中频模块老化试验夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及中频模块老化试验夹具，包括腔体，一分八开关与压紧装置，腔体上端面分为第一型槽，第二型槽与测试区，第一型槽与第二型槽分列在所述测试区两侧，两套一分八开关分别镜像对称安装在第一型槽及第二型槽内，若干压紧装置并排安装在测试区上，压紧装置包括压紧件，测试型腔与PCB板，测试型腔安装在测试区上，测试型腔侧部设置有探针，所述PCB板设置在所述测试型腔边部，所述探针通过所述PCB板与所述一分八开关电连接，所述压紧件贯穿所述测试型腔与所述测试区可拆卸连接。本实用新型专利技术采用一分八开关来实现控制信号的通断，控制不同工位测试件的信号输入输出，通过切换一分八开关的通断达到控制不同工位测试件的目的，提高测试效率。高测试效率。高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
中频模块老化试验夹具


[0001]本技术涉及微波测试
，特别是涉及中频模块老化试验夹具。

技术介绍

[0002]数字中频模块为数字光纤直放站的核心，它实现了数字中频信号处理和光纤拉远等核心功能。由于光纤直放站分为近端机和远端机，因此中频板也分为近端数字中频模块和远端数字中频模块两部分。S参数，也就是散射参数，是中频模块微波传输中的一个重要参数。S12为反向传输系数，也就是隔离。S21为正向传输系数，也就是增益。S11为输入反射系数，也就是输入回波损耗，S22为输出反射系数，也就是输出回波损耗。现有的中频模块老化测试夹具均为单个测试，效率极低，并且测试时，直接将测试件的引脚压接在PCB板的微带线上，这种测试方法可能会出现部分引脚连接错位的情况，出现误差。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要针对现有的老化测试效率低，以及引脚电连接偏差的情况，提供中频模块老化试验夹具。
[0004]中频模块老化试验夹具，包括腔体，一分八开关与压紧装置，所述腔体上端面分为第一型槽，第二型槽与测试区，所述第一型槽与第二型槽分列在所述测试区两侧，两套所述一分八开关分别镜像对称安装在所述第一型槽及第二型槽内，若干所述压紧装置并排安装在所述测试区上，所述压紧装置包括压紧件，测试型腔与PCB板，所述测试型腔安装在所述测试区上，所述测试型腔侧部设置有探针，所述PCB板设置在所述测试型腔边部，所述探针通过所述PCB板与所述一分八开关电连接，所述压紧件贯穿所述测试型腔与所述测试区可拆卸连接。
[0005]优选的，所述压紧件包括压板，支撑架与压块，所述支撑架中部设置有镂空部，所述压板安装在所述支撑架上方，所述压块位于所述测试型腔内并正对所述镂空部，所述压板与所述压块之间设置有弹簧。
[0006]优选的，所述压板的两个对角通过螺栓贯穿支撑架后与所述测试区连接，所述测试区上对应所述压板另外两个对角设置有限位支座，所述支撑架边角部设置有通孔。
[0007]优选的，所述腔体背离所述压紧装置的一侧还设置有底板，所述第一型槽及第二型槽上设置有盖板。
[0008]优选的，所述压块是聚四氟乙烯制成的。
[0009]本技术的有益之处在于：1、采用一分八开关来实现控制信号的通断，控制不同工位测试件的信号输入输出，通过切换一分八开关的通断达到控制不同工位测试件的目的，提高测试效率；2、使用测试型腔配合PCB板与一分八开关电连接，无需直接将测试件直接与一分八开关电连接，测试更加精准，避免出现偏差错位。
附图说明
[0010]图1为其中一实施例中频模块老化试验夹具立体示意图；
[0011]图2为中频模块老化试验夹具爆炸示意图；
[0012]图3为图2中A部放大示意图。
具体实施方式
[0013]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0014]需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0015]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0016]如图1~2所示，中频模块老化试验夹具，包括腔体1，一分八开关2与压紧装置3，所述腔体1上端面分为第一型槽11，第二型槽12与测试区13，所述第一型槽11与第二型槽12分列在所述测试区13两侧，两套所述一分八开关2分别镜像对称安装在所述第一型槽11及第二型槽12内，若干所述压紧装置3并排安装在所述测试区13上，所述压紧装置3包括压紧件31，测试型腔32与PCB板33，所述测试型腔32安装在所述测试区13上，所述测试型腔32侧部设置有探针321，所述PCB板33设置在所述测试型腔32边部，所述探针321通过所述PCB板33与所述一分八开关2电连接，所述压紧件31贯穿所述测试型腔32与所述测试区13可拆卸连接。具体的，在本实施例中，腔体1上端面设置有第一型槽11与第二型槽12，呈片状的一分八开关2嵌合在第一型槽11及第二型槽12内，一分八开关2上表面设置有微带线，用于与PCB板33电连接。在第一型槽11及第二型槽12之间设置测试区13，用于安装压紧装置3。在本实施例中，设置有8个并排的压紧装置3，以对应一分八开关2。进一步的，测试时，操作员将测试件放入测试型腔32内，按压压紧件31，使得测试件与测试型腔32接触良好，并且测试型腔32受力后，同步下降，其边部的探针321与PCB板33电连接，而PCB板33与所述一分八开关2是电连接的，具体可以采用焊接金属丝的方式连接。后续操作人员可以按照测试要求将夹具与其他仪器仪表连接，通过J30J对测试件及一分八开关2进行加电及控制，按照J30J引脚定义连接外围加电电路、模块控制电路及开关控制电路，即可开始测试，控制电信号由J30J连接器经一分八开关2上的微带线及PCB板33后，引入以控制切换测试链路，达到测试不同测试型腔32上待测件的目的，极大的提高了测试效率，且便于分类测试。
[0017]如图2~3所示，所述压紧件31包括压板311，支撑架312与压块313，所述支撑架312中部设置有镂空部，所述压板311安装在所述支撑架312上方，所述压块313位于所述测试型
腔32内并正对所述镂空部，所述压板311与所述压块313之间设置有弹簧。具体的，在本实施例中，所述压块313是聚四氟乙烯制成的，为耐高温且低介电常数的材料。压板311通过螺栓贯穿支撑架312，与测试区13连接，在压板311与压块313之间设置有弹簧，测试时，将测试件放入测试型腔32内，测试时，操作人员按压压板311，通过弹簧将压力传递给压块313，最终作用在测试型腔32内的测试件上，使得测试件与测试型腔32内壁的探针321末端接触良好，并且，使用测试型腔32限制测试件，避免测试时出现错位现象，偏差，导致出现参数误差。
[0018]如图2~3所示，所述压板311的两个对角通过螺栓贯穿支撑架312后与所述测试区13连接，所述测试区13上对应所述压板311另外两个对角设置有限位支座131，所述支撑架312边角部设置有通孔。具体的，采用对角为固定压板311及支撑架312，防止松动，在另外另个对角位置设置限位支座131，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.中频模块老化试验夹具，其特征在于：包括腔体，一分八开关与压紧装置，所述腔体上端面分为第一型槽，第二型槽与测试区，所述第一型槽与第二型槽分列在所述测试区两侧，两套所述一分八开关分别镜像对称安装在所述第一型槽及第二型槽内，若干所述压紧装置并排安装在所述测试区上，所述压紧装置包括压紧件，测试型腔与PCB板，所述测试型腔安装在所述测试区上，所述测试型腔侧部设置有探针，所述PCB板设置在所述测试型腔边部，所述探针通过所述PCB板与所述一分八开关电连接，所述压紧件贯穿所述测试型腔与所述测试区可拆卸连接。2.如权利要求1所述的中频模块老化试验夹具，其特征在于：所述压紧件包括压板，支...

【专利技术属性】
技术研发人员：何川，董良，张强，
申请(专利权)人：成都国强裕兴电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：