一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及连接器领域，公开了一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置，包括测试板和设置在测试板上的第一参考线路和测试线路，所述第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍。在本发明专利技术中的第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍，也就是说采用参考线路(trace)2倍率于测试线路(trace)的长度，能够有效降低外接SMA(或SMK)接口质量水准的不同而引入的损耗，提高测试精度，连接器净插入损耗更接近真实值。实值。实值。

【技术实现步骤摘要】
一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法


[0001]本专利技术涉及连接器领域，具体涉及一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]在射频测试回路(链路)系统，标准连接接口SMA(或SMK)，或测试PCB的线路trace，连接线缆cable的结构，材质不同导致阻抗呈现不连续，不均匀的特性，他们直接影响二端口网络系统的反射特性。
[0003]由于阻抗的变化是随着连接器材质和尺寸的变化，线缆材质和尺寸的变化，导体材质和尺寸的变化，而这些变化也不可避免的影响整体传输特性(插入损耗)。
[0004]测试装置由板端射频连接器与相关的机电模组集成，作为应用端线束和转接线束的界面接口，需要直接焊在PCB板上。
[0005]现有的板端连接器测试，都是通过测试PCB与专用的测试连接头SMA(或SMK)与网络分析仪连接；PCB设计通常采用共面波导的传输模型，除了设计、校核、匹配阻抗外，但未需要考虑仪器误差、外接SMA(或SMK)接口引入的误差，导致插入损耗实际值失真。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置及测试方法，解决现有的测试装置未需要考虑仪器误差、外接SMA(或SMK)接口引入的误差，易导致插入损耗实际值失真的问题。
[0007]为实现上述专利技术目的，本专利技术所采用的技术方案是：一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置，包括测试板和设置在测试板上的第一参考线路和测试线路，所述第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍。
[0008]优选地，所述第一参考线路包括一对第一连接头和第一连接线，所述第一连接头安装在测试板上，所述第一连接线的两端分别连接在对应的第一连接头上；
[0009]所述测试线路包括第二连接头、第二连接线和连接器，所述第二连接头安装在测试板上，所述第二连接线的一端与第二连接头相连，所述第二连接线的另一端与连接器的一端相连，所述第一连接线的长度是第二连接线的长度的两倍。
[0010]优选地，还包括第二参考线路，所述第二参考线路包括一对第三连接头、以及连接在第三连接头之间的第三连接线，所述第三连接头均安装在测试板上，所述第三连接线与第二连接线等长。
[0011]优选地，还包括第三参考线路，所述第三参考线路的长度是第二连接线的长度的两百，所述第三参考线路连接在连接器的另一端。
[0012]一种板端射频连接器净插入损耗的测试方法，包括以下测试步骤：
[0013]获取参考插入损耗I
L参考
；
[0014]获取测试插入损耗I
L测试
；
[0015]计算出连接器的净插入损耗I
L连接器
；I
L连接器
＝I
L测试
‑
n*I
L参考
，其中，n为实数。
[0016]优选地，所述参考插入损耗包括第一参考路线插入损耗I
L参考1
，所述第一参考线路的长度为测试线路的长度的两倍，则连接器的净插入损耗为：I
L连接器
＝I
L测试
‑
1/2I
L参考1
。
[0017]优选地，所述参考插入损耗包括第二参考路线插入损耗I
L参考2
，所述第二参考线路的长度与测试线路的长度相同，则连接器的净插入损耗为：I
L连接器
＝I
L测试
‑
I
L参考2
。
[0018]优选地，所述参考插入损耗包括第一参考线路插入损耗I
L参考1
、第三参考线路插入损耗的插入损耗I
L参考3
，所述第一参考线路的长度、第三参考线路的长度均为测试线路的长度的两倍，则连接器的净插入损耗为：I
L连接器
＝I
L测试
‑
1/2I
L参考2
‑
1/2I
L参考3
。
[0019]本专利技术的有益效果集中体现在：
[0020]在本专利技术中的第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍，也就是说采用参考线路(trace)2倍率于测试线路(trace)的长度，能够有效降低外接SMA(或SMK)接口质量水准的不同而引入的损耗，提高测试精度，连接器净插入损耗更接近真实值。
附图说明
[0021]图1是本专利技术测试装置整体构架图；
[0022]图2是本专利技术第一实施例的测试板结构示意图；
[0023]图3是本专利技术第二实施例的测试板结构示意图；
[0024]图4是本专利技术第三实施例的测试板结构示意图；
[0025]附图中：0、测试板；1、第一连接头；2、第一连接线；3、第二连接头；4、第二连接线；5、连接器；6、第三连接头；7、第三连接线；8、第三参考线路。
具体实施方式
[0026]为了使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步的详细说明。
[0027]实施例1
[0028]如图1、2所示，一种板端射频连接器5净插入损耗的测试装置，用于测试系统中，该测试系统由测试装置、网络分析仪构成，包括测试板0和设置在测试板0上的第一参考线路和测试线路，所述第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍，其中测试板0为PCB板，第一参考线路和测试线路均与网络分析仪的输入端口相连。
[0029]其中，所述第一参考线路包括一对第一连接头1和第一连接线2，为了节省布局空间，所述第一连接线2呈U形结构，所述第一连接头1安装在测试板0上，所述第一连接线2的两端分别连接在对应的第一连接头1上，第一连接头1再通过数据线缆与网络分析仪的输入端口相连；
[0030]所述测试线路包括第二连接头3、第二连接线4和连接器5，所述第二连接头3安装在测试板0上，所述第二连接线4的一端与第二连接头3相连，所述第二连接线4的另一端与连接器5的一端相连，所述第一连接线2的长度是第二连接线4的长度的两倍，连接器5的另一端通过线缆与网络分析仪的输入端口相连。
[0031]在本实施例中，还提供一种板端射频连接器5净插入损耗的测试方法，包括以下测试步骤：
[0032]网络分析仪获取参考插入损耗I
L参考
；
[0033]网络分析仪获取测试插入损耗I
L测试
；
[0034]计算出连接器5的净插入损耗I
L连接器
：I
L连接器
＝I
L测试
‑
n*I
L参考
，其中，n为实数。
[0035]此时所述参考插入损耗包括第一参考路线插入损耗I
L参考1
，并且所述第一参考线路的长度为测试线路的长度的两倍，则连接器5的净插入损耗为：
[0036]I
L连接器
＝
IL测试
‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置，其特征在于：包括测试板和设置在测试板上的第一参考线路和测试线路，所述第一参考线路的长度是测试线路长度的两倍。2.根据权利要求1所述的一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置，其特征在于：所述第一参考线路包括一对第一连接头和第一连接线，所述第一连接头安装在测试板上，所述第一连接线的两端分别连接在对应的第一连接头上；所述测试线路包括第二连接头、第二连接线和连接器，所述第二连接头安装在测试板上，所述第二连接线的一端与第二连接头相连，所述第二连接线的另一端与连接器的一端相连，所述第一连接线的长度是第二连接线的长度的两倍。3.根据权利要求2所述的一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置，其特征在于：还包括第二参考线路，所述第二参考线路包括一对第三连接头、以及连接在第三连接头之间的第三连接线，所述第三连接头均安装在测试板上，所述第三连接线与第二连接线等长。4.根据权利要求2所述的一种板端射频连接器净插入损耗的测试装置，其特征在于：还包括第三参考线路，所述第三参考线路的长度是第二连接线的长度的两百，所述第三参考线路连接在连接器的另一端。5.一种板端射频连接器净插入损耗的测试方法，其特征在于：包括以下测试步骤：获取参考插入损耗I
L参考
；获取测试插入损耗I
L测试
；计算出连接器的净插入损耗I
L连接器
：I
L连接器
＝I
L测试
‑
...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：苏州华碧微科检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：