治具，解决现有技术中天线测试过程观察不便且测试时测试板下压与馈点存在接触不良的技术问题。需要说明的是，本申请中，上、上侧、或顶、顶部指的是测试平台相对于固定支架所在的方向，与之相反的方向为下、下侧、或底、底部。
[0039]如图1至图15所示，为本申请实施例：
[0040]一种天线测试治具包括固定支架100、测试平台200、复位弹簧组件300以及驱动机构400、浮动机构500和测试机构600，用于测试被测天线900的驻波比。其中，复位弹簧组件300包括固定柱310、复位弹簧320和固定螺栓330，固定柱310固定安装在固定支架100的顶部并贯穿测试平台200，复位弹簧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线测试治具，其特征在于，包括固定支架和位于所述固定支架上方的测试平台，所述固定支架与所述测试平台通过复位弹簧组件连接，还包括驱动机构、与所述测试平台固定连接的浮动机构、以及与所述固定支架固定连接的测试机构，其中：所述固定支架的侧板上设有第一通孔结构，所述浮动机构上设有与所述第一通孔结构相对设置的凹槽结构，所述凹槽结构沿着斜向上的方向延伸；所述驱动机构包括相互连接的驱动件和贯穿所述第一通孔结构的推杆，所述推杆远离所述驱动件的一端与所述凹槽结构匹配连接；所述测试平台上设有限位槽与线夹通孔结构，所述限位槽用于固定待测天线，所述测试机构包括依次电性连接的测试夹、测试馈线和测试电路板，所述测试夹贯穿所述线夹通孔结构；当向靠近所述驱动件一端拉动所述推杆，所述复位弹簧组件解压，所述测试平台上移，所述测试夹紧夹所述待测天线；当向远离所述驱动件一端推动所述推杆，所述复位弹簧组件压缩，所述测试平台下移，所述测试夹松夹所述待测天线。2.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：所述推杆上设有第一限位环，所述第一限位环的内径不小于所述第一通孔结构的直径，所述第一限位环位于所述推杆远离所述浮动机构的一侧。3.根据权利要求1所述的天线测试治具，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁第斌，牛宝星，
申请(专利权)人：电连技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：