一种电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统技术方案

本发明专利技术涉及一种电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统，属于电数字数据处理技术领域。该系统是一种特别适用于特定功能，具体是电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件质量数据处理的数字数据处理系统，其中利用了计算机进行辅助设计和处理。本发明专利技术获取目标批次中各射频屏蔽罩冲压件的剪力数据、边缘距离数据、灰度序列和反光度序列，基于此可以判断电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件质量是否合格。本发明专利技术的系统可以适用于大数据资源服务、数据库和云数据库服务等互联网数据服务，可以配置为冲压件质量相关的云计算软件、云端融合应用运行支撑平台软件。本发明专利技术解决了现有对电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件进行检测存在的检测效率较低的问题。低的问题。低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统


[0001]本专利技术涉及电数字数据处理领域，具体涉及一种电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统。

技术介绍

[0002]现代电子通讯设备的应用越来越广泛，电子通讯设备制造业生产工艺以及检测手段尤为重要。电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件是电子通讯设备的一个重要构件，是用来屏蔽电子信号的工具，可以屏蔽外界电磁波对内部电路的影响和内部产生的电磁波向外辐射，射频屏蔽罩冲压件的质量极大影响了电子通讯设备的质量。
[0003]传统的对电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件的检测方法主要是人工目检,消耗人力资源较大，检测效率较低。

技术实现思路

[0004]为了解决现有依靠人工目检对电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件进行检测存在的检测效率较低的问题，本专利技术提供了一种电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统的技术方案，包括存储器和处理器，所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以实现如下步骤：获取目标批次中各射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据、边缘距离数据、灰度序列和反光度序列，所述灰度序列中元素为射频屏蔽罩冲压件对应的灰度图像中各像素点灰度值的标准差和均值，所述反光度序列中元素为射频屏蔽罩冲压件对应的各设置位置的反光度的标准差和均值；将目标批次中各射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据与剪力数据阈值进行比较，将目标批次中各射频屏蔽罩冲压件对应的边缘距离数据与边缘距离数据阈值进行比较，将同时满足剪力数据条件和边缘距离数据条件的射频屏蔽罩冲压件记为初步合格冲压件；将不能同时满足剪力数据条件和边缘距离数据条件的射频屏蔽罩冲压件记为不合格冲压件；对于任一初步合格冲压件：计算该初步合格冲压件与其它初步合格冲压件之间的灰度
‑
反光相似度，并根据所述灰度
‑
反光相似度计算该初步合格冲压件对应的质量置信度；根据所述质量置信度、该初步合格冲压件对应的灰度图像中各像素点灰度值的标准差和该初步合格冲压件对应的各设置位置的反光度的标准差计算该初步合格冲压件的质量优秀程度；判断各初步合格冲压件对应的质量优秀程度是否大于设定质量优秀程度阈值，若大于，则判定对应初步合格冲压件为质量合格冲压件；若不大于，则判定对应初步合格冲压件为质量不合格冲压件。
[0005]进一步地，所述剪力数据条件为：射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据与标准剪力数据的差异的绝对值小于设定剪力数据阈值。
[0006]进一步地，所述边缘距离数据条件为：射频屏蔽罩冲压件对应的边缘距离数据与
标准边缘距离数据的差异的绝对值小于设定边缘距离数据阈值。
[0007]进一步地，利用如下公式计算任意两个初步合格冲压件之间的灰度
‑
反光相似度：其中，SIM为求余弦相似度，abs为求绝对值，K
A
为初步合格冲压件A对应的反光度序列，M
A
为初步合格冲压件A对应的灰度序列，K
B
为初步合格冲压件B对应的反光度序列，M
B
为初步合格冲压件B对应的灰度序列，r
AB
为初步合格冲压件A和初步合格冲压件B之间的灰度
‑
反光相似度。
[0008]进一步地，采用如下公式计算各初步合格冲压件的质量置信度：其中，R
A
为初步合格冲压件A的质量置信度，n为初步合格冲压件的数量，J为初步合格冲压件的集合，X为集合J中除了初步合格冲压件A之外的其它任一冲压件，r
AX
为初步合格冲压件A和初步合格冲压件X之间的灰度
‑
反光相似度。
[0009]进一步地，利用如下公式计算各初步合格冲压件的质量优秀程度：其中，P
A
为初步合格冲压件A的质量优秀程度，为初步合格冲压件A对应的图像中各像素点灰度值的标准差，为初步合格冲压件A对应的各设定位置处的反光度的标准差，R
A
为初步合格冲压件A的质量置信度。
[0010]进一步地，将不能同时满足剪力数据条件和边缘距离数据条件的射频屏蔽罩冲压件记为不合格冲压件。
[0011]有益效果：本专利技术根据各射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据、边缘距离数据、灰度序列和反光度序列实现了对各射频屏蔽罩冲压件质量是否合格的判断，解决了现有依靠人工目检对电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件进行检测存在的检测效率较低的问题。该系统是一种特别适用于特定功能，具体是电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件质量数据处理的数字数据处理系统，其中利用了计算机进行辅助设计和处理。本专利技术的系统可以适用于大数据资源服务、数据库和云数据库服务等互联网数据服务，可以配置为冲压件质量相关的云计算软件、云端融合应用运行支撑平台软件。
附图说明
[0012]图1是本专利技术的电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析方法的流程图。
具体实施方式
[0013]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行介绍。
[0014]为了解决现有依靠人工目检对电子通讯设备射频屏蔽罩冲压件进行检测存在的
检测效率较低的问题，本实施例的电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统包括存储器和处理器，所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以实现对应的电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析方法。如图1所示，电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析方法具体包括以下步骤：（1）获取目标批次中各射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据、边缘距离数据、灰度序列和反光度序列，所述灰度序列中元素为射频屏蔽罩冲压件对应的灰度图像中各像素点灰度值的标准差和均值，所述反光度序列中元素为射频屏蔽罩冲压件对应的各设置位置的反光度的标准差和均值；本实施例以某一批次的射频屏蔽罩冲压件为待分析目标进行说明，本实施例中该批次的射频屏蔽罩冲压件数量为120。接下来对获取各射频屏蔽罩冲压件对应的各数据的过程进行以下说明：
①
获取各射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据。
[0015]冲压件冲压过程的剪力数据会在冲压机上显示，当冲压件存在质量缺陷时，其剪力数据会出现一定异常。一个冲压件的冲压过程对应一个剪力数据，本实施例获取了各冲压件在冲压过程中的剪力数据F
i
，F
i
为第i个冲压件在冲压过程中的剪力数据。由此可得到这120个冲压件的剪力数据构成的剪力数据序列F={F1,F2...F
120
}。
[0016]②
获取各射频屏蔽罩冲压件对应的边缘距离数据。
[0017]冲压件的冲压过程完成后，电子冲压件边缘会产生一定程度的形变，当电子冲压件形变程度大于标准形变量时，其可能存在缺陷。对于每一个冲压件，本实施例利用测距传感器测量冲压件的各边缘设定位置相对测距传感器的距离，将各边缘设定位置相对测距传感器的距离的均值作为该冲压件的边缘距离数据D
i
，D
i
为第i个冲压件的边缘距离数据。由本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统，包括存储器和处理器，其特征在于，所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以实现如下步骤：获取目标批次中各射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据、边缘距离数据、灰度序列和反光度序列，所述灰度序列中元素为射频屏蔽罩冲压件对应的灰度图像中各像素点灰度值的标准差和均值，所述反光度序列中元素为射频屏蔽罩冲压件对应的各设置位置的反光度的标准差和均值；将目标批次中各射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据与剪力数据阈值进行比较，将目标批次中各射频屏蔽罩冲压件对应的边缘距离数据与边缘距离数据阈值进行比较，将同时满足剪力数据条件和边缘距离数据条件的射频屏蔽罩冲压件记为初步合格冲压件；对于任一初步合格冲压件：计算该初步合格冲压件与其它初步合格冲压件之间的灰度
‑
反光相似度，并根据所述灰度
‑
反光相似度计算该初步合格冲压件对应的质量置信度；根据所述质量置信度、该初步合格冲压件对应的灰度图像中各像素点灰度值的标准差和该初步合格冲压件对应的各设置位置的反光度的标准差计算该初步合格冲压件的质量优秀程度；判断各初步合格冲压件对应的质量优秀程度是否大于设定质量优秀程度阈值，若大于，则判定对应初步合格冲压件为质量合格冲压件；若不大于，则判定对应初步合格冲压件为质量不合格冲压件。2.根据权利要求1所述的电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统，其特征在于，所述剪力数据条件为：射频屏蔽罩冲压件对应的剪力数据与标准剪力数据的差异的绝对值小于设定剪力数据阈值。3.根据权利要求1所述的电子通讯设备射频屏蔽罩的精密冲压质量分析系统，其特征在于，所述边缘距离数据条件为：射频屏蔽罩冲压件对应的边缘距离数据与标准边缘距离数据的差异的绝对值小于设定边缘距离数据阈值。4.根据权利要求1所述的电子通讯设...

【专利技术属性】
技术研发人员：李丽娜，王华强，
申请(专利权)人：启东市嘉信精密机械有限公司，
类型：发明
国别省市：