一种材料类型确定方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及材料检测技术领域，具体而言，涉及一种材料类型确定方法、装置、设备及可读存储介质，所述方法包括红外探测器采集到的材料图像信息，发送至图像预处理模块进行图像重建，并基于重建后的材料图像进行非均匀性校正和图像增强，得到预处理后的材料图像；然后进行温度值计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值；并计算每个像素点的温度变化率；将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值和所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率进行分析识别，得到所述第一信息内的材料类型信息，本发明专利技术通过设计一种材料类型的确定设备，结构简单，成本低廉，并且通过对图像进行校正和增强处理，减少设备产生的误差。生的误差。生的误差。

【技术实现步骤摘要】
一种材料类型确定方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及材料检测
，具体而言，涉及一种材料类型确定方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前一般的材料识别方法有很多，其中红外设备观测条件下目标固有特性，根据目标固有特性对材料进行识别是非常有用的一种方法，但是一般的红外辐射特性测量设备，体积庞大，精密度高，价格昂贵，均在千万元以上，不便于教学和培养相应人才，因此需要一种价格实惠，并且具备材料识别功能的识别方法和装置进行教学。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种材料类型确定方法、装置、设备及可读存储介质，以改善上述问题。为了实现上述目的，本专利技术采取的技术方案如下：
[0004]一方面，本申请提供了一种材料类型确定方法，所述方法包括：
[0005]获取第一信息和第二信息，所述第一信息为红外探测器采集到的材料图像信息，所述第二信息包括历史材料温度值和历史预处理后的材料图像的灰度值；
[0006]将所述第一信息发送至图像预处理模块进行图像重建，并基于重建后的材料图像进行图像增强，得到预处理后的材料图像；
[0007]基于所述预处理后的材料图像和第二信息进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值；
[0008]将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值输入温度变化率计算模块进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率；
[0009]将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值和所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率进行分析识别，得到所述第一信息内的材料类型信息。
[0010]第二方面，本申请实施例提供了一种材料类型确定装置，所述装置包括：
[0011]第一获取单元，用于获取第一信息和第二信息，所述第一信息为红外探测器采集到的材料图像信息，所述第二信息包括历史材料温度值和历史预处理后的材料图像的灰度值；
[0012]第一发送单元，用于将所述第一信息发送至图像预处理模块进行图像重建，并基于重建后的材料图像进行图像增强，得到预处理后的材料图像；
[0013]第一计算单元，用于基于所述预处理后的材料图像和第二信息进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值；
[0014]第二计算单元，用于将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值输入温度变化率计算模块进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率；
[0015]第一分析单元，用于将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值和所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率进行分析识别，得到所述第一信息内的
材料类型信息。
[0016]第三方面，本申请实施例提供了一种材料类型确定设备，所述设备包括存储器和处理器。存储器用于存储计算机程序；处理器用于执行所述计算机程序时实现上述材料类型确定方法的步骤。
[0017]第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述材料类型确定方法的步骤。
[0018]本专利技术的有益效果为：
[0019]本专利技术通过设计一种材料类型的确定设备，结构简单，成本低廉，可用于学校教学，便于学生增强理解，并且本专利技术通过对图像进行增强处理，减少设备产生的误差，而且本专利技术通过温度变化率计算模块计算材料在不同时间的温度变化特性，进而确定材料类型，方便快捷。
[0020]本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术实施例了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0022]图1为本专利技术实施例中所述的一种材料类型确定方法流程示意图；
[0023]图2为本专利技术实施例中所述的一种材料类型确定装置结构示意图；
[0024]图3是本专利技术实施例中所述的一种材料类型确定设备结构示意图。
具体实施方式
[0025]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本专利技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0027]实施例1
[0028]如图1所示，本实施例提供了一种材料类型确定方法，其所述方法包括步骤S1、步骤S2、步骤S3、步骤S4和步骤S5。
[0029]步骤S1、获取第一信息和第二信息，所述第一信息为红外探测器采集到的材料图
像信息，所述第二信息包括历史材料温度值和历史预处理后的材料图像的灰度值；
[0030]步骤S2、将所述第一信息发送至图像预处理模块进行图像重建，并基于重建后的材料图像进行图像增强，得到预处理后的材料图像；
[0031]步骤S3、基于所述预处理后的材料图像和第二信息进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值；
[0032]步骤S4、将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值输入温度变化率计算模块进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率；
[0033]步骤S5、将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值和所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率进行分析识别，得到所述第一信息内的材料类型信息。
[0034]可以理解的是本专利技术通过设计一种材料类型的确定设备，结构简单，成本低廉，可用于学校教学，便于学生增强理解，并且本专利技术通过对图像进行增强处理，减少设备产生的误差，而且本专利技术通过温度变化率计算模块计算材料在不同时间的温度变化特性，进而确定材料类型，方便快捷。
[0035]可以理解的是本专利技术将图像进行预处理，并计算材料图像的温度值和温度变化率，进而反向推算出该图像中的材料是哪一种材料，而且本专利技术的结构简单，其中设备成本低廉，不需要大型设备进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种材料类型确定方法，其特征在于，包括：获取第一信息和第二信息，所述第一信息为红外探测器采集到的材料图像信息，所述第二信息包括历史材料温度值和历史预处理后的材料图像的灰度值；将所述第一信息发送至图像预处理模块进行图像重建，并基于重建后的材料图像进行图像增强，得到预处理后的材料图像；基于所述预处理后的材料图像和第二信息进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值；将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值输入温度变化率计算模块进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率；将所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值和所述预处理后的材料图像内的每个像素点的温度变化率进行分析识别，得到所述第一信息内的材料类型信息。2.根据权利要求1所述的材料类型确定方法，其特征在于，将所述第一信息发送至图像预处理模块进行图像重建，包括：将所述第一信息内的材料图像信息进行傅里叶变换处理，将所述第一信息内的材料图像信息的空间阈信息转化为频率域信息；按照预设的阈值对所述频率域信息进行分解，其中将大于所述预设的阈值的频率域信息记为高频图像信息，且将小于所述预设的阈值的频率域信息分记低频图像信息；分别将所述高频图像信息进行锐化处理和将所述低频图像信息进行平滑处理，并基于傅里叶变换及逆变换的线性特性对所述处理后的高频图像信息和所述处理后的低频图像信息进行图像重建，得到重建后的材料图像。3.根据权利要求1所述的材料类型确定方法，其特征在于，所述并基于重建后的材料图像进行图像增强，包括将所述重建后的材料图像信息进行灰度变换，得到所述重建后的材料图像信息的灰度直方图；基于所述材料图像信息的灰度直方图进行直方图均衡化处理，其中直方图均衡化处理是调用重建后的材料图像信息的灰度直方图，并对所述灰度直方图进行非线性拉伸来重新分配图像像素值，得到预处理后的材料图像。4.根据权利要求1所述的材料类型确定方法，其特征在于，基于所述预处理后的材料图像和第二信息进行计算，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值，包括：调用所述第二信息和红外探测器的辐射响应灵敏度；将第二信息和所述红外探测器的辐射响应灵敏度发送至神经网络模型计算出所述红外探测器灰度偏移量值；调用所述预处理后的材料图像的每个像素点灰度值；将所述预处理后的材料图像的每个像素点灰度值、所述红外探测器灰度偏移量值和所述红外探测器的辐射响应灵敏度发送至温度计算模块进行处理，得到预处理后的材料图像内的每个像素点的温度值。5.一种材料类型确定装置，其特征在于，包括：第一获取单元，用于获取第一信息和第二信息，所述第一信息为红外探测器采集到的材料图像信息，所述第二信息包括历史材料温度值和历史预处理后的材料图像的灰度值；
第一发送单元，用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡长德，王林旭，曹阳，朱荣臻，李子杨，海书亮，耿华芳，李春燕，
申请(专利权)人：中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校，
类型：发明
国别省市：