本发明专利技术公开了一种光学部件的测量方法，包括：向所述光学部件输入模拟正弦信号；获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系；基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数；基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子。述光学部件的品质因子。述光学部件的品质因子。
【技术实现步骤摘要】
一种光学部件的测量方法、系统、装置及设备
[0001]本专利技术涉及光电
，尤其涉及一种光学部件的测量方法、系统、装置及设备。
技术介绍
[0002]光弹调制器的光学部件(包括压电晶体和通光晶体或者二者合一的单晶体)是工作在谐振状态下的谐振器件，谐振频率以及品质因子是其十分重要的技术指标，该技术指标对光弹调制器的整体性能起着至关重要的作用。现在主要是采用多普勒测振仪测量光弹调制器的光学部件振动位移信号变化来确定其谐振频率。但是，多普勒测振仪这类专用测量设备成本相对较高、测量结果容易受到外界的影响，带来误差、不能测量光弹调制器的光学部件的品质因子。
技术实现思路
[0003]本申请实施例通过提供一种光学部件的测量方法、系统、装置及设备，解决了现有技术测量光弹调制器的光学部件的谐振频率需要昂贵的设备、误差大、不能测量光弹调制器的光学部件的品质因子的技术问题，实现了节约测试成本及提高测试精度的技术效果。
[0004]第一方面，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：
[0005]一种光学部件的测量方法，包括：
[0006]向所述光学部件输入模拟正弦信号；
[0007]获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系；
[0008]基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数；
[0009]基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子。
[0010]优选地，所述获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系，包括：
[0011]获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与电流的关系；
[0012]基于所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与电流的关系，确定所述频率与阻抗的关系。
[0013]优选地，所述基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数，包括：
[0014]基于所述频率与阻抗的关系，得出频率
‑
阻抗特性曲线图；
[0015]基于所述频率
‑
阻抗特性曲线图，确定所述光学部件的谐振频率。
[0016]优选地，所述基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数，包括：
[0017]将所述频率与阻抗的关系导入仿真模型，确定所述光学部件等效电路的电学参数。
[0018]优选地，所述基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子，包括：
[0019]基于如下公式确定所述光学部件的品质因子；
[0020][0021]其中，Q为所述光学部件的品质因子，L为所述等效电路的等效电感，C为所述等效电路的等效电容，R为所述等效电路的等效电阻。
[0022]第二方面，本申请通过本申请的一实施例，提供如下技术方案：
[0023]一种光学部件的测量系统，包括：
[0024]测试设备及光学部件，所述测试设备与所述光学部件的两端连接；
[0025]其中，所述测试设备，用于向所述光学部件输入模拟正弦信号；获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系；基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数；基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子。
[0026]优选地，所述测试设备，包括：
[0027]人机交互模块，用于设置所述测试设备的扫频范围、频率步进及有效电压值；
[0028]显示模块，用于显示所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系；
[0029]频率合成模块，用于合成和输出所述模拟正弦信号；
[0030]处理模块，用于基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数；基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子；
[0031]其中，所述人机交互模块、所述显示模块、所述频率合成模块及所述处理模块之间通过总线连接，以实现信息交流。
[0032]优选地，所述频率合成模块，包括：
[0033]直接数字式频率合成器和数模转换器；其中，所述直接数字式频率合成器用于产生数字正弦信号，所述数模转换器用于将所述数字正弦信号转换为模拟正弦信号；
[0034]基于如下公式确定所述直接数字式频率合成器合成的数字正弦信号的频率及所述频率的分辨率；
[0035][0036][0037]其中，fout为所述数字正弦信号的频率，f为所述分辨率，fclk为所述现场可编程逻辑门阵列器件的时钟频率，n为所述直接数字式频率合成器中相位累加寄存器的位数，M为所述直接数字式频率合成器的相位控制字。
[0038]第三方面，本申请通过本申请的一实施例，提供如下技术方案：
[0039]一种光学部件的测量装置，包括：
[0040]输入单元，用于向所述光学部件输入模拟正弦信号；
[0041]获取单元，用于获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系；
[0042]处理单元，用于基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所
述光学部件等效电路的电学参数；
[0043]计算单元，用于基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子。
[0044]优选地，所述获取单元，还用于：
[0045]获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与电流的关系；
[0046]基于所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与电流的关系，确定所述频率与阻抗的关系。
[0047]优选地，所述处理单元，还用于：
[0048]基于所述频率与阻抗的关系，得出频率
‑
阻抗特性曲线图；
[0049]基于所述频率
‑
阻抗特性曲线图，确定所述光学部件的谐振频率。
[0050]优选地，所述处理单元，还用于：
[0051]将所述频率与阻抗的关系导入仿真模型，确定所述光学部件等效电路的电学参数。
[0052]优选地，所述计算单元，还用于：
[0053]基于如下公式确定所述光学部件的品质因子；
[0054][0055]其中，Q为所述光学部件的品质因子，L为所述等效电路的等效电感，C为所述等效电路的等效电容，R为所述等效电路的等效电阻。
[0056]第四方面，本申请通过本申请的一实施例，提供如下技术方案：
[0057]一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面任一所述的方法步骤。
[0058]本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0059]本专利技术实施例中公开了一种光学部件的测量方法、系统、装置及设备，由于向所述光学部件输入模拟正弦信号，通过测量可以得到频率与阻抗的关系。再基于所述频率与阻抗的关系，可以确定所本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学部件的测量方法，其特征在于，包括：向所述光学部件输入模拟正弦信号；获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系；基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数；基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系，包括：获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与电流的关系；基于所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与电流的关系，确定所述频率与阻抗的关系。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数，包括：基于所述频率与阻抗的关系，得出频率
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阻抗特性曲线图；基于所述频率
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阻抗特性曲线图，确定所述光学部件的谐振频率。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的电学参数，包括：将所述频率与阻抗的关系导入仿真模型，确定所述光学部件等效电路的电学参数。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述电学参数，确定所述光学部件的品质因子，包括：基于如下公式确定所述光学部件的品质因子；其中，Q为所述光学部件的品质因子，L为所述等效电路的等效电感，C为所述等效电路的等效电容，R为所述等效电路的等效电阻。6.一种光学部件的测量系统，其特征在于，包括：测试设备及光学部件，所述测试设备与所述光学部件的两端连接；其中，所述测试设备，用于向所述光学部件输入模拟正弦信号；获取所述光学部件在所述模拟正弦信号作用下的频率与阻抗的关系；基于所述频率与阻抗的关系，确定所述光学部件的谐振频率及所述光学部件等效电路的...
【专利技术属性】
技术研发人员：武燕婷，熊伟，李超波，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：
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