本实用新型专利技术的实施例提供了一种IC去除装置及TOC分析系统，涉及TOC检测技术领域。IC去除装置包括壳体以及选择透过膜，选择透过膜为薄片状结构，其设置于壳体，且选择透过膜用于供碳氧化物选择性通过，即一氧化碳和二氧化碳之类的碳氧化物能够从选择透过膜的一侧运动至另一侧，而其他物质则不可以。同时壳体在选择透过膜的上下两侧分别形成第一空间和第二空间，第二空间用于容纳样品流体，样品流体中的碳氧化物即可穿过选择透过膜从而进入第一空间中。试验证明，由于选择透过膜呈薄片状结构，碳氧化物的透过率大大提高，故IC去除率也进一步大大提高。进一步大大提高。进一步大大提高。
【技术实现步骤摘要】
一种IC去除装置及TOC分析系统
[0001]本技术涉及TOC检测
，具体而言，涉及一种IC去除装置及TOC分析系统。
技术介绍
[0002]总有机碳(Total Organic Carbon,TOC)分析仪在市政供水、制药、食品饮料和微电子等行业中被大量用于水中有机污染物的定量检测。TOC分析仪原理是同时将样品中的总碳(Total Organic Carbon，TC)和无机碳(Inorganic Carbon，IC，分为碳酸、碳酸根离子和碳酸氢根离子)含量检测出来，并按照以下公式(1)计算样品TOC含量：TOC＝TC
–
IC。
[0003]由上述公式可知，当样品中IC含量过高(通常＞10mg C L
‑1)，累积误差效应会使得TOC检测精度受到影响。大量研究和业内经验表明，当样品中TC/IC＜10时，TOC分析仪检测误差高达
±
30％。由于IC在pH＜3时候存在形式为碳酸(H2CO3)，其可以从液流中溶出，因此在检测TOC前，需先将样品流调至酸性，然后使用特定方法将IC(存在形式为H2CO3)去除。然而现有的商用TOC分析仪中使用的真空剥离法去除IC存在去除率低的问题，其在TOC分析仪中的推广和使用受限。
技术实现思路
[0004]本技术的目的包括，例如，提供了一种IC去除装置，其能够改善现有技术中IC去除率低的问题。
[0005]本技术的目的还包括，提供了一种TOC分析系统，其能够改善现有技术中IC去除率低的问题。
[0006]本技术的实施例可以这样实现：
[0007]本技术的实施例提供了一种IC去除装置，其包括壳体以及选择透过膜；所述选择透过膜为薄片状结构，且所述选择透过膜用于供碳氧化物通过；所述选择透过膜设置于所述壳体，且所述壳体在所述选择透过膜的上下两侧分别形成第一空间和第二空间，所述第一空间用于容纳通过所述选择透过膜的碳氧化物，所述第二空间用于容纳样品流体。
[0008]可选的，所述壳体包括相对设置的上流道夹板和下流道夹板，所述选择透过膜夹设于所述上流道夹板和所述下流道夹板之间，且所述上流道夹板限定所述第一空间，所述下流道夹板限定所述第二空间。
[0009]可选的，所述壳体还包括上固定板和下固定板，所述下固定板位于所述下流道夹板下侧，所述上固定板位于所述上流道夹板上侧，且所述上固定板与所述下固定板锁紧固定，以将所述上流道夹板、所述选择透过膜以及所述下流道夹板夹持固定。
[0010]可选的，所述上固定板开设有与所述第一空间连通的第一入口和第一出口，所述下固定板开设有与所述第二空间连通的第二入口和第二出口，所述第一入口和所述第二出口用于供所述样品流体进出所述第二空间。
[0011]可选的，所述第一空间呈往复弯折的蛇形；和/或，所述第二空间呈往复弯折的蛇
形。
[0012]可选的，所述第二空间在上下方向上的投影落在所述第一空间内，且所述第一空间的长度大于所述第二空间。
[0013]可选地，所述选择透过膜的厚度为为10μm
‑
200μm。
[0014]可选的，所述IC去除装置还包括设置在所述壳体外的加热件，所述加热件位于所述第二空间远离所述第一空间的一侧，且所述加热件用于使所述第二空间内的所述样品流体的温度位于预设温度范围内。
[0015]可选的，所述IC去除装置还包括真空泵以及空气净化柱，所述真空泵和所述空气净化柱均与所述第一空间连通，且所述真空泵用于在所述第一空间内形成真空，所述空气净化柱用于在空气进入所述第一空间前对所述空气进行净化。
[0016]本技术的实施例还提供了一种TOC分析系统。所述TOC分析系统包括上述的IC去除装置。
[0017]本技术实施例的IC去除装置及TOC分析系统的有益效果包括，例如：
[0018]本技术的实施例提供的IC去除装置，其包括壳体以及选择透过膜，选择透过膜为薄片状结构，其设置于壳体，且选择透过膜用于供碳氧化物选择性通过，即一氧化碳和二氧化碳之类的碳氧化物能够从选择透过膜的一侧运动至另一侧，而其他物质则不可以。同时壳体在选择透过膜的上下两侧分别形成第一空间和第二空间，第二空间用于容纳样品流体，样品流体中的碳氧化物即可穿过选择透过膜从而进入第一空间中。由于选择透过膜呈薄片状结构，试验证明，由于选择透过膜呈薄片状结构，碳氧化物的透过率大大提高，故IC去除率也进一步大大提高。
[0019]本技术的实施例还提供了一种TOC分析系统，其包括上述的IC去除装置。由于该TOC分析系统包括上述的IC去除装置，因此也具有IC去除率高的有益效果。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0021]图1为本技术的实施例提供的IC去除装置结构框图；
[0022]图2为本技术的实施例提供的IC去除装置的部分结构剖面示意图；
[0023]图3为本技术的实施例提供的IC去除装置中上流道夹板的结构示意图；
[0024]图4为本技术的实施例提供的IC去除装置中下流道夹板的结构示意图；
[0025]图5为本技术的实施例提供的IC去除装置中上固定板的结构示意图；
[0026]图6为本技术的实施例提供的IC去除装置中下固定板的结构示意图。
[0027]图标：100
‑
IC去除装置；110
‑
壳体；111
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上流道夹板；112
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第一空间；113
‑
下流道夹板；114
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第二空间；115
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上固定板；116
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第一入口；117
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第一出口；118
‑
下固定板；119
‑
第二入口；121
‑
第二出口；130
‑
选择透过膜；141
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加热件；142
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空气净化柱；143
‑
真空泵。
具体实施方式
[0028]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0029]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IC去除装置，其特征在于，包括壳体以及选择透过膜；所述选择透过膜为薄片状结构，且所述选择透过膜用于供碳氧化物通过；所述选择透过膜设置于所述壳体，且所述壳体在所述选择透过膜的上下两侧分别形成第一空间和第二空间，所述第一空间用于容纳通过所述选择透过膜的碳氧化物，所述第二空间用于容纳样品流体。2.根据权利要求1所述的IC去除装置，其特征在于，所述壳体包括相对设置的上流道夹板和下流道夹板，所述选择透过膜夹设于所述上流道夹板和所述下流道夹板之间，且所述上流道夹板限定所述第一空间，所述下流道夹板限定所述第二空间。3.根据权利要求2所述的IC去除装置，其特征在于，所述壳体还包括上固定板和下固定板，所述下固定板位于所述下流道夹板下侧，所述上固定板位于所述上流道夹板上侧，且所述上固定板与所述下固定板锁紧固定，以将所述上流道夹板、所述选择透过膜以及所述下流道夹板夹持固定。4.根据权利要求3所述的IC去除装置，其特征在于，所述上固定板开设有与所述第一空间连通的第一入口和第一出口，所述下固定板开设有与所述第二空间连通的第二入口和第二出口，所述第一入口和所述第二出口用于供所述样品流体进出所述第二空间。5....
【专利技术属性】
技术研发人员：张文俊，黎雷，
申请(专利权)人：碳逐迹科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：
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