本实用新型专利技术公开了一种稳定性强的集成电路测试装置底座，涉及集成电路技术领域。本实用新型专利技术包括测试台，测试台底部的四个角处均开设有第一环形槽、第一滑道、第二滑道、卡槽，第一环形槽的内部转动配合有第一环形板，测试台底部的四个角处均弹性且滑动配合有卡块，卡块与第一环形板配合。本实用新型专利技术设置的底座，便捷了通过底座对测试台进行支撑，滑动柱的设置，以使底座在第一弹簧弹性的带动下带动滑动柱在第一滑道内滑动，以使通过底座适应不同的放置面，提高了测试台在测试的准确率。提高了测试台在测试的准确率。提高了测试台在测试的准确率。
【技术实现步骤摘要】
一种稳定性强的集成电路测试装置底座
[0001]本技术属于集成电路
，特别是涉及一种稳定性强的集成电路测试装置底座。
技术介绍
[0002]稳定性强的集成电路测试装置底座是对集成电路测试装置进行放置的一种底座，集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体。
[0003]现有便于携带的集成电路测试装置需要放置的地方需要是水平面上，如果集成电路测试装置放置的地方不水平，这样容易造成集成电路测试装置在使用时稳定性差的情况，进而会影响集成电路测试装置在测试时的准确性。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种稳定性强的集成电路测试装置底座，解决了现有集成电路测试装置稳定性差的技术问题。
[0005]为达上述目的，本技术是通过以下技术方案实现的：
[0006]一种稳定性强的集成电路测试装置底座，包括测试台，测试台底部的四个角处均开设有第一环形槽、第一滑道、第二滑道、卡槽，第一环形槽的内部转动配合有第一环形板，测试台底部的四个角处均弹性且滑动配合有卡块，卡块与第一环形板配合；
[0007]滑动柱，且滑动柱滑动配合在第一滑道内，滑动柱外侧壁上装设有定位板，滑动柱的一端装设有底座，底座与第一环形板之间装设有第一弹簧。
[0008]可选的，测试台底部的四个角处均开设有第三滑道，且卡块滑动配合在第三滑道内，第三滑道与第一滑道相连通，卡块与第三滑道侧壁之间装设有第二弹簧，卡块的一侧装设有滑动杆，第一环形板的外侧壁开设有第一定位槽、第二定位槽，且第一定位槽位于靠近第二滑道的一侧，第二定位槽位于靠近卡槽的一侧，方便了通过滑动杆带动卡块在第三滑道内滑动。
[0009]可选的，测试台底部的四个角处均开设有第二环形槽、第三环形槽，且第二环形槽、第三环形槽与第一环形槽相连通，第一环形板的内侧壁、外侧壁均装设有第二环形板，且两个第二环形板分别位于第二环形槽、第三环形槽内，减少了第一环形板在转动时倾斜的情况。
[0010]本技术的实施例具有以下有益效果：
[0011]本技术的一个实施例设置的底座，便捷了通过底座对测试台进行支撑，滑动柱的设置，以使底座在第一弹簧弹性的带动下带动滑动柱在第一滑道内滑动，以使通过底座适应不同的放置面，提高了测试台在测试的准确率。
[0012]当然，实施本技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0013]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0014]图1为本技术一实施例的立体结构示意图；
[0015]图2为本技术一实施例的仰视结构示意图；
[0016]图3为图2中A处结构示意图。
[0017]其中，上述附图包括以下附图标记：
[0018]测试台1，第一环形槽2，第一滑道3，第二滑道4，卡槽5，滑动柱6，底座7，定位板8，第一弹簧9，第一环形板10，第三滑道11，第二弹簧12，卡块13，滑动杆14。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。
[0020]为了保持本技术实施例的以下说明清楚且简明，本技术省略了已知功能和已知部件的详细说明。
[0021]请参阅图1
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3所示，在本实施例中提供了一种稳定性强的集成电路测试装置底座，包括：测试台1，测试台1底部的四个角处均开设有第一环形槽2、第一滑道3、第二滑道4、卡槽5，第一环形槽2的内部转动配合有第一环形板10，测试台1底部的四个角处均弹性且滑动配合有卡块13，卡块13与第一环形板10配合；
[0022]滑动柱6，且滑动柱6滑动配合在第一滑道3内，滑动柱6外侧壁上装设有定位板8，滑动柱6的一端装设有底座7，底座7与第一环形板10之间装设有第一弹簧9。
[0023]当放置面为水平面时，首先滑动滑动杆14，滑动杆14带动卡块13在第三滑道11内滑动并压缩第二弹簧12，然后滑动底座7，底座7通过滑动柱6带动定位板8从第二滑道4内滑出，然后再转动底座7，底座7通过滑动柱6带动定位板8转动，底座7通过第一弹簧9带动第一环形板10在第一环形槽2内转动，然后再松开底座7，底座7在第一弹簧9弹性的带动下带动滑动柱6在第一滑道3内滑动，滑动柱6带动定位板8滑入卡槽5内，然后松开滑动杆14，同理，卡块13在第二弹簧12弹性的作用下滑动并滑入第一定位槽内，进而完成测试台1的放置；
[0024]当放置面不水平时，参考上述步骤，定位板8位于第二滑道4内，卡块13在第二弹簧12弹性的作用下滑动并滑入第二定位槽内。
[0025]设置的底座7，便捷了通过底座7对测试台1进行支撑，滑动柱6的设置，以使底座7在第一弹簧9弹性的带动下带动滑动柱6在第一滑道3内滑动，以使通过底座7适应不同的放置面，提高了测试台1在测试的准确率。
[0026]请参阅图1所示，本实施例的测试台1底部的四个角处均开设有第三滑道11，且卡块13滑动配合在第三滑道11内，第三滑道11与第一滑道3相连通，卡块13与第三滑道11侧壁
之间装设有第二弹簧12，卡块13的一侧装设有滑动杆14，第一环形板10的外侧壁开设有第一定位槽、第二定位槽，且第一定位槽位于靠近第二滑道4的一侧，第二定位槽位于靠近卡槽5的一侧，方便了通过滑动杆14带动卡块13在第三滑道11内滑动。
[0027]请参阅图3所示，本实施例的测试台1底部的四个角处均开设有第二环形槽、第三环形槽，且第二环形槽、第三环形槽与第一环形槽2相连通，第一环形板10的内侧壁、外侧壁均装设有第二环形板，且两个第二环形板分别位于第二环形槽、第三环形槽内，提高了第一环形板10在转动时的稳定性。
[0028]实施例1：在实施例的一个方面中，为了尽可能减少第一环形板10在转动时倾斜的情况，本实施例提供了两种可选的实施方式。
[0029]实施例1.1，在本实施例中，第一环形板10位于第一环形槽2内，减少了第一环形板10在转动时倾斜的情况发生，进而提高了第一环形板10在转动时的稳定性。
[0030]实施例1.2，在本实施例中，第一环形板10与底座7之间装设有第一弹簧9，减少了第一环形板10在转动时晃动的情况发生。
[0031]上述实施例可以相互结合。
[0032]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种稳定性强的集成电路测试装置底座，其特征在于，包括：测试台(1)，测试台(1)底部的四个角处均开设有第一环形槽(2)、第一滑道(3)、第二滑道(4)、卡槽(5)，第一环形槽(2)的内部转动配合有第一环形板(10)，测试台(1)底部的四个角处均弹性且滑动配合有卡块(13)，卡块(13)与第一环形板(10)配合；滑动柱(6)，且滑动柱(6)滑动配合在第一滑道(3)内，滑动柱(6)外侧壁上装设有定位板(8)，滑动柱(6)的一端装设有底座(7)，底座(7)与第一环形板(10)之间装设有第一弹簧(9)。2.如权利要求1所述的一种稳定性强的集成电路测试装置底座，其特征在于，测试台(1)底部的四个角处均开设有第三滑道(11)，且卡块(13)滑动配合在第三滑道(11)内，第三滑道(11)与第一滑道(3)相连通。3.如权利要求2...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭红方，黄树春，
申请(专利权)人：深圳市方得智科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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