一种回转精度检测工装、制造方法和检测方法技术

本发明专利技术提供一种回转精度检测工装，包括：盘体和圆球；所述盘体上设有凹槽，所述凹槽呈环形，且与所述盘体同心，若干所述圆球设于所述凹槽中，所述圆球之间具有间隙且间隙相等，所述盘体的轴线与回转轴重合。一种回转精度检测工装的制造方法，能够制造出本发明专利技术公开的回转轴回转精度检测工装，并且具有符合要求的高精度。一种回转轴回转精度检测方法，包括以下步骤：将回转轴回转精度检测工装安装到工作台上；工作台转动设定角度；测量圆球转动角度。本发明专利技术公开的一种回转精度检测工装和检测方法，能够简便、准确的对五轴机床旋转轴进行定位精度检测和校正。度检测和校正。度检测和校正。

【技术实现步骤摘要】
一种回转精度检测工装、制造方法和检测方法


[0001]本专利技术涉及机床检测
，尤其涉及一种回转精度检测工装、制造方法和检测方法。

技术介绍

[0002]目前五轴数控机床越来越多，机床的回转定位精度需要定期进行校正和补偿，现有技术中，对于校正和补偿手段一般采用激光干涉仪。
[0003]但是利用激光干涉仪对旋转轴进行定位精度的检查和校正时，不仅操作非常麻烦，而且检查和校正的准确性难以保证，这严重影响了机床对于高精度工件的加工。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种回转精度检测工装、制造方法和检测方法，以解决上述问题。
[0005]一种回转精度检测工装，包括：盘体和圆球；
[0006]所述盘体上设有凹槽，所述凹槽呈环形，且与所述盘体同心，若干所述圆球设于所述凹槽中，所述圆球之间具有间隙且间隙相等，所述盘体的轴线与回转轴线重合。
[0007]进一步地，所述凹槽包括内侧面、外侧面和底面，所述外侧面的高度不小于所述圆球的半径，所述圆球与所述外侧面和底面贴靠。
[0008]进一步地，所述凹槽包括内侧面、外侧面和底面，所述外侧面的高度不大于所述圆球的半径，所述圆球与所述外侧面的上边缘和底面贴靠。
[0009]进一步地，所述圆球共有72个，所述圆球之间具有间隙。
[0010]进一步地，还包括定心棒，所述盘体设有中心孔，所述定心棒穿过所述中心孔，所述定心棒的轴线与所述工作台的回转轴线重合，且与所述中心孔的轴线重合。
[0011]进一步地，还包括坐标杆，所述坐标杆的一端铰接于所述定心棒且可沿所述定心棒轴线移动，另一端设有定位球，所述定位球位于所述圆球的上方。
[0012]一种回转精度检测工装的制造方法，其特征在于，包括以下步骤：
[0013]S1：在盘体上设置凹槽；
[0014]S2：凹槽内设置圆球；
[0015]S3：在凹槽中注入液态定型材料，使圆球下部浸入定型材料中；
[0016]S4：驱动盘体匀速转动，直至定型材料定型固化。
[0017]一种回转精度检测方法，包括以下步骤：
[0018]S1：将回转轴回转精度检测工装安装到工作台上；
[0019]S2：工作台转动设定角度；
[0020]S3：测量圆球转动角度。
[0021]进一步地，工作台转动的角度等于γ的整数倍，γ＝360
°
/n，其中n为圆球数。
[0022]进一步地，主轴安装有杠杆千分表，设定任一圆球为初始圆球，主轴驱动杠杆千分表检测初始圆球表面A点的位置，伺服电机转动设定角度后，主轴驱动杠杆千分表检测同一
Z轴位置的圆球表面B点的位置，对比A点与B点在X轴和Y轴上的位置。
[0023]本专利技术公开的一种回转精度检测工装和检测方法，能够简便、准确的对五轴机床旋转轴进行定位精度检测和校正，本专利技术公开的回转轴回转精度检测工装制造方法，能够制造出本专利技术公开的回转轴回转精度检测工装，并且具有符合要求的高精度。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本专利技术实施例1中公开的一种回转精度检测工装结构示意图；
[0026]图2为本专利技术实施例1中公开的一种回转精度检测工装俯视图；
[0027]图3为图2中A
‑
A视角剖视图；
[0028]图4为图3中B部分的放大图；
[0029]图5为本专利技术实施例2中公开的圆球部分放大图。
[0030]图中：
[0031]1、盘体；11、凹槽；12、内侧面；13、外侧面；14、底面；
[0032]2、圆球；
[0033]3、定心棒；
[0034]4、工作台；
[0035]5、坐标杆；51、定位球。
具体实施方式
[0036]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0037]实施例1
[0038]如图1、图2所示，一种回转精度检测工装，包括：盘体1和圆球2；
[0039]所述盘体1上设有与所述盘体1同心的环形凹槽11，若干所述圆球2设于所述凹槽11中，所述圆球2之间具有间隙，且圆球2之间的间隙相等，所述盘体1的轴线与回转轴线重合。
[0040]本实施例中的圆球采用G10级高精度钢球，凹槽11为圆环形凹槽，圆形凹槽与盘体1同心，圆球之间的间隙非常小，圆球近于满装。
[0041]圆球将圆周等分为若干份，由于圆球精度很高，当盘体1绕自身轴线转动时，每个圆球上相同的位置对应的角度相同。具体来说，当盘体1固定在回转轴所在的工作台上时，工作台转动，盘体随之转动，伺服电机驱动工作台转过固定的角度，工作台实际转动的角度与伺服电机驱动转过角度之间的角度误差，可由等间隙设置的高精度圆球测出。圆球将圆周均分，转过每个圆球对应的角度固定，伺服电机转过的角度设定为每个圆球对应角度的
固定倍数，则可通过测量每个圆球上相对相同的位置的变化计算出盘体实际转过的角度，盘体转过的角度即为工作台转过的角度，可由此得出工作台转过的角度的误差α，并把得出的角度误差与数控系统回转补偿文件对应的角度进行确定角度新补偿值
±
α。
[0042]如图3、图4所示，本实施例中，所述凹槽11包括内侧面12、外侧面13和底面14，所述外侧面13的高度不大于所述圆球2的半径，所述圆球2与所述外侧面13的上边缘和底面14贴靠。多个圆球2之间，圆球上相距最近的点为检测点，可通过高倍显微镜观察测量，或激光测量等方式检测此点的位置，进而获得盘体转过的角度。外侧面13的上边缘低于检测点，可以直接通过高倍显微镜进行观察测量。
[0043]圆球2紧贴外侧面的上边缘，通过控制外侧面的精度，使圆球2的具有较高的位置精度。同时，内侧面与圆球2不接触，避免影响圆球2的位置精度。
[0044]本实施例中，所述圆球2共有72个，所述圆球2之间具有间隙。间隙宽度约为0.005mm，72个圆球将圆周等分，每个圆球对应的角度为5
°
，即转过每个圆球相同的位置，对应转过的角度为5
°
。
[0045]本实施例中还包括定心棒3，所述盘体1设有中心孔，所述定心棒3的轴线与所述工作台4的回转轴线重合，且与所述中心孔的轴线重合。工作台4的回转中心设有定位孔，定心棒3穿过中心孔和工作台4上的定位孔，使盘体1与工作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种回转精度检测工装，其特征在于，包括：盘体(1)和圆球(2)；所述盘体(1)上设有凹槽(11)，所述凹槽(11)呈环形，且与所述盘体(1)同心，若干所述圆球(2)设于所述凹槽(11)中，所述圆球(2)之间具有间隙且间隙相等，所述盘体(1)的轴线与回转轴线重合。2.根据权利要求1所述的一种回转精度检测工装，其特征在于，所述凹槽(11)包括内侧面(12)、外侧面(13)和底面(14)，所述外侧面(13)的高度不小于所述圆球(2)的半径，所述圆球(2)与所述外侧面(13)和底面(14)贴靠。3.根据权利要求1所述的一种回转精度检测工装，其特征在于，所述凹槽(11)包括内侧面(12)、外侧面(13)和底面(14)，所述外侧面(13)的高度不大于所述圆球(2)的半径，所述圆球(2)与所述外侧面(13)的上边缘和底面(14)贴靠。4.根据权利要求1所述的一种回转精度检测工装，其特征在于，所述圆球(2)共有72个，所述圆球(2)之间具有间隙。5.根据权利要求1所述的一种回转精度检测工装，其特征在于，还包括定心棒(3)，所述盘体(1)设有中心孔(16)，所述定心棒(3)穿过所述中心孔(16)，所述定心棒(3)的轴线与所述工作台(4)的回转轴线重合，且与所述中心孔(16)的轴线重合。6.根据权利要求5...

【专利技术属性】
技术研发人员：王峰，李迎华，倪长圣，侯天祥，陈霖，张良，黄大伟，杨翔麟，于鑫虎，曲业金，刘森，刘立新，谷飞龙，
申请(专利权)人：科德数控股份有限公司，
类型：发明
国别省市：